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    • 1. 发明专利
    • 電氣訊號接續裝置
    • 电气信号接续设备
    • TW200907359A
    • 2009-02-16
    • TW097127693
    • 2008-07-21
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01RH01L
    • G01R1/07307G01R1/07378
    • 本發明的目的在於提供一種可對應狹周距化及圓晶粒化,可提供即使在燒機檢查的高溫下,探針與銲墊、探針與電路基板接續良好的探測卡。因此,層積又或並列配置數個前述樹脂薄膜型探針的狀態下,由數個支撐棒保持的探針組合與格子狀支撐體的開口部一起固定,設置與前述格子狀支撐體的前述電路基板接續測的數個突起狀的固定工具,藉由與前述電路基板的對應孔嵌合,將前述格子狀支撐體固定於前述電路基板。而且,與前述固定工具的插入部外徑對應的前述電路基板的孔的內徑相嵌合時,在前述電路基板的中心附近沒有差異或是很小的差異,在前述中心附近以外的位置比起前述中心附近的差異較大。
    • 本发明的目的在于提供一种可对应狭周距化及圆晶粒化,可提供即使在烧机检查的高温下,探针与焊垫、探针与电路基板接续良好的探测卡。因此,层积又或并列配置数个前述树脂薄膜型探针的状态下,由数个支撑棒保持的探针组合与格子状支撑体的开口部一起固定,设置与前述格子状支撑体的前述电路基板接续测的数个突起状的固定工具,借由与前述电路基板的对应孔嵌合,将前述格子状支撑体固定于前述电路基板。而且,与前述固定工具的插入部外径对应的前述电路基板的孔的内径相嵌合时,在前述电路基板的中心附近没有差异或是很小的差异,在前述中心附近以外的位置比起前述中心附近的差异较大。
    • 2. 发明专利
    • 連接電氣信號用座標變換裝置 COORDINATE TRANSFORMING APPARATUS FOR ELECTRICAL SIGNAL CONNECTION
    • 连接电气信号用座标变换设备 COORDINATE TRANSFORMING APPARATUS FOR ELECTRICAL SIGNAL CONNECTION
    • TW200822262A
    • 2008-05-16
    • TW096141708
    • 2007-11-05
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • H01L
    • G01R1/07378
    • 本發明提供一種關於用在可因應狹密間距焊墊之探針卡上的連接電氣信號用座標變換裝置;特別是容易從測頭,佈線至檢查裝置電路板,且防止電氣接觸不良;因此在連接電氣信號用座標變換裝置上,因應探針輸出端之一的第1佈線群輸入端,是由可在yz平面內,獨立活動的至少2個端子所構成;接觸導通前述探針輸出端、與前述第1佈線群輸入端時,前述第1佈線群輸入端的第1端子壁面,會接觸前述探針輸出端的一側,且第2端子壁面,會接觸前述探針輸出端的相反側。
    • 本发明提供一种关于用在可因应狭密间距焊垫之探针卡上的连接电气信号用座标变换设备;特别是容易从测头,布线至检查设备电路板,且防止电气接触不良;因此在连接电气信号用座标变换设备上,因应探针输出端之一的第1布线群输入端,是由可在yz平面内,独立活动的至少2个端子所构成;接触导通前述探针输出端、与前述第1布线群输入端时,前述第1布线群输入端的第1端子壁面,会接触前述探针输出端的一侧,且第2端子壁面,会接触前述探针输出端的相反侧。
    • 3. 发明专利
    • 接點組裝體及其LSI晶片檢查裝置
    • 接点组装体及其LSI芯片检查设备
    • TW200739080A
    • 2007-10-16
    • TW095131603
    • 2006-08-28
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01R
    • G01R1/07307G01R1/0408G01R1/06711
    • 本發明提供一種接點組裝體,尤指受試電子設備與電路檢查裝置之間電氣導通的接點組裝體,其包含了對配置於XY直交座標端子排列的X軸規定角度,維持接點組裝體的接點位置精度,以輕鬆進行組裝作業。為此將連接受試電子設備與電路檢查裝置時所用的接點組裝體及接點組裝體支承結構及垂直式探針位置,等間隔挪往長度方向,以重疊數片接點、及等間隔挪動此接點以重疊數片,並將各定位棒插入於在各接點間開口的數個貫穿孔,以固定接點群的接點組裝體,具備用於收納此接點組裝體之開口部的框體結構導塊。而且,在前述導塊上設有用於嵌入定位棒兩端的嵌溝,讓垂直式探針的前端在自導塊上面及下面位置垂直突出的狀態下,定位與支承接點組裝體。
    • 本发明提供一种接点组装体,尤指受试电子设备与电路检查设备之间电气导通的接点组装体,其包含了对配置于XY直交座标端子排列的X轴规定角度,维持接点组装体的接点位置精度,以轻松进行组装作业。为此将连接受试电子设备与电路检查设备时所用的接点组装体及接点组装体支承结构及垂直式探针位置,等间隔挪往长度方向,以重叠数片接点、及等间隔挪动此接点以重叠数片,并将各定位棒插入于在各接点间开口的数个贯穿孔,以固定接点群的接点组装体,具备用于收纳此接点组装体之开口部的框体结构导块。而且,在前述导块上设有用于嵌入定位棒两端的嵌沟,让垂直式探针的前端在自导块上面及下面位置垂直突出的状态下,定位与支承接点组装体。
    • 4. 发明专利
    • 探測器裝置
    • 探测器设备
    • TWI221904B
    • 2004-10-11
    • TW091118609
    • 2002-08-16
    • 木本 軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本 軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01R
    • G01R1/0408G01R1/07314H05K1/147H05K2201/052
    • 本發明係一種探測器裝置,其係用於解決垂直型探測器與印刷配線基板之連接端子之間的連接問題;該垂直型探測器係以窄間隙組合而成者,而該印刷配線基板之連接端子係維持原有之粗間隙者。探測器裝置包含:探測器組合體,其係在探測器方面採用垂直型探測器,並將多個垂直型探測器以規則配列方式一體化者;柔韌平面纜線,其係在非導電性柔韌薄膜之表面將配線以黏著方式形成者;及固定裝置,其係用於將柔韌平面纜線之一端固定者。其特徵在於:讓在柔韌平面纜線之一端形成之配線端子與探測器組合體接觸;並讓在他端形成之配線端子與印刷配線基板連接,介由探測器組合體和柔韌平面纜線,使被檢查半導體晶片及印刷配線基板形成電子式連接。而前述柔韌平面纜線係以固定裝置固定者。
    • 本发明系一种探测器设备,其系用于解决垂直型探测器与印刷配线基板之连接端子之间的连接问题;该垂直型探测器系以窄间隙组合而成者,而该印刷配线基板之连接端子系维持原有之粗间隙者。探测器设备包含:探测器组合体,其系在探测器方面采用垂直型探测器,并将多个垂直型探测器以守则配列方式一体化者;柔韧平面缆线,其系在非导电性柔韧薄膜之表面将配线以黏着方式形成者;及固定设备,其系用于将柔韧平面缆线之一端固定者。其特征在于:让在柔韧平面缆线之一端形成之配线端子与探测器组合体接触;并让在他端形成之配线端子与印刷配线基板连接,介由探测器组合体和柔韧平面缆线,使被检查半导体芯片及印刷配线基板形成电子式连接。而前述柔韧平面缆线系以固定设备固定者。
    • 5. 发明专利
    • 複數樑合成型接觸子
    • 复数梁合成型接触子
    • TW200907351A
    • 2009-02-16
    • TW097127695
    • 2008-07-21
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01R
    • G01R1/06733G01R1/06727H01L2924/00013H01L2224/29099
    • 本發明的目的在於提供一種複數樑合成型接觸端子。其探針的接觸部處,能精密地控制這些動作,可檢測靜電量小、且高速、為大容量訊號晶粒的探針。該垂直探針其與垂直方向交叉方向延伸的直線又或曲線形狀,一端接續在固定端,另一端接續該垂直探針,由數個水平樑所構成、由連接環結構形成的以連接環結構為動作原理的平行彈簧型探針;在數個水平樑中至少有一對,相對的水平樑間距離,沿著與垂直方向交叉的方向變化,以此為特徵的複數樑合成型接觸端子。
    • 本发明的目的在于提供一种复数梁合成型接触端子。其探针的接触部处,能精密地控制这些动作,可检测静电量小、且高速、为大容量信号晶粒的探针。该垂直探针其与垂直方向交叉方向延伸的直线又或曲线形状,一端接续在固定端,另一端接续该垂直探针,由数个水平梁所构成、由连接环结构形成的以连接环结构为动作原理的平行弹簧型探针;在数个水平梁中至少有一对,相对的水平梁间距离,沿着与垂直方向交叉的方向变化,以此为特征的复数梁合成型接触端子。
    • 6. 发明专利
    • 探針組合體
    • 探针组合体
    • TW200809215A
    • 2008-02-16
    • TW096125294
    • 2007-07-11
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01R
    • G01R1/07307G01R1/06733G01R1/06772
    • 本發明提供一種適合高頻檢測、並提供超速傳動大的探針組合體,因此,具有構成母材的樹脂膠膜、形成於樹脂膠膜上並包含垂直探針的導電體所構成的導電圖樣、具有直線或曲線形狀且能使其一端為固定端而另端為連接垂直探針的導電樑、以及與導電樑呈概略平行延伸的變形樑,前述導電樑與變形樑以機械性加强固定於垂直探針附近,且由具有平行彈簧結構的單撐樑所構成;此外,前述導電樑與變形樑具有導電性或非導電性的電氣特性,使層疊數片前述內含垂直探針樹脂膠膜的複數樑合成型探針組合體得以實施。
    • 本发明提供一种适合高频检测、并提供超速传动大的探针组合体,因此,具有构成母材的树脂胶膜、形成于树脂胶膜上并包含垂直探针的导电体所构成的导电图样、具有直线或曲线形状且能使其一端为固定端而另端为连接垂直探针的导电梁、以及与导电梁呈概略平行延伸的变形梁,前述导电梁与变形梁以机械性加强固定于垂直探针附近,且由具有平行弹簧结构的单撑梁所构成;此外,前述导电梁与变形梁具有导电性或非导电性的电气特性,使层叠数片前述内含垂直探针树脂胶膜的复数梁合成型探针组合体得以实施。
    • 7. 发明专利
    • 電氣信號連接裝置、及使用此裝置之探針組裝體及探測器裝置
    • 电气信号连接设备、及使用此设备之探针组装体及探测器设备
    • TW200532204A
    • 2005-10-01
    • TW094107246
    • 2005-03-10
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01R
    • G01R1/0735G01R1/07314G01R31/2886
    • 對於具有高密度端子的電子裝置、或半導體晶粒,可一次全部同時地進行檢測測試。因此,做為電氣信號連接裝置,有接觸設於被檢查電氣機能元件之電氣連接用端子、進行電氣連接的垂直型探針,以及支持前述垂直型探針之樹脂薄膜,前述垂直型探針,在樹脂薄膜之面上,沿著該薄膜面的方向,具有彈性變形可能,將其前述垂直型探針之一端,接觸被檢查電氣機能元件的端子,將前述垂直型探針的另一端,接觸電氣機能檢查裝置的端子,在被檢查電氣機能元件與電氣機能檢查裝置之間,收發信號。
    • 对于具有高密度端子的电子设备、或半导体晶粒,可一次全部同时地进行检测测试。因此,做为电气信号连接设备,有接触设于被检查电气机能组件之电气连接用端子、进行电气连接的垂直型探针,以及支持前述垂直型探针之树脂薄膜,前述垂直型探针,在树脂薄膜之面上,沿着该薄膜面的方向,具有弹性变形可能,将其前述垂直型探针之一端,接触被检查电气机能组件的端子,将前述垂直型探针的另一端,接触电气机能检查设备的端子,在被检查电气机能组件与电气机能检查设备之间,收发信号。
    • 8. 发明专利
    • 接觸器裝置
    • 接触器设备
    • TW584728B
    • 2004-04-21
    • TW091105546
    • 2002-03-22
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI高井 新吉 TAKAI SHINKICHI
    • G01RH05K
    • G01R1/07357G01R1/06727G01R1/06738G01R1/07314
    • 受測晶片上之空間為與該受測晶片對應之接觸器的占有空間,且接觸器並不會侵入其他受測晶片上的空間。因此本發明具備:橫向並列接觸器群,其包含多個第1垂直型接觸器;以及縱向並列接觸器群,其包含多個第2垂直型接觸器。上述橫向並列接觸器群、縱向並列接觸器群在受測晶片之平面區域上占有不同之變形空間,且被收束於受測晶片之平面區域內。五、(一)、本案代表圖為:第六圖
      (二)、本案代表圖之元件代表符號簡單說明:
      112:第1垂直型接觸器 212:第2垂直型接觸器
      120:電極墊 121:橫向並列接觸器群
      122:縱向並列接觸器群 13:輸入部
      19:晶圓 20:電路網
    • 受测芯片上之空间为与该受测芯片对应之接触器的占有空间,且接触器并不会侵入其他受测芯片上的空间。因此本发明具备:横向并列接触器群,其包含多个第1垂直型接触器;以及纵向并列接触器群,其包含多个第2垂直型接触器。上述横向并列接触器群、纵向并列接触器群在受测芯片之平面区域上占有不同之变形空间,且被收束于受测芯片之平面区域内。五、(一)、本案代表图为:第六图 (二)、本案代表图之组件代表符号简单说明: 112:第1垂直型接触器 212:第2垂直型接触器 120:电极垫 121:横向并列接触器群 122:纵向并列接触器群 13:输入部 19:晶圆 20:电路网
    • 9. 发明专利
    • 探針組立
    • 探针组立
    • TW200907353A
    • 2009-02-16
    • TW097127694
    • 2008-07-21
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • G01R
    • G01R1/07364G01R3/00Y10T29/49222
    • 本發明的目的在於提供一種成本低廉的探針組合裝置,對應各個LSI焊墊的狹小化,而有效的在檢測基板上配置探針端子處密集的配線圖樣。因此,使用連接金屬銅箔的樹脂薄膜,將前述金箔蝕刻加工,在樹脂薄膜上由含有探針機能的導電體形成導電圖樣,層疊或是並列設置數個前述探針樹脂薄膜,使半導體晶片的電極焊墊彙集接觸前述的探針先端部,為了進行半導體晶片電路檢測的探針組合體,根據導體的圖樣,一同接續前述探針間,在前述探針同一平面內,且在第1方向(上下方向)的相反側,具備與電路基板的接續用區域接觸電氣端子部探針組合體。
    • 本发明的目的在于提供一种成本低廉的探针组合设备,对应各个LSI焊垫的狭小化,而有效的在检测基板上配置探针端子处密集的配线图样。因此,使用连接金属铜箔的树脂薄膜,将前述金箔蚀刻加工,在树脂薄膜上由含有探针机能的导电体形成导电图样,层叠或是并列设置数个前述探针树脂薄膜,使半导体芯片的电极焊垫汇集接触前述的探针先端部,为了进行半导体芯片电路检测的探针组合体,根据导体的图样,一同接续前述探针间,在前述探针同一平面内,且在第1方向(上下方向)的相反侧,具备与电路基板的接续用区域接触电气端子部探针组合体。
    • 10. 发明专利
    • 探針組裝
    • 探针组装
    • TW200844449A
    • 2008-11-16
    • TW097105687
    • 2008-02-19
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI
    • 木本軍生 KIMOTO GUNSEI佐久間健 SAKUMA KEN
    • G01R
    • G01R1/06716G01R1/06727G01R1/06738
    • 本發明的目的在於提供可細微控制摩擦動作,且不需清理的狹間距電極塊探針;一種探針組裝的特徵在於:具備讓簧片朝垂直方向變形之z變形部、及剖面形成彎曲形狀之接觸部,並透過手臂構件連接支撐前述z變形部的頂端部,當前述接觸部接觸電極塊後,可朝垂直方向進行位移,且可進行轉動之頂端接觸構件、及限制前述頂端接觸構件運動之定位停止梢;定位停止梢是以當該頂端接觸構件經過一定旋轉移動量時,在電極塊押力所伴隨之該頂端接觸構件旋轉方向的延長上,僅阻止後續轉動,而不妨礙垂直方向動作的方式,限制前述頂端接觸構件的運動。
    • 本发明的目的在于提供可细微控制摩擦动作,且不需清理的狭间距电极块探针;一种探针组装的特征在于:具备让簧片朝垂直方向变形之z变形部、及剖面形成弯曲形状之接触部,并透过手臂构件连接支撑前述z变形部的顶端部,当前述接触部接触电极块后,可朝垂直方向进行位移,且可进行转动之顶端接触构件、及限制前述顶端接触构件运动之定位停止梢;定位停止梢是以当该顶端接触构件经过一定旋转移动量时,在电极块押力所伴随之该顶端接触构件旋转方向的延长上,仅阻止后续转动,而不妨碍垂直方向动作的方式,限制前述顶端接触构件的运动。