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    • 2. 发明专利
    • 防眩層用硬化性樹脂組成物及防眩薄膜 CURABLE RESIN COMPOSITION FOR ANTIGLARE LAYER AND ANTIGLARE LAYER
    • 防眩层用硬化性树脂组成物及防眩薄膜 CURABLE RESIN COMPOSITION FOR ANTIGLARE LAYER AND ANTIGLARE LAYER
    • TW200905252A
    • 2009-02-01
    • TW097110937
    • 2008-03-27
    • 大日本印刷股份有限公司 DAI NIPPON PRINTING CO., LTD.
    • 吉原俊夫 TOSHIO YOSHIHARA牛山章伸 AKINOBU USHIYAMA新貝藍 AI SHINKAI
    • G02BC08KC08LB32BG02F
    • G02B1/10G02B5/0221G02B5/0242G02B5/0278Y10T428/24479Y10T428/24612Y10T428/25
    • 本發明提供一種防眩薄膜,其主要設置於LCD、CRT、PDP等顯示器之前面,防止外光之反射,減少由於皂化處理而溶出或脫落至鹼性溶液中之反應性無機微粒子,且耐皂化性優異。本發明之防眩薄膜之特徵在於:於透明基材薄膜上,具有最表面具有凹凸形狀之防眩層;該防眩層至少包含由如下硬化性樹脂組成物硬化而成之凹凸層,該硬化性樹脂組成物包含平均粒徑為1 ���m以上且10 ���m以下之透光性微粒子A、平均粒徑為30 nm以上且100 nm以下且表面含有反應性官能基b之反應性無機微粒子B、及含有與該反應性官能基b具有交聯反應性之反應性官能基c的黏合劑成分C;上述防眩層具有透明基材薄膜之相反側之界面及其附近之上述反應性無機微粒子B之粒子數較少的表皮層,且相較於表皮層,於透明基材薄膜側具有上述微粒子B均勻存在之區域。
    • 本发明提供一种防眩薄膜,其主要设置于LCD、CRT、PDP等显示器之前面,防止外光之反射,减少由于皂化处理而溶出或脱落至碱性溶液中之反应性无机微粒子,且耐皂化性优异。本发明之防眩薄膜之特征在于:于透明基材薄膜上,具有最表面具有凹凸形状之防眩层;该防眩层至少包含由如下硬化性树脂组成物硬化而成之凹凸层,该硬化性树脂组成物包含平均粒径为1 ���m以上且10 ���m以下之透光性微粒子A、平均粒径为30 nm以上且100 nm以下且表面含有反应性官能基b之反应性无机微粒子B、及含有与该反应性官能基b具有交联反应性之反应性官能基c的黏合剂成分C;上述防眩层具有透明基材薄膜之相反侧之界面及其附近之上述反应性无机微粒子B之粒子数较少的表皮层,且相较于表皮层,于透明基材薄膜侧具有上述微粒子B均匀存在之区域。
    • 4. 发明专利
    • 曝光用遮罩之管理方法及曝光用遮罩 METHOD FOR MANAGING LIGHT EXPOSURE MASK AND LIGHT EXPOSURE MASK
    • TW200832049A
    • 2008-08-01
    • TW096130684
    • 2007-08-20
    • 大日本印刷股份有限公司 DAI NIPPON PRINTING CO., LTD.
    • 島田周 SHU SHIMADA山本英樹 HIDEKI YAMAMOTO內藤昭彥 AKIHIKO NAITOH
    • G03FH01L
    • G03F1/82G03F7/70916
    • 本發明係提供不需要施行對曝光用遮罩的成長性異物所造成之污染進行管理的遮罩或晶圓檢查,未依存遮罩履歷,具通用性且不致增加遮罩製造或檢查所需要的時間.成本,經常可運用依潔淨狀態使用遮罩的曝光用遮罩之管理方法,以及不致發生因成長性異物造成污染情況的曝光用遮罩。在使用上述曝光用遮罩的環境中,從上述環境中所實測得硫酸離子濃度、在上述曝光用遮罩表面上所吸附的最大硫酸離子吸附量、以及在上述曝光用遮罩表面發生上述異物的上述曝光用遮罩表面上所存在硫酸離子量的臨限値,計算出經一定時間後的上述曝光用遮罩表面之硫酸離子吸附量,並設定未發生上述異物的上述曝光用遮罩使用期限,且在上述使用期限前便將上述曝光用遮罩施行再洗淨後再使用。
    • 本发明系提供不需要施行对曝光用遮罩的成长性异物所造成之污染进行管理的遮罩或晶圆检查,未依存遮罩履历,具通用性且不致增加遮罩制造或检查所需要的时间.成本,经常可运用依洁净状态使用遮罩的曝光用遮罩之管理方法,以及不致发生因成长性异物造成污染情况的曝光用遮罩。在使用上述曝光用遮罩的环境中,从上述环境中所实测得硫酸离子浓度、在上述曝光用遮罩表面上所吸附的最大硫酸离子吸附量、以及在上述曝光用遮罩表面发生上述异物的上述曝光用遮罩表面上所存在硫酸离子量的临限値,计算出经一定时间后的上述曝光用遮罩表面之硫酸离子吸附量,并设置未发生上述异物的上述曝光用遮罩使用期限,且在上述使用期限前便将上述曝光用遮罩施行再洗净后再使用。
    • 6. 发明专利
    • 光學元件
    • 光学组件
    • TWI297785B
    • 2008-06-11
    • TW091132785
    • 2002-11-07
    • 大日本印刷股份有限公司 DAI NIPPON PRINTING CO., LTD.
    • 鹿島啓二 KEIJI KASHIMA
    • G02BG02F
    • G02B1/10G02B5/3016G02B7/008
    • 本發明係提供即使對製造影像顯示裝置等的光學機器
      之際之加熱,各種光學特性安定的聚合性液晶材料經予硬
      化而成的光學元件為主目的者。為達成上述目的,具有支
      持材及於前述支持材上聚合性液晶材料具有指定的液晶規
      則性並經予硬化而成的光學機能層之光學元件,前述光學
      元件係在指定溫度經予熱處理而成者,以前述熱處理後的
      前述光學機能層之膜厚為A,以再度在前述的熱處理溫度加
      熱前述光學元件60分鐘後的前述光學機能層之膜厚為B時
      ,以(A-B)/A定義的前述光學機能層之膜厚減少率設成
      5%以下為特徵。
    • 本发明系提供即使对制造影像显示设备等的光学机器 之际之加热,各种光学特性安定的聚合性液晶材料经予硬 化而成的光学组件为主目的者。为达成上述目的,具有支 持材及于前述支持材上聚合性液晶材料具有指定的液晶规 则性并经予硬化而成的光学机能层之光学组件,前述光学 组件系在指定温度经予热处理而成者,以前述热处理后的 前述光学机能层之膜厚为A,以再度在前述的热处理温度加 热前述光学组件60分钟后的前述光学机能层之膜厚为B时 ,以(A-B)/A定义的前述光学机能层之膜厚减少率设成 5%以下为特征。