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    • 84. 发明专利
    • 紅外線檢測裝置
    • 红外线检测设备
    • TW201821775A
    • 2018-06-16
    • TW106139799
    • 2017-11-17
    • 日商松下知識產權經營股份有限公司PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD.
    • 小林久也KOBAYASHI, HISAYA橋本裕介HASHIMOTO, YUSUKE
    • G01J5/18G02B13/14
    • 本發明之目的在於提供一種,可抑制偵測區域內之靈敏度的不均之紅外線檢測裝置。使第1光接收單元(2a)之複數個第1透鏡(50a),分別與複數個小偵測區域(13)中之1個小偵測區域(13)對應;使複數個第2光接收單元(2b)各自之複數個第2透鏡(50b),分別與複數個小偵測區域(13)中之1個小偵測區域(13)對應。複數個第2光接收單元(2b)各自之第2光接收元件(30b)的光軸,相對於第1光接收單元(2a)之第1光接收元件(30a)的光軸,彼此往不同的方向傾斜。複數個小偵測區域(13)中之與第1光接收單元(2a)對應的第1群小偵測區域(13)之數目,較複數個小偵測區域(13)中之與複數個第2光接收單元(2b)分別對應的第2群小偵測區域(13)之數目更多。
    • 本发明之目的在于提供一种,可抑制侦测区域内之灵敏度的不均之红外线检测设备。使第1光接收单元(2a)之复数个第1透镜(50a),分别与复数个小侦测区域(13)中之1个小侦测区域(13)对应;使复数个第2光接收单元(2b)各自之复数个第2透镜(50b),分别与复数个小侦测区域(13)中之1个小侦测区域(13)对应。复数个第2光接收单元(2b)各自之第2光接收组件(30b)的光轴,相对于第1光接收单元(2a)之第1光接收组件(30a)的光轴,彼此往不同的方向倾斜。复数个小侦测区域(13)中之与第1光接收单元(2a)对应的第1群小侦测区域(13)之数目,较复数个小侦测区域(13)中之与复数个第2光接收单元(2b)分别对应的第2群小侦测区域(13)之数目更多。
    • 85. 发明专利
    • 漏電檢測裝置
    • 漏电检测设备
    • TW201819934A
    • 2018-06-01
    • TW106140840
    • 2017-11-24
    • 日商松下知識產權經營股份有限公司PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD.
    • 生島剛IKUSHIMA, TSUYOSHI西垣朋一NISHIGAKI, TOMOKAZU福尾尚紀FUKUO, NAOKI
    • G01R31/02
    • 本發明之目的在於提供可使檢測精度提高之漏電檢測裝置。漏電檢測裝置(100)具有交流漏電檢測部(1)、直流漏電檢測部(2)及邏輯和電路(3)。交流漏電檢測部(1)之第一判定部(16)根據由修正部(14)輸出之修正第一電壓信號與第一臨界值的大小關係,而輸出第一輸出信號。直流漏電檢測部(2)之激磁部(23)施加激磁頻率之激磁電壓至激磁線圈(22)。直流成分檢測部(25)根據藉由電流檢測用電阻(2 4)而轉換之電壓的直流成分大小輸出第二電壓信號。第二判定部(26)根據由直流成分檢測部(25)輸出之第二電壓信號與第二臨界值的大小關係輸出第二輸出信號。直流漏電檢測部(2)具有低通濾波器(27)。低通濾波器(27)設置在激磁部(23)中電性連接激磁線圈(22)與電流檢測電阻(24)之連接點的輸入端與激磁線圈(22)之間。
    • 本发明之目的在于提供可使检测精度提高之漏电检测设备。漏电检测设备(100)具有交流漏电检测部(1)、直流漏电检测部(2)及逻辑和电路(3)。交流漏电检测部(1)之第一判定部(16)根据由修正部(14)输出之修正第一电压信号与第一临界值的大小关系,而输出第一输出信号。直流漏电检测部(2)之激磁部(23)施加激磁频率之激磁电压至激磁线圈(22)。直流成分检测部(25)根据借由电流检测用电阻(2 4)而转换之电压的直流成分大小输出第二电压信号。第二判定部(26)根据由直流成分检测部(25)输出之第二电压信号与第二临界值的大小关系输出第二输出信号。直流漏电检测部(2)具有低通滤波器(27)。低通滤波器(27)设置在激磁部(23)中电性连接激磁线圈(22)与电流检测电阻(24)之连接点的输入端与激磁线圈(22)之间。