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    • 75. 发明专利
    • 水晶振盪式膜厚計
    • 水晶振荡式膜厚计
    • TW201608207A
    • 2016-03-01
    • TW104111253
    • 2015-04-08
    • 佳能特機股份有限公司CANON TOKKI CORPORATION
    • 田島三之TAJIMA, MIYUKI田村博之TAMURA, HIROYUKI
    • G01B17/02C23C14/24C23C14/52
    • 提供藉於水晶振動子(4)的蒸鍍面側的電極膜(5)上預先形成之基底膜的設定,抑制水晶振動子的等效串聯電阻之上升,謀求長壽命化的優異之水晶振盪式膜厚計。 一種水晶振盪式膜厚計,係在真空槽(1)內使從蒸發源(2)予以蒸發之蒸鍍材料堆積於基板(3)表面而形成薄膜的真空蒸鍍裝置(D)下之膜厚控制用的水晶振盪式膜厚計(M),構成為將與前述蒸鍍材料不同之由包含至少一個以上的碳原子之有機物所構成的有機材料,在水晶振動子(4)之蒸鍍面側的電極膜(5)上藉預先蒸鍍作被覆而形成有機材料基底膜(6),在此有機材料基底膜(6)上予以蒸鍍前述蒸鍍材料而就此蒸鍍材料的膜厚或蒸鍍速度作計測。
    • 提供藉于水晶振动子(4)的蒸镀面侧的电极膜(5)上预先形成之基底膜的设置,抑制水晶振动子的等效串联电阻之上升,谋求长寿命化的优异之水晶振荡式膜厚计。 一种水晶振荡式膜厚计,系在真空槽(1)内使从蒸发源(2)予以蒸发之蒸镀材料堆积于基板(3)表面而形成薄膜的真空蒸镀设备(D)下之膜厚控制用的水晶振荡式膜厚计(M),构成为将与前述蒸镀材料不同之由包含至少一个以上的碳原子之有机物所构成的有机材料,在水晶振动子(4)之蒸镀面侧的电极膜(5)上藉预先蒸镀作被覆而形成有机材料基底膜(6),在此有机材料基底膜(6)上予以蒸镀前述蒸镀材料而就此蒸镀材料的膜厚或蒸镀速度作计测。