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71. 发明专利

TW200916801A 一種探針塔與其製作方法、晶圓測試承座、晶圓測試系統與其測試方法 A POGO TOWER, FABRICATION METHOD THEREOF, PROBER, WAFER TESTING SYSTEM AND METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：一种探针塔与其制作方法、晶圆测试承座、晶圆测试系统与其测试方法 A POGO TOWER, FABRICATION METHOD THEREOF, PROBER, WAFER TESTING SYSTEM AND METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW200916801A
公开(公告)日：2009-04-16
申请号：TW096137949
申请日：2007-10-11
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：林源記 LIN, YUAN CHI , 黎孟達 LI, MENG TA
IPC分类号： G01R
摘要：本發明揭露一種探針塔,用於晶圓測試,包含:一圓形本體,配置有LCD測試區以及I/O測試區,且圓形本體具有一本體上座及一本體下座;複數群探針孔,配置在LCD測試區及I/O測試區,同時垂直貫穿本體上座及本體下座;以及複數群測試探針,配置在等探針孔內,用以傳遞通過圓形本體之測試信號;其特徵在於複數群接地孔配置在I/O測試區;複數群接地針,以緊配方式嵌入於本體上座及本體下座其中之一的複數群接地孔,並電性導通至圓形本體,用以將鄰近之測試探針之雜訊及漏電流接地;複數群間隔環,以絕緣材料製成,配置於探針孔之端部,用以固定測試探針於圓形本體上,且提供測試探針及圓形本體之電性絕緣。
简体摘要：本发明揭露一种探针塔,用于晶圆测试,包含:一圆形本体,配置有LCD测试区以及I/O测试区,且圆形本体具有一本体上座及一本体下座;复数群探针孔,配置在LCD测试区及I/O测试区,同时垂直贯穿本体上座及本体下座;以及复数群测试探针,配置在等探针孔内,用以传递通过圆形本体之测试信号;其特征在于复数群接地孔配置在I/O测试区;复数群接地针,以紧配方式嵌入于本体上座及本体下座其中之一的复数群接地孔,并电性导通至圆形本体,用以将邻近之测试探针之噪声及漏电流接地;复数群间隔环,以绝缘材料制成,配置于探针孔之端部,用以固定测试探针于圆形本体上,且提供测试探针及圆形本体之电性绝缘。

72. 发明专利

TW200905774A 標記晶圓之方法、標記劣品晶粒之方法、晶圓對位之方法、以及晶圓測試機 METHOD FOR MARKING WAFER, METHOD FOR MARKING FAILED DIE, METHOD FOR ALIGNING WAFER AND WAFER TEST EQUIPMENT 失效
简体标题：标记晶圆之方法、标记劣品晶粒之方法、晶圆对位之方法、以及晶圆测试机 METHOD FOR MARKING WAFER, METHOD FOR MARKING FAILED DIE, METHOD FOR ALIGNING WAFER AND WAFER TEST EQUIPMENT
公开(公告)号：TW200905774A
公开(公告)日：2009-02-01
申请号：TW096128053
申请日：2007-07-31
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：鄭匡文 CHENG, KUANG WEN
IPC分类号： H01L
摘要：本發明提供一種標記晶圓之方法,其包括提供一具有至少兩個參考標記之晶圓,此晶圓之一表面包含有複數個晶粒,同時檢測晶圓之上述參考標記以執行一晶圓對位之步驟,並且利用一雷射光對上述晶圓作標記。另,本發明亦可適用於晶圓之晶粒例如劣品晶粒的標記,其相較於習知利用油墨對劣品晶粒進行標記的技術而言,不僅具有可減少晶圓污染、作業時間和廠房空間、以及永久標記等優點,更具有易於利用現今的晶圓測試機或油墨機台進行改造之特點。
简体摘要：本发明提供一种标记晶圆之方法,其包括提供一具有至少两个参考标记之晶圆,此晶圆之一表面包含有复数个晶粒,同时检测晶圆之上述参考标记以运行一晶圆对位之步骤,并且利用一激光光对上述晶圆作标记。另,本发明亦可适用于晶圆之晶粒例如劣品晶粒的标记,其相较于习知利用油墨对劣品晶粒进行标记的技术而言,不仅具有可减少晶圆污染、作业时间和厂房空间、以及永久标记等优点,更具有易于利用现今的晶圆测试机或油墨机台进行改造之特点。

73. 发明专利

TW200904731A 可調整式晶片夾治具失效
简体标题：可调整式芯片夹治具
公开(公告)号：TW200904731A
公开(公告)日：2009-02-01
申请号：TW096127133
申请日：2007-07-25
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：曾鴻賢
IPC分类号： B65G
摘要：本發明為一種可調整式晶片夾治具,主要是於一承載台上以磁力吸附固定有複數個承載座。每一個承載座之上表面設有一晶片容置槽。晶片容置槽是介於彼此呈正交排列之一經向調整裝置與一緯向調整裝置之間,並透過經向調整裝置與緯向調整裝置分別調整其位置來改變晶片容置槽之大小。因此,根據不同種類的晶片尺寸不同,可靈活且彈性的調整經向調整裝置與緯向調整裝置,使得待測晶片能適當且穩固的置放於晶片容置槽內,進而達到能正確量測晶片之目的。
简体摘要：本发明为一种可调整式芯片夹治具,主要是于一承载台上以磁力吸附固定有复数个承载座。每一个承载座之上表面设有一芯片容置槽。芯片容置槽是介于彼此呈正交排列之一经向调整设备与一纬向调整设备之间,并透过经向调整设备与纬向调整设备分别调整其位置来改变芯片容置槽之大小。因此,根据不同种类的芯片尺寸不同,可灵活且弹性的调整经向调整设备与纬向调整设备,使得待测芯片能适当且稳固的置放于芯片容置槽内,进而达到能正确量测芯片之目的。

74. 发明专利

TWI304628B 晶舟輔助裝置 ASSISTING APPARATUS FOR A WAFER CASSETTE 失效
简体标题：晶舟辅助设备 ASSISTING APPARATUS FOR A WAFER CASSETTE
公开(公告)号：TWI304628B
公开(公告)日：2008-12-21
申请号：TW095128608
申请日：2006-08-04
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：羅志仁 LO, CHIH JEN , 戴碧輝 DAI, JOHNNY , 鄒俊傑 TSOU, CHUN CHIEH , 陳秀怡 CHEN, HSIU YI , 蔣文國 CHIANG, WEN KUO
IPC分类号： H01L
摘要：一種晶舟的輔助裝置,其主要構造係至少包括有一底座,用以定位一設有複數個晶舟溝槽之晶舟;一側壁設置於底座的側邊;一導軌框在對應於各個晶舟溝槽之位置分別設有一導軌槽,且各個導軌槽之一端的寬度係向導軌槽中間呈現漸縮之態樣;以及一樞接器,一端連接於側壁,另一端連接於導軌框,使得該導軌框得以相對側壁旋轉,而可將導軌框之各個導軌槽分別串接其所對應之晶舟溝槽。藉由本發明之晶舟輔助裝置,使用者由晶舟取放晶圓框架時,可藉由導軌槽的寬度來導引晶圓框架,使晶圓不至於因取出或置入之角度而造成碰觸、摩擦或刮傷。
简体摘要：一种晶舟的辅助设备,其主要构造系至少包括有一底座,用以定位一设有复数个晶舟沟槽之晶舟;一侧壁设置于底座的侧边;一导轨框在对应于各个晶舟沟槽之位置分别设有一导轨槽,且各个导轨槽之一端的宽度系向导轨槽中间呈现渐缩之态样;以及一枢接器,一端连接于侧壁,另一端连接于导轨框,使得该导轨框得以相对侧壁旋转,而可将导轨框之各个导轨槽分别串接其所对应之晶舟沟槽。借由本发明之晶舟辅助设备,用户由晶舟取放晶圆框架时,可借由导轨槽的宽度来导引晶圆框架,使晶圆不至于因取出或置入之角度而造成碰触、摩擦或刮伤。

75. 发明专利

TW200849438A 晶片分類裝置與方法 CHIP SORTING APPARATUS AND METHOD 审中-公开
简体标题：芯片分类设备与方法 CHIP SORTING APPARATUS AND METHOD
公开(公告)号：TW200849438A
公开(公告)日：2008-12-16
申请号：TW096120850
申请日：2007-06-08
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：賴昌鑫 LAI, CHANG HSING
IPC分类号： H01L
摘要：本發明揭露一種晶片分類裝置與方法,該晶片分類裝置包含:一晶片拾取頭以及一影像擷取裝置。該晶片拾取頭,係用以將一晶圓上之一晶片放入一匣盤;該影像擷取裝置係用以檢測該晶片上之晶片表面,藉以檢測該晶片之表面缺陷。該晶片分類方法,包含:藉由一晶片拾取頭,將一晶圓上之一晶片移至一匣盤;以及藉由一影像擷取裝置,檢測該晶片上之晶片表面。
简体摘要：本发明揭露一种芯片分类设备与方法,该芯片分类设备包含:一芯片十取头以及一影像截取设备。该芯片十取头,系用以将一晶圆上之一芯片放入一匣盘;该影像截取设备系用以检测该芯片上之芯片表面,借以检测该芯片之表面缺陷。该芯片分类方法,包含:借由一芯片十取头,将一晶圆上之一芯片移至一匣盘;以及借由一影像截取设备,检测该芯片上之芯片表面。

76. 发明专利

TW200848722A 自動光學檢測裝置 AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION DEVICE 审中-公开
简体标题：自动光学检测设备 AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION DEVICE
公开(公告)号：TW200848722A
公开(公告)日：2008-12-16
申请号：TW096121931
申请日：2007-06-15
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：韓信輝 HAN, HSIN HUI
IPC分类号： G01N , H01L
CPC分类号： G01N21/95684
摘要：本發明揭露一種自動光學檢測裝置,應用於檢測積體電路之表面缺陷,該自動光學檢測裝置包含:一匣盤傳送裝置,用以傳送承載至少一積體電路之匣盤,該匣盤具有至少一夾持部;一壓持機構,用以夾持該夾持部,使該匣盤固定於該匣盤傳送裝置;以及一影像擷取裝置,用以擷取該積體電路表面之一影像,其中藉由分析該影像,可檢測該積體電路之表面缺陷。
简体摘要：本发明揭露一种自动光学检测设备,应用于检测集成电路之表面缺陷,该自动光学检测设备包含:一匣盘发送设备,用以发送承载至少一集成电路之匣盘,该匣盘具有至少一夹持部;一压持机构,用以夹持该夹持部,使该匣盘固定于该匣盘发送设备;以及一影像截取设备,用以截取该集成电路表面之一影像,其中借由分析该影像,可检测该集成电路之表面缺陷。

77. 发明专利

TWI302009B 半導體構裝元件之容器轉換裝置 TRAY TO TUBE MANUAL EXCHANGER 失效
简体标题：半导体构装组件之容器转换设备 TRAY TO TUBE MANUAL EXCHANGER
公开(公告)号：TWI302009B
公开(公告)日：2008-10-11
申请号：TW095124808
申请日：2006-07-07
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：林源記 LIN, YUAN-CHI , 黎孟達 LI, MENG-TA
IPC分类号： H01L , B65D
CPC分类号： H05K13/021
摘要：本發明之半導體構裝元件之容器轉換裝置包含:夾托盤機構模組以及雙軸旋轉機構模組。夾托盤機構模組包含:一托盤夾具、一滑道基板以及一插管機構。滑道基板表面具有複數個滑道,設於托盤夾具之下表面,滑道基板之滑道出口處設一插管機構,插管機構之每一料管插入槽可插入一料管(tube)。夾托盤機構模組係與雙軸旋轉機構模組樞接。當水平位置之夾托盤機構模組夾住一承載有複數個半導體構裝元件之托盤後,依雙軸旋轉機構模組之第二旋轉軸旋轉180度,使托盤上之每一列半導體構裝元件落入滑道基板之每一滑道內。再依雙軸旋轉機構模組之第一旋轉軸,使夾托盤機構模組傾斜一特定角度,使滑道基板之每一滑道上的半導體構裝元件沿著滑道滑入插管機構之料管中。
简体摘要：本发明之半导体构装组件之容器转换设备包含:夹托盘机构模块以及双轴旋转机构模块。夹托盘机构模块包含:一托盘夹具、一滑道基板以及一插管机构。滑道基板表面具有复数个滑道,设于托盘夹具之下表面,滑道基板之滑道出口处设一插管机构,插管机构之每一料管插入槽可插入一料管(tube)。夹托盘机构模块系与双轴旋转机构模块枢接。当水平位置之夹托盘机构模块夹住一承载有复数个半导体构装组件之托盘后,依双轴旋转机构模块之第二旋转轴旋转180度,使托盘上之每一列半导体构装组件落入滑道基板之每一滑道内。再依双轴旋转机构模块之第一旋转轴,使夹托盘机构模块倾斜一特定角度,使滑道基板之每一滑道上的半导体构装组件沿着滑道滑入插管机构之料管中。

78. 发明专利

TW200839913A 晶圓雷射刻印方法與其系統 METHOD FOR WAFER LASER MARKING AND SYSTEM USING THE SAME 审中-公开
简体标题：晶圆激光刻印方法与其系统 METHOD FOR WAFER LASER MARKING AND SYSTEM USING THE SAME
公开(公告)号：TW200839913A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：TW096111321
申请日：2007-03-30
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：鄭匡文 CHENG, KUANG WEN , 盧玟瑀 LU, WEN YU
IPC分类号： H01L
摘要：本發明係提供一種晶圓雷射刻印(Laser Marking)方法與其系統,其係以雷射刻印方式在一晶圓上刻印多種資訊,主要包括以下步驟:提供一刻印檔案,其中包含有多個不相同之刻印資訊對應至不相同的晶粒;讀取該刻印檔案;提供一資料暫存區,依晶粒順序儲存該刻印檔案之一部份或全部;載入一晶圓至刻印機台;執行該晶圓定位;將該晶圓各晶粒所對應之刻印資訊循序刻印於該晶粒的被動面,直至刻印完畢;以及自刻印機台釋出該晶圓。
简体摘要：本发明系提供一种晶圆激光刻印(Laser Marking)方法与其系统,其系以激光刻印方式在一晶圆上刻印多种信息,主要包括以下步骤:提供一刻印文档,其中包含有多个不相同之刻印信息对应至不相同的晶粒;读取该刻印文档;提供一数据暂存区,依晶粒顺序存储该刻印文档之一部份或全部;加载一晶圆至刻印机台;运行该晶圆定位;将该晶圆各晶粒所对应之刻印信息循序刻印于该晶粒的被动面,直至刻印完毕;以及自刻印机台发佈该晶圆。

79. 发明专利

TW200836279A 半導體元件之預燒測試裝置 BURN-IN TESTING APPERATURES FOR SEMICONDUCTOR CHIP 审中-公开
简体标题：半导体组件之预烧测试设备 BURN-IN TESTING APPERATURES FOR SEMICONDUCTOR CHIP
公开(公告)号：TW200836279A
公开(公告)日：2008-09-01
申请号：TW096106308
申请日：2007-02-16
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：劉大綱 LIU, TA KUNG , 湯永仁 TANG, YUNG JEN
IPC分类号： H01L
摘要：一種預燒板(Burn-In Board)結構,包括一個基板,其上配置有一個控制單元及複數條金屬導線;複數個次控制單元,係配置於基板上並與控制單元電性連接;複數個插座裝置,係與複數個次控制單元相應配置於基板上,並與次控制單元電性連接;以及複數個直流至直流轉換器,係與複數個插座裝置相應配置於基板上並與插座裝置電性連接;其中直流至直流轉換器係將輸入預燒板的直流電壓降低並同時將輸入預燒板的電流升高,然後將降低的直流電壓及升高後的電流輸出至每一相應之測試座。
简体摘要：一种预烧板(Burn-In Board)结构,包括一个基板,其上配置有一个控制单元及复数条金属导线;复数个次控制单元,系配置于基板上并与控制单元电性连接;复数个插座设备,系与复数个次控制单元相应配置于基板上,并与次控制单元电性连接;以及复数个直流至直流转换器,系与复数个插座设备相应配置于基板上并与插座设备电性连接;其中直流至直流转换器系将输入预烧板的直流电压降低并同时将输入预烧板的电流升高,然后将降低的直流电压及升高后的电流输出至每一相应之测试座。

80. 发明专利

TWI299443B 捲帶規格之調整定位裝置及方法 APPARATUS AND METHOD OF ADJUSTING DISTINCT TAPE REELS 失效
简体标题：卷带规格之调整定位设备及方法 APPARATUS AND METHOD OF ADJUSTING DISTINCT TAPE REELS
公开(公告)号：TWI299443B
公开(公告)日：2008-08-01
申请号：TW094131111
申请日：2005-09-09
申请人：京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：林源記 LIN, YUAN CHI , 黃鈞鴻 HUANG, BOB
IPC分类号： G05B
摘要：一種捲帶規格之調整定位裝置,其包含一影像檢測器,位於捲帶之上方;以及一中孔檢測器,用以檢測捲帶之中孔。其中,影像檢測器與中孔檢測器之間具有一固定距離,且固定距離係為各種捲帶規格之公倍數。
简体摘要：一种卷带规格之调整定位设备,其包含一影像检测器,位于卷带之上方;以及一中孔检测器,用以检测卷带之中孔。其中,影像检测器与中孔检测器之间具有一固定距离,且固定距离系为各种卷带规格之公倍数。

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