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71. 发明专利

TWI251662B 全自動瓶胚檢測方法失效
简体标题：全自动瓶胚检测方法
公开(公告)号：TWI251662B
公开(公告)日：2006-03-21
申请号：TW093141469
申请日：2004-12-30
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：卓家軒 , 周昆民 , 廖茂欽 , 張志祥 , 蔡明倫 , 林永基
IPC分类号： G01B
摘要：一種全自動瓶胚檢測方法，是先將一批待測瓶胚置放在一料架上，然後將該待測瓶胚的檢測資料鍵入一控制系統，之後可藉由一抓取單元抓取一待測瓶胚並將其置放在一檢測台上，續藉由一影像擷取單元配合該控制系統，則可找到該待測瓶胚的量測基準面並令該檢測台轉動以使該量測基準面位於標準定位位置，最後再藉由該影像擷取單元取得數張待測瓶胚的影像並傳輸至該控制系統，即可配合一量測軟體得出該待測瓶胚的檢測資料，進而完成檢測作業，使本發明具有可提高作業效率及檢測品質的特性。
简体摘要：一种全自动瓶胚检测方法，是先将一批待测瓶胚置放在一料架上，然后将该待测瓶胚的检测数据键入一控制系统，之后可借由一抓取单元抓取一待测瓶胚并将其置放在一检测台上，续借由一影像截取单元配合该控制系统，则可找到该待测瓶胚的量测基准面并令该检测台转动以使该量测基准面位于标准定位位置，最后再借由该影像截取单元取得数张待测瓶胚的影像并传输至该控制系统，即可配合一量测软件得出该待测瓶胚的检测数据，进而完成检测作业，使本发明具有可提高作业效率及检测品质的特性。

72. 实用新型

TWM288060U 光收發模組之壽命試驗裝置失效
简体标题：光收发模块之寿命试验设备
公开(公告)号：TWM288060U
公开(公告)日：2006-02-21
申请号：TW094217850
申请日：2005-10-14
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：鄭時閔 , 劉旺林 , 塗吉鎮 , 謝尚斌
IPC分类号： H04B , G02B
摘要：本創作係一種光收發模組之壽命試驗裝置，該壽命試驗裝置包括：一控制電路模組，連接控制光收發模組；一參數控制電路模組，提供輸出入參數值的設定與控制驅動因子之參數；一監控處理電路模組，接收控制電路模組所傳回之訊號，與對控制電路模組所傳回之訊號進行訊號處理、統計運算與資料庫的建置；藉此試驗結果除可完全自動監控外，亦可統計輸出結果，與建置資料庫。
简体摘要：本创作系一种光收发模块之寿命试验设备，该寿命试验设备包括：一控制电路模块，连接控制光收发模块；一参数控制电路模块，提供输出入参数值的设置与控制驱动因子之参数；一监控处理电路模块，接收控制电路模块所传回之信号，与对控制电路模块所传回之信号进行信号处理、统计运算与数据库的建置；借此试验结果除可完全自动监控外，亦可统计输出结果，与建置数据库。

73. 发明专利

TWI248630B 製作奈米碳管場效發射顯示器之陰極板及奈米碳管場效發射顯示器的方法有权
简体标题：制作奈米碳管场效发射显示器之阴极板及奈米碳管场效发射显示器的方法
公开(公告)号：TWI248630B
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：TW093114085
申请日：2004-05-19
申请人：財團法人精密機械研究發展中心 , 蔡宜壽
发明人：蔡宜壽 , 鍾添淦 , 劉旺林 , 詹子奇
IPC分类号： H01J
摘要：一種製作奈米碳管場效發射顯示器之陰極板的方法，包含以下步驟：(A)於一具有一導電層的第一板體上形成一奈米碳管塗層、(B)提供一引導模板、(C)於該引導模板及該第一板體兩者間提供一磁場、(D)壓合該引導模板及該奈米碳管塗層、(E)固化該奈米碳管塗層，及(F)分離該引導模板及具有該奈米碳管塗層的第一板體。藉此，在該奈米碳管塗層上形成複數相間隔設置並具有複數呈順向排列之奈米碳管的碳管區，以製得一具有該第一板體、該導電層及該等碳管區的陰極板。
简体摘要：一种制作奈米碳管场效发射显示器之阴极板的方法，包含以下步骤：(A)于一具有一导电层的第一板体上形成一奈米碳管涂层、(B)提供一引导模板、(C)于该引导模板及该第一板体两者间提供一磁场、(D)压合该引导模板及该奈米碳管涂层、(E)固化该奈米碳管涂层，及(F)分离该引导模板及具有该奈米碳管涂层的第一板体。借此，在该奈米碳管涂层上形成复数相间隔设置并具有复数呈顺向排列之奈米碳管的碳管区，以制得一具有该第一板体、该导电层及该等碳管区的阴极板。

74. 发明专利

TWI248527B 光收發模組之試驗裝置有权
简体标题：光收发模块之试验设备
公开(公告)号：TWI248527B
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：TW093111028
申请日：2004-04-21
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：鐘添淦 , 鄭時閔 , 李恩杰 , 謝尚斌
IPC分类号： G02B
摘要：一種光收發模組之試驗裝置，本發明係一種光收發模組之試驗裝置，該裝置包括：一控制電路模組，連接控制光收發模組；一參數控制電路模組，提供輸出入參數值的設定與控制驅動因子之參數；一監控處理電路模組，接收控制電路模組所傳回之訊號，與對控制電路模組所傳回之訊號進行訊號處理、統計運算與資料庫的建置；藉此可將試驗結果除可完全自動監控外，亦可統計輸出結果，與建置資料庫。
简体摘要：一种光收发模块之试验设备，本发明系一种光收发模块之试验设备，该设备包括：一控制电路模块，连接控制光收发模块；一参数控制电路模块，提供输出入参数值的设置与控制驱动因子之参数；一监控处理电路模块，接收控制电路模块所传回之信号，与对控制电路模块所传回之信号进行信号处理、统计运算与数据库的建置；借此可将试验结果除可完全自动监控外，亦可统计输出结果，与建置数据库。

75. 发明专利

TWI230109B 具有補償軸座加工誤差之裝配施工方法失效
简体标题：具有补偿轴座加工误差之装配施工方法
公开(公告)号：TWI230109B
公开(公告)日：2005-04-01
申请号：TW092109596
申请日：2003-04-24
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：詹炳熾 , 黃英權
IPC分类号： B23Q
摘要：一種具有補償軸座加工誤差之裝配施工方法，適用於孔軸配合處時，是將一標準工模套設在一軸座單元的一軸孔內部，且在標準工模與軸座單元之間形成至少一沿軸線延伸的環狀空間，又將呈液態的填充材料灌注在該空間中。當填充材料固化且取出標準工模後，再將要裝配的軸件單元套入軸座單元中，即可完成具有精準對心之軸座單元與軸件單元的組配。適用於數軸座單元之軸線校準施工時，亦在一固定物與該等軸座單元之間灌注填充材料以形成數墊件。
简体摘要：一种具有补偿轴座加工误差之装配施工方法，适用于孔轴配合处时，是将一标准工模套设在一轴座单元的一轴孔内部，且在标准工模与轴座单元之间形成至少一沿轴线延伸的环状空间，又将呈液态的填充材料灌注在该空间中。当填充材料固化且取出标准工模后，再将要装配的轴件单元套入轴座单元中，即可完成具有精准对心之轴座单元与轴件单元的组配。适用于数轴座单元之轴线校准施工时，亦在一固定物与该等轴座单元之间灌注填充材料以形成数垫件。

76. 发明专利

TW200508568A 離心沉降式之粉粒體粒徑線上量測分析裝置审中-公开
简体标题：离心沉降式之粉粒体粒径在线量测分析设备
公开(公告)号：TW200508568A
公开(公告)日：2005-03-01
申请号：TW092123941
申请日：2003-08-29
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：張立信 , 武東星 , 鍾添淦 , 詹子奇 , 簡國諭
IPC分类号： G01B , B04B
摘要：一種離心沉降式之粉粒體粒徑線上量測分析裝置，包含一能使粉粒體沉降及與樣本分離的離心沉降單元、一與該離心沉降單元及一濕式研磨設備形成循環迴路的傳輸管路單元、一能測知粉粒體沉降高度的光收發單元，及一與前述各單元電性連結的控制單元。藉此，使該濕式研磨設備內的樣本可定時定量注入該離心沉降單元，再回流至該濕式研磨設備內，而能在線上直接分析粉粒體的粒徑，不但更快速、準，且能即時測知濕式研磨設備內粉粒體的粒徑是否達到尺寸標準，有效提昇製程上的經濟效益。
简体摘要：一种离心沉降式之粉粒体粒径在线量测分析设备，包含一能使粉粒体沉降及与样本分离的离心沉降单元、一与该离心沉降单元及一湿式研磨设备形成循环回路的传输管路单元、一能测知粉粒体沉降高度的光收发单元，及一与前述各单元电性链接的控制单元。借此，使该湿式研磨设备内的样本可定时定量注入该离心沉降单元，再回流至该湿式研磨设备内，而能在在线直接分析粉粒体的粒径，不但更快速、准，且能实时测知湿式研磨设备内粉粒体的粒径是否达到尺寸标准，有效提升制程上的经济效益。

77. 实用新型

TWM250185U 應用SERCOS傳輸技術之介面裝置失效
简体标题：应用SERCOS传输技术之界面设备
公开(公告)号：TWM250185U
公开(公告)日：2004-11-11
申请号：TW092223054
申请日：2003-12-31
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：王文金
IPC分类号： G05B
摘要：一種應用SERCOS傳輸技術之介面裝置，適用於一運動控制系統，該運動控制系統具有一控制裝置、一與該控制裝置配合的驅動裝置，及一藉由該驅動裝置驅動的伺服裝置，該介面裝置設置於該控制裝置及驅動裝置之間，包含一雙向的第一傳輸模組、一控制模組，及一雙向的第二傳輸模組，該第一傳輸模組具有一可作信號轉換的 SERCOS單元，能接收從該控制裝置所輸出的信號，並將該信號經由該控制模組處理後從該第二傳輸模組輸出至該驅動裝置，藉此驅動該伺服裝置產生與該信號相配合的運動，達到控制該伺服裝置的效果。
简体摘要：一种应用SERCOS传输技术之界面设备，适用于一运动控制系统，该运动控制系统具有一控制设备、一与该控制设备配合的驱动设备，及一借由该驱动设备驱动的伺服设备，该界面设备设置于该控制设备及驱动设备之间，包含一双向的第一传输模块、一控制模块，及一双向的第二传输模块，该第一传输模块具有一可作信号转换的 SERCOS单元，能接收从该控制设备所输出的信号，并将该信号经由该控制模块处理后从该第二传输模块输出至该驱动设备，借此驱动该伺服设备产生与该信号相配合的运动，达到控制该伺服设备的效果。

78. 发明专利

TWI223609B 具有微粒子粒徑量測功能的離心萃取裝置有权
简体标题：具有微粒子粒径量测功能的离心萃取设备
公开(公告)号：TWI223609B
公开(公告)日：2004-11-11
申请号：TW092127298
申请日：2003-10-02
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：劉庭芳 , 張昫揚 , 陳志豪
IPC分类号： B04B
摘要：一種具有微粒子粒徑量測功能的離心萃取裝置，包含一載體、一可旋動的容置在載體內的轉體，及一固定在載體上的控制單元。該載體可將樣本溶液導入轉體內。該控制單元可驅動轉體高速轉動以進行離心萃取，使樣本溶液內的流體與粉粒體分離，及能控制轉體開啟或關閉，以排放轉體內的樣本。藉此，本發明除了能離線操作外，更能透過載體與其他製程設備連結，進行線上的分離萃取步驟。
简体摘要：一种具有微粒子粒径量测功能的离心萃取设备，包含一载体、一可旋动的容置在载体内的转体，及一固定在载体上的控制单元。该载体可将样本溶液导入转体内。该控制单元可驱动转体高速转动以进行离心萃取，使样本溶液内的流体与粉粒体分离，及能控制转体打开或关闭，以排放转体内的样本。借此，本发明除了能脱机操作外，更能透重载体与其他制程设备链接，进行在线的分离萃取步骤。

79. 发明专利

TW200411140A 線性量測裝置之製作方法审中-公开
简体标题：线性量测设备之制作方法
公开(公告)号：TW200411140A
公开(公告)日：2004-07-01
申请号：TW091138020
申请日：2002-12-31
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：莊國欽 , 劉旺林 , 鍾添淦
IPC分类号： G01B
摘要：一種線性量測裝置之製作方法，是運用可覆寫原理製作出具有多數不同磁矩方向的主體單元，並以一線性偏極化的雷射光入射到主體單元而形成讀取單元，而因雷射光入射不同的磁矩方向的磁區會因克爾磁光效應反射不同型態的橢圓偏極光，故當主體單元相對於讀取單元移位時，可藉由檢偏板收受不同型態的偏極光，然後再透過感光元件將不同的偏極光譯碼為線性移位值。
简体摘要：一种线性量测设备之制作方法，是运用可覆写原理制作出具有多数不同磁矩方向的主体单元，并以一线性偏极化的激光光入射到主体单元而形成读取单元，而因激光光入射不同的磁矩方向的磁区会因克尔磁光效应反射不同型态的椭圆偏极光，故当主体单元相对于读取单元移位时，可借由检偏板收受不同型态的偏极光，然后再透过感光组件将不同的偏极光译码为线性移位值。

80. 实用新型

TW404502U 可程式厚度測量設備失效
简体标题：可进程厚度测量设备
公开(公告)号：TW404502U
公开(公告)日：2000-09-01
申请号：TW088217089
申请日：1999-10-08
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：卓銘舜 , 林炅
IPC分类号： G01B
摘要：本創作係關於一種可程式厚度測量設備，其主要係在於提供一種可程式厚度測量設備，藉載入預定之控制及分析程式於中央控制器中，使其得以對測量構件作位移控制，因此得以對待測物作多點或多型態之厚度測量，而測得之資料亦得以作分析運用。
简体摘要：本创作系关于一种可进程厚度测量设备，其主要系在于提供一种可进程厚度测量设备，藉加载预定之控制及分析进程于中央控制器中，使其得以对测量构件作位移控制，因此得以对待测物作多点或多态态之厚度测量，而测得之数据亦得以作分析运用。

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