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    • 64. 发明专利
    • 濺鍍系統中之平台溫度控制 TEMPERATURE CONTROL OF PALLET IN SPUTTERING SYSTEM
    • 溅镀系统中之平台温度控制 TEMPERATURE CONTROL OF PALLET IN SPUTTERING SYSTEM
    • TWI346143B
    • 2011-08-01
    • TW095113182
    • 2006-04-13
    • 譚格系統公司
    • 萊維 穆拉普迪丹 史密斯愛德華 史翠卡
    • C23C
    • C23C14/505C23C14/352C23C14/541H01J37/32752H01J2237/2001H01L21/67109
    • 在此揭示一種多室處理系統,其用以在一真空室中一次沉積材料在多個工件上(晶圓、顯示器面板或任何其他工件)。該系統包括一濺鍍室及一獨立的預潔淨室,其中晶圓可藉由一機器臂而被傳送於兩室之間而毋需破壞一真空。該等晶圓一次一個地被安裝在該預潔淨室及濺鍍室中之一轉動平台上。該平台被牢固至一位在該濺鍍室中之可轉動台座。在該台座中之銅管件將RF能量耦合至該晶圓,且一運行通過該銅管件之液體控制該等晶圓之溫度。相同或不同材料的多個靶材可在該平台轉動時在該等晶圓上同時沉積材料。在該濺鍍室中之磁電管總成中的多個磁鐵(針對每一靶材提供一個)在其個別的靶材上方振盪,以在該等晶圓上形成均勻一致的侵蝕及形成均勻一致的沉積。一介於每一磁鐵及一靶材之間的電性絕緣的靶材支持片具有一運行穿過其間以控制溫度的液體槽道。在該等磁鐵與該等靶材之間的距離係藉由一薄鋁片而被形成極小,該鋁片係藉由一浸沒硬焊方法而被固定至該靶材支持片之底部區段。在此亦揭示各種不同的屏蔽來防止來自於該等靶材的交互污染且防止濺鍍的靶材材料進入該室中之間隙且短路絕緣體。
    • 在此揭示一种多室处理系统,其用以在一真空室中一次沉积材料在多个工件上(晶圆、显示器皮肤或任何其他工件)。该系统包括一溅镀室及一独立的预洁净室,其中晶圆可借由一机器臂而被发送于两室之间而毋需破坏一真空。该等晶圆一次一个地被安装在该预洁净室及溅镀室中之一转动平台上。该平台被牢固至一位在该溅镀室中之可转动台座。在该台座中之铜管件将RF能量耦合至该晶圆,且一运行通过该铜管件之液体控制该等晶圆之温度。相同或不同材料的多个靶材可在该平台转动时在该等晶圆上同时沉积材料。在该溅镀室中之磁电管总成中的多个磁铁(针对每一靶材提供一个)在其个别的靶材上方振荡,以在该等晶圆上形成均匀一致的侵蚀及形成均匀一致的沉积。一介于每一磁铁及一靶材之间的电性绝缘的靶材支持片具有一运行穿过其间以控制温度的液体槽道。在该等磁铁与该等靶材之间的距离系借由一薄铝片而被形成极小,该铝片系借由一浸没硬焊方法而被固定至该靶材支持片之底部区段。在此亦揭示各种不同的屏蔽来防止来自于该等靶材的交互污染且防止溅镀的靶材材料进入该室中之间隙且短路绝缘体。
    • 67. 发明专利
    • 雙極脈衝電源及由複數之雙極脈衝電源所成之電源裝置
    • 双极脉冲电源及由复数之双极脉冲电源所成之电源设备
    • TW201014148A
    • 2010-04-01
    • TW098117293
    • 2009-05-25
    • 愛發科股份有限公司
    • 堀下芳邦松原忍小野敦
    • H02MH05H
    • H02M7/53871C23C14/352H02M7/493
    • 提供一種:能夠對於與噴濺(splash)或是粒子之產生有著直接關連的電弧放電產生時之電流上升作有效的抑制,且在極性反轉時能夠防止過電壓之產生的雙極脈衝電源。具備有由被連接於從直流電力供給源1而來之正負的直流輸出間之切換元件(SW1乃至SW4)所構成的橋接電路(22),並對切換元件之動作作控制,而對於與電漿相接觸之一對的電極,以特定之頻率來進行雙極脈衝狀之輸出。此時,係設置有輸出特性切換電路,其係以於最初之對於前述電極的輸出為具有定電壓特性,而於其後之對於前述電極的輸出為具備有定電流特性的方式,來對前述輸出作切換。
    • 提供一种:能够对于与喷溅(splash)或是粒子之产生有着直接关连的电弧放电产生时之电流上升作有效的抑制,且在极性反转时能够防止过电压之产生的双极脉冲电源。具备有由被连接于从直流电力供给源1而来之正负的直流输出间之切换组件(SW1乃至SW4)所构成的桥接电路(22),并对切换组件之动作作控制,而对于与等离子相接触之一对的电极,以特定之频率来进行双极脉冲状之输出。此时,系设置有输出特性切换电路,其系以于最初之对于前述电极的输出为具有定电压特性,而于其后之对于前述电极的输出为具备有定电流特性的方式,来对前述输出作切换。
    • 70. 发明专利
    • 濺鍍處理裝置及濺鍍處理裝置之使用方法
    • 溅镀处理设备及溅镀处理设备之使用方法
    • TW200848535A
    • 2008-12-16
    • TW097111430
    • 2008-03-28
    • 東京威力科創股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED
    • 福森弘司 FUKUMORI, KOJI
    • C23CH05B
    • C23C14/352H01J37/3408
    • 提供濺鍍處理裝置,其可以提升作業效率及達成資源之使用效率。於濺鍍處理裝置10之處理室100設置:一對靶部105,隔開特定距離以「八」字狀被傾斜配置;及磁場產生手段125,設置於各靶部之背面附近。濺鍍處理裝置10,係藉由滑動移動可動式平台135a、135b,於靶部105之對向空間U之兩側方SL、SH配置不同基板G之狀態下,藉由磁場產生手段125產生磁場進行一對靶部105之濺鍍,於對向空間U之兩側方SL、SH配置之基板G上同時形成膜。於對向空間U之窄小側方SL位置被濺鍍之基板G,係被搬送至搬送室200,於對向空間U之寬廣側方SH位置再度被濺鍍。
    • 提供溅镀处理设备,其可以提升作业效率及达成资源之使用效率。于溅镀处理设备10之处理室100设置:一对靶部105,隔开特定距离以“八”字状被倾斜配置;及磁场产生手段125,设置于各靶部之背面附近。溅镀处理设备10,系借由滑动移动可动式平台135a、135b,于靶部105之对向空间U之两侧方SL、SH配置不同基板G之状态下,借由磁场产生手段125产生磁场进行一对靶部105之溅镀,于对向空间U之两侧方SL、SH配置之基板G上同时形成膜。于对向空间U之窄小侧方SL位置被溅镀之基板G,系被搬送至搬送室200,于对向空间U之宽广侧方SH位置再度被溅镀。