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    • 52. 发明专利
    • 金屬薄膜及金屬薄膜形成用鉬合金濺鍍靶材
    • 金属薄膜及金属薄膜形成用钼合金溅镀靶材
    • TW201439347A
    • 2014-10-16
    • TW103105379
    • 2014-02-19
    • 日立金屬股份有限公司HITACHI METALS, LTD.
    • 村田英夫MURATA, HIDEO
    • C23C14/14C23C14/34C22C27/04C22C19/03
    • 本發明提供一種包含鉬合金的電子零件用金屬薄膜及用以形成該金屬薄膜的鉬合金濺鍍靶材,該金屬薄膜可改善耐濕性或抗氧化性,並且在低電阻的Al或Cu的主配線膜上形成金屬薄膜作為基底膜或覆蓋膜時,即便經過加熱步驟亦可維持低電阻值。本發明是關於一種金屬薄膜及金屬薄膜形成用鉬合金濺鍍靶材。該金屬薄膜合計含有3原子%以上的選自Cr、Zr及Ta的元素族群A中的一種以上,含有10原子%~45原子%的Ni,且合計含有50原子%以下的選自上述元素族群A中的元素與上述Ni,剩餘部分包含Mo及不可避免的雜質。該金屬薄膜形成用鉬合金濺鍍靶材合計含有3原子%以上的選自Cr、Zr及Ta的元素族群A中的一種以上,含有10原子%~45原子%的Ni,且合計含有50原子%以下的選自上述元素族群A中的元素與上述Ni,剩餘部分包含Mo及不可避免的雜質。
    • 本发明提供一种包含钼合金的电子零件用金属薄膜及用以形成该金属薄膜的钼合金溅镀靶材,该金属薄膜可改善耐湿性或抗氧化性,并且在低电阻的Al或Cu的主配线膜上形成金属薄膜作为基底膜或覆盖膜时,即便经过加热步骤亦可维持低电阻值。本发明是关于一种金属薄膜及金属薄膜形成用钼合金溅镀靶材。该金属薄膜合计含有3原子%以上的选自Cr、Zr及Ta的元素族群A中的一种以上,含有10原子%~45原子%的Ni,且合计含有50原子%以下的选自上述元素族群A中的元素与上述Ni,剩余部分包含Mo及不可避免的杂质。该金属薄膜形成用钼合金溅镀靶材合计含有3原子%以上的选自Cr、Zr及Ta的元素族群A中的一种以上,含有10原子%~45原子%的Ni,且合计含有50原子%以下的选自上述元素族群A中的元素与上述Ni,剩余部分包含Mo及不可避免的杂质。