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31. 发明专利

TWI327446B 光電裝置 ELECTRO-OPTICAL DEVICE 有权
简体标题：光电设备 ELECTRO-OPTICAL DEVICE
公开(公告)号：TWI327446B
公开(公告)日：2010-07-11
申请号：TW095103935
申请日：2006-02-06
申请人：精工愛普生股份有限公司
发明人：林孝明
IPC分类号： H05B , G09G
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/30 , G09G2330/12
摘要：提供一種光電裝置，該光電裝置可以自周圍環境保護被形成在基板上的檢查用之檢查電路。
其解決手段為在透明基板2之顯示區域3內形成多數畫素4。密封基板21是被貼在設置於透明基板2之黏著區域Z1。在顯示區域3和黏著區域Z1之間的透明基板2，形成有上側及下側資料線控制用檢查電路部8a、8b及在側及右側掃描線控制用檢查電路部9a、9b。再者，於透明基板2之四角落形成有電性被連接於檢查電路部8a、8b、9a、9b之檢查用的各外部端子10~13、15~20。
简体摘要：提供一种光电设备，该光电设备可以自周围环境保护被形成在基板上的检查用之检查电路。其解决手段为在透明基板2之显示区域3内形成多数像素4。密封基板21是被贴在设置于透明基板2之黏着区域Z1。在显示区域3和黏着区域Z1之间的透明基板2，形成有上侧及下侧数据线控制用检查电路部8a、8b及在侧及右侧扫描线控制用检查电路部9a、9b。再者，于透明基板2之四角落形成有电性被连接于检查电路部8a、8b、9a、9b之检查用的各外部端子10~13、15~20。

32. 发明专利

TW200819848A 背光系統及液晶顯示器 BACKLIGHT SYSTEM AND LIQUID CRYSTALDISPLAY USING THE SAME 审中-公开
简体标题：背光系统及液晶显示器 BACKLIGHT SYSTEM AND LIQUID CRYSTALDISPLAY USING THE SAME
公开(公告)号：TW200819848A
公开(公告)日：2008-05-01
申请号：TW095138077
申请日：2006-10-16
申请人：群創光電股份有限公司 INNOLUX DISPLAY CORP.
发明人：許育儒 HSU, YU JU , 簡克偉 CHIEN, KO WEI
IPC分类号： G02F
CPC分类号： H05B33/0893 , G09G3/3406 , G09G2330/08 , G09G2330/12 , H05B33/0803 , H05B37/032 , H05B37/04
摘要：一種背光系統,其包括:一導光板,該導光板包括一入光面;及一光源組,設置於該導光板入光面一側;其中,該光源組包括複數發光二極體,每至少二發光二極體封裝形成一封裝單元,每一封裝單元之一發光二極體電連接組成工作光源,每一封裝單元中其餘發光二極體電連接組成至少一備用光源。該背光系統之光源可靠度較高。本發明還提供採用該背光系統之液晶顯示器。
简体摘要：一种背光系统,其包括:一导光板,该导光板包括一入光面;及一光源组,设置于该导光板入光面一侧;其中,该光源组包括复数发光二极管,每至少二发光二极管封装形成一封装单元,每一封装单元之一发光二极管电连接组成工作光源,每一封装单元中其余发光二极管电连接组成至少一备用光源。该背光系统之光源可靠度较高。本发明还提供采用该背光系统之液晶显示器。

33. 发明专利

TW200731201A EL顯示裝置 EL DISPLAY DEVICE 审中-公开
简体标题： EL显示设备 EL DISPLAY DEVICE
公开(公告)号：TW200731201A
公开(公告)日：2007-08-16
申请号：TW096103475
申请日：2003-03-07
申请人：東芝松下顯示技術股份有限公司 TOSHIBA MATSUSHITA DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：高原博司 HIROSHI TAKAHARA , 柘植仁志 HITOSHI TSUGE
IPC分类号： G09G
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/20 , G09G3/2014 , G09G3/22 , G09G3/3241 , G09G3/325 , G09G3/3266 , G09G3/3283 , G09G2300/0408 , G09G2300/0417 , G09G2300/0452 , G09G2300/0809 , G09G2300/0842 , G09G2300/0861 , G09G2300/0866 , G09G2310/02 , G09G2310/0218 , G09G2310/0251 , G09G2310/0256 , G09G2310/0262 , G09G2310/027 , G09G2310/0283 , G09G2310/0297 , G09G2310/06 , G09G2310/061 , G09G2320/0214 , G09G2320/0223 , G09G2320/0233 , G09G2320/0261 , G09G2320/043 , G09G2320/0606 , G09G2320/0626 , G09G2320/066 , G09G2320/08 , G09G2330/02 , G09G2330/12 , H01L27/3213 , H01L27/3218 , H01L27/3223 , H01L27/3244 , H01L51/5253 , H01L51/5259 , H01L51/5262 , H01L51/5281 , H01L51/529 , H01L2251/568
摘要：為了充分地進行源極信號線之寄生電容之充放電且將預定電流値於像素電晶體進行程式化,故必須從電流輸出之源極驅動電路輸出較大之電流。然而,依此,若大電流流入源極信號線,則該電流値會於像素程式化,且有較期望電流為大之電流流向EL元件(15)。例如,若以N=10倍之電流進行程式化,則10倍之電流流向EL元件(15),且EL元件(15)以10倍之亮度發光。因此,為了得到預定亮度,將電流流向EL元件之時間設為1幀(1F)之1/10。藉由如此來驅動,可充分地進行源極信號線之寄生電容之充放電,且可得到預定發光亮度。
简体摘要：为了充分地进行源极信号线之寄生电容之充放电且将预定电流値于像素晶体管进行进程化,故必须从电流输出之源极驱动电路输出较大之电流。然而,依此,若大电流流入源极信号线,则该电流値会于像素进程化,且有较期望电流为大之电流流向EL组件(15)。例如,若以N=10倍之电流进行进程化,则10倍之电流流向EL组件(15),且EL组件(15)以10倍之亮度发光。因此,为了得到预定亮度,将电流流向EL组件之时间设为1帧(1F)之1/10。借由如此来驱动,可充分地进行源极信号线之寄生电容之充放电,且可得到预定发光亮度。

34. 发明专利

TWI285358B 內建測試電路之薄膜電晶體液晶顯示器之源極驅動器及其測試方法 TFT LCD SOURCE DRIVER WITH BUILT IN TEST CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME 有权
简体标题：内置测试电路之薄膜晶体管液晶显示器之源极驱动器及其测试方法 TFT LCD SOURCE DRIVER WITH BUILT IN TEST CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME
公开(公告)号：TWI285358B
公开(公告)日：2007-08-11
申请号：TW093123009
申请日：2004-07-30
申请人：凌陽科技股份有限公司 SUNPLUS TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：陳林謙 CHEN, LIN CHIEN , 莊達昌 JUANG, DAR CHANG
IPC分类号： G09G , G01R
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3688 , G09G2310/027 , G09G2330/12
摘要：一種內建測試電路之薄膜電晶體液晶顯示器之源極驅動器，其包含N個驅動單元與P個測試單元。驅動單元分別接收一數位資料，並根據該數位資料產生一類比之輸出訊號。而每個測試單元分別接收M個驅動單元的輸出訊號，並根據一選擇信號選擇其中一輸出訊號作為測試信號。當該測試信號之電壓高於一高參考電壓或低於一低參考電壓時，測試單元輸出代表異常的狀態信號給一外接之測試機。測試機即可根據該狀態信號產生測試結果。該測試單元包含一多工器、一第一比較器、一第二比較器、以及一判斷單元。
简体摘要：一种内置测试电路之薄膜晶体管液晶显示器之源极驱动器，其包含N个驱动单元与P个测试单元。驱动单元分别接收一数码数据，并根据该数码数据产生一模拟之输出信号。而每个测试单元分别接收M个驱动单元的输出信号，并根据一选择信号选择其中一输出信号作为测试信号。当该测试信号之电压高于一高参考电压或低于一低参考电压时，测试单元输出代表异常的状态信号给一外置之测试机。测试机即可根据该状态信号产生测试结果。该测试单元包含一多任务器、一第一比较器、一第二比较器、以及一判断单元。

35. 发明专利

TW200723231A EL顯示裝置及EL顯示裝置之驅動方法(一) EL DISPLAY DEVICE AND THE METHOD FOR DRIVING THE SAME 审中-公开
简体标题： EL显示设备及EL显示设备之驱动方法(一) EL DISPLAY DEVICE AND THE METHOD FOR DRIVING THE SAME
公开(公告)号：TW200723231A
公开(公告)日：2007-06-16
申请号：TW095146359
申请日：2003-03-07
申请人：東芝松下顯示技術股份有限公司 TOSHIBA MATSUSHITA DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：高原博司 HIROSHI TAKAHARA , 柘植仁志 HITOSHI TSUGE
IPC分类号： G09G
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/20 , G09G3/2014 , G09G3/22 , G09G3/3241 , G09G3/325 , G09G3/3266 , G09G3/3283 , G09G2300/0408 , G09G2300/0417 , G09G2300/0452 , G09G2300/0809 , G09G2300/0842 , G09G2300/0861 , G09G2300/0866 , G09G2310/02 , G09G2310/0218 , G09G2310/0251 , G09G2310/0256 , G09G2310/0262 , G09G2310/027 , G09G2310/0283 , G09G2310/0297 , G09G2310/06 , G09G2310/061 , G09G2320/0214 , G09G2320/0223 , G09G2320/0233 , G09G2320/0261 , G09G2320/043 , G09G2320/0606 , G09G2320/0626 , G09G2320/066 , G09G2320/08 , G09G2330/02 , G09G2330/12 , H01L27/3213 , H01L27/3218 , H01L27/3223 , H01L27/3244 , H01L51/5253 , H01L51/5259 , H01L51/5262 , H01L51/5281 , H01L51/529 , H01L2251/568
摘要：為了充分地進行源極信號線之寄生電容之充放電且將預定電流値於像素電晶體進行程式化,故必須從電流輸出之源極驅動電路輸出較大之電流。然而,依此,若大電流流入源極信號線,則該電流値會於像素程式化,且有較期望電流為大之電流流向EL元件(15)。例如,若以N=10倍之電流進行程式化,則10倍之電流流向EL元件(15),且EL元件(15)以10倍之亮度發光。因此,為了得到預定亮度,將電流流向EL元件之時間設為1幀(1F)之1/10。藉由如此來驅動,可充分地進行源極信號線之寄生電容之充放電,且可得到預定發光亮度。
简体摘要：为了充分地进行源极信号线之寄生电容之充放电且将预定电流値于像素晶体管进行进程化,故必须从电流输出之源极驱动电路输出较大之电流。然而,依此,若大电流流入源极信号线,则该电流値会于像素进程化,且有较期望电流为大之电流流向EL组件(15)。例如,若以N=10倍之电流进行进程化,则10倍之电流流向EL组件(15),且EL组件(15)以10倍之亮度发光。因此,为了得到预定亮度,将电流流向EL组件之时间设为1帧(1F)之1/10。借由如此来驱动,可充分地进行源极信号线之寄生电容之充放电,且可得到预定发光亮度。

36. 发明专利

TWI263055B 影像顯示裝置、驅動電路裝置及發光二極體之缺陷偵測方法 IMAGE DISPLAY DEVICE, DRIVE CIRCUIT DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD OF LIGHT-EMITTING DIODE 失效
简体标题：影像显示设备、驱动电路设备及发光二极管之缺陷侦测方法 IMAGE DISPLAY DEVICE, DRIVE CIRCUIT DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD OF LIGHT-EMITTING DIODE
公开(公告)号：TWI263055B
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW093108763
申请日：2004-03-30
申请人：新力股份有限公司 SONY CORPORATION
发明人：矢野元康 YANO, MOTOYASU , 高木祐一 TAKAGI, YUICHI , 小松禎浩 KOMATSU, YOSHIHIRO , 鈴木滿 SUZUKI, MITSURU , 川瀨正隆 KAWASE, MASATAKA
IPC分类号： G01R , G09G
CPC分类号： G09G3/32 , G09G3/006 , G09G3/2085 , G09G3/2088 , G09G2330/12
摘要：本發明揭示一種在大型顯示器上以電執行發光二極體(LED)之缺陷偵測之方法，該大型顯示器包括：複數個發光二極體，其藉由一預設配置而設置於一影像顯示面；一電壓偵測電路，根據一指明缺陷偵測模式之信號輸入，約以一正向電壓將一定量電流施至一關閉區域中之複數個發光二極體，並偵測該定量電流流過時在發光二極體之端子間形成之電壓；及一缺陷偵測電路，用以根據該電壓偵測電路之偵測結果，而以電偵測來自該複數個發光二極體之缺陷。亦揭示串聯具有以上配置之驅動電路裝置(驅動器IC)，並從其最後階段輸出用以指示缺陷偵測結果之帶電信號。
简体摘要：本发明揭示一种在大型显示器上以电运行发光二极管(LED)之缺陷侦测之方法，该大型显示器包括：复数个发光二极管，其借由一默认配置而设置于一影像显示面；一电压侦测电路，根据一指明缺陷侦测模式之信号输入，约以一正向电压将一定量电流施至一关闭区域中之复数个发光二极管，并侦测该定量电流流过时在发光二极管之端子间形成之电压；及一缺陷侦测电路，用以根据该电压侦测电路之侦测结果，而以电侦测来自该复数个发光二极管之缺陷。亦揭示串联具有以上配置之驱动电路设备(驱动器IC)，并从其最后阶段输出用以指示缺陷侦测结果之带电信号。

37. 发明专利

TWI257518B 顯示裝置及掃描電路測試方法 DISPLAY DEVICE AND SCANNING CIRCUIT TESTING METHOD 有权
简体标题：显示设备及扫描电路测试方法 DISPLAY DEVICE AND SCANNING CIRCUIT TESTING METHOD
公开(公告)号：TWI257518B
公开(公告)日：2006-07-01
申请号：TW092105897
申请日：2003-03-18
申请人：夏普股份有限公司 SHARP KABUSHIKI KAISHA
发明人：高藤裕 YUTAKA TAKAFUJI , 白井克典 KATSUNORI SHIRAI , 柴崎明 AKIRA SHIBAZAKI
IPC分类号： G02F
CPC分类号： G01R31/318533 , G01R31/318505 , G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G3/3674 , G09G3/3685 , G09G2310/0267 , G09G2310/0275 , G09G2310/0283 , G09G2310/0286 , G09G2330/12 , Y10S345/904
摘要：於閘極驅動器及源極驅動器，將時鐘信號及開始脈衝以一定之周期輸入，其中該開始脈衝係具有一定寬度，作為移位資料與時鐘信號同步以閘極驅動器或源極驅動器進行移位者。輸入開始脈衝及輸出至包含NAND閘及反相器之邏輯電路，其中該輸出係移位資料之移位方向最末級輸出且延遲預設時間所形成者。藉由反相器之輸出進行掃描電路之測試。藉此，可提供不隨面積之增加或電路之複雜化，而可確實且高速進行掃描電路良莠判定之顯示裝置及其掃描電路測試方法。
简体摘要：于闸极驱动器及源极驱动器，将时钟信号及开始脉冲以一定之周期输入，其中该开始脉冲系具有一定宽度，作为移位数据与时钟信号同步以闸极驱动器或源极驱动器进行移位者。输入开始脉冲及输出至包含NAND闸及反相器之逻辑电路，其中该输出系移位数据之移位方向最末级输出且延迟默认时间所形成者。借由反相器之输出进行扫描电路之测试。借此，可提供不随面积之增加或电路之复杂化，而可确实且高速进行扫描电路良莠判定之显示设备及其扫描电路测试方法。

38. 发明专利

TW200609635A 光電裝置用基板及其檢查方法、光電裝置及電子機器 ELECTROOPTIC APPARATUS SUBSTRATE AND EXAMINING METHOD THEREFOR AND ELECTROOPTIC APPARATUS AND ELECTRONIC EQUIPMENT 审中-公开
简体标题：光电设备用基板及其检查方法、光电设备及电子机器 ELECTROOPTIC APPARATUS SUBSTRATE AND EXAMINING METHOD THEREFOR AND ELECTROOPTIC APPARATUS AND ELECTRONIC EQUIPMENT
公开(公告)号：TW200609635A
公开(公告)日：2006-03-16
申请号：TW094126354
申请日：2005-08-03
申请人：精工愛普生股份有限公司 SEIKO EPSON CORPORATION
发明人：石井達也 ISHII, TATSUYA , 山地重文 YAMAJI, SHIGEFUMI , 水垣浩一 MIZUGAKI, KOICHI
IPC分类号： G02F
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2310/0248 , G09G2330/12
摘要：提供一種不需要接觸來自外部的探針被等，可實現能獲得充分之測量精度之檢查的光電裝置用基板及其檢查方法。本發明之基板1，具有透過各複數開關元件，對複數畫素透過訊號線寫入第1電位訊號的視訊線7和電晶體閘極部6。並且，基板1，具有由低的一方的電位更低，且高的一方的電位更高而輸出至訊號線的差動放大器4a所形成的顯示資料讀出電路部4，和讀出第1電位訊號和成為基準之第2電位訊號的電晶體閘極部6與視訊線7。
简体摘要：提供一种不需要接触来自外部的探针被等，可实现能获得充分之测量精度之检查的光电设备用基板及其检查方法。本发明之基板1，具有透过各复数开关组件，对复数像素透过信号线写入第1电位信号的视频线7和晶体管闸极部6。并且，基板1，具有由低的一方的电位更低，且高的一方的电位更高而输出至信号线的差动放大器4a所形成的显示数据读出电路部4，和读出第1电位信号和成为基准之第2电位信号的晶体管闸极部6与视频线7。

39. 发明专利

TWI239535B 雙向位移暫存器、及具備彼之顯示裝置 BIDIRECTIONAL SHIFT REGISTER AND DISPLAY DEVICE INCORPORATING SAME 有权
简体标题：双向位移寄存器、及具备彼之显示设备 BIDIRECTIONAL SHIFT REGISTER AND DISPLAY DEVICE INCORPORATING SAME
公开(公告)号：TWI239535B
公开(公告)日：2005-09-11
申请号：TW093116565
申请日：2004-06-09
申请人：夏普股份有限公司 SHARP KABUSHIKI KAISHA
发明人：恩田衛 ONDA, MAMORU , 鷲尾一 WASHIO, HAJIME , 林俊輔 HAYASHI, SHUNSUKE , 室伏洋 MUROFUSHI, HIROSHI , 鈴木宣彥 SUZUKI, NOBUHIKO
IPC分类号： G11C , G09G
CPC分类号： G06F5/01 , G09G3/006 , G09G3/20 , G09G2310/0267 , G09G2310/0275 , G09G2310/0283 , G09G2310/0289 , G09G2330/12
摘要：本發明係具備：
位移暫存部，其係具有與時脈信號同步動作的複數段的觸發電路，且按照從外部輸入的方向指示信號來切換位移方向；及
波形變更部，其係取得複數段的觸發電路中從第1規定段的觸發電路輸出的信號，然後變更該信號的波形；及
檢查信號切換部，其係取得由波形變更部所變更波形的信號及由第2規定段的觸發電路所輸出的信號，且按照方向指示信號來切換輸出該等信號中的任一信號。
简体摘要：本发明系具备：位移暂存部，其系具有与时脉信号同步动作的复数段的触发电路，且按照从外部输入的方向指示信号来切换位移方向；及波形变更部，其系取得复数段的触发电路中从第1规定段的触发电路输出的信号，然后变更该信号的波形；及检查信号切换部，其系取得由波形变更部所变更波形的信号及由第2规定段的触发电路所输出的信号，且按照方向指示信号来切换输出该等信号中的任一信号。

40. 发明专利

TW200528826A 光電裝置及電子機器审中-公开
简体标题：光电设备及电子机器
公开(公告)号：TW200528826A
公开(公告)日：2005-09-01
申请号：TW094101689
申请日：2005-01-20
申请人：精工愛普生股份有限公司 SEIKO EPSON CORPORATION
发明人：藤田伸 FUJITA, SHIN
IPC分类号： G02F
CPC分类号： G09G3/3648 , G09G3/3677 , G09G3/3688 , G09G2300/0408 , G09G2300/0426 , G09G2330/12
摘要：本發明的課題是在於提供一種因配線的交叉所引起之配線間的寄生電容少，且動作速度快的光電裝置及電子機器。亦即，本發明之光電裝置的特徵係具備：第1主信號配線，其係對應於單位電路而配設，傳送規定的信號；第1副信號配線，其係配線寬比第1主信號配線更窄；第2主信號配線，其係配設於第1主信號配線與第1副信號配線之間；第1連接配線，其係連接至第1主信號配線與第1副信號配線，對第2主信號配線跨設；及內部電路，其係具有連接至第1副信號配線的複數個元件；又，規定的信號係經由第1副信號配線來從第1主信號配線分歧而供給至內部電路。
简体摘要：本发明的课题是在于提供一种因配线的交叉所引起之配线间的寄生电容少，且动作速度快的光电设备及电子机器。亦即，本发明之光电设备的特征系具备：第1主信号配线，其系对应於单位电路而配设，发送规定的信号；第1副信号配线，其系配线宽比第1主信号配线更窄；第2主信号配线，其系配设于第1主信号配线与第1副信号配线之间；第1连接配线，其系连接至第1主信号配线与第1副信号配线，对第2主信号配线跨设；及内部电路，其系具有连接至第1副信号配线的复数个组件；又，规定的信号系经由第1副信号配线来从第1主信号配线分歧而供给至内部电路。

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