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    • 33. 发明专利
    • 製備多個半導體晶圓之方法 METHOD FOR THE PRODUCTION OF A MULTIPLICITY OF SEMICONDUCTOR WAFERS
    • 制备多个半导体晶圆之方法 METHOD FOR THE PRODUCTION OF A MULTIPLICITY OF SEMICONDUCTOR WAFERS
    • TWI356165B
    • 2012-01-11
    • TW096121736
    • 2007-06-15
    • 世創電子材料公司山姆泰克股份有限公司
    • 路德威格 寇斯特彼得 蘇拉提斯克勞斯 克雷莫
    • G01NH01L
    • G01N29/11G01N29/07G01N29/225G01N29/265G01N2291/044G01N2291/2626
    • 本發明係關於一種檢測一鑄錠1中之機械缺陷4的方法,鑄錠1係由半導體材料所構成並具有至少一個平坦表面6及以與該表面成直角之方式測量為1公分至100公分之厚度,於所述方法期間,係經由藉液體偶合介質3與鑄錠1之該平坦表面6偶合之至少一超聲波頭(ultrasound head)2掃描鑄錠1之平坦表面6,且在每個測量點(x,y)產生至少一於鑄錠1之平坦表面6定向之超聲波脈衝8,源於鑄錠1之超聲波脈衝回波係經記錄為一時間函數,從而檢測來自平坦表面6之回波9、來自鑄錠1與該平坦表面相對之一表面7之回波11、以及其他可能之回波10,由該等其他回波10確定鑄錠1中機械缺陷4之位置(xp,yp,zp)。
      本發明之標的亦包括進行本發明方法之設備、以及該方法於製備半導體晶片之方法鏈中之整合。
    • 本发明系关于一种检测一铸锭1中之机械缺陷4的方法,铸锭1系由半导体材料所构成并具有至少一个平坦表面6及以与该表面成直角之方式测量为1公分至100公分之厚度,于所述方法期间,系经由藉液体偶合介质3与铸锭1之该平坦表面6偶合之至少一超声波头(ultrasound head)2扫描铸锭1之平坦表面6,且在每个测量点(x,y)产生至少一于铸锭1之平坦表面6定向之超声波脉冲8,源于铸锭1之超声波脉冲回波系经记录为一时间函数,从而检测来自平坦表面6之回波9、来自铸锭1与该平坦表面相对之一表面7之回波11、以及其他可能之回波10,由该等其他回波10确定铸锭1中机械缺陷4之位置(xp,yp,zp)。 本发明之标的亦包括进行本发明方法之设备、以及该方法于制备半导体芯片之方法链中之集成。
    • 38. 发明专利
    • 測試材料之方法
    • 测试材料之方法
    • TW511205B
    • 2002-11-21
    • TW090113214
    • 2001-08-30
    • 哈尼威爾國際公司
    • 魯索 B 葛瑞羅納得 H 費爾明
    • H01L
    • G01N29/4445G01N29/11G01N29/265G01N29/30G01N2291/012G01N2291/015G01N2291/02854G01N2291/2632G01N2291/2698
    • 本發明包括一種測試材料之方法,該材料為諸如濺射標的材料、用於電子應用之其它材料或其它一般需要材料整體均勻性之材料。該方法將至少穿越一部分材料而定出多數位置。音波能量相繼地照射穿越過該多數位置。偵測由音波能量引發之回聲。至少某些偵測的回聲與觸發偵測的回聲之多數位置的各別位置有關。處理與至少一種偵測的回聲之物理屬性相關的訊息以將偵測的回聲分類成材料中雜相的第一組象徵,及非為材料中雜相的第二組。再將第一組回聲分類成數群,而這些群定義為多數位置之毗連位置的回聲。一起分析及考量與一般群相關之個別的回聲以產生與材料中之雜相有關的訊息。
    • 本发明包括一种测试材料之方法,该材料为诸如溅射标的材料、用于电子应用之其它材料或其它一般需要材料整体均匀性之材料。该方法将至少穿越一部分材料而定出多数码置。音波能量相继地照射穿越过该多数码置。侦测由音波能量引发之回声。至少某些侦测的回声与触发侦测的回声之多数码置的各别位置有关。处理与至少一种侦测的回声之物理属性相关的消息以将侦测的回声分类成材料中杂相的第一组象征,及非为材料中杂相的第二组。再将第一组回声分类成数群,而这些群定义为多数码置之毗连位置的回声。一起分析及考量与一般群相关之个别的回声以产生与材料中之杂相有关的消息。
    • 39. 发明专利
    • 超音波沃斯田焊縫檢驗方法及裝置
    • 超音波沃斯田焊缝检验方法及设备
    • TW490553B
    • 2002-06-11
    • TW090125247
    • 2001-10-12
    • 芝加哥橋樑及鋼鐵公司
    • 羅納德W 克魯利克
    • G01N
    • G01N29/40G01N29/11G01N29/38G01N2291/015G01N2291/0234G01N2291/02854G01N2291/0421G01N2291/0422G01N2291/044G01N2291/106G01N2291/2675
    • 一種雙元轉換器行列,用於自動式超音波檢驗沃斯田鐵材上的一焊縫,係藉用該焊縫之簡要描繪圖配置成形。該焊縫劃分為兩區域,並選用分立的轉換器來檢驗各個區域。上面區域係使用一潛變波轉換器來檢驗,而下面區域係使用一縱波轉換器來檢驗。該縱波轉換器係連接到一電腦處理器以服行「雙重任務」:與一組選通及增益設定連用,以處理所發出聲音的直接反射;及與另一組選通及增益設定連用,以處理該聲音間接的模式變換反射。選通設定係從簡圖量測聲音途徑距離而決定。測試板用以決定靈敏度設定並用以確定各轉換器備有充分之聲場寬度。
    • 一种双元转换器行列,用于自动式超音波检验沃斯田铁材上的一焊缝,系藉用该焊缝之简要描绘图配置成形。该焊缝划分为两区域,并选用分立的转换器来检验各个区域。上面区域系使用一潜变波转换器来检验,而下面区域系使用一纵波转换器来检验。该纵波转换器系连接到一电脑处理器以服行“双重任务”:与一组选通及增益设置连用,以处理所发出声音的直接反射;及与另一组选通及增益设置连用,以处理该声音间接的模式变换反射。选通设置系从简图量测声音途径距离而决定。测试板用以决定灵敏度设置并用以确定各转换器备有充分之声场宽度。
    • 40. 发明专利
    • 使用超音波檢測陰極濺鍍標靶的實際缺陷大小之方法
    • 使用超音波检测阴极溅镀标靶的实际缺陷大小之方法
    • TW463048B
    • 2001-11-11
    • TW089122799
    • 2001-02-20
    • 普拉塞爾S T 科技股份有限公司
    • 保羅S 吉爾曼亞福瑞德史諾曼安德烈迪瑟特
    • G01N
    • G01N29/11G01N29/30G01N2291/0289G01N2291/044
    • 提供一種用超音波檢驗測定標靶內在缺陷實際大小之方法,其中超音波檢驗所產生之訊號振幅與藉由使用光學顯微鏡或掃描電子顯微鏡獲得之金相大小量度比較。由此比較,可以得到相互關係之因數,決定超音波量度的準確性。對於特定之濺鍍標靶材料,超音波檢驗得到缺陷大小之後可以乘以相互關係因數而決定該缺陷之實際缺陷大小。利用實際缺陷大小決定超音波檢得之缺陷大小,提供一種比先前方法之缺陷大小有更為準確之測定,並提供一種用於關鍵電路製造作業對於接收與剔退之可靠方式。
    • 提供一种用超音波检验测定标靶内在缺陷实际大小之方法,其中超音波检验所产生之信号振幅与借由使用光学显微镜或扫描电子显微镜获得之金相大小量度比较。由此比较,可以得到相互关系之因子,决定超音波量度的准确性。对于特定之溅镀标靶材料,超音波检验得到缺陷大小之后可以乘以相互关系因子而决定该缺陷之实际缺陷大小。利用实际缺陷大小决定超音波检得之缺陷大小,提供一种比先前方法之缺陷大小有更为准确之测定,并提供一种用于关键电路制造作业对于接收与剔退之可靠方式。