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21. 发明专利

TWI603189B 晶粒上電宇宙射線檢測器有权
简体标题：晶粒上电宇宙射线检测器
公开(公告)号：TWI603189B
公开(公告)日：2017-10-21
申请号：TW104135860
申请日：2013-11-11
申请人：英特爾股份有限公司 , INTEL CORPORATION
发明人：漢那艾瑞克 , HANNAH, ERIC C.
IPC分类号： G06F11/07 , G01T1/24 , G01R31/3181
CPC分类号： G01T1/247 , G01R31/317 , G01R31/31816 , G06F11/0793

22. 发明专利

TWI580984B 電壓校正電路及電壓校正系統有权
简体标题：电压校正电路及电压校正系统
公开(公告)号：TWI580984B
公开(公告)日：2017-05-01
申请号：TW104135202
申请日：2015-10-27
申请人：力晶科技股份有限公司 , POWERCHIP TECHNOLOGY CORPORATION
发明人：宋宏達 , SUNG, HUNG-TA
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319 , G01R19/165 , G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2884 , G05F3/02 , H03K5/24 , H03K19/21

23. 发明专利

TWI539175B 測試裝置以及測試系統有权
简体标题：测试设备以及测试系统
公开(公告)号：TWI539175B
公开(公告)日：2016-06-21
申请号：TW103113560
申请日：2014-04-14
申请人：呂俊毅 , LU, CHUN YI
发明人：呂俊毅 , LU, CHUN YI
IPC分类号： G01R31/3181 , G06F11/26
CPC分类号： G06F11/273

24. 发明专利

TW201537347A 狀態檢測裝置及其狀態檢測方法审中-公开
简体标题：状态检测设备及其状态检测方法
公开(公告)号：TW201537347A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103110136
申请日：2014-03-18
申请人：宏碁股份有限公司 , ACER INCORPORATED
发明人：吳誌庭 , WU, CHIH TING , 陳志誠 , CHEN, CHIH CHENG
IPC分类号： G06F11/34 , G06F1/32 , G01R31/3181
CPC分类号： Y02D10/34
摘要：一種狀態檢測裝置及其狀態檢測方法。狀態檢測裝置包括多個阻抗單元、一邏輯控制單元及一狀態量測單元。阻抗單元耦接於一操作電壓與多個待測節點之間，這些待測節點對應一計算機系統的多個運作元件。邏輯控制單元耦接這些阻抗單元，以依序調整這些阻抗單元的阻抗值。狀態量測單元耦接操作電壓及這些待測節點，以量測這些阻抗單元的跨壓，且記錄這些阻抗單元的跨壓變化。並且，透過這些阻抗單元的跨壓變化判斷這些運作元件於不同版本的驅動程式的功率消耗變化。
简体摘要：一种状态检测设备及其状态检测方法。状态检测设备包括多个阻抗单元、一逻辑控制单元及一状态量测单元。阻抗单元耦接于一操作电压与多个待测节点之间，这些待测节点对应一计算机系统的多个运作组件。逻辑控制单元耦接这些阻抗单元，以依序调整这些阻抗单元的阻抗值。状态量测单元耦接操作电压及这些待测节点，以量测这些阻抗单元的跨压，且记录这些阻抗单元的跨压变化。并且，透过这些阻抗单元的跨压变化判断这些运作组件于不同版本的驱动程序的功率消耗变化。

25. 发明专利

TWI499790B 測試系統有权
简体标题：测试系统
公开(公告)号：TWI499790B
公开(公告)日：2015-09-11
申请号：TW102119246
申请日：2013-05-31
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：土田典孝 , TSUCHIDA, NORITAKA , 芥川恒孝 , AKUTAGAWA, TSUNETAKA , 中村純太 , NAKAMURA, JUNTA
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/319 , G01R31/31908 , G06F11/2294 , G11C29/56

26. 发明专利

TW201533570A 快速測試及偵測行動裝置的方法及其系統审中-公开
简体标题：快速测试及侦测行动设备的方法及其系统
公开(公告)号：TW201533570A
公开(公告)日：2015-09-01
申请号：TW103105721
申请日：2014-02-20
申请人：緯創資通股份有限公司 , WISTRON CORPORATION
发明人：李韋德 , LEE, WEI TE
IPC分类号： G06F11/36 , G01R31/3181
CPC分类号： H04B17/19 , G06F11/3672 , H04B5/0031
摘要：一種快速測試及偵測行動裝置的方法及其系統。此方法包括由第一行動裝置開啟待測試應用程式後，監聽在第一行動裝置的觸控螢幕上操作的至少一個動作來產生第一日誌；由第一行動裝置將此至少一個動作製作成執行腳本；以及將待測試應用程式的名稱與路徑、執行腳本及第一日誌封裝成訊息且透過無線通訊網路將此訊息傳送至至少一個第二行動裝置。此方法還包括由第二行動裝置解析此訊息並且根據執行腳本運行此待測試應用程式來產生第二日誌；以及比對第一日誌第二日誌來產生與顯示比對結果。基此，本方法可有效提升測試與偵測行動裝置的效率。
简体摘要：一种快速测试及侦测行动设备的方法及其系统。此方法包括由第一行动设备打开待测试应用进程后，监听在第一行动设备的触摸屏幕上操作的至少一个动作来产生第一日志；由第一行动设备将此至少一个动作制作成运行脚本；以及将待测试应用进程的名称与路径、运行脚本及第一日志封装成消息且透过无线通信网络将此消息发送至至少一个第二行动设备。此方法还包括由第二行动设备解析此消息并且根据运行脚本运行此待测试应用进程来产生第二日志；以及比对第一日志第二日志来产生与显示比对结果。基此，本方法可有效提升测试与侦测行动设备的效率。

27. 发明专利

TW201520568A 測試維修系統及其方法审中-公开
简体标题：测试维修系统及其方法
公开(公告)号：TW201520568A
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW102143809
申请日：2013-11-29
申请人：技嘉科技股份有限公司 , GIGA-BYTE TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：黃順治 , HUANG, SHUN CHIH , 呂景豫 , LU, CHING YU , 李延震 , LI, YEN CHEN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319
摘要：本發明揭露一種測試維修系統，包括一數據量測單元、一資料傳輸單元及一電腦裝置，其中電腦裝置包括一儲存單元，用以儲存至少一預設資料及至少一量測位置資料。數據量測單元可依據量測位置資料，連接一待測卡的至少一訊號量測位置，並擷取至少一量測資料，而電腦裝置則比對預設資料及量測資料，並產生一檢測結果。操作人員可依據檢測結果更換待測卡上的料件，藉此將有利於提高維修待測卡的效率。
简体摘要：本发明揭露一种测试维修系统，包括一数据量测单元、一数据传输单元及一电脑设备，其中电脑设备包括一存储单元，用以存储至少一默认数据及至少一量测位置数据。数据量测单元可依据量测位置数据，连接一待测卡的至少一信号量测位置，并截取至少一量测数据，而电脑设备则比对默认数据及量测数据，并产生一检测结果。操作人员可依据检测结果更换待测卡上的料件，借此将有利于提高维修待测卡的效率。

28. 发明专利

TW201516664A 雙VGA介面自動測試裝置审中-公开
简体标题：双VGA界面自动测试设备
公开(公告)号：TW201516664A
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW102135252
申请日：2013-09-30
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：李聖義 , LI, SHENG-YI
IPC分类号： G06F11/273 , G01R31/3181
摘要：本發明提供一種雙VGA介面自動測試裝置，其包括切換模組及控制模組。切換模組包括RGB訊號單元、掃描及控制訊號單元及位址訊號單元。RGB訊號單元包括第一組、第二組RGB訊號輸入端及一組RBG訊號輸出端。掃描及控制訊號單元包括第一組、第二組掃描及控制訊號輸入端及一組掃描及控制訊號輸出端。位址訊號單元包括第一組、第二組位址訊號輸入端及一組位址訊號輸出端。控制模組分別與RGB訊號單元、掃描及控制訊號單元及位址訊號單元相連接，以控制RGB訊號單元、掃描及控制訊號單元及位址訊號單元的不同導通方式。
简体摘要：本发明提供一种双VGA界面自动测试设备，其包括切换模块及控制模块。切换模块包括RGB信号单元、扫描及控制信号单元及位址信号单元。RGB信号单元包括第一组、第二组RGB信号输入端及一组RBG信号输出端。扫描及控制信号单元包括第一组、第二组扫描及控制信号输入端及一组扫描及控制信号输出端。位址信号单元包括第一组、第二组位址信号输入端及一组位址信号输出端。控制模块分别与RGB信号单元、扫描及控制信号单元及位址信号单元相连接，以控制RGB信号单元、扫描及控制信号单元及位址信号单元的不同导通方式。

29. 发明专利

TW201508298A 電子裝置主機板跳帽測試方法及系統审中-公开
简体标题：电子设备主板跳帽测试方法及系统
公开(公告)号：TW201508298A
公开(公告)日：2015-03-01
申请号：TW102116038
申请日：2013-05-06
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：李暉 , LI, HUI
IPC分类号： G01R31/3181 , G06F11/26
摘要：本發明提供一種電子裝置主機板跳帽測試方法及系統，該系統包括：偵測模組，用於偵測電子裝置的主機板上每個跳帽的當前暫存器位址值；判斷模組，用於判斷每個跳帽的預設暫存器位址值與當前暫存器位址值是否都相同；提示模組，用於當每個跳帽預設暫存器位址值與當前暫存器位址值都相同時，提示所有跳帽配置正確；篩選模組，用於篩選出與預設暫存器位址值不同的當前暫存器位址值；關機模組，用於發送關機命令控制主機板關機。
简体摘要：本发明提供一种电子设备主板跳帽测试方法及系统，该系统包括：侦测模块，用于侦测电子设备的主板上每个跳帽的当前寄存器位址值；判断模块，用于判断每个跳帽的默认寄存器位址值与当前寄存器位址值是否都相同；提示模块，用于当每个跳帽默认寄存器位址值与当前寄存器位址值都相同时，提示所有跳帽配置正确；筛选模块，用于筛选出与默认寄存器位址值不同的当前寄存器位址值；关机模块，用于发送关机命令控制主板关机。

30. 发明专利

TW201447712A 具有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器审中-公开
简体标题：具有触摸检测功能之显示设备及电子机器
公开(公告)号：TW201447712A
公开(公告)日：2014-12-16
申请号：TW103106137
申请日：2014-02-24
申请人：日本顯示器股份有限公司 , JAPAN DISPLAY INC.
发明人：野口幸治 , NOGUCHI, KOJI , 鈴木崇章 , SUZUKI, TAKAFUMI
IPC分类号： G06F3/044 , G01R31/3181
CPC分类号： G06F3/0416 , G02F1/13338 , G06F3/0412 , G06F3/044 , G06F3/047 , G06F2203/04103 , G09G3/3406 , G09G3/36 , G09G2300/0426
摘要：本發明係提供一種一方面抑制零件件數之增加且謀求成本降低、一方面可檢測按鍵觸控輸入之具有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。具有觸控檢測功能之顯示裝置包括：複數個像素電極，其等係矩陣配置於與TFT基板平行之面上且觸控部內；顯示功能層，其發揮圖像顯示功能；複數個第1驅動電極，其等於相對於TFT基板之表面之垂直方向上與像素電極對向；及複數個觸控檢測電極，其等係於垂直方向上與第1驅動電極對向，且於與第1驅動電極所延伸之方向不同之方向延伸，且與第1驅動電極電容耦合；複數個觸控檢測電極內之至少1個觸控檢測電極係自觸控部延伸至按鍵部，且於按鍵部中，更具備與至少1個觸控檢測電極電容耦合之第2驅動電極。
简体摘要：本发明系提供一种一方面抑制零件件数之增加且谋求成本降低、一方面可检测按键触摸输入之具有触摸检测功能之显示设备及电子机器。具有触摸检测功能之显示设备包括：复数个像素电极，其等系矩阵配置于与TFT基板平行之面上且触摸部内；显示功能层，其发挥图像显示功能；复数个第1驱动电极，其等于相对于TFT基板之表面之垂直方向上与像素电极对向；及复数个触摸检测电极，其等系于垂直方向上与第1驱动电极对向，且于与第1驱动电极所延伸之方向不同之方向延伸，且与第1驱动电极电容耦合；复数个触摸检测电极内之至少1个触摸检测电极系自触摸部延伸至按键部，且于按键部中，更具备与至少1个触摸检测电极电容耦合之第2驱动电极。

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