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    • 23. 发明专利
    • 影像處理方法
    • 影像处理方法
    • TW201712633A
    • 2017-04-01
    • TW104130681
    • 2015-09-16
    • 華碩電腦股份有限公司ASUSTEK COMPUTER INC.
    • 林佳慶LIN, CHIA-CHING
    • G06T5/00
    • G09G5/02G09G2320/0666G09G2360/16H04N1/6005H04N1/6008
    • 本案揭示一種影像處理方法。此影像處理方法包括下列步驟。判斷一原始色彩空間對應至CIELCH色彩空間的一影像顯示空間。將原始色彩空間的多個第一畫素資料轉換為CIELCH色彩空間的多個第二畫素資料。將CIELCH色彩空間的這些第二畫素資料進行一影像調整後取得CIELCH色彩空間的多個第三畫素資料,並且將這些第三畫素資料是限制於影像顯示空間內。以及,將CIELCH色彩空間的這些第三畫素資料轉換為原始色彩空間的多個第四畫素資料,以設定一顯示裝置所顯示的一影像。
    • 本案揭示一种影像处理方法。此影像处理方法包括下列步骤。判断一原始色彩空间对应至CIELCH色彩空间的一影像显示空间。将原始色彩空间的多个第一像素数据转换为CIELCH色彩空间的多个第二像素数据。将CIELCH色彩空间的这些第二像素数据进行一影像调整后取得CIELCH色彩空间的多个第三像素数据,并且将这些第三像素数据是限制于影像显示空间内。以及,将CIELCH色彩空间的这些第三像素数据转换为原始色彩空间的多个第四像素数据,以设置一显示设备所显示的一影像。
    • 26. 发明专利
    • 檢查裝置及基板處理裝置
    • 检查设备及基板处理设备
    • TW201706910A
    • 2017-02-16
    • TW105111079
    • 2016-04-08
    • 思可林集團股份有限公司SCREEN HOLDINGS CO,. LTD.
    • 松尾友宏MATSUO, TOMOHIRO中川幸治NAKAGAWA, KOJI
    • G06K9/46G06K9/62G06T5/00G06T7/00H01L21/67
    • H01L21/67288G03F7/7065G06T7/001G06T2207/30148
    • 在檢查單元中進行包含有阻劑圖案等的表面構造之基板的外觀檢查。在外觀檢查中,取得無缺陷的樣品基板的表面影像資料,並取得欲檢查的基板的表面影像資料。針對欲檢查的基板及樣品基板的表面影像資料中彼此對應的像素,算出色階值的差分。對各個像素的色階值加算一定值。在藉由加算所獲得的值處於預先設定的容許範圍內之情形中,判斷成於欲檢查的基板上無缺陷。另一方面,在藉由加算所獲得的值處於預先設定的容許範圍外之情形中,判斷成於欲檢查的基板上存在缺陷。依據藉由加算所獲得的值處於容許範圍外的像素,檢測出欲檢查的基板的外觀上的缺陷。
    • 在检查单元中进行包含有阻剂图案等的表面构造之基板的外观检查。在外观检查中,取得无缺陷的样品基板的表面影像数据,并取得欲检查的基板的表面影像数据。针对欲检查的基板及样品基板的表面影像数据中彼此对应的像素,算出色阶值的差分。对各个像素的色阶值加算一定值。在借由加算所获得的值处于预先设置的容许范围内之情形中,判断成于欲检查的基板上无缺陷。另一方面,在借由加算所获得的值处于预先设置的容许范围外之情形中,判断成于欲检查的基板上存在缺陷。依据借由加算所获得的值处于容许范围外的像素,检测出欲检查的基板的外观上的缺陷。