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21. 发明专利

TW201722565A 吐出判定方法及吐出裝置审中-公开
简体标题：吐出判定方法及吐出设备
公开(公告)号：TW201722565A
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW105135483
申请日：2016-11-02
申请人：斯庫林集團股份有限公司 , SCREEN HOLDINGS CO., LTD.
发明人：沖田有史 , OKITA, YUJI
IPC分类号： B05C11/00 , G06K9/52
CPC分类号： B05D1/02 , B05C1/00 , G06T7/0006 , G06T2207/10024 , H01L21/67051 , H01L21/67253
摘要：本發明係根據圖像而於短時間內確實地判定是否有自噴嘴吐出液體。於吐出狀態下取得較非吐出狀態大的值之指標值，係自圖像中的包含液體之流通路徑之評價對象區域中算出，且根據與預先設定之判定基準值之大小關係，判定是吐出狀態還是非吐出狀態。判定基準值係根據自預先收集之複數個圖像中分別求出的指標值所示之直方圖之形狀而定。當於直方圖中顯示波峰位置或波峰之銳度之評價值較規定的臨限值小時，推定所收集之圖像為非吐出狀態者，當評價值較臨限值大時，推定所收集之圖像為吐出狀態者。因此，無論是吐出狀態還是非吐出狀態，皆可適宜地設定判定基準值。
简体摘要：本发明系根据图像而于短时间内确实地判定是否有自喷嘴吐出液体。于吐出状态下取得较非吐出状态大的值之指针值，系自图像中的包含液体之流通路径之评价对象区域中算出，且根据与预先设置之判定基准值之大小关系，判定是吐出状态还是非吐出状态。判定基准值系根据自预先收集之复数个图像中分别求出的指针值所示之直方图之形状而定。当于直方图中显示波峰位置或波峰之锐度之评价值较规定的临限值小时，推定所收集之图像为非吐出状态者，当评价值较临限值大时，推定所收集之图像为吐出状态者。因此，无论是吐出状态还是非吐出状态，皆可适宜地设置判定基准值。

22. 发明专利

TWI543117B 物件辨識與定位方法有权
简体标题：对象辨识与定位方法
公开(公告)号：TWI543117B
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：TW103121094
申请日：2014-06-18
申请人：台達電子工業股份有限公司 , DELTA ELECTRONICS, INC
发明人：楊遠祥 , YANG, YUAN HSIANG
IPC分类号： G06T7/60 , G06K9/46 , G06K9/52
CPC分类号： G06K9/3241 , G06K9/00201 , G06K9/3275 , G06K9/46 , G06K9/6202 , G06T7/12 , G06T7/66 , G06T7/73

23. 发明专利

TW201612624A 光罩檢查裝置，光罩評估方法及光罩評估系統审中-公开
简体标题：光罩检查设备，光罩评估方法及光罩评估系统
公开(公告)号：TW201612624A
公开(公告)日：2016-04-01
申请号：TW104116685
申请日：2015-05-25
申请人：紐富來科技股份有限公司 , NUFLARE TECHNOLOGY, INC.
发明人：土屋英雄 , TSUCHIYA, HIDEO , 菊入信孝 , KIKUIRI, NOBUTAKA , 磯村育直 , ISOMURA, IKUNAO
IPC分类号： G03F1/84 , H04N7/18 , G06K9/52 , G06K9/62 , G06T7/00
CPC分类号： G06K9/6218 , G06T7/001 , G06T2207/30148
摘要：光罩檢查裝置(200)，藉由比較電路(15)將光學圖像與參照圖像予以比較，並將包含判斷為缺陷之處的座標在內之隨附於缺陷的資訊供給至空間像計測裝置(300)。空間像計測裝置(300)，反映出缺陷座標而藉由比較基準資訊生成部(310)生成比較基準資訊。光學系統(320)中，藉由通過濾波器(321)之照明光對光罩1照明，並生成透過光圈(322)而在設於焦點面之CCD相機(323)被轉印曝光的和缺陷處相對應之空間像。致命度判斷部(330)，利用和缺陷處相對應之比較基準資訊與空間像，來依據線寬及孔徑的誤差之計算值做致命度的判斷。
简体摘要：光罩检查设备(200)，借由比较电路(15)将光学图像与参照图像予以比较，并将包含判断为缺陷之处的座标在内之随附于缺陷的信息供给至空间像计测设备(300)。空间像计测设备(300)，反映出缺陷座标而借由比较基准信息生成部(310)生成比较基准信息。光学系统(320)中，借由通过滤波器(321)之照明光对光罩1照明，并生成透过光圈(322)而在设于焦点面之CCD相机(323)被转印曝光的和缺陷处相对应之空间像。致命度判断部(330)，利用和缺陷处相对应之比较基准信息与空间像，来依据线宽及孔径的误差之计算值做致命度的判断。

24. 发明专利

TW201601119A 物件辨識與定位方法审中-公开
简体标题：对象辨识与定位方法
公开(公告)号：TW201601119A
公开(公告)日：2016-01-01
申请号：TW103121094
申请日：2014-06-18
申请人：台達電子工業股份有限公司 , DELTA ELECTRONICS, INC
发明人：楊遠祥 , YANG, YUAN HSIANG
IPC分类号： G06T7/60 , G06K9/46 , G06K9/52
CPC分类号： G06K9/3241 , G06K9/00201 , G06K9/3275 , G06K9/46 , G06K9/6202 , G06T7/12 , G06T7/66 , G06T7/73
摘要：本案關於一種物件辨識與定位方法，包含步驟：執行離線模式，取得物件之標準影像之複數個取樣邊緣點及其梯度方向角度與一重心；依據複數個取樣邊緣點及設定的偵測距離範圍與設定的偵測梯度方向角度差異範圍計算複數個相似分數表單；執行線上模式，取得即時影像之複數個邊緣點及其梯度方向角度；以及對應即時影像之複數個邊緣點計算複數個預測重心位置，依照複數個相似分數表單之複數個相似分數，加總複數個預測重心位置相對應之相似分數，且以分數高於使用者設定閥值之區域最大值之預測重心位置判別為相對於標準影像之該重心位置，俾辨識與定位物件。
简体摘要：本案关于一种对象辨识与定位方法，包含步骤：运行脱机模式，取得对象之标准影像之复数个采样边缘点及其梯度方向角度与一重心；依据复数个采样边缘点及设置的侦测距离范围与设置的侦测梯度方向角度差异范围计算复数个相似分数表单；运行在线模式，取得实时影像之复数个边缘点及其梯度方向角度；以及对应实时影像之复数个边缘点计算复数个预测重心位置，依照复数个相似分数表单之复数个相似分数，加总复数个预测重心位置相对应之相似分数，且以分数高于用户设置阀值之区域最大值之预测重心位置判别为相对于标准影像之该重心位置，俾辨识与定位对象。

25. 发明专利

TW201411412A 非接觸式控制系統以及方法审中-公开
简体标题：非接触式控制系统以及方法
公开(公告)号：TW201411412A
公开(公告)日：2014-03-16
申请号：TW101133488
申请日：2012-09-14
申请人：林凡生 , LIN, FAN SHENG
发明人：林凡生 , LIN, FAN SHENG
IPC分类号： G06F3/01 , G06K9/52 , G06K9/78
摘要：一種非接觸式控制系統包含一攝影機、一顯示元件以及一處理元件。處理元件驅動顯示元件顯示一目前選項指示、至少一條第一軸向路徑以及數條第二軸向路徑。各第二軸向路徑之一端連接於第一軸向路徑，另一端代表一預設選項。處理元件接收攝影機所拍攝之數個影像，以偵測使用者之特定身體部位之至少一目前位置。處理元件根據偵測到之目前位置，對應於第一軸向路徑以及第二軸向路徑上，移動目前選項指示之位置，或根據目前選項指示之位置，選擇第二端的其中之一所代表之預設選項。
简体摘要：一种非接触式控制系统包含一摄影机、一显示组件以及一处理组件。处理组件驱动显示组件显示一目前选项指示、至少一条第一轴向路径以及数条第二轴向路径。各第二轴向路径之一端连接于第一轴向路径，另一端代表一默认选项。处理组件接收摄影机所拍摄之数个影像，以侦测用户之特定身体部位之至少一目前位置。处理组件根据侦测到之目前位置，对应于第一轴向路径以及第二轴向路径上，移动目前选项指示之位置，或根据目前选项指示之位置，选择第二端的其中之一所代表之默认选项。

26. 发明专利

TWI419058B 影像辨識模型之建立方法及利用該影像辨識模型之影像辨識方法有权
简体标题：影像辨识模型之创建方法及利用该影像辨识模型之影像辨识方法
公开(公告)号：TWI419058B
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：TW098135980
申请日：2009-10-23
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：韓欽銓 , 陳映濃
IPC分类号： G06K9/46 , G06K9/52 , G06K9/78

27. 发明专利

TWI648707B 用於產生一晶圓之一缺陷樣本之電腦實施之方法及系統與非暫時性電腦可讀媒體有权
简体标题：用于产生一晶圆之一缺陷样本之电脑实施之方法及系统与非暂时性电脑可读媒体
公开(公告)号：TWI648707B
公开(公告)日：2019-01-21
申请号：TW104134248
申请日：2015-10-19
申请人：美商克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：普莉霍爾馬丁 , PLIHAL, MARTIN , 亞納桑維狄亞薩吉爾 , ANANTHA, VIDYASAGAR
IPC分类号： G06T7/00 , G01N21/956 , G01N21/95 , G06K9/52

28. 发明专利

TWI634485B 在半導體裝置製造製程期間之圖案缺陷和強度檢測及追蹤有权
简体标题：在半导体设备制造制程期间之图案缺陷和强度检测及追踪
公开(公告)号：TWI634485B
公开(公告)日：2018-09-01
申请号：TW106137321
申请日：2016-03-30
申请人：諳科半導體有限公司 , ANCHOR SEMICONDUCTOR INC.
发明人：薩法庫蘭 , ZAFAR,KHURRAM , 胡承敏 , HU,CHENMIN , 陳瞱 , CHEN,YE , 馬玥 , MA,YUE , 向慶雲 , HSIANG,CHINGYUN , 陳志錦 , CHEN,JUSTIN , 徐遠 , XU,RAYMOND , 威克朗艾比謝 , VIKRAM,ABHISHEK , 張平 , ZHANG,PING
IPC分类号： G06K9/46 , G06K9/52 , G06K9/62 , G06T7/00 , G06T7/60

29. 发明专利

TWI608427B 在半導體裝置製造製程期間之圖案缺陷和強度檢測及追蹤有权
简体标题：在半导体设备制造制程期间之图案缺陷和强度检测及追踪
公开(公告)号：TWI608427B
公开(公告)日：2017-12-11
申请号：TW105110109
申请日：2016-03-30
申请人：諳科半導體有限公司 , ANCHOR SEMICONDUCTOR INC.
发明人：薩法庫蘭 , ZAFAR, KHURRAM , 胡承敏 , HU, CHENMIN , 陳瞱 , CHEN, YE , 馬玥 , MA, YUE , 向慶雲 , HSIANG, CHINGYUN , 陳志錦 , CHEN, JUSTIN , 徐遠 , XU, RAYMOND , 威克朗艾比謝 , VIKRAM, ABHISHEK , 張平 , ZHANG, PING
IPC分类号： G06K9/46 , G06K9/52 , G06K9/62 , G06T7/00 , G06T7/60
CPC分类号： G06T7/001 , G06K9/4604 , G06K9/4671 , G06K9/52 , G06K9/6201 , G06K2009/4666 , G06T2207/20081 , G06T2207/30148

30. 发明专利

TW201722256A 用於焊點檢查的設備及方法审中-公开
简体标题：用于焊点检查的设备及方法
公开(公告)号：TW201722256A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：TW105128917
申请日：2016-09-07
申请人：羅伯特博斯奇股份有限公司 , ROBERT BOSCH GMBH
发明人：杰拉甘特 , GERA, GUENTER , 布朗馬可 , BRAUN, MARCO
IPC分类号： H05K13/08 , G06K9/52
CPC分类号： H05K13/08 , H05K13/0465
摘要：本發明係有關於一種用於焊點檢查的設備(1)，具有用於自動焊點檢查的裝置(5)，該裝置在該焊面之預設的檢查區中偵測待檢查的焊點之至少一品質特徵，其中該用於自動焊點檢查的裝置(5)會根據該所測得的品質特徵將該待檢查的焊點評為良好焊點(ASJIRG)或較差焊點(ASJIRB)，以及一種用於焊點檢查的方法。根據本發明，用於自動構件檢查的裝置(4)測定待焊接的構件之至少一幾何參數，其中分析及控制單元(10)根據該待焊接的構件之該所測得的至少一幾何參數偵測該至少一對應檢查區的位置及/或尺寸並為檢查該對應的焊點而將該位置及/或該等尺寸預設至該用於自動焊點檢查的裝置(5)。
简体摘要：本发明系有关于一种用于焊点检查的设备(1)，具有用于自动焊点检查的设备(5)，该设备在该焊面之默认的检查区中侦测待检查的焊点之至少一品质特征，其中该用于自动焊点检查的设备(5)会根据该所测得的品质特征将该待检查的焊点评为良好焊点(ASJIRG)或较差焊点(ASJIRB)，以及一种用于焊点检查的方法。根据本发明，用于自动构件检查的设备(4)测定待焊接的构件之至少一几何参数，其中分析及控制单元(10)根据该待焊接的构件之该所测得的至少一几何参数侦测该至少一对应检查区的位置及/或尺寸并为检查该对应的焊点而将该位置及/或该等尺寸默认至该用于自动焊点检查的设备(5)。

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