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21. 发明专利

TW200507144A 具有修改容易之軟體的自動測試系統 AUTOMATIC TEST SYSTEM WITH EASILY MODIFIED SOFTWARE 审中-公开
简体标题：具有修改容易之软件的自动测试系统 AUTOMATIC TEST SYSTEM WITH EASILY MODIFIED SOFTWARE
公开(公告)号：TW200507144A
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：TW093117010
申请日：2004-06-14
申请人：泰瑞丹公司 TERADYNE, INC.
发明人：史黛芬J 荷亞克 HLOTYAK, STEPHEN J. , 亞倫L 布利茲 BLITZ, ALAN L. , 雷都B 史緹森 STIMSON, RANDALL B.
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31907 , G01R31/31917
摘要：揭示一種諸如用來測試半導體裝置之自動測試系統，充當製造之部分。其測試系統使用儀器來產生並且測量測試信號。自動測試系統具有硬體與軟體結構，其允許儀器在製造之後附加於測試系統。離析其軟體成為儀器特定規格與儀器非從屬軟體。當測試系統的實體實現改變或是儀器因為在系列產品中的測試器不同而改變，至軟體組件的預定測試介面允許將儀器容易的整合至測試系統，並且容易重複使用軟體。
简体摘要：揭示一种诸如用来测试半导体设备之自动测试系统，充当制造之部分。其测试系统使用仪器来产生并且测量测试信号。自动测试系统具有硬件与软件结构，其允许仪器在制造之后附加于测试系统。离析其软件成为仪器特定规格与仪器非从属软件。当测试系统的实体实现改变或是仪器因为在系列产品中的测试器不同而改变，至软件组件的预定测试界面允许将仪器容易的集成至测试系统，并且容易重复使用软件。

22. 发明专利

TWI227784B 可堆疊的半導體測試系統及其操作方法 STACKABLE SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING SAME 失效
简体标题：可堆栈的半导体测试系统及其操作方法 STACKABLE SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING SAME
公开(公告)号：TWI227784B
公开(公告)日：2005-02-11
申请号：TW091122660
申请日：2002-10-01
申请人：奈泰斯特系統股份有限公司 NEXTEST SYSTEMS CORPORATION
发明人：保羅.麥格利可 MAGLIOCCO, PAUL , 雷.維克費爾德 WAKEFIELD, RAY , 保羅.楚杜 TRUDEAU, PAUL G.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31903 , G01R31/31907
摘要：一測試器之組態被設定成堆疊至少一個其他的測試器，以便提供一可在不同的測試器上以平行之方式同時測試若干裝置或者可測試接腳數大於一單一測試器所能測試的接腳數的一裝置之測試系統。該測試器包含一具有若干接腳電子部分通道之測試單元、用來作為該裝置的介面之一介面、以及一用來作為該測試系統中的一主電腦的介面之一電腦。可將該等測試器直接相互扣接，或將該等測試器扣接到一共用固定框。該介面最好是可使一單一的裝置介面板同時嚙合多個測試器上的介面。該介面尤其最好是自該測試器的一上表面延伸，而嚙合該裝置介面板。一外殼的上表面及前表面中之各通氣孔可使空氣移動，以便在不會有來自該外殼的側面或背面上的測試器阻礙之情形下，冷卻該測試器的各組件。
简体摘要：一测试器之组态被设置成堆栈至少一个其他的测试器，以便提供一可在不同的测试器上以平行之方式同时测试若干设备或者可测试接脚数大于一单一测试器所能测试的接脚数的一设备之测试系统。该测试器包含一具有若干接脚电子部分信道之测试单元、用来作为该设备的界面之一界面、以及一用来作为该测试系统中的一主电脑的界面之一电脑。可将该等测试器直接相互扣接，或将该等测试器扣接到一共享固定框。该界面最好是可使一单一的设备界面板同时啮合多个测试器上的界面。该界面尤其最好是自该测试器的一上表面延伸，而啮合该设备界面板。一外壳的上表面及前表面中之各通气孔可使空气移动，以便在不会有来自该外壳的侧面或背面上的测试器阻碍之情形下，冷却该测试器的各组件。

23. 发明专利

TW200306429A 外部可控制式電子測試程式技術 EXTERNALLY CONTROLLABLE ELECTRONIC TEST PROGRAM 审中-公开
简体标题：外部可控制式电子测试进程技术 EXTERNALLY CONTROLLABLE ELECTRONIC TEST PROGRAM
公开(公告)号：TW200306429A
公开(公告)日：2003-11-16
申请号：TW091135481
申请日：2002-12-06
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：克里斯多佛K 蘇頓 CHRISTOPHER K. SUTTON
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R19/2516 , G01R31/31912
摘要：本發明揭露一種用以在電子裝置上進行測試的測試執行程式。該電子測試程式將提供外掛程式以允許與其他電子裝置連通。該電子測試程式亦提供一種ActiveXCOM介面，其將允許該等其他電子程式能控制該測試執行程式。
简体摘要：本发明揭露一种用以在电子设备上进行测试的测试运行进程。该电子测试进程将提供插件进程以允许与其他电子设备连通。该电子测试进程亦提供一种ActiveXCOM界面，其将允许该等其他电子进程能控制该测试运行进程。

24. 发明专利

TW559664B 具進展視窗之測試執行系統失效
简体标题：具进展窗口之测试运行系统
公开(公告)号：TW559664B
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW091107947
申请日：2002-04-18
申请人：安捷倫科技公司
发明人：克里斯多夫K 薩頓
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31912
摘要：一種可令使用者一目瞭然地觀察測試之進展與狀態之具有進展視窗(330)之電子測試系統(100)。進展視窗(330)較佳地係以沿表示測試程序長度之進展軸(400)分組之測試結果的圖形元件(403、404)所組成。每一圖形元件(403、404)較佳地係以條塊顯示，此條塊具有垂直於進展軸(400)之表示結果值的條塊長度。規格範圍(602、603)較佳地係以平行於進展軸(400)之線段(401A、401B)表示。位於進展軸(400)上方之線段(401A)係表示較高規格範圍(602)且位於進展軸(400)下方之線段(401B)則係表示較低規格範圍(603)。此等條塊係以彩色編碼以顯示測試之通過、失敗、與臨界狀態。
简体摘要：一种可令用户一目了然地观察测试之进展与状态之具有进展窗口(330)之电子测试系统(100)。进展窗口(330)较佳地系以沿表示测试进程长度之进展轴(400)分组之测试结果的图形组件(403、404)所组成。每一图形组件(403、404)较佳地系以条块显示，此条块具有垂直于进展轴(400)之表示结果值的条块长度。规格范围(602、603)较佳地系以平行于进展轴(400)之线段(401A、401B)表示。位于进展轴(400)上方之线段(401A)系表示较高规格范围(602)且位于进展轴(400)下方之线段(401B)则系表示较低规格范围(603)。此等条块系以彩色编码以显示测试之通过、失败、与临界状态。

25. 发明专利

TW200304605A 具有測試觸發互動顯示之電子測試程式技術 Electronic Test Program with Test Triggered Interactive Displays 失效
简体标题：具有测试触发交互显示之电子测试进程技术 Electronic Test Program with Test Triggered Interactive Displays
公开(公告)号：TW200304605A
公开(公告)日：2003-10-01
申请号：TW091132093
申请日：2002-10-29
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：克里斯多佛K 蘇頓 CHRISTOPHER K. SUTTON , 理察米爾斯 RICHARD MILLS
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R1/025 , G01R31/31912
摘要：一種用於控制與測試執行系統不同且分離的待測試裝置(108)上之測試的測試執行系統(100)。該測試執行系統以下面的方式提供互動對話盒(350)。在測試步驟中一事件發生的信號被接收。反應於該信號而從記憶體(101)取得儲存測試資訊之檔案(357)。該測試資訊包含供使用者進行繼續測試所需的動作之指示。測試執行系統包含一組網路瀏覽器(360)並且測試資訊可以包含一網頁(362)。測試資訊與至少一組輸入選項(351-356)一起被顯示。來自使用者之輸入接著被接收，並且微處理機(102)處理該輸入。
简体摘要：一种用于控制与测试运行系统不同且分离的待测试设备(108)上之测试的测试运行系统(100)。该测试运行系统以下面的方式提供交互对话盒(350)。在测试步骤中一事件发生的信号被接收。反应于该信号而从内存(101)取得存储测试信息之文档(357)。该测试信息包含供用户进行继续测试所需的动作之指示。测试运行系统包含一组网络浏览器(360)并且测试信息可以包含一网页(362)。测试信息与至少一组输入选项(351-356)一起被显示。来自用户之输入接着被接收，并且微处理机(102)处理该输入。

26. 发明专利

TW314624B 空間分離式點狀圖型之偵測和評估的設備及方法失效
简体标题：空间分离式点状图型之侦测和评估的设备及方法
公开(公告)号：TW314624B
公开(公告)日：1997-09-01
申请号：TW085116271
申请日：1996-12-30
申请人：西門斯股份有限公司
发明人：彼得菲德爾
IPC分类号： G11C
CPC分类号： H01L22/20 , G01R13/206 , G01R31/31912 , H01L2924/0002 , Y10S706/916 , H01L2924/00
摘要：本發明係有關一種用來偵測和評估配置於多維座標系統內的空間分離式點狀圖型之設備及方法，而假定該圖型內的每一個點至少都有兩個可微分狀態值。本發明包含用來記錄多維空間點狀圖型上每一個點的座標值及狀態值之測量元件(1,2,3,5,6) ；用來儲存對應於所記錄多維空間點狀圖型上每一個點的座標值及狀態值之資料的記憶體(7) ；附有記憶體(7)之計算器(6，10)，將所儲存之資料罝入其內，並由所儲存之資料決定座標軸上的每一個座標值之座標計數器(SZ1-SZ1024,ZZ1-ZZ256); 其中座標計數器(SZ1-SZ1024,ZZ1-ZZ256)的值是由所偵測具預設狀態值之座標上的許多點形成的；神經網路(NNl，NN2,NN3)內附有計算器(6,10)，其中置入由空間分離式點狀圖型上每一個點所計算出的座標計數器(SZ1-SZ1024,ZZ1-ZZ256)所形成的n-維輸入向量之成分(El- E27)，並藉著比較由所測量點狀圖型算出的輸入向量、及儲存其內且以說明用點狀圖型為基礎所得到之定點向量而計算輸出向量，且由確定的輸出向量設定所測量點狀圖型之分類值並將之輸出。
简体摘要：本发明系有关一种用来侦测和评估配置于多维座标系统内的空间分离式点状图型之设备及方法，而假定该图型内的每一个点至少都有两个可微分状态值。本发明包含用来记录多维空间点状图型上每一个点的座标值及状态值之测量组件(1,2,3,5,6) ；用来存储对应于所记录多维空间点状图型上每一个点的座标值及状态值之数据的内存(7) ；附有内存(7)之计算器(6，10)，将所存储之数据罝入其内，并由所存储之数据决定座标轴上的每一个座标值之座标计数器(SZ1-SZ1024,ZZ1-ZZ256); 其中座标计数器(SZ1-SZ1024,ZZ1-ZZ256)的值是由所侦测具默认状态值之座标上的许多点形成的；神经网络(NNl，NN2,NN3)内附有计算器(6,10)，其中置入由空间分离式点状图型上每一个点所计算出的座标计数器(SZ1-SZ1024,ZZ1-ZZ256)所形成的n-维输入矢量之成分(El- E27)，并借着比较由所测量点状图型算出的输入矢量、及存储其内且以说明用点状图型为基础所得到之定点矢量而计算输出矢量，且由确定的输出矢量设置所测量点状图型之分类值并将之输出。

27. 发明专利

TW312827B 檢查裝置失效
简体标题：检查设备
公开(公告)号：TW312827B
公开(公告)日：1997-08-11
申请号：TW085116007
申请日：1996-12-24
申请人：東京電子股份有限公司
发明人：田中秀明 , 阿部祐一
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R1/025 , G01R31/2851 , G01R31/2893 , G01R31/31912
摘要：本發明之主要目的在於提供一種檢查裝置，此檢查裝置即使在檢查當中，也能夠即時地掌握裝置本體內部之被檢查體之檢查狀況和所在場所等之晶圓狀態。
又，本發明之另一目的在於提供一種檢查裝置，此檢查裝置不需要印表機和消耗品，同時能夠將被檢查體之檢查結果以短時間且容易檢索，通過視覺能直接且在短時間內得知良品、不良品之分布狀態和良品率等檢查結果。
简体摘要：本发明之主要目的在于提供一种检查设备，此检查设备即使在检查当中，也能够实时地掌握设备本体内部之被检查体之检查状况和所在场所等之晶圆状态。又，本发明之另一目的在于提供一种检查设备，此检查设备不需要打印机和消耗品，同时能够将被检查体之检查结果以短时间且容易检索，通过视觉能直接且在短时间内得知良品、不良品之分布状态和良品率等检查结果。

28. 发明专利

TW201403100A 測試程式审中-公开
简体标题：测试进程
公开(公告)号：TW201403100A
公开(公告)日：2014-01-16
申请号：TW102113865
申请日：2013-04-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：鈴木武久 , SUZUKI, TAKEHISA , 有澤明宏 , ARISAWA, AKIHIRO , 田原善文 , TAHARA, YOSHIFUMI , 福田浩章 , FUKUDA, HIROAKI
IPC分类号： G01R31/3167
CPC分类号： G06F11/2733 , G01R31/2834 , G01R31/31907 , G01R31/31912 , G06F11/263
摘要：本發明提供一種測試程式，控制測試機硬體100。測試機硬體100是對應儲存於可重寫的非揮發性記憶體102中的配置資料306，構成為至少上述測試機硬體100的功能的一部分可變更。本測試程式具備：作業流程顯示控制功能，以用戶可選擇的形態來使資訊處理裝置的顯示裝置顯示作業流程；以及輸入畫面顯示控制功能，使顯示裝置顯示與自作業流程中選擇的作業對應的輸入畫面。
简体摘要：本发明提供一种测试进程，控制测试机硬件100。测试机硬件100是对应存储于可重写的非挥发性内存102中的配置数据306，构成为至少上述测试机硬件100的功能的一部分可变更。本测试进程具备：作业流程显示控制功能，以用户可选择的形态来使信息处理设备的显示设备显示作业流程；以及输入画面显示控制功能，使显示设备显示与自作业流程中选择的作业对应的输入画面。

29. 发明专利

TW201350886A 測試程式审中-公开
简体标题：测试进程
公开(公告)号：TW201350886A
公开(公告)日：2013-12-16
申请号：TW102113866
申请日：2013-04-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：田原善文 , TAHARA, YOSHIFUMI , 有澤明宏 , ARISAWA, AKIHIRO , 鈴木武久 , SUZUKI, TAKEHISA
IPC分类号： G01R31/28 , G06F9/44
CPC分类号： G06F11/2733 , G01R31/2834 , G01R31/31907 , G01R31/31912 , G06F11/263
摘要：本發明提供一種測試程式，控制測試機硬體100。測試機硬體100是對應儲存於可重寫的非揮發性記憶體102中的配置資料306，構成為至少上述測試機硬體100的功能的一部分可變更。本測試程式包含控制程式與測試算法模組的組合，且具備如下功能：自記憶裝置206所保持的與測試算法模組對應的測試項目中，接受用戶所指定的測試項目的選擇指示的功能；接受執行所選擇的測試項目所需的測試條件的功能；以及對測試機硬體100進行控制，以按照測試算法及測試條件來對被測試元件供給信號，並接收來自被測試元件的信號的功能。
简体摘要：本发明提供一种测试进程，控制测试机硬件100。测试机硬件100是对应存储于可重写的非挥发性内存102中的配置数据306，构成为至少上述测试机硬件100的功能的一部分可变更。本测试进程包含控制进程与测试算法模块的组合，且具备如下功能：自记忆设备206所保持的与测试算法模块对应的测试项目中，接受用户所指定的测试项目的选择指示的功能；接受运行所选择的测试项目所需的测试条件的功能；以及对测试机硬件100进行控制，以按照测试算法及测试条件来对被测试组件供给信号，并接收来自被测试组件的信号的功能。

30. 发明专利

TWI385405B 於平行測試系統中排序測試的方法與系統失效
简体标题：于平行测试系统中排序测试的方法与系统
公开(公告)号：TWI385405B
公开(公告)日：2013-02-11
申请号：TW095105251
申请日：2006-02-16
申请人：愛德萬測試公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：安可普曼尼克 , PRAMANICK, ANKAN , 安達俊明 , ADACHI, TOSHIAKI , 馬克艾斯頓 , ELSTON, MARK
IPC分类号： G01R31/319 , G06F11/00
CPC分类号： G01R31/31907 , G01R31/31912

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