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21. 发明专利

TWI469235B 決定實際缺陷是潛在系統性缺陷或潛在隨機缺陷之由電腦實施之方法有权
简体标题：决定实际缺陷是潜在系统性缺陷或潜在随机缺陷之由电脑实施之方法
公开(公告)号：TWI469235B
公开(公告)日：2015-01-11
申请号：TW097131870
申请日：2008-08-20
申请人：克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：葛林恩佛羅倫斯 , FLORENCE, GLENN , 艾倫派克 , PARK, ALLEN , 彼得羅斯 , ROSE, PETER
IPC分类号： H01L21/66 , G06F19/00
CPC分类号： G06F17/5081 , G01R31/318314 , G01R31/318371

22. 发明专利

TWI376596B 利用回授之測試案例產生系統與方法 SYSTEMS AND METHODS OF TEST CASE GENERATION WITH FEEDBACK 有权
简体标题：利用回授之测试案例产生系统与方法 SYSTEMS AND METHODS OF TEST CASE GENERATION WITH FEEDBACK
公开(公告)号：TWI376596B
公开(公告)日：2012-11-11
申请号：TW094135684
申请日：2005-10-13
申请人：惠普研發公司
发明人：威勒克里斯多佛T
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318307 , G01R31/318371
摘要：一種用於施作利用回授之測試案例產生的系統與方法被揭示。用於利用回授之測試案例產生的一釋例性系統包含多個旋鈕為受到測試之裝置定出測試值。多個貯體之每一個與至少一測試值有關聯，每一個貯體具有一加權值用於該相關聯之測試值。一失效分析模組在操作上與該受到測試之裝置的測試作業之回授改變至少一些加權值。一測試案例產生器根據用於該相關聯之測試值的加權值為測試作業選用測試值。
简体摘要：一种用于施作利用回授之测试案例产生的系统与方法被揭示。用于利用回授之测试案例产生的一释例性系统包含多个旋钮为受到测试之设备定出测试值。多个贮体之每一个与至少一测试值有关联，每一个贮体具有一加权值用于该相关联之测试值。一失效分析模块在操作上与该受到测试之设备的测试作业之回授改变至少一些加权值。一测试案例产生器根据用于该相关联之测试值的加权值为测试作业选用测试值。

23. 发明专利

TW201137369A 半導體積體電路之測試圖案產生方法、程式及電腦可讀取之記錄媒體审中-公开
简体标题：半导体集成电路之测试图案产生方法、进程及电脑可读取之记录媒体
公开(公告)号：TW201137369A
公开(公告)日：2011-11-01
申请号：TW100101509
申请日：2011-01-14
申请人：國立大學法人奈良先端科學技術大學院大學 , 國立大學法人九州工業大學
发明人：井上美智子 , 米田友和 , 佐藤康夫
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318371 , G01R31/31721 , G01R31/318385 , G01R31/318544
摘要：本發明係產生使測試時之半導體積體電路之溫度呈空間性均一化之測試圖案。從包含含有無關值之複數之測試圖案之原測試圖案系列中依次選擇測試圖案，對於將半導體積體電路之佈局區域大致等分割之各區域，對所選擇之測試圖案設定無關值，估計該測試圖案被施加於半導體積體電路之情形之耗電，對於所選擇之測試圖案重複無關值之變更及各區域之耗電之估計，搜索各區域之耗電之偏差變成極小之無關值，將由搜索而得之無關值決定作為所選擇之測試圖案之無關值，而產生包含不含無關值之複數之測試圖案之第1新測試圖案系列。
简体摘要：本发明系产生使测试时之半导体集成电路之温度呈空间性均一化之测试图案。从包含含有无关值之复数之测试图案之原测试图案系列中依次选择测试图案，对于将半导体集成电路之布局区域大致等分割之各区域，对所选择之测试图案设置无关值，估计该测试图案被施加于半导体集成电路之情形之耗电，对于所选择之测试图案重复无关值之变更及各区域之耗电之估计，搜索各区域之耗电之偏差变成极小之无关值，将由搜索而得之无关值决定作为所选择之测试图案之无关值，而产生包含不含无关值之复数之测试图案之第1新测试图案系列。

24. 发明专利

TWI318304B 判斷裝置測試用記憶體需求之系統 SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING 失效
简体标题：判断设备测试用内存需求之系统 SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING
公开(公告)号：TWI318304B
公开(公告)日：2009-12-11
申请号：TW097150933
申请日：2004-03-31
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：海豪瑞德
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318371
摘要：測試裝置測試用記憶體需求之方法與系統被揭示。在一實施例中，該方法包含讀取包括有將被施用至一裝置之數個測試向量的一測試檔與判斷執行該等數個測試向量所需的被要求之一記憶體。 Methods and systems for determining memory requirements for device testing are disclosed. In one embodiment, the method comprises reading a test file including a plurality of test vectors to be applied to a device, and determining a required memory needed to execute the plurality of test vectors. 【創作特點】發明概要
測試裝置測試用記憶體需求之方法與系統被揭示。在一實施例中，該方法包含讀取包括有將被施用至一裝置之數個測試向量的一測試檔與判斷執行該等數個測試向量所需的被要求之一記憶體。
圖式簡單說明
本發明之說明性實施例將在圖中被顯示，其中：第1圖顯示可被用以判斷裝置測試用所需的被要求之一記憶體的一系統之釋例性平面圖；第2圖顯示第1圖之系統所用的判斷裝置測試用所需的被要求之一記憶體的一釋例性方法；以及第3圖顯示第2圖之方法所用的測試器之每一接腳用於判斷執行測試向量所需的記憶體之一釋例性方法。
简体摘要：测试设备测试用内存需求之方法与系统被揭示。在一实施例中，该方法包含读取包括有将被施用至一设备之数个测试矢量的一测试档与判断运行该等数个测试矢量所需的被要求之一内存。 Methods and systems for determining memory requirements for device testing are disclosed. In one embodiment, the method comprises reading a test file including a plurality of test vectors to be applied to a device, and determining a required memory needed to execute the plurality of test vectors. 【创作特点】发明概要测试设备测试用内存需求之方法与系统被揭示。在一实施例中，该方法包含读取包括有将被施用至一设备之数个测试矢量的一测试档与判断运行该等数个测试矢量所需的被要求之一内存。图式简单说明本发明之说明性实施例将在图中被显示，其中：第1图显示可被用以判断设备测试用所需的被要求之一内存的一系统之释例性平面图；第2图显示第1图之系统所用的判断设备测试用所需的被要求之一内存的一释例性方法；以及第3图显示第2图之方法所用的测试器之每一接脚用于判断运行测试矢量所需的内存之一释例性方法。

25. 发明专利

TWI312423B 判斷裝置測試用記憶體需求之方法 METHODS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING 失效
简体标题：判断设备测试用内存需求之方法 METHODS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING
公开(公告)号：TWI312423B
公开(公告)日：2009-07-21
申请号：TW093108862
申请日：2004-03-31
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司 VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD.
发明人：海豪瑞德 HAYHOW, REID
IPC分类号： G01R , G06F
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318371
摘要：測試裝置測試用記憶體需求之方法與系統被揭示。在一實施例中,該方法包含讀取包括有將被施用至一裝置之數個測試向量的一測試檔與判斷執行該等數個測試向量所需的被要求之一記憶體。
简体摘要：测试设备测试用内存需求之方法与系统被揭示。在一实施例中,该方法包含读取包括有将被施用至一设备之数个测试矢量的一测试档与判断运行该等数个测试矢量所需的被要求之一内存。

26. 发明专利

TW200916806A 判斷裝置測試用記憶體需求之系統 SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING 失效
简体标题：判断设备测试用内存需求之系统 SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING
公开(公告)号：TW200916806A
公开(公告)日：2009-04-16
申请号：TW097150933
申请日：2004-03-31
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：海豪瑞德 HAYHOW, REID
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318371
摘要：測試裝置測試用記憶體需求之方法與系統被揭示。在一實施例中,該方法包含讀取包括有將被施用至一裝置之數個測試向量的一測試檔與判斷執行該等數個測試向量所需的被要求之一記憶體。
简体摘要：测试设备测试用内存需求之方法与系统被揭示。在一实施例中,该方法包含读取包括有将被施用至一设备之数个测试矢量的一测试档与判断运行该等数个测试矢量所需的被要求之一内存。

27. 发明专利

TW200915461A 決定實際缺陷是潛在系統性缺陷或潛在任意缺陷之由電腦實施之方法 COMPUTER-IMPLEMENTED METHODS FOR DETERMINING IF ACTUAL DEFECTS ARE POTENTIALLY SYSTEMATIC DEFECTS OR POTENTIALLY RANDOM DEFECTS 审中-公开
简体标题：决定实际缺陷是潜在系统性缺陷或潜在任意缺陷之由电脑实施之方法 COMPUTER-IMPLEMENTED METHODS FOR DETERMINING IF ACTUAL DEFECTS ARE POTENTIALLY SYSTEMATIC DEFECTS OR POTENTIALLY RANDOM DEFECTS
公开(公告)号：TW200915461A
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：TW097131870
申请日：2008-08-20
申请人：克萊譚克公司 KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：葛林恩佛羅倫斯 FLORENCE, GLENN , 艾倫派克 PARK, ALLEN , 彼得羅斯 ROSE, PETER
IPC分类号： H01L , G06F
CPC分类号： G06F17/5081 , G01R31/318314 , G01R31/318371
摘要：本發明提供決定實際缺陷是潛在系統性缺陷或潛在隨機缺陷之各種由電腦實施之方法。一種決定實際缺陷是潛在系統性缺陷或潛在隨機缺陷之由電腦實施之方法包括:比較一群組中的實際缺陷之一數目與一群組中的隨機產生缺陷之一數目。在一晶圓上偵測該等實際缺陷。接近於該群組中的該等實際缺陷之每一者與該群組中的該等隨機產生缺陷之每一者的一位置之該晶圓上的一設計之一部分是實質上相同的。該方法亦包括根據比較步驟之結果決定該群組中的該等實際缺陷是潛在系統性缺陷或潛在隨機缺陷。
简体摘要：本发明提供决定实际缺陷是潜在系统性缺陷或潜在随机缺陷之各种由电脑实施之方法。一种决定实际缺陷是潜在系统性缺陷或潜在随机缺陷之由电脑实施之方法包括:比较一群组中的实际缺陷之一数目与一群组中的随机产生缺陷之一数目。在一晶圆上侦测该等实际缺陷。接近于该群组中的该等实际缺陷之每一者与该群组中的该等随机产生缺陷之每一者的一位置之该晶圆上的一设计之一部分是实质上相同的。该方法亦包括根据比较步骤之结果决定该群组中的该等实际缺陷是潜在系统性缺陷或潜在随机缺陷。

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