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21. 发明专利

TWI230252B 粘度光透率粒徑檢測分析裝置有权
简体标题：粘度光透率粒径检测分析设备
公开(公告)号：TWI230252B
公开(公告)日：2005-04-01
申请号：TW092123942
申请日：2003-08-29
申请人：財團法人精密機械研究發展中心
发明人：張立信 , 武東星 , 鍾添淦 , 張昫揚 , 陳志豪
IPC分类号： G01N
摘要：一種粘度光透率粒徑檢測分析裝置，包含一能量測液體黏度的黏度測定單元、一能測知光透率的光收發單元，及一與前述各單元電性連結的控制單元。藉此，當黏度測定單元及光收發單元同時取樣於一濕式研磨設備內的溶液，並分別測出黏度與光透率後，該控制單元就可以依據黏度及光透率分析粉粒體的粒徑，不但更快速、準確，且更能藉由一傳輸管路單元與混式研磨裝置及黏度測定單元、光收發單元形成循環迴路，而在研磨製程上即時測知濕式研磨設備內粉粒體的粒徑是否達到尺寸標準，有效提昇製程上的經濟效益。
简体摘要：一种粘度光透率粒径检测分析设备，包含一能量测液体黏度的黏度测定单元、一能测知光透率的光收发单元，及一与前述各单元电性链接的控制单元。借此，当黏度测定单元及光收发单元同时采样于一湿式研磨设备内的溶液，并分别测出黏度与光透率后，该控制单元就可以依据黏度及光透率分析粉粒体的粒径，不但更快速、准确，且更能借由一传输管路单元与混式研磨设备及黏度测定单元、光收发单元形成循环回路，而在研磨制程上实时测知湿式研磨设备内粉粒体的粒径是否达到尺寸标准，有效提升制程上的经济效益。

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