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11. 发明专利

TW202018312A 測試系統审中-公开
简体标题：测试系统
公开(公告)号：TW202018312A
公开(公告)日：2020-05-16
申请号：TW107139082
申请日：2018-11-02
申请人：技嘉科技股份有限公司 , GIGA-BYTE TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：張桂山 , CHANG, KUEI-SHAN , 易春陽 , YI, CHUN-YANG , 劉彬 , LIU, BIN
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/3181
摘要：一種測試系統用以測試主機板，其包含測試治具、測試板、網路設備、及儲存媒介。測試治具提供中央處理器與記憶體模組以插接於主機板。儲存媒介電性連接主機板，儲存作業系統、測試程式及控制程式，並執行以下步驟：以作業系統存取主機板的MAC位址；執行控制程式，驅動測試板發出模擬信號至主機板以執行第一測試流程，當完成後，測試程式產生第一測試結果；以及作業系統執行測試程式，對主機板進行第二測試流程，在完成後，測試程式產生第二測試結果。作業系統透過網路設備將分別將第一測試結果及第二測試結果關連MAC位址發送出。
简体摘要：一种测试系统用以测试主板，其包含测试治具、测试板、网络设备、及存储媒介。测试治具提供中央处理器与内存模块以插接于主板。存储媒介电性连接主板，存储操作系统、测试进程及控制进程，并运行以下步骤：以操作系统存取主板的MAC位址；运行控制进程，驱动测试板发出仿真信号至主板以运行第一测试流程，当完成后，测试进程产生第一测试结果；以及操作系统运行测试进程，对主板进行第二测试流程，在完成后，测试进程产生第二测试结果。操作系统透过网络设备将分别将第一测试结果及第二测试结果关连MAC位址发送出。

12. 发明专利

TW201823744A 基於自動測試工具之電子設備測試方法和裝置审中-公开
简体标题：基于自动测试工具之电子设备测试方法和设备
公开(公告)号：TW201823744A
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW105143222
申请日：2016-12-26
申请人：英業達股份有限公司 , INVENTEC CORPORATION
发明人：鞏金平 , GONG, JINPING
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/3181
摘要：一種基於自動測試工具之電子設備測試方法和裝置，該裝置包括一自動測試工具處理單元，用於讀取預先設置的、包含依據不同賦組屬性對複數測試項目進行設置得到的複數測試分組，以及複數測試分組之啟動順序和運行複數測試分組的指令檔的一配置資訊，並按啟動順序依次調用對應的指令檔對複數測試分組項目進行測試；複數測試分組中每一測試分組包括一個或複數具有相同賦組屬性的測試項目或/和至少一具有相同賦組屬性的測試分組，測試分組中各測試項目之測試時間相近並互不影響，此外，本發明還提供了一對應的方法，本發明可以大幅度提升測試效率。
简体摘要：一种基于自动测试工具之电子设备测试方法和设备，该设备包括一自动测试工具处理单元，用于读取预先设置的、包含依据不同赋组属性对复数测试项目进行设置得到的复数测试分组，以及复数测试分组之启动顺序和运行复数测试分组的指令档的一配置信息，并按启动顺序依次调用对应的指令档对复数测试分组项目进行测试；复数测试分组中每一测试分组包括一个或复数具有相同赋组属性的测试项目或/和至少一具有相同赋组属性的测试分组，测试分组中各测试项目之测试时间相近并互不影响，此外，本发明还提供了一对应的方法，本发明可以大幅度提升测试效率。

13. 发明专利

TWI578005B 測試項目管控方法及其系統有权
简体标题：测试项目管控方法及其系统
公开(公告)号：TWI578005B
公开(公告)日：2017-04-11
申请号：TW101140338
申请日：2012-10-31
申请人：英華達股份有限公司 , INVENTEC APPLIANCES CORP.
发明人：鍾仁輝 , ZHONG, REN-HUI
IPC分类号： G01R31/3181

14. 发明专利

TWI548886B 老化偵測電路及其方法有权
简体标题：老化侦测电路及其方法
公开(公告)号：TWI548886B
公开(公告)日：2016-09-11
申请号：TW103114276
申请日：2014-04-18
申请人：創意電子股份有限公司 , GLOBAL UNICHIP CORPORATION , 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：陳世豪 , CHEN, SHIHAO , 王易民 , WANG, YIMING , 汪鼎豪 , WANG, TINGHAO , 李宏俊 , LI, HUNGCHUN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/3173
CPC分类号： G01R31/2894 , G01R31/31725

15. 发明专利

TWI510918B 快速測試及偵測行動裝置的方法及其系統有权
简体标题：快速测试及侦测行动设备的方法及其系统
公开(公告)号：TWI510918B
公开(公告)日：2015-12-01
申请号：TW103105721
申请日：2014-02-20
申请人：緯創資通股份有限公司 , WISTRON CORPORATION
发明人：李韋德 , LEE, WEI TE
IPC分类号： G06F11/36 , G01R31/3181
CPC分类号： H04B17/19 , G06F11/3672 , H04B5/0031

16. 发明专利

TW201537198A 積體電路及於積體電路中建立掃描測試架構之方法审中-公开
简体标题：集成电路及于集成电路中创建扫描测试架构之方法
公开(公告)号：TW201537198A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103117732
申请日：2014-05-21
申请人：聯發科技(新加坡)私人有限公司 , MEDIATEK SINGAPORE PTE. LTD.
发明人：任建國 , REN, JIANGUO , 戴冲 , DAI, CHONG , 高峰國 , GAO, FENGGUO , 黃上賓 , HUANG, SHANG BIN , 薛文皓 , HSUEH, WEN HAO
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/31704 , G01R31/318544 , G01R31/318547 , G01R31/318552 , G01R31/318583 , G01R31/318594 , G06F17/505 , G06F2217/14
摘要：一種積體電路及於其中建立掃描測試架構之方法。積體電路包括複數電路模組。每一電路模組包括一時脈控制單元、一第一管線單元、一串列式壓縮掃描電路與一第二管線單元。時脈控制單元根據一測試時脈產生一第一掃描時脈。第一管線單元根據第一掃描時脈將一測試輸入信號轉換成一第一資料。串列式壓縮掃描電路根據第一資料和測試時脈而產生一第二資料。第二管線單元根據掃描時脈將第二資料轉換成一測試輸出信號。上述電路模組之每一者之第一掃描時脈係獨立於其他電路模組之第一掃描時脈，從而可降低時序分析與調整的困難度和成本。
简体摘要：一种集成电路及于其中创建扫描测试架构之方法。集成电路包括复数电路模块。每一电路模块包括一时脉控制单元、一第一管线单元、一串行式压缩扫描电路与一第二管线单元。时脉控制单元根据一测试时脉产生一第一扫描时脉。第一管线单元根据第一扫描时脉将一测试输入信号转换成一第一数据。串行式压缩扫描电路根据第一数据和测试时脉而产生一第二数据。第二管线单元根据扫描时脉将第二数据转换成一测试输出信号。上述电路模块之每一者之第一扫描时脉系独立于其他电路模块之第一扫描时脉，从而可降低时序分析与调整的困难度和成本。

17. 发明专利

TW201502908A 附觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器审中-公开
简体标题：附触摸检测功能之显示设备及电子机器
公开(公告)号：TW201502908A
公开(公告)日：2015-01-16
申请号：TW103109155
申请日：2014-03-13
申请人：日本顯示器股份有限公司 , JAPAN DISPLAY INC.
发明人：小糸健夫 , KOITO, TAKEO , 石崎剛司 , ISHIZAKI, KOJI , 倉澤隼人 , KURASAWA, HAYATO
IPC分类号： G06F3/041 , G02F1/1333 , G01R31/3181
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0416 , G06F3/0418
摘要：本發明之課題在於提供一種可使用金屬材料等導電性材料之觸控檢測電極，且降低視認到疊紋之可能性之附觸控檢測功能之顯示裝置。本發明之附觸控檢測功能之顯示裝置係包含：顯示區域，其將以不同之色區域構成之像素配置為矩陣狀，且包含同色之色區域排列之色之行；及觸控檢測電極，其包含朝與色區域延伸之方向相同之方向延伸之複數根導電性細線。導電性細線係包含複數個導電性細線延伸之方向相對於色區域延伸之方向具有角度之部分、及改變該角度而反折之彎曲部，且複數根導電性細線包含與所有之色之行重疊之部分。
简体摘要：本发明之课题在于提供一种可使用金属材料等导电性材料之触摸检测电极，且降低视认到叠纹之可能性之附触摸检测功能之显示设备。本发明之附触摸检测功能之显示设备系包含：显示区域，其将以不同之色区域构成之像素配置为矩阵状，且包含同色之色区域排列之色之行；及触摸检测电极，其包含朝与色区域延伸之方向相同之方向延伸之复数根导电性细线。导电性细线系包含复数个导电性细线延伸之方向相对于色区域延伸之方向具有角度之部分、及改变该角度而反折之弯曲部，且复数根导电性细线包含与所有之色之行重叠之部分。

18. 发明专利

TW201432278A 自動化檢測系統及其自動化檢測方法审中-公开
简体标题：自动化检测系统及其自动化检测方法
公开(公告)号：TW201432278A
公开(公告)日：2014-08-16
申请号：TW102104095
申请日：2013-02-01
申请人：技嘉科技股份有限公司 , GIGA-BYTE TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：黃順治 , HUANG, SHUN CHIH , 李延霖 , LEE, YEN LIN , 李延震 , LI, YEN CHEN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319
摘要：一種自動化檢測系統及方法，自動化檢測系統包括設置有處理單元的一電路板以及一控制單元，其自動化檢測方法包括以下步驟：電性連接一待測裝置於電路板；以處理單元執行一檢測軟體，並透過檢測軟體對待測裝置執行一測試程序；處理單元於測試程序中傳送一狀態訊號至控制單元；控制單元依據狀態訊號接收與否判斷是否重置自動化檢測系統，其中，若待測裝置通過測試程序，控制單元依據狀態訊號不作動；若控制單元未接收到狀態訊號，控制單元判斷自動化檢測系統於測試時當機，並且重新啟動自動化檢測系統，以恢復測試程序。
简体摘要：一种自动化检测系统及方法，自动化检测系统包括设置有处理单元的一电路板以及一控制单元，其自动化检测方法包括以下步骤：电性连接一待测设备于电路板；以处理单元运行一检测软件，并透过检测软件对待测设备运行一测试进程；处理单元于测试进程中发送一状态信号至控制单元；控制单元依据状态信号接收与否判断是否重置自动化检测系统，其中，若待测设备通过测试进程，控制单元依据状态信号不作动；若控制单元未接收到状态信号，控制单元判断自动化检测系统于测试时当机，并且重新启动自动化检测系统，以恢复测试进程。

19. 发明专利

TWI410654B 面板ＩＣ之動態影像檢測裝置及檢測方法有权
简体标题：皮肤ＩＣ之动态影像检测设备及检测方法
公开(公告)号：TWI410654B
公开(公告)日：2013-10-01
申请号：TW098125734
申请日：2009-07-30
申请人：鴻勁科技股份有限公司 , HON. TECHNOLOGIES, INC. , 研嵌科技股份有限公司
发明人：張簡榮力 , 陳鴻德
IPC分类号： G01R31/3181 , G09F9/00

20. 发明专利

TW201300803A 實作隨機邏輯功能的基於半導體的測試裝置审中-公开
简体标题：实作随机逻辑功能的基于半导体的测试设备
公开(公告)号：TW201300803A
公开(公告)日：2013-01-01
申请号：TW101115096
申请日：2012-04-27
申请人：格羅方德半導體公司 , GLOBALFOUNDRIES US INC.
发明人：哈費克莉絲丁 , HAUFE, CHRISTIAN
IPC分类号： G01R31/317 , G01R31/3181
CPC分类号： G01R31/318385 , G01R31/31723 , G01R31/3187
摘要：一種基於半導體的測試裝置包含複數個測試叢集及耦接至該等該測試叢集的假隨機總體刺激來源。各個測試叢集均包含複數個資料暫存器及邏輯元件，該邏輯元件是組構以實施用來產生用於該複數個資料暫存器的測試資料的隨機邏輯功能。該假隨機總體刺激來源產生用於該邏輯元件的假隨機二位元刺激。至少一些該複數個測試叢集是耦接在一起，以支援資料暫存器輸出的叢集間扇出扇入。
简体摘要：一种基于半导体的测试设备包含复数个测试集群及耦接至该等该测试集群的假随机总体刺激来源。各个测试集群均包含复数个数据寄存器及逻辑组件，该逻辑组件是组构以实施用来产生用于该复数个数据寄存器的测试数据的随机逻辑功能。该假随机总体刺激来源产生用于该逻辑组件的假随机二比特刺激。至少一些该复数个测试集群是耦接在一起，以支持数据寄存器输出的集群间扇出扇入。

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