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11. 发明专利

TWI489417B 安定方法及電腦系統有权
简体标题：安定方法及电脑系统
公开(公告)号：TWI489417B
公开(公告)日：2015-06-21
申请号：TW099146094
申请日：2010-12-27
申请人：舒緩運動公司 , SOFTKINETIC
发明人：拜爾賽維爾 , BAELE, XAVIER , 索羅特朱利恩 , THOLLOT, JULIEN
IPC分类号： G06T7/00 , G06K9/78 , G06T15/00
CPC分类号： G06T7/004 , A63F2300/1093 , A63F2300/6045 , G06F3/011 , G06F17/18 , G06K9/40 , G06T5/002 , G06T5/50 , G06T7/70 , G06T2200/24 , G06T2207/10016 , G06T2207/30196

12. 发明专利

TWI616654B 自動化檢驗系統及方法有权
简体标题：自动化检验系统及方法
公开(公告)号：TWI616654B
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：TW101149162
申请日：2012-12-21
申请人： 3M新設資產公司 , 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY
发明人：佛洛伊德史戴芬保羅 , FLOEDER, STEVEN PAUL , 史凱普卡爾喬瑟夫 , SKEPS, CARL JOSEPH , 瑪斯特曼詹姆士艾倫 , MASTERMAN, JAMES ALLAN , 魯德奎斯特馬修維森特 , RUNDQUIST, MATTHEW VINCENT
IPC分类号： G01N21/89
CPC分类号： G06T7/004 , D06H3/08 , G01N21/89 , G06F17/30244 , G06T7/0004 , G06T7/70 , G06T2207/30124

13. 发明专利

TWI533240B 資料顯示方法及系統，及相關電腦程式產品有权
简体标题：数据显示方法及系统，及相关电脑进程产品
公开(公告)号：TWI533240B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：TW103146455
申请日：2014-12-31
申请人：拓邁科技股份有限公司 , ZAPPOINT CORPORATION
发明人：王景弘 , WANG, JOHN C. , 簡西村 , CHIEN, HSI TSUN , 范原章 , FAN, YUAN CHANG
IPC分类号： G06K9/78 , G06F3/14
CPC分类号： G06T7/004 , G06F17/30247

14. 发明专利

TW201504620A 用以判定用於光學晶圓檢查之深度之系統及方法审中-公开
简体标题：用以判定用于光学晶圆检查之深度之系统及方法
公开(公告)号：TW201504620A
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW103109789
申请日：2014-03-14
申请人：克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：柯勤派維爾 , KOLCHIN, PAVEL , 哈里勞米克海爾 , HAURYLAU, MIKHAIL , 達納羅伯特 , DANEN, ROBERT
IPC分类号： G01N21/95 , G02B5/28
CPC分类号： G01N21/9505 , G01N21/8851 , G01N2021/8874 , G02B5/28 , G02B5/3083 , G06T7/0012 , G06T7/004 , G06T7/0051 , G06T2207/30148 , H04N5/2256
摘要：本發明揭示一種用於檢查一晶圓之基於電腦的方法，其包含：將電腦可讀取指令儲存在至少一個電腦之一記憶體元件中；偵測繞一第一中心軸以一第一螺旋形旋轉之一第一光束；及使用該至少一個電腦之一處理器執行該等電腦可讀取指令以使用該所偵測第一光束產生包含至少一個形狀之一影像；判定該至少一個形狀之一定向或該至少一個形狀之一大小；及根據該定向或該大小計算該晶圓中之一缺陷之一深度。
简体摘要：本发明揭示一种用于检查一晶圆之基于电脑的方法，其包含：将电脑可读取指令存储在至少一个电脑之一内存组件中；侦测绕一第一中心轴以一第一螺旋形旋转之一第一光束；及使用该至少一个电脑之一处理器运行该等电脑可读取指令以使用该所侦测第一光束产生包含至少一个形状之一影像；判定该至少一个形状之一定向或该至少一个形状之一大小；及根据该定向或该大小计算该晶圆中之一缺陷之一深度。

15. 发明专利

TW201145213A 安定方法及電腦系統 STABILISATION METHOD AND COMPUTER SYSTEM 审中-公开
简体标题：安定方法及电脑系统 STABILISATION METHOD AND COMPUTER SYSTEM
公开(公告)号：TW201145213A
公开(公告)日：2011-12-16
申请号：TW099146094
申请日：2010-12-27
申请人：舒緩運動公司
发明人：拜爾賽維爾 , 索羅特朱利恩
IPC分类号： G06T , G06K
CPC分类号： G06T7/004 , A63F2300/1093 , A63F2300/6045 , G06F3/011 , G06F17/18 , G06K9/40 , G06T5/002 , G06T5/50 , G06T7/70 , G06T2200/24 , G06T2207/10016 , G06T2207/30196
摘要：本發明係關於用以安定藉數位感測器所獲取物理變量之一連串測量之方法。此方法包含下列步驟:獲取前述物理變量之至少第一測量、第二測量及第三測量並儲存每個測量於數位記憶體中。比較該等第一及第二測量,若該第一測量和該第二測量之間之差異低於預定臨界値,則在該記憶體中以校正的第二測量取代該第二測量,其中涉及前述第一測量之該差異已使用第一過濾强度而縮小。比較該校正的第二測量及該第三測量,若該校正的第二測量該過濾的値和前述第三測量之間之差異亦低於該臨界値,則以校正的第三測量取代前述該第三測量,其中涉及前述校正的第二測量之該差異已使用低於該第一過濾强度之第二過濾强度而縮小。此方法具有過濾雜訊之優勢同時在該等連串測量中仍允許緩慢但相應的變化。
简体摘要：本发明系关于用以安定藉数码传感器所获取物理变量之一连串测量之方法。此方法包含下列步骤:获取前述物理变量之至少第一测量、第二测量及第三测量并存储每个测量于数码内存中。比较该等第一及第二测量,若该第一测量和该第二测量之间之差异低于预定临界値,则在该内存中以校正的第二测量取代该第二测量,其中涉及前述第一测量之该差异已使用第一过滤强度而缩小。比较该校正的第二测量及该第三测量,若该校正的第二测量该过滤的値和前述第三测量之间之差异亦低于该临界値,则以校正的第三测量取代前述该第三测量,其中涉及前述校正的第二测量之该差异已使用低于该第一过滤强度之第二过滤强度而缩小。此方法具有过滤噪声之优势同时在该等连串测量中仍允许缓慢但相应的变化。

16. 发明专利

TW201142753A 應用於一物件之位置特性判定 DETERMINATION OF A POSITION CHARACTERISTIC FOR AN OBJECT 审中-公开
简体标题：应用于一对象之位置特性判定 DETERMINATION OF A POSITION CHARACTERISTIC FOR AN OBJECT
公开(公告)号：TW201142753A
公开(公告)日：2011-12-01
申请号：TW100100832
申请日：2011-01-10
申请人：皇家飛利浦電子股份有限公司
发明人：維爾甘克莉斯汀 , 凡德沃爾派崔克路克E , 馬汀斯馬克喬瑟夫威廉
IPC分类号： G06T , G06K
CPC分类号： G06T7/004 , G06T7/70
摘要：本發明揭示一種用於判定一房間中之一物件之一位置特性之系統,該系統包括定位於該房間之一偵測區域之一背景表面上之一光學可識別元件(103)。一相機(101)係自該光學可識別元件(103)跨越該偵測區域而定位且捕獲包括該偵測區域及該光學可識別元件(103)之一影像。一偵測器(403)基於一光學性質而偵測該影像中之該光學可識別元件(103)。一遮擋處理器(405)回應於該光學性質而判定該影像中之該光學可識別元件(103)之一遮擋之一遮擋性質。一位置處理器(407)回應於該遮擋性質而判定一深度位置,其中該深度位置指示該物件沿該相機(101)之光學軸之一位置。舉例而言,本發明可允許對一房間中之一人進行存在偵測及粗略測定位置。
简体摘要：本发明揭示一种用于判定一房间中之一对象之一位置特性之系统,该系统包括定位于该房间之一侦测区域之一背景表面上之一光学可识别组件(103)。一相机(101)系自该光学可识别组件(103)跨越该侦测区域而定位且捕获包括该侦测区域及该光学可识别组件(103)之一影像。一侦测器(403)基于一光学性质而侦测该影像中之该光学可识别组件(103)。一遮挡处理器(405)回应于该光学性质而判定该影像中之该光学可识别组件(103)之一遮挡之一遮挡性质。一位置处理器(407)回应于该遮挡性质而判定一深度位置,其中该深度位置指示该对象沿该相机(101)之光学轴之一位置。举例而言,本发明可允许对一房间中之一人进行存在侦测及粗略测定位置。

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