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    • 17. 发明专利
    • 發光二極體檢測方法及檢測系統
    • 发光二极管检测方法及检测系统
    • TW201510506A
    • 2015-03-16
    • TW102122438
    • 2013-06-24
    • 榮創能源科技股份有限公司ADVANCED OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY, INC.
    • 黃哲瑄HUANG, CHE HSANG
    • G01N21/62G01J3/28H01L33/50
    • 一種發光二極體檢測方法,包括:檢測發光二極體晶粒所發出的光線的頻譜資料;檢測螢光粉在受激發光後所發出的光線的頻譜資料;根據發光二極體晶粒所發出的光線和螢光粉所發出光線的比例,計算發光二極體晶粒與螢光粉的合成光譜;將所計算的合成光譜與標準的或期望的頻譜資料相比較,以確定計算的合成光譜是否在標準的或期望的頻譜資料範圍內;若計算的合成光譜不在標準的或期望的頻譜資料範圍內,則調整發光二極體所發出光線與螢光粉所發出光線的比例直至所計算的合成光譜位於標準的或期望的頻譜資料範圍內。本發明還提供了一種發光二極體檢測系統。
    • 一种发光二极管检测方法,包括:检测发光二极管晶粒所发出的光线的频谱数据;检测萤光粉在受激发光后所发出的光线的频谱数据;根据发光二极管晶粒所发出的光线和萤光粉所发出光线的比例,计算发光二极管晶粒与萤光粉的合成光谱;将所计算的合成光谱与标准的或期望的频谱数据相比较,以确定计算的合成光谱是否在标准的或期望的频谱数据范围内;若计算的合成光谱不在标准的或期望的频谱数据范围内,则调整发光二极管所发出光线与萤光粉所发出光线的比例直至所计算的合成光谱位于标准的或期望的频谱数据范围内。本发明还提供了一种发光二极管检测系统。
    • 18. 发明专利
    • 發光二極體光源陣列模擬系統及模擬方法
    • 发光二极管光源数组仿真系统及仿真方法
    • TW201508209A
    • 2015-03-01
    • TW102121669
    • 2013-06-19
    • 榮創能源科技股份有限公司ADVANCED OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY, INC.
    • 黃哲瑄HUANG, CHE HSANG
    • F21V14/02F21S2/00G05D25/02F21Y101/02
    • 一種發光二極體光源陣列模擬方法,包括以下步驟:攝取單顆發光二極體光源的光場分佈圖像;量測上述光場分佈圖像中各個座標點所對應的光強度資料;將複數個發光二極體光源按間距排列成發光二極體光源陣列;根據單顆發光二極體光源的光場分佈圖像以及發光二極體光源之間的間距逐點計算發光二極體光源陣列在各個座標點上的光強積分值;以及根據發光二極體光源陣列在各個座標點上的光強積分值模擬出發光二極體光源陣列的光場分佈圖像。本發明還提供了一種發光二極體光源陣列模擬系統。
    • 一种发光二极管光源数组仿真方法,包括以下步骤:摄取单颗发光二极管光源的光场分布图像;量测上述光场分布图像中各个座标点所对应的光强度数据;将复数个发光二极管光源按间距排列成发光二极管光源数组;根据单颗发光二极管光源的光场分布图像以及发光二极管光源之间的间距逐点计算发光二极管光源数组在各个座标点上的光强积分值;以及根据发光二极管光源数组在各个座标点上的光强积分值仿真出发光二极管光源数组的光场分布图像。本发明还提供了一种发光二极管光源数组仿真系统。