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11. 发明专利

TW201009347A 工件特性測定裝置及工件特性測定方法审中-公开
简体标题：工件特性测定设备及工件特性测定方法
公开(公告)号：TW201009347A
公开(公告)日：2010-03-01
申请号：TW098113175
申请日：2009-04-21
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：山內隆幸 , 小島智幸 , 齊藤修一
IPC分类号： G01R
摘要：本發明之課題在於能夠在探測裝置與工件之電極之間確保足夠的電氣接觸，而且抑制並縮小化工件之電極所產生之傷痕。本發明之解決手段在於工件特性測定裝置（1）係具備：具有工件收納孔（4）之搬送桌（3），可以抵接在被收納於工件收納孔（4）內之工件（W）之電極（Wa、Wb）之一對探針（7、6），搬送桌（3）之搬送體驅動裝置（3a），與驅動一方探針（7）之探針驅動機構（12）。搬送體驅動裝置（3a）與探針驅動機構（12），係由控制裝置（20）所控制。該場合，工件收納孔（4），在來到一對探針（7、6）面前之第1設定位置S1時，至少一方之探針（7）係利用探針驅動機構（12）向工件收納孔（4）前進，工件收納孔（4）在來到對應於一對探針（7、6）之第2設定位置S2時，一方之探針（7）係由工件收納孔（4）後退。
简体摘要：本发明之课题在于能够在探测设备与工件之电极之间确保足够的电气接触，而且抑制并缩小化工件之电极所产生之伤痕。本发明之解决手段在于工件特性测定设备（1）系具备：具有工件收纳孔（4）之搬送桌（3），可以抵接在被收纳于工件收纳孔（4）内之工件（W）之电极（Wa、Wb）之一对探针（7、6），搬送桌（3）之搬送体驱动设备（3a），与驱动一方探针（7）之探针驱动机构（12）。搬送体驱动设备（3a）与探针驱动机构（12），系由控制设备（20）所控制。该场合，工件收纳孔（4），在来到一对探针（7、6）面前之第1设置位置S1时，至少一方之探针（7）系利用探针驱动机构（12）向工件收纳孔（4）前进，工件收纳孔（4）在来到对应于一对探针（7、6）之第2设置位置S2时，一方之探针（7）系由工件收纳孔（4）后退。

12. 发明专利

TW522767B 工件傳遞設備有权
简体标题：工件传递设备
公开(公告)号：TW522767B
公开(公告)日：2003-03-01
申请号：TW091100973
申请日：2002-01-22
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：小島智幸
IPC分类号： H05K
CPC分类号： B23Q7/02 , Y10T82/2514 , Y10T82/2516
摘要：一種工件傳遞設備1包含一轉台3，其在外周邊處具有用來儲存工件W的多個工件儲存凹袋2；及一底座4，其可滑動地支撐儲存在轉台3的工件儲存凹袋2中的工件 W。探針偵測器6被設置於底座4，並且探針偵測器6可與工件儲存凹袋2中的工件W接觸。會與工件W接觸的底座4的整個部分是由絕緣劑材料5製成。
简体摘要：一种工件传递设备1包含一转台3，其在外周边处具有用来存储工件W的多个工件存储凹袋2；及一底座4，其可滑动地支撑存储在转台3的工件存储凹袋2中的工件 W。探针侦测器6被设置于底座4，并且探针侦测器6可与工件存储凹袋2中的工件W接触。会与工件W接触的底座4的整个部分是由绝缘剂材料5制成。

13. 发明专利

TW201637973A 工件的特性測定裝置及工件的特性測定方法审中-公开
简体标题：工件的特性测定设备及工件的特性测定方法
公开(公告)号：TW201637973A
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW104138517
申请日：2015-11-20
申请人：東京威爾斯股份有限公司 , TOKYO WELD CO., LTD.
发明人：小島智幸 , KOJIMA, TOMOYUKI , 小平晃久 , KODAIRA, AKIHISA
IPC分类号： B65G47/86 , B07C5/34
摘要：不會對工件的低硬度部造成損傷地進行固定，精度佳地對工件進行特性測定。工件的特性測定裝置(100)係具備有：被設在搬運平台(2)的外周部，進行被收納在工件收納孔內的工件(W1)的特性測定的工件的特性檢查部(10)。工件的特性檢查部(10)係具有：抵接於工件(W1)來進行工件的特性檢查的檢查構件(P1a、P1b)；及將工件收納孔內(3)的工件(W1)朝向在工件收納孔(3)之中與開口部相對向的內壁(3si、5s)側進行固定的固定手段(15)。在各工件收納孔(3)的內壁(3si、5s)形成有若工件(W1)抵接於內壁(3si、5s)時會避開工件(W1)的低硬度部的切口部(3si)。
简体摘要：不会对工件的低硬度部造成损伤地进行固定，精度佳地对工件进行特性测定。工件的特性测定设备(100)系具备有：被设在搬运平台(2)的外周部，进行被收纳在工件收纳孔内的工件(W1)的特性测定的工件的特性检查部(10)。工件的特性检查部(10)系具有：抵接于工件(W1)来进行工件的特性检查的检查构件(P1a、P1b)；及将工件收纳孔内(3)的工件(W1)朝向在工件收纳孔(3)之中与开口部相对向的内壁(3si、5s)侧进行固定的固定手段(15)。在各工件收纳孔(3)的内壁(3si、5s)形成有若工件(W1)抵接于内壁(3si、5s)时会避开工件(W1)的低硬度部的切口部(3si)。

14. 发明专利

TW201140085A 工件分類排出系統及工件分類排出方法审中-公开
简体标题：工件分类排出系统及工件分类排出方法
公开(公告)号：TW201140085A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：TW099137238
申请日：2010-10-29
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：小島智幸 , 稻田憲昭
IPC分类号： G01R , B07C
摘要：本發明之課題,係提供一種能夠謀求生產性提升與裝置全體壓縮化(compact)之工件分類排出系統及工件分類排出方法。本發明之解決手段係一種工件分類排出系統(50),具備:形成收納工件(W)之工件收納孔(3)之搬送台(2)、測定工件(W)工件測定部(7)、與朝搬送台(2)的半徑方向外方設置且具有往工件收納孔(3)側開口之複數之開口部(8x)之排出區塊(81)。排出區塊(81)之各開口部(8x)係被設置對應於工件(W)之複數之分類,並且,介由排出導管(85、86)被接續在各開口部(8x)所對應之工件收納箱(115)。排出區塊(81)係由多段地層積具有被設置多列複數之開口部(8x)之複數之基本階層(81A)所構成。基於來自工件測定部(7)之側定結果,控制部(9)使搬送台(2)旋轉,並且,將排出區塊(81)朝垂直方向移動,使工件收納孔(3)內之工件(W)定位於所對應之分類之開口部(8x)。
简体摘要：本发明之课题,系提供一种能够谋求生产性提升与设备全体压缩化(compact)之工件分类排出系统及工件分类排出方法。本发明之解决手段系一种工件分类排出系统(50),具备:形成收纳工件(W)之工件收纳孔(3)之搬送台(2)、测定工件(W)工件测定部(7)、与朝搬送台(2)的半径方向外方设置且具有往工件收纳孔(3)侧开口之复数之开口部(8x)之排出区块(81)。排出区块(81)之各开口部(8x)系被设置对应于工件(W)之复数之分类,并且,介由排出导管(85、86)被接续在各开口部(8x)所对应之工件收纳箱(115)。排出区块(81)系由多段地层积具有被设置多列复数之开口部(8x)之复数之基本阶层(81A)所构成。基于来自工件测定部(7)之侧定结果,控制部(9)使搬送台(2)旋转,并且,将排出区块(81)朝垂直方向移动,使工件收纳孔(3)内之工件(W)定位于所对应之分类之开口部(8x)。

15. 发明专利

TWI331493B 工件分類收納系統及分類收納方法有权
简体标题：工件分类收纳系统及分类收纳方法
公开(公告)号：TWI331493B
公开(公告)日：2010-10-01
申请号：TW095116233
申请日：2006-05-08
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：小島智幸 , 木下博貴
IPC分类号： H05K
摘要：本發明之課題係為提供一種即使工件的品質及批量改變，仍可在短時間內進行工件之分類及收納作業的工件分類收納系統。
本發明用以解決課題之手段為一種工件分類收納系統1，係具備：框架本體1a、設於框架本體1a內之工件分類裝置2、以及可自由裝卸地被配置在框架本體1a內，且具有多數收納盒9，10的收納裝置3。在框架本體1a又設有將收納裝置3予以定位固定的固定手段16，7，4a，21b。在收納裝置3被定位固定在框架本體1a內時，分類裝置2與各收納盒9，10，係藉由連接線11a，13，18，19及11b，14而連接在一起。
简体摘要：本发明之课题系为提供一种即使工件的品质及批量改变，仍可在短时间内进行工件之分类及收纳作业的工件分类收纳系统。本发明用以解决课题之手段为一种工件分类收纳系统1，系具备：框架本体1a、设于框架本体1a内之工件分类设备2、以及可自由装卸地被配置在框架本体1a内，且具有多数收纳盒9，10的收纳设备3。在框架本体1a又设有将收纳设备3予以定位固定的固定手段16，7，4a，21b。在收纳设备3被定位固定在框架本体1a内时，分类设备2与各收纳盒9，10，系借由连接线11a，13，18，19及11b，14而连接在一起。

16. 发明专利

TWI681914B 電子零件收納裝置有权
简体标题：电子零件收纳设备
公开(公告)号：TWI681914B
公开(公告)日：2020-01-11
申请号：TW108110830
申请日：2019-03-28
申请人：日商東京威爾斯股份有限公司 , TOKYO WELD CO., LTD.
发明人：小平晃久 , KODAIRA, AKIHISA , 阿部博晃 , ABE, HIROAKI , 小島智幸 , KOJIMA, TOMOYUKI , 高瀬徹 , TAKASE, TORU , 稲田憲昭 , INADA, NORIAKI
IPC分类号： B65D85/86

17. 发明专利

TW201439541A 工件測定裝置及工件測定方法审中-公开
简体标题：工件测定设备及工件测定方法
公开(公告)号：TW201439541A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW102145364
申请日：2013-12-10
申请人：東京威爾斯股份有限公司 , TOKYO WELD CO., LTD.
发明人：吉沢誠二 , YOSHIZAWA, SEIJI , 小島智幸 , KOJIMA, TOMOYUKI , 阿部博晃 , ABE, HIROAKI
IPC分类号： G01N35/10
摘要：容易且確實地確認測定手段的測定精度。工件測定裝置(1)具備：具有搬運工件(W1)的工件收納孔(4)之搬運平台(3)，及分離供給部(6)，及測定工件(W1)之第1測定部(7a)、第2測定部(7b)、第3測定部(7c)，及排出工件(W1)之排出部(8、9)。控制部(12)採取通常測定模式，將從分離供給部(6)被供給至搬運平台(3)的工件收納孔(4)之工件(W1)藉由測定部(7a、7b、7c)測定後，再從排出部(8、9)排出。控制部(12)採取範本測定模式，將從範本平台(10x)被供給至搬運平台(3)的工件收納孔(4)之工件(W1s)藉由測定部(7a、7b、7c)測定後，送回範本平台(10x)。
简体摘要：容易且确实地确认测定手段的测定精度。工件测定设备(1)具备：具有搬运工件(W1)的工件收纳孔(4)之搬运平台(3)，及分离供给部(6)，及测定工件(W1)之第1测定部(7a)、第2测定部(7b)、第3测定部(7c)，及排出工件(W1)之排出部(8、9)。控制部(12)采取通常测定模式，将从分离供给部(6)被供给至搬运平台(3)的工件收纳孔(4)之工件(W1)借由测定部(7a、7b、7c)测定后，再从排出部(8、9)排出。控制部(12)采取范本测定模式，将从范本平台(10x)被供给至搬运平台(3)的工件收纳孔(4)之工件(W1s)借由测定部(7a、7b、7c)测定后，送回范本平台(10x)。

18. 发明专利

TWI330050B 工件搬運裝置有权
简体标题：工件搬运设备
公开(公告)号：TWI330050B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：TW095141550
申请日：2006-11-09
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：小島智幸 , 吉澤誠二
IPC分类号： H05K
摘要：提供可確實將殘留於工件收容凹部內之工件排出至外部之工件搬運裝置。
工件搬運裝置10具備：基座2；旋轉自如地配置於基座2上，於外緣形成用以收容工件W之多數個工件收容凹部1a之搬運台1；在搬運台1之工件排出位置中，配置於工件收容凹部1a之一側之噴出口2b；以及配置於工件收容凹部1a之另一側之工件排出管4。在工件排出位置P，配設著用以檢測工件收容凹部1a內之工件W之有無之檢測感測器5。搬運台1及噴出口2b係由控制部20進行控制，控制部20係依據來自檢測感測器5之信號，於工件W無法從工件收容凹部1a被排出時，使搬運台1只進行預定距離之移動，並從工件噴出口2b噴出空氣。
简体摘要：提供可确实将残留于工件收容凹部内之工件排出至外部之工件搬运设备。工件搬运设备10具备：基座2；旋转自如地配置于基座2上，于外缘形成用以收容工件W之多数个工件收容凹部1a之搬运台1；在搬运台1之工件排出位置中，配置于工件收容凹部1a之一侧之喷出口2b；以及配置于工件收容凹部1a之另一侧之工件排出管4。在工件排出位置P，配设着用以检测工件收容凹部1a内之工件W之有无之检测传感器5。搬运台1及喷出口2b系由控制部20进行控制，控制部20系依据来自检测传感器5之信号，于工件W无法从工件收容凹部1a被排出时，使搬运台1只进行预定距离之移动，并从工件喷出口2b喷出空气。

19. 发明专利

TWI315649B 工件搬運系統有权
简体标题：工件搬运系统
公开(公告)号：TWI315649B
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW096100546
申请日：2007-01-05
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：小島智幸 , 水野顯治
IPC分类号： H05K , B65G
摘要：提供不會產生工件阻塞，可將工件一件一件地確實地裝填於搬運平台的工件收納部，且可測定正交於來自線性進給器的工件供給方向的方向的工件端子的工件搬運系統。工件搬運系統1是具備：垂直地配置的平台底座2，及旋轉自如地配置於平台底座2上的搬運平台3，及對於搬運平台3正交配置的線性進給器6。在線性進給器6與搬運平台3之間，設有一件一件地分離從線性進給器6所供給的工件w的分離滑槽7。在搬運平台2的外方設有將藉由分離滑槽7所分離的工件予以90。方向轉換的方向轉換部30。藉由方向轉換部30被方向轉換的工件w，是被供給於搬運平台3的工件收納溝4內，然後藉由探針15a、15b進行測定。
简体摘要：提供不会产生工件阻塞，可将工件一件一件地确实地装填于搬运平台的工件收纳部，且可测定正交于来自线性进给器的工件供给方向的方向的工件端子的工件搬运系统。工件搬运系统1是具备：垂直地配置的平台底座2，及旋转自如地配置于平台底座2上的搬运平台3，及对于搬运平台3正交配置的线性进给器6。在线性进给器6与搬运平台3之间，设有一件一件地分离从线性进给器6所供给的工件w的分离滑槽7。在搬运平台2的外方设有将借由分离滑槽7所分离的工件予以90。方向转换的方向转换部30。借由方向转换部30被方向转换的工件w，是被供给于搬运平台3的工件收纳沟4内，然后借由探针15a、15b进行测定。

20. 发明专利

TW559665B 測定用探針驅動裝置有权
简体标题：测定用探针驱动设备
公开(公告)号：TW559665B
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW089115735
申请日：2000-08-04
申请人：東京威爾斯股份有限公司
发明人：龍田幸夫 , 小島智幸 , 千葉實
IPC分类号： G01R
摘要：本發明提供一種可抑制測定用探針驅動機構之摩耗，而且可將測定用探針高速驅動之測定用探針驅動裝置。
本發明之測定用探針驅動裝置10，備有一機架11，以及一擺動自如地設於該機架11且保持測定用探針20之擺動臂12。上述機架11上，設有探針導件18供引導測定用探針20之前端。藉由擺動臂12之擺動運動12，測定用探針20係自探針導件18之外表面突出或後退。
简体摘要：本发明提供一种可抑制测定用探针驱动机构之摩耗，而且可将测定用探针高速驱动之测定用探针驱动设备。本发明之测定用探针驱动设备10，备有一机架11，以及一摆动自如地设于该机架11且保持测定用探针20之摆动臂12。上述机架11上，设有探针导件18供引导测定用探针20之前端。借由摆动臂12之摆动运动12，测定用探针20系自探针导件18之外表面突出或后退。

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