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11. 发明专利

TW200907382A 測試裝置以及測試方法 TEST DEVICE AND TEST METHOD 审中-公开
简体标题：测试设备以及测试方法 TEST DEVICE AND TEST METHOD
公开(公告)号：TW200907382A
公开(公告)日：2009-02-16
申请号：TW097115061
申请日：2008-04-24
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：渡邊大輔 WATANABE, DAISUKE , 岡安俊幸 OKAYASU, TOSHIYUKI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R29/027 , G01R31/3004 , G01R31/31703 , G01R31/31932
摘要：一種測試裝置,對被測試元件進行測試,該測試裝置包括:位準比較部,接收被測試元件輸出的被測試信號,將被測試信號的信號位準與預先設定的第1臨限値及第2臨限値進行比較,並輸出表示該比較結果的邏輯値;取得部,根據所供給的選通信號而取得位準比較部輸出的邏輯値;期待値比較電路,對取得部所取得的邏輯値與預先設定的期待値是否一致進行判定;以及臨限値控制部,當進行眼圖遮罩測試以判定被測試信號的眼圖開孔是否大於預先規定的眼圖遮罩時,將眼圖遮罩的電壓的上限値及下限値作為第1臨限値及第2臨限値而設定於位準比較部中。
简体摘要：一种测试设备,对被测试组件进行测试,该测试设备包括:位准比较部,接收被测试组件输出的被测试信号,将被测试信号的信号位准与预先设置的第1临限値及第2临限値进行比较,并输出表示该比较结果的逻辑値;取得部,根据所供给的选通信号而取得位准比较部输出的逻辑値;期待値比较电路,对取得部所取得的逻辑値与预先设置的期待値是否一致进行判定;以及临限値控制部,当进行眼图遮罩测试以判定被测试信号的眼图开孔是否大于预先规定的眼图遮罩时,将眼图遮罩的电压的上限値及下限値作为第1临限値及第2临限値而设置于位准比较部中。

12. 发明专利

TW200902989A 測量裝置以及程式 MEASURING DEVICE AND PROGRAM 失效
简体标题：测量设备以及进程 MEASURING DEVICE AND PROGRAM
公开(公告)号：TW200902989A
公开(公告)日：2009-01-16
申请号：TW097121557
申请日：2008-06-10
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：志村隆史 SHIMURA, TAKASHI
IPC分类号： G01R , H04L
CPC分类号： H04L27/3863 , H04L27/364 , H04L2027/0016
摘要：一種測量裝置,測量根據規定頻率的載波信號來調變的調變信號的電力,此測量裝置包括:AD轉換部,輸出對調變信號進行AD轉換而獲得的數位調變信號;頻率轉換部,將數位調變信號轉換為表示各頻率的信號成分的頻率成分信號;修正係數輸出部,輸出與用於傳送調變信號的傳送路徑的頻率特性相對應的各頻率的修正係數;修正部,根據相應頻率的修正係數,來對頻率成分信號所含的各頻率的信號成分進行修正;以及電力計算部,根據修正後的頻率成分信號所含的各頻率的信號成分,來計算出調變信號的電力。
简体摘要：一种测量设备,测量根据规定频率的载波信号来调制的调制信号的电力,此测量设备包括:AD转换部,输出对调制信号进行AD转换而获得的数码调制信号;频率转换部,将数码调制信号转换为表示各频率的信号成分的频率成分信号;修正系数输出部,输出与用于发送调制信号的发送路径的频率特性相对应的各频率的修正系数;修正部,根据相应频率的修正系数,来对频率成分信号所含的各频率的信号成分进行修正;以及电力计算部,根据修正后的频率成分信号所含的各频率的信号成分,来计算出调制信号的电力。

13. 发明专利

TW200900716A 資料接收電路與利用該電路的測試裝置以及選通訊號的時序調節電路與方法 DATA RECEPTION CIRCUIT, TEST DEVICE USING SAID CIRCUIT, AND TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT OF A STROBE SIGNAL 失效
简体标题：数据接收电路与利用该电路的测试设备以及选通信号的时序调节电路与方法 DATA RECEPTION CIRCUIT, TEST DEVICE USING SAID CIRCUIT, AND TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT OF A STROBE SIGNAL
公开(公告)号：TW200900716A
公开(公告)日：2009-01-01
申请号：TW097109895
申请日：2008-03-20
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：渡邊大輔 WATANABE, DAISUKE , 岡安俊幸 OKAYASU, TOSHIYUKI
IPC分类号： G01R , H04L
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/31937
摘要：可變延遲電路42對選通訊號55賦予可調節的延遲。輸入鎖存電路14藉由經可變延遲電路42延遲的選通訊號S6,對內部串列資料S2中所含的各位元資料進行鎖存。延遲設定部40對由可變延遲電路42賦予至選通訊號S5的延遲量��1進行調節。延遲設定部40在輸入既知的校準圖案以作為串列資料來進行校準動作時,統計地獲取輸入鎖存電路14的輸出鎖存資料S3,以對延遲量��1進行調節,使得1與0的出現概率成為規定的比例。
简体摘要：可变延迟电路42对选通信号55赋予可调节的延迟。输入锁存电路14借由经可变延迟电路42延迟的选通信号S6,对内部串行数据S2中所含的各比特数据进行锁存。延迟设置部40对由可变延迟电路42赋予至选通信号S5的延迟量��1进行调节。延迟设置部40在输入既知的校准图案以作为串行数据来进行校准动作时,统计地获取输入锁存电路14的输出锁存数据S3,以对延迟量��1进行调节,使得1与0的出现概率成为规定的比例。

14. 发明专利

TW200848762A 時脈資料回復電路與方法以及使用該電路方法的測試裝置 CLOCK DATA RECOVERY CIRCUIT, METHOD AND A TEST DEVICE USING SAID CIRCUIT AND METHOD 失效
简体标题：时脉数据回复电路与方法以及使用该电路方法的测试设备 CLOCK DATA RECOVERY CIRCUIT, METHOD AND A TEST DEVICE USING SAID CIRCUIT AND METHOD
公开(公告)号：TW200848762A
公开(公告)日：2008-12-16
申请号：TW097109896
申请日：2008-03-20
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：渡邊大輔 WATANABE, DAISUKE , 岡安俊幸 OKAYASU, TOSHIYUKI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H04L7/033 , G01R31/31727 , G01R31/31937 , H03L7/0812 , H04L7/0037
摘要：變化點檢測電路16自作為輸入資料的串列資料S1抽出時脈信號S3。可變延遲電路40對具有規定頻率的基準信號S4賦予與延遲控制信號S8a相對應的延遲,以使基準信號S4的相位以初始延遲為基準而位移。一輸入鎖存電路14將可變延遲電路40的輸出信號作為選通信號S5,來鎖存內部串列資料S2。相位比較器22使時脈信號S3的頻率與選通信號S5的頻率一致,以生成與2個信號的相位差相對應的相位差資料S9。迴路濾波器30對藉由相位比較器22所生成的相位差資料S9進行積分,並作為延遲控制信號S8a而輸出。相移量取得部50根據延遲控制信號S8a,取得以可變延遲電路40賦予至基準信號的初始延遲為基準的相移量。
简体摘要：变化点检测电路16自作为输入数据的串行数据S1抽出时脉信号S3。可变延迟电路40对具有规定频率的基准信号S4赋予与延迟控制信号S8a相对应的延迟,以使基准信号S4的相位以初始延迟为基准而位移。一输入锁存电路14将可变延迟电路40的输出信号作为选通信号S5,来锁存内部串行数据S2。相位比较器22使时脉信号S3的频率与选通信号S5的频率一致,以生成与2个信号的相位差相对应的相位差数据S9。回路滤波器30对借由相位比较器22所生成的相位差数据S9进行积分,并作为延迟控制信号S8a而输出。相移量取得部50根据延迟控制信号S8a,取得以可变延迟电路40赋予至基准信号的初始延迟为基准的相移量。

15. 发明专利

TW200848725A 具有長度測量功能之掃描式電子顯微鏡與尺寸長度測量的方法 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LENGTH MEASUREMENT FUNCTION AND DIMENSION LENGTH MEASUREMENT METHOD 失效
简体标题：具有长度测量功能之扫描式电子显微镜与尺寸长度测量的方法 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LENGTH MEASUREMENT FUNCTION AND DIMENSION LENGTH MEASUREMENT METHOD
公开(公告)号：TW200848725A
公开(公告)日：2008-12-16
申请号：TW097106436
申请日：2008-02-25
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：中村隆幸 NAKAMURA, TAKAYUKI , 岩井俊道 IWAI, TOSHIMICHI , 信太總一 SHIDA, SOICHI , 廣山三津雄 HIROYAMA, MITSUO
IPC分类号： G01N , H01J
CPC分类号： G01B15/00 , H01J37/045 , H01J37/265 , H01J37/28 , H01J2237/004 , H01J2237/24585
摘要：一種具有長度測量功能之掃瞄式電子顯微鏡,其係包含:一放射一電子束的電子鎗;一測量目標區設定單元,其係對於一形成於一樣本上的圖樣設定一測量區;一用於儲存該指定測量區的儲存單元;一用於根據該測量區來控制該電子束之照射的遮光器單元;以及,一控制單元用於由該儲存單元萃取該指定測量區,對於一在該測量區以外的區域,該控制單元用該遮光器單元中斷該電子束,對於該測量區,照射穿經遮光器單元的電子束至該樣本上,攝取該測量區的影像,以及測量該圖樣。該測量區可用一對測量區表示,而且該等區域有相同的面積。
简体摘要：一种具有长度测量功能之扫瞄式电子显微镜,其系包含:一放射一电子束的电子枪;一测量目标区设置单元,其系对于一形成于一样本上的图样设置一测量区;一用于存储该指定测量区的存储单元;一用于根据该测量区来控制该电子束之照射的遮光器单元;以及,一控制单元用于由该存储单元萃取该指定测量区,对于一在该测量区以外的区域,该控制单元用该遮光器单元中断该电子束,对于该测量区,照射穿经遮光器单元的电子束至该样本上,摄取该测量区的影像,以及测量该图样。该测量区可用一对测量区表示,而且该等区域有相同的面积。

16. 发明专利

TW200844461A 測試裝置以及電子元件 TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE 失效
简体标题：测试设备以及电子组件 TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE
公开(公告)号：TW200844461A
公开(公告)日：2008-11-16
申请号：TW097109696
申请日：2008-03-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：山田達也 YAMADA, TATSUYA
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31919 , G01R31/31813
摘要：一種測試裝置,對被測試元件進行測試,且包括:主記憶體,記憶決定測試序列的測試指令行,該測試序列用以對被測試元件進行測試;序列快取記憶體,對測試指令行進行快取;傳送部,讀出主記憶體中所記憶的測試指令行,並按照記述順序將測試指令行寫入至序列快取記憶體中;圖案產生部,自快取於序列快取記憶體中的測試指令行中依序讀出並執行指令,而且輸出與所執行的指令相對應的測試圖案;以及測試信號輸出部,生成對應於測試圖案的測試信號,並供給至被測試元件中。
简体摘要：一种测试设备,对被测试组件进行测试,且包括:主内存,记忆决定测试串行的测试指令行,该测试串行用以对被测试组件进行测试;串行高速缓存,对测试指令行进行缓存;发送部,读出主内存中所记忆的测试指令行,并按照记述顺序将测试指令行写入至串行高速缓存中;图案产生部,自缓存于串行高速缓存中的测试指令行中依序读出并运行指令,而且输出与所运行的指令相对应的测试图案;以及测试信号输出部,生成对应于测试图案的测试信号,并供给至被测试组件中。

17. 发明专利

TW200842388A 測試裝置以及電子元件 TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE 审中-公开
简体标题：测试设备以及电子组件 TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE
公开(公告)号：TW200842388A
公开(公告)日：2008-11-01
申请号：TW097109482
申请日：2008-03-18
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：碁石優 GOISHI, MASARU
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31932 , G01R23/10 , G01R31/31922 , G01R31/31928
摘要：一種用於測試待測元件的測試裝置,該裝置包括:一個圖樣發生器,用於產生待測元件的輸出信號之期望値圖樣;一個時序信號發生器,用於藉由延遲一參考時鐘信號來產生一個時序信號,該時序信號用於指出採集該待測元件的輸出信號時的時序;一個比較器,用於在時序信號所設定的時序採集待測元件的輸出信號並且將採集所得的輸出信號來和上述之期望値圖樣相比較;以及一個測量電路,該電路在時序信號所指定的時序工作,對該待測元件的輸出信號的脈衝進行計數。
简体摘要：一种用于测试待测组件的测试设备,该设备包括:一个图样发生器,用于产生待测组件的输出信号之期望値图样;一个时序信号发生器,用于借由延迟一参考时钟信号来产生一个时序信号,该时序信号用于指出采集该待测组件的输出信号时的时序;一个比较器,用于在时序信号所设置的时序采集待测组件的输出信号并且将采集所得的输出信号来和上述之期望値图样相比较;以及一个测量电路,该电路在时序信号所指定的时序工作,对该待测组件的输出信号的脉冲进行计数。

18. 发明专利

TW200841033A 測試裝置、測試方法以及電子元件 TEST APPARATUS,TEST METHOD AND ELECTRONEC DEVICE 失效
简体标题：测试设备、测试方法以及电子组件 TEST APPARATUS,TEST METHOD AND ELECTRONEC DEVICE
公开(公告)号：TW200841033A
公开(公告)日：2008-10-16
申请号：TW097112681
申请日：2008-04-08
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：山田達也 YAMADA, TATSUYA , 村田清志 MURATA, KIYOSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31813
摘要：本發明的目的是提供一種測試裝置,為一種對被測試元件進行測試的測裝置,包括:圖案記憶體,其以壓縮形成存儲著測試命令列,該測試命令列規定了用於測試被測試元件的測試序列;擴展部,其將從圖案記憶體所讀出的測試命令列以非壓縮形式進行展開;命令快取部,其將擴展部所展開的測試命令列進行快取;圖案產生部,其依次讀出在命令快取部中所存儲的命令並實行,且產生相對於所執行的命令的測試圖案;以及信號輸出部,其根據測試圖案而生成測試信號,並供給到被測試元件。
简体摘要：本发明的目的是提供一种测试设备,为一种对被测试组件进行测试的测设备,包括:图案内存,其以压缩形成存储着测试命令行,该测试命令行规定了用于测试被测试组件的测试串行;扩展部,其将从图案内存所读出的测试命令行以非压缩形式进行展开;命令缓存部,其将扩展部所展开的测试命令行进行缓存;图案产生部,其依次读出在命令缓存部中所存储的命令并实行,且产生相对于所运行的命令的测试图案;以及信号输出部,其根据测试图案而生成测试信号,并供给到被测试组件。

19. 发明专利

TW200839274A 測試裝置以及電子元件 TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE 失效
简体标题：测试设备以及电子组件 TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE
公开(公告)号：TW200839274A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：TW097109693
申请日：2008-03-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：山田達也 YAMADA, TATSUYA , 菅谷智之 SUGAYA, TOMOYUKI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31919 , G01R31/31813
摘要：本發明提供一種測試待測元件的測試裝置。此測試裝置可以(i)從主測試指令序列中順次讀取並執行指令,且輸出(Ⅰ)跟所執行的指令有關的測試圖型以及(Ⅱ)指示測試圖型之輸出時序之組合的時序集資訊,(ii)當執行次常式呼叫指令時,則從所執行的次常式呼叫指令所指示的子測試指令序列中順次讀取並執行指令,且輸出(1)跟所執行的指令有關的測試圖型以及(2)跟次常式呼叫指令有關的測試圖型的時序集資訊,或主測試指令序列中的跟位於次常式呼叫指令之前的指令有關的測試圖型的時序集資訊。
简体摘要：本发明提供一种测试待测组件的测试设备。此测试设备可以(i)从主测试指令串行中顺次读取并运行指令,且输出(Ⅰ)跟所运行的指令有关的测试图型以及(Ⅱ)指示测试图型之输出时序之组合的时序集信息,(ii)当运行次例程调用指令时,则从所运行的次例程调用指令所指示的子测试指令串行中顺次读取并运行指令,且输出(1)跟所运行的指令有关的测试图型以及(2)跟次例程调用指令有关的测试图型的时序集信息,或主测试指令串行中的跟位于次例程调用指令之前的指令有关的测试图型的时序集信息。

20. 发明专利

TW200839267A 程式、記錄媒體、測試裝置以及診斷方法 PROGRAM, RECORDING MEDIA, TESTING DEVICE AND DIAGNOSIS METHOD 失效
简体标题：进程、记录媒体、测试设备以及诊断方法 PROGRAM, RECORDING MEDIA, TESTING DEVICE AND DIAGNOSIS METHOD
公开(公告)号：TW200839267A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：TW096143862
申请日：2007-11-20
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：岩本敏 IWAMOTO, SATOSHI
IPC分类号： G01R , G06F , G11C
CPC分类号： G01R31/31907
摘要：一種測試裝置,具備:將測試信號供給至被測試元件的測試模組:對包含測試模組所具有的基準電壓、基準阻抗以及基準電流中之至少一者的基準參數進行測量的測量器;以及控制測試模組及測量器的控制裝置,該控制裝置作為對象診斷部、獲取部、測量處理部、以及切換部而發揮功能,其中,上述對象診斷部對當作診斷對象的測試模組進行診斷;上述獲取部獲取表示搭載於測試裝置上的測量器之種類的測量器識別資訊;上述測量處理部針對每一種測量器而設置,將利用該測量器來測量上述測試模組的基準參數之値的指令發送給測量器,並自該測量器獲取上述基準參數的測量結果;上述切換部在自對象診斷部接受到指示對測試模組所具有的基準參數的値進行測量的調用請求後,相應於此,調用並執行與測量器識別資訊所識別的測量器相對應的測量處理部,將基準參數的測量結果回送至對象診斷部。
简体摘要：一种测试设备,具备:将测试信号供给至被测试组件的测试模块:对包含测试模块所具有的基准电压、基准阻抗以及基准电流中之至少一者的基准参数进行测量的测量器;以及控制测试模块及测量器的控制设备,该控制设备作为对象诊断部、获取部、测量处理部、以及切换部而发挥功能,其中,上述对象诊断部对当作诊断对象的测试模块进行诊断;上述获取部获取表示搭载于测试设备上的测量器之种类的测量器识别信息;上述测量处理部针对每一种测量器而设置,将利用该测量器来测量上述测试模块的基准参数之値的指令发送给测量器,并自该测量器获取上述基准参数的测量结果;上述切换部在自对象诊断部接受到指示对测试模块所具有的基准参数的値进行测量的调用请求后,相应于此,调用并运行与测量器识别信息所识别的测量器相对应的测量处理部,将基准参数的测量结果回送至对象诊断部。

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