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111. 发明专利

TW200634722A 光學導引系統 OPTICAL NAVIGATION SYSTEM 审中-公开
简体标题：光学导引系统 OPTICAL NAVIGATION SYSTEM
公开(公告)号：TW200634722A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094134255
申请日：2005-09-30
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：費爾德米爾大衛C. FELDMEIER, DAVID C. , 布洛斯南麥克J. BROSNAN, MICHAEL J. , 謝彤 XIE, TONG
IPC分类号： G09G , G06F
CPC分类号： G06F3/0317
摘要：本發明係提供一光學導引系統。該光學導引系統係包括一能夠光學耦合至一物體的一面之影像感測器，一資料儲存裝置，及一導引電路。影像感測器係包括多重感光元件，其中配置於一第一方向中的感光元件數係大於配置於一第二方向中的感光元件數。第二方向垂直於第一方向。影像感測器能夠擷取表面區域(亦即沿著平行於第一方向的一軸線設置之區域)的接連影像。資料儲存裝置係能夠儲存所擷取的影像。導引電路係包括一第一數位電路，其用以決定藉由比較位移後所擷取的影像及位移前所擷取影像所獲得之沿著軸線的影像感測器與物體之間的相對位移之一評估。
简体摘要：本发明系提供一光学导引系统。该光学导引系统系包括一能够光学耦合至一物体的一面之影像传感器，一数据存储设备，及一导引电路。影像传感器系包括多重感光组件，其中配置于一第一方向中的感光组件数系大于配置于一第二方向中的感光组件数。第二方向垂直于第一方向。影像传感器能够截取表面区域(亦即沿着平行于第一方向的一轴线设置之区域)的接连影像。数据存储设备系能够存储所截取的影像。导引电路系包括一第一数字电路，其用以决定借由比较位移后所截取的影像及位移前所截取影像所获得之沿着轴线的影像传感器与物体之间的相对位移之一评估。

112. 发明专利

TW200634602A 小型且具低度輪廓之光學導向裝置 COMPACT AND LOW PROFILE OPTICAL NAVIGATION DEVICE 审中-公开
简体标题：小型且具低度轮廓之光学导向设备 COMPACT AND LOW PROFILE OPTICAL NAVIGATION DEVICE
公开(公告)号：TW200634602A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094134786
申请日：2005-10-05
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：謝彤 XIE, TONG
IPC分类号： G06F , G02B
CPC分类号： G06F3/042 , G06F3/0317 , G06F3/03547 , G06F2203/0338
摘要：一種光學導向裝置透過比較表面組織如手指隆起部之被捕捉影像的方式來偵測非光學平坦表面如手指之相對動作。在一罩體中，一光源與一感應器陣列被定位於末梢上。該感應器陣列被固定於一基板上。一透鏡陣列穿插於待顯影表面與該感應器陣列之間，以將表面如使用者之手指表面的1比1影像形成於該2D感應器陣列上。微透鏡可被設計成配合該感應器陣列上之單獨像素，或透鏡陣列之各個元件可用以涵蓋該感應器上之一像素群組。該微透鏡可定位成，使該影像形成於該感應器陣列上或形成於一空間之平面上使該影像從該表面散焦。
简体摘要：一种光学导向设备透过比较表面组织如手指隆起部之被捕捉影像的方式来侦测非光学平坦表面如手指之相对动作。在一罩体中，一光源与一感应器数组被定位于末梢上。该感应器数组被固定于一基板上。一透镜数组穿插于待显影表面与该感应器数组之间，以将表面如用户之手指表面的1比1影像形成于该2D感应器数组上。微透镜可被设计成配合该感应器数组上之单独像素，或透镜数组之各个组件可用以涵盖该感应器上之一像素群组。该微透镜可定位成，使该影像形成于该感应器数组上或形成于一空间之平面上使该影像从该表面散焦。

113. 发明专利

TW200634581A 用於複數測試流之校準資訊的編譯方法 COMPILATION OF CALIBRATION INFORMATION FOR PLURAL TESTFLOWS 审中-公开
简体标题：用于复数测试流之校准信息的编译方法 COMPILATION OF CALIBRATION INFORMATION FOR PLURAL TESTFLOWS
公开(公告)号：TW200634581A
公开(公告)日：2006-10-01
申请号：TW094135350
申请日：2005-10-11
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：周增榮 ZHOU, ZHENGRONG , 徐易 XU, YI , 伊克凱 YICK, KAI
IPC分类号： G01R , G06F
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/2834
摘要：在一實施例中，首先取得一複數測試流選擇組。每一測試流指定自動化測試設備(ATE)如何測試至少一裝置。接著鑒別每一測試流的校準資訊，且在已鑒別校準資訊中消除冗餘位並編譯一組無冗餘位資訊以供在ATE和選擇之測試流上執行一聚焦校準。
简体摘要：在一实施例中，首先取得一复数测试流选择组。每一测试流指定自动化测试设备(ATE)如何测试至少一设备。接着鉴别每一测试流的校准信息，且在已鉴别校准信息中消除冗余位并编译一组无冗余位信息以供在ATE和选择之测试流上运行一聚焦校准。

114. 发明专利

TW200632336A 主動矩陣TFT陣列之測定方法审中-公开
简体标题：主动矩阵TFT数组之测定方法
公开(公告)号：TW200632336A
公开(公告)日：2006-09-16
申请号：TW094140286
申请日：2005-11-16
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：宮本隆 MIYAMOTO, TAKASHI , 田島佳代子 TAJIMA, KAYOKO
IPC分类号： G01R , G09G
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2300/0809
摘要：本發明係提供一種TFT陣列保持電容之保持特性測試中之高精度的測試方法。本發明係關於一種測定方法，其特徵在於：其係包含包括保持電容之複數個像素電路之主動式矩陣TFT陣列之保持特性的測定方法，且上述複數個像素電路中至少包括第1與第2像素電路，並且包含如下步驟：向第1像素電路之保持電容充電，其次向第2像素電路之保持電容充電，進行消除由雜散電容產生之影響的操作，並對充電後經過特定保持時間之上述第1與第2像素電路之保持電容之電荷進行測定。
简体摘要：本发明系提供一种TFT数组保持电容之保持特性测试中之高精度的测试方法。本发明系关于一种测定方法，其特征在于：其系包含包括保持电容之复数个像素电路之主动式矩阵TFT数组之保持特性的测定方法，且上述复数个像素电路中至少包括第1与第2像素电路，并且包含如下步骤：向第1像素电路之保持电容充电，其次向第2像素电路之保持电容充电，进行消除由杂散电容产生之影响的操作，并对充电后经过特定保持时间之上述第1与第2像素电路之保持电容之电荷进行测定。

115. 发明专利

TW200631336A 用以量化因信號路徑間之串擾引致的時序錯誤之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING THE TIMING ERROR INDUCED BY CROSSTALK BETWEEN SIGNAL PATHS 审中-公开
简体标题：用以量化因信号路径间之串扰引致的时序错误之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING THE TIMING ERROR INDUCED BY CROSSTALK BETWEEN SIGNAL PATHS
公开(公告)号：TW200631336A
公开(公告)日：2006-09-01
申请号：TW094134051
申请日：2005-09-29
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：松宮廣之 MATSUMIYA, HIROSHI
IPC分类号： H04B
CPC分类号： G06F17/5031
摘要：在本案之一實施例中，數個刺激信號之每一個循序地被驅動至數條刺激信號路徑上。該等數個刺激信號之每一個具有一觸發邊緣。在每一刺激信號被驅動至數條刺激信號路徑上時，具有一感測器邊緣之一遭受信號被驅動至一遭受信號路徑上。在驅動對應之一刺激與遭受信號後，該遭受信號在信號感測器邊緣或其附近的時序被抽樣而使信號感測器邊緣特徵化。然後對應於不同刺激信號之感測器邊緣特徵被分析以將遭受信號路徑與一條或多條遭受信號路徑間之串擾所引致的時序錯誤加以量化。
简体摘要：在本案之一实施例中，数个刺激信号之每一个循序地被驱动至数条刺激信号路径上。该等数个刺激信号之每一个具有一触发边缘。在每一刺激信号被驱动至数条刺激信号路径上时，具有一传感器边缘之一遭受信号被驱动至一遭受信号路径上。在驱动对应之一刺激与遭受信号后，该遭受信号在信号传感器边缘或其附近的时序被抽样而使信号传感器边缘特征化。然后对应于不同刺激信号之传感器边缘特征被分析以将遭受信号路径与一条或多条遭受信号路径间之串扰所引致的时序错误加以量化。

116. 发明专利

TW200629886A 具有內嵌光學元件之影像感測器 IMAGE SENSOR WITH EMBEDDED OPTICAL ELEMENT 审中-公开
简体标题：具有内嵌光学组件之影像传感器 IMAGE SENSOR WITH EMBEDDED OPTICAL ELEMENT
公开(公告)号：TW200629886A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：TW094131819
申请日：2005-09-15
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：席斯比克里斯多夫D SILSBY, CHRISTOPHER D. , 哈達德赫瑪約 HADDAD, HOMAYOON , 王錦宏 WANG, JIANHONG , 葛扎利威廉G GAZELEY, WILLIAM G.
IPC分类号： H04N
CPC分类号： H01L27/14627 , H01L27/14625
摘要：一種像素，包括一被設置成接收入射光線的表面和一被半導體基板構成的底面。一光學檢測器被置於該底面內。一介電體結構被置於該表面和該底面之間。在該表面和該光學檢測器之間的介電體結構提供一光學路徑，該光學路徑被設置成發送該表面上的入射光線的一部分到該光學檢測器。一內嵌光學元件至少部分被置於該光學路徑內且被設置成部分限定該光學路徑。
简体摘要：一种像素，包括一被设置成接收入射光线的表面和一被半导体基板构成的底面。一光学检测器被置于该底面内。一介电体结构被置于该表面和该底面之间。在该表面和该光学检测器之间的介电体结构提供一光学路径，该光学路径被设置成发送该表面上的入射光线的一部分到该光学检测器。一内嵌光学组件至少部分被置于该光学路径内且被设置成部分限定该光学路径。

117. 发明专利

TW200629120A 用於自動化測試設備之校準資料的產生及使用技術 GENERATION AND USE OF CALIBRATION DATA FOR AUTOMATED TEST EQUIPMENT 审中-公开
简体标题：用于自动化测试设备之校准数据的产生及使用技术 GENERATION AND USE OF CALIBRATION DATA FOR AUTOMATED TEST EQUIPMENT
公开(公告)号：TW200629120A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：TW094141868
申请日：2005-11-29
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：周增榮 ZHOU, ZHENGRONG , 麥克拉夫林丹 MCLAUGHLIN, DAN , 麥克拉夫林約翰 MCLAUGHLIN, JOHN , 黎夏威丹尼爾 RISHAVY, DANIEL
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/2834 , G01R31/3191
摘要：在一實施例中，一執行自動化測試設備的一校準過程的要求被接收到。該要求與一個或多個測試設置有關。在接收到該要求之後，基於測試設置的許多校準填充點被識別出來。然後測試設置和校準填充點的校準資料被產生。在另一實施例中，利用自動化測試設備執行一個或多個校準測試程序的一要求被接收到，且連同執行至少一個校準測試程序，以及校準資料從現有校準資料中被導出。
简体摘要：在一实施例中，一运行自动化测试设备的一校准过程的要求被接收到。该要求与一个或多个测试设置有关。在接收到该要求之后，基于测试设置的许多校准填充点被识别出来。然后测试设置和校准填充点的校准数据被产生。在另一实施例中，利用自动化测试设备运行一个或多个校准测试进程的一要求被接收到，且连同运行至少一个校准测试进程，以及校准数据从现有校准数据中被导出。

118. 发明专利

TW200627191A 測試裝置資源之分配 ALLOCATING DEVICE TESTING RESOURCES 审中-公开
简体标题：测试设备资源之分配 ALLOCATING DEVICE TESTING RESOURCES
公开(公告)号：TW200627191A
公开(公告)日：2006-08-01
申请号：TW094130720
申请日：2005-09-07
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：佛基瑞克艾瑞克H. VOLKERINK, ERIK H. , 希爾格斯克勞斯D. HILLGES, KLAUS DIETER , 龐堤艾德蒙多 D. L. PUANTE, EDMUNDO DE LA
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G01R31/31926
摘要：茲揭示分配測試裝置資源的系統與方法。在一方面中，描述一種用於分配m個測試裝置資源至一探針卡的n個部位的系統，該探針卡係經組態成可電氣性連接至一基板上之各個受測部位位置，在此m、n為整數且m＜n。該系統包含一可組態互連網路，其係包含多個在資源與探針卡部位之間的連接。該等連接能使各受測部位位置連接至數目超過該探針卡與該等受測部位之接觸最少數的該等資源中之至少一個。每一該等資源可連接至該等探針卡部位的數目至多等於該接觸最少數。在另一方面，描述一種用於分配測試裝置資源的系統，其係包含多個探針卡、一可組態互連網路、以及一控制器。該等探針卡係經組態成可接觸在多個基板上的受測部位。該互連網路可操作以連接該等資源至該等探針卡上的部位。該控制器可操作以將該互連網路組態成可同時連接該等資源至在不同基板上的受測部位中之選定部位以最大化該等資源的利用率。
简体摘要：兹揭示分配测试设备资源的系统与方法。在一方面中，描述一种用于分配m个测试设备资源至一探针卡的n个部位的系统，该探针卡系经组态成可电气性连接至一基板上之各个受测部位位置，在此m、n为整数且m＜n。该系统包含一可组态互连网络，其系包含多个在资源与探针卡部位之间的连接。该等连接能使各受测部位位置连接至数目超过该探针卡与该等受测部位之接触最少数的该等资源中之至少一个。每一该等资源可连接至该等探针卡部位的数目至多等于该接触最少数。在另一方面，描述一种用于分配测试设备资源的系统，其系包含多个探针卡、一可组态互连网络、以及一控制器。该等探针卡系经组态成可接触在多个基板上的受测部位。该互连网络可操作以连接该等资源至该等探针卡上的部位。该控制器可操作以将该互连网络组态成可同时连接该等资源至在不同基板上的受测部位中之选定部位以最大化该等资源的利用率。

119. 发明专利

TW200626964A 準直透鏡結構 COLLIMATING LENS STRUCTURES 审中-公开
简体标题：准直透镜结构 COLLIMATING LENS STRUCTURES
公开(公告)号：TW200626964A
公开(公告)日：2006-08-01
申请号：TW094127543
申请日：2005-08-12
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：史密斯喬治E. SMITH, GEORGE E. , 謝彤 XIE, TONG
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G06F3/0317 , G02B27/30
摘要：一種光學元件接收一具有一第一光束角及一軸的輸入光束。該光學元件包括一第一表面，其接收該輸入光束並產生一具有一大於或者等於該第一光束角的第二光束角之擴展光束。該光學元件包括一第二表面，其接收該擴展光束並產生一實質上為準直或者接近準直的輸出光束。該輸出光束係相對於該輸入光束的軸被傾移一預定度數。
简体摘要：一种光学组件接收一具有一第一光束角及一轴的输入光束。该光学组件包括一第一表面，其接收该输入光束并产生一具有一大于或者等于该第一光束角的第二光束角之扩展光束。该光学组件包括一第二表面，其接收该扩展光束并产生一实质上为准直或者接近准直的输出光束。该输出光束系相对于该输入光束的轴被倾移一预定度数。

120. 发明专利

TW200625557A 用以安裝電子元件的系統與方法 SYSTEM AND METHOD FOR MOUNTING ELECTRICAL DEVICES 审中-公开
简体标题：用以安装电子组件的系统与方法 SYSTEM AND METHOD FOR MOUNTING ELECTRICAL DEVICES
公开(公告)号：TW200625557A
公开(公告)日：2006-07-16
申请号：TW094125590
申请日：2005-07-28
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：李賽慕 LEE, SAI MUN , 辛夫古比爾 SINGH, GURBIR , 宋炳忠 SEOW, PIANG JOON
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L27/14618 , H01L24/02 , H01L27/14683 , H01L31/0203 , H01L31/18 , H01L2924/01004 , H01L2924/01033 , H01L2924/01082
摘要：於一具體實施例中，諸如一光學感應器的一電子元件係在焊線退出後即附裝至一基板，並且如有需要，建構其他的組件。將導線架或蓋附裝至基板環繞著附裝元件。蓋中的一孔容許無線電信號進出該蓋。
简体摘要：于一具体实施例中，诸如一光学感应器的一电子组件系在焊线退出后即附装至一基板，并且如有需要，建构其他的组件。将导线架或盖附装至基板环绕着附装组件。盖中的一孔容许无线电信号进出该盖。

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