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91. 发明专利

TW200400606A 對積體屏蔽電路提供電氣絕緣之散熱裝置 Heat Sink Apparatus that Provides Electrical Isolation for Integrally Shielded Circuit 审中-公开
简体标题：对积体屏蔽电路提供电气绝缘之散热设备 Heat Sink Apparatus that Provides Electrical Isolation for Integrally Shielded Circuit
公开(公告)号：TW200400606A
公开(公告)日：2004-01-01
申请号：TW091136376
申请日：2002-12-17
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：路易士R 多芙 LEWIS R. DOVE , 馬爾文G 王 MARVIN G. WONG
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L23/552 , H01L23/13 , H01L23/3677 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L2224/05599 , H01L2224/32188 , H01L2224/32225 , H01L2224/32245 , H01L2224/45099 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2224/85399 , H01L2924/00014 , H01L2924/12041 , H01L2924/14 , H01L2924/15153 , H01L2924/1517 , H01L2924/16152 , H01L2924/30107 , H01L2924/3025 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
摘要：在一實施例中，一種散熱裝置對積體屏蔽電子電路提供電氣絕緣，該散熱裝置包含一基板，該基板具有一延伸在其第一與第二側之間之第一孔；一導電層，係與該第二側連接；一導電與導熱之散熱構件，具有一突起，其中該散熱構件係連接於該基板之第一側；及一導電板，具有一延伸通過該板之第二孔。該突起延伸通過該第一孔且具有一位在與該導電層之高度大致相同之高度的表面，一電子組件可連接於該突起表面，而該板則電氣連接於該導電層與該突起表面，使得在該突起與該導電層之間的開放空間可被該板之導電區域蓋。
简体摘要：在一实施例中，一种散热设备对积体屏蔽电子电路提供电气绝缘，该散热设备包含一基板，该基板具有一延伸在其第一与第二侧之间之第一孔；一导电层，系与该第二侧连接；一导电与导热之散热构件，具有一突起，其中该散热构件系连接于该基板之第一侧；及一导电板，具有一延伸通过该板之第二孔。该突起延伸通过该第一孔且具有一位在与该导电层之高度大致相同之高度的表面，一电子组件可连接于该突起表面，而该板则电气连接于该导电层与该突起表面，使得在该突起与该导电层之间的开放空间可被该板之导电区域盖。

92. 发明专利

TW200305905A 使用液態金屬微動開關之高頻衰減器 HIGH FREQUENCY ATTENUATOR USING LIQUID METAL MICRO SWITCHES 失效
简体标题：使用液态金属微动开关之高频衰减器 HIGH FREQUENCY ATTENUATOR USING LIQUID METAL MICRO SWITCHES
公开(公告)号：TW200305905A
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW091134209
申请日：2002-11-25
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：路易士R 多芙 LEWIS R. DOVE , 約翰R 林德希 JOHN R. LINDSEY , 大衛J 達斯契爾 DAVID J. DASCHER
IPC分类号： H01H
CPC分类号： H01P1/22 , H01H1/0036 , H01H29/28 , H01H2029/008
摘要：藉由將干擾耦合電容盡可能地減低，並藉由使用一匹配於衰減器繼電器所在之系統之受控阻抗傳輸線之區段之導體來減輕在一衰減器繼電器中由干擾耦合電容以及在取代衰減器區段之開關導體內之電抗所造成之共振。在使用衰減器區段時，一在一開關傳輸線區段之任一側上具有製造於基板上之SPDTLIMMS開關及其相關衰減器之基板將明顯地降低跨於開關之打開部份上的干擾耦合電容。這會增加由跨在衰減器上之RF電壓降所驅動之共振開始之頻率。可藉由在基板上於傳輸線區段之每一末端上包括一對額外的LIMMS阻尼開關來得到共振之振幅之減少。當衰減器區段使用時，這些阻尼開關每個將一終端電阻器連接至傳輸線區段之末端。這載入共振器且減低了共振之振幅。且再藉由在傳輸線區段之中間附近(但以非恰在中間為較好)載入阻尼開關及其終端電阻器之一來得到進一步之改進。
简体摘要：借由将干扰耦合电容尽可能地减低，并借由使用一匹配于衰减器继电器所在之系统之受控阻抗传输线之区段之导体来减轻在一衰减器继电器中由干扰耦合电容以及在取代衰减器区段之开关导体内之电抗所造成之共振。在使用衰减器区段时，一在一开关传输线区段之任一侧上具有制造于基板上之SPDTLIMMS开关及其相关衰减器之基板将明显地降低跨于开关之打开部份上的干扰耦合电容。这会增加由跨在衰减器上之RF电压降所驱动之共振开始之频率。可借由在基板上于传输线区段之每一末端上包括一对额外的LIMMS阻尼开关来得到共振之振幅之减少。当衰减器区段使用时，这些阻尼开关每个将一终端电阻器连接至传输线区段之末端。这加载共振器且减低了共振之振幅。且再借由在传输线区段之中间附近(但以非恰在中间为较好)加载阻尼开关及其终端电阻器之一来得到进一步之改进。

93. 发明专利

TW200303426A 具有接地彈跳現象回復之邊界掃描技術 BOUNDARY SCAN WITH GROUND BOUNCE RECOVERY 审中-公开
简体标题：具有接地弹跳现象回复之边界扫描技术 BOUNDARY SCAN WITH GROUND BOUNCE RECOVERY
公开(公告)号：TW200303426A
公开(公告)日：2003-09-01
申请号：TW091134663
申请日：2002-11-28
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：雷蒙J 貝茲爾 RAYMOND JOHN BALZER
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318555
摘要：所揭示係一種可在一邊界掃瞄測試期間自接地彈跳回復的系統，其係包括使一TestAccessPort(測試存取埠)控制器(118)，自上述接地彈跳所引發至少三個不確定性控制器狀態中的任何一個，以運作方式變遷至一確定性控制器狀態。該等不確定性控制器狀態，可能係選自一UPDATE(更新)狀態、一RUN-TEST/IDLE(執行測試/閒置)狀態、一SELECT-DR-SCAN(選擇-資料暫存器-掃描)狀態、和一CAPTURE-DR(捕捉-資料暫存器)狀態(第4和6圖)。上述之確定性控制器狀態，可為其UPDATE-DR(更新-資料暫存器)狀態(第5F和7J圖)。一旦在此確定性控制器狀態中，上述之TestAccessPort(測試存取埠)控制器(118)，亦可自一不確定性資料狀態，以運作方式變遷至一確定性資料狀態(第8圖)。
简体摘要：所揭示系一种可在一边界扫瞄测试期间自接地弹跳回复的系统，其系包括使一TestAccessPort(测试存取端口)控制器(118)，自上述接地弹跳所引发至少三个不确定性控制器状态中的任何一个，以运作方式变迁至一确定性控制器状态。该等不确定性控制器状态，可能系选自一UPDATE(更新)状态、一RUN-TEST/IDLE(运行测试/闲置)状态、一SELECT-DR-SCAN(选择-数据寄存器-扫描)状态、和一CAPTURE-DR(捕捉-数据寄存器)状态(第4和6图)。上述之确定性控制器状态，可为其UPDATE-DR(更新-数据寄存器)状态(第5F和7J图)。一旦在此确定性控制器状态中，上述之TestAccessPort(测试存取端口)控制器(118)，亦可自一不确定性数据状态，以运作方式变迁至一确定性数据状态(第8图)。

94. 发明专利

TWI289769B 用以產生邊界掃描測試向量之方法、用以評估受測電路組合以尋找互連缺陷之方法、及儲存有電腦可讀程式碼之電腦可讀媒體 METHOD FOR GENERATING BOUNDARY-SCAN TEST VECTORS, METHOD FOR EVALUATING A CIRCUIT ASSEMBLY UNDER TEST FOR INTERCONNECT DEFECTS, AND COMPUTER READABLE MEDIUM STORING THEREON COMPUTER READABLE PROGRAM CODE 失效
简体标题：用以产生边界扫描测试矢量之方法、用以评估受测电路组合以寻找互连缺陷之方法、及存储有电脑可读代码之电脑可读媒体 METHOD FOR GENERATING BOUNDARY-SCAN TEST VECTORS, METHOD FOR EVALUATING A CIRCUIT ASSEMBLY UNDER TEST FOR INTERCONNECT DEFECTS, AND COMPUTER READABLE MEDIUM STORING THEREON COMPUTER READABLE PROGRAM CODE
公开(公告)号：TWI289769B
公开(公告)日：2007-11-11
申请号：TW092113318
申请日：2003-05-16
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：肯尼斯P. 帕克 KENNETH P. PARKER
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R31/318577 , G01R31/318547 , G01R31/318572
摘要：在此所揭示者為與邊界掃描測試相關之不同方法及裝置，其包括一用以產生邊界掃描測試向量之方法。該方法指派不同的二元特徵給一受測電路組合之所有驅動器和遲滯測試接收器記憶體，且然後產生一系列的邊界掃描測試向量，其中每個測試向量係從二元特徵之對應位元得到的。
简体摘要：在此所揭示者为与边界扫描测试相关之不同方法及设备，其包括一用以产生边界扫描测试矢量之方法。该方法指派不同的二元特征给一受测电路组合之所有驱动器和迟滞测试接收器内存，且然后产生一系列的边界扫描测试矢量，其中每个测试矢量系从二元特征之对应比特得到的。

95. 发明专利

TWI286687B 用於處理利用共享記憶體之應用程式與授權代理程序的方法及系統 METHOD OF AND SYSTEM FOR PROCESSING APPLICATION AND LICENSE PROXY PROCESS USING SHARED MEMORY 有权
简体标题：用于处理利用共享内存之应用进程与授权代理进程的方法及系统 METHOD OF AND SYSTEM FOR PROCESSING APPLICATION AND LICENSE PROXY PROCESS USING SHARED MEMORY
公开(公告)号：TWI286687B
公开(公告)日：2007-09-11
申请号：TW094104448
申请日：2005-02-16
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：賽普頓達文W. SEPTON, DAVEN WALT , 伯里荷賈德 BLEHER, GERD , 弗曼尼克艾瑞克 FURMANEK, ERIC
IPC分类号： G06F
摘要：授權代理程序傳送應用程式之授權請求至授權伺服器。授權代理程序接著接收來自授權伺服器之授權。授權代理程序接著將與該授權相關之授權資訊儲存於應用程式與授權代理程序共享之記憶體內。
简体摘要：授权代理进程发送应用进程之授权请求至授权服务器。授权代理进程接着接收来自授权服务器之授权。授权代理进程接着将与该授权相关之授权信息存储于应用进程与授权代理进程共享之内存内。

96. 发明专利

TWI284194B 用以量測物理量之系統及方法 SYSTEM FOR AND METHOD OF MEASURING A PHYSICAL QUANTITY 失效
简体标题：用以量测物理量之系统及方法 SYSTEM FOR AND METHOD OF MEASURING A PHYSICAL QUANTITY
公开(公告)号：TWI284194B
公开(公告)日：2007-07-21
申请号：TW092113841
申请日：2003-05-22
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：魯塞爾A. 克雷格 RUSSELL A. CLEGG , 詹姆斯R. 梅杜尼克 JAMES R. MEDUNICK
IPC分类号： G01D
CPC分类号： G01D3/10 , G01R15/09 , G01R19/25
摘要：一種高速多範圍量測系統，其就各樣本而逐一地選擇超載情況不存在之具有最高解析度和精確度之範圍。多數組類比至數位轉換器取樣且轉換一物理數量，例如電壓、電流、溫度、應變等等之類比值成為多數組數位資料流，各數位資料流具有代表該物理數量之預期最大值之一分量的全幅度範圍。對應的超載檢測器測試該等分別的資料流之超載情況。一資料選擇器依據超載檢測器狀態而選擇具有代表一預期最大值之最小分量的全幅度之資料流。
简体摘要：一种高速多范围量测系统，其就各样本而逐一地选择超载情况不存在之具有最高分辨率和精确度之范围。多数组模拟至数码转换器采样且转换一物理数量，例如电压、电流、温度、应变等等之模拟值成为多数组数码数据流，各数码数据流具有代表该物理数量之预期最大值之一分量的全幅度范围。对应的超载检测器测试该等分别的数据流之超载情况。一数据选择器依据超载检测器状态而选择具有代表一预期最大值之最小分量的全幅度之数据流。

97. 发明专利

TW200723426A 半導體特性曲線的比較方法 METHOD FOR COMPARING SEMICONDUCTOR CHARACTERISTIC CURVES 审中-公开
简体标题：半导体特性曲线的比较方法 METHOD FOR COMPARING SEMICONDUCTOR CHARACTERISTIC CURVES
公开(公告)号：TW200723426A
公开(公告)日：2007-06-16
申请号：TW095109640
申请日：2006-03-21
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：石塚好司 ISHIZUKA, KOJI
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/318314
摘要：一種分析系統,其係包含:一用於儲存多個半導體裝置測量結果與一曲線圖顯示程式的儲存裝置;一用於以曲線圖顯示該等測量結果於數個視窗內的顯示器;用於選定該等視窗中之一些的輸入裝置;以及,一用於重疊及顯示該等曲線圖於該等視窗內的處理器,藉由使用該曲線圖顯示程式,藉此使得:只有在該輸入裝置所選定視窗中之一視窗內的曲線圖之一顯示區變成透明,該一視窗係位於該顯示器所顯示的最上層;除了該曲線圖之該顯示區以外的區域變成不透明;位於顯示於最下層之視窗中之曲線圖的至少一顯示區變成不透明;以及,位於最上層與最下層之間中之一層的視窗中之曲線圖的至少一顯示區變成透明。
简体摘要：一种分析系统,其系包含:一用于存储多个半导体设备测量结果与一曲线图显示进程的存储设备;一用于以曲线图显示该等测量结果于数个窗口内的显示器;用于选定该等窗口中之一些的输入设备;以及,一用于重叠及显示该等曲线图于该等窗口内的处理器,借由使用该曲线图显示进程,借此使得:只有在该输入设备所选定窗口中之一窗口内的曲线图之一显示区变成透明,该一窗口系位于该显示器所显示的最上层;除了该曲线图之该显示区以外的区域变成不透明;位于显示于最下层之窗口中之曲线图的至少一显示区变成不透明;以及,位于最上层与最下层之间中之一层的窗口中之曲线图的至少一显示区变成透明。

98. 发明专利

TW200722772A 系統單晶片管線測試器及管線測試方法 SYSTEM-ON-A-CHIP PIPELINE TESTER AND METHOD 审中-公开
简体标题：系统单芯片管线测试器及管线测试方法 SYSTEM-ON-A-CHIP PIPELINE TESTER AND METHOD
公开(公告)号：TW200722772A
公开(公告)日：2007-06-16
申请号：TW095126922
申请日：2006-07-24
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：哈布斯卻羅納德A. HUBSCHER, RONALD A. , 史密斯傑森L. SMITH, JASON L. , 翰林法蘭克E. HAMLIN, FRANK E.
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/01
摘要：本發明揭露一能夠以管線方式來測試系統單晶片(SOC)或受測試裝置(DUT)之管線測試器。測試器提供順序性裝載至測試器中的此等SOC及DUT之較快、較經濟測試。複數個下方測試站配置於測試器中。測試站上方配置有對應的測試附件,測試附件係構形為可在其中接收可移式測試床。測試床係機械性及電性連接至下方測試站。一SOC或DUT裝載至各測試床內。當SOC或DUT裝載至一位於一測試站上方之測試床中時在各SOC或DUT上進行一或多個電性或電子測試。一旦測試已經完成,測試床移至另一測試站,其中進行另一電性或電子測試。可在裝載至不同測試床中之不同DUT或SOC上平行地進行電性或電子測試。
简体摘要：本发明揭露一能够以管线方式来测试系统单芯片(SOC)或受测试设备(DUT)之管线测试器。测试器提供顺序性装载至测试器中的此等SOC及DUT之较快、较经济测试。复数个下方测试站配置于测试器中。测试站上方配置有对应的测试附件,测试附件系构形为可在其中接收可移式测试床。测试床系机械性及电性连接至下方测试站。一SOC或DUT装载至各测试床内。当SOC或DUT装载至一位于一测试站上方之测试床中时在各SOC或DUT上进行一或多个电性或电子测试。一旦测试已经完成,测试床移至另一测试站,其中进行另一电性或电子测试。可在装载至不同测试床中之不同DUT或SOC上平行地进行电性或电子测试。

99. 发明专利

TWI281545B 用於將電路板測試範圍特徵化之方法及裝置 METHODS AND APPARATUS FOR CHARACTERIZING BOARD TEST COVERAGE 失效
简体标题：用于将电路板测试范围特征化之方法及设备 METHODS AND APPARATUS FOR CHARACTERIZING BOARD TEST COVERAGE
公开(公告)号：TWI281545B
公开(公告)日：2007-05-21
申请号：TW092106380
申请日：2003-03-21
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：肯尼斯P. 帕克 KENNETH P. PARKER , 凱斯蘭J. 賀德 KATHLEEN J. HIRD , 艾瑞克A. 拉蒙斯 ERIK A. RAMOS
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2806
摘要：本發明揭示用於將電路板測試範圍特徵化之方法與裝置。在一方法中，計數此等用於電路板之可能瑕疵特性，而不考慮如何才可將此等可能瑕疵特性測試。對於所計數之各可能瑕疵特性產生特性點數。各特性點數顯示此測試組合是否測試此可能瑕疵特性。然後將特性點數組合，而將用於測試組合之電路板測試範圍特徵化。
简体摘要：本发明揭示用于将电路板测试范围特征化之方法与设备。在一方法中，计数此等用于电路板之可能瑕疵特性，而不考虑如何才可将此等可能瑕疵特性测试。对于所计数之各可能瑕疵特性产生特性点数。各特性点数显示此测试组合是否测试此可能瑕疵特性。然后将特性点数组合，而将用于测试组合之电路板测试范围特征化。

100. 发明专利

TW200716999A 用於測量場效電晶體特性之方法 METHOD FOR MEASURING FET CHARACTERISTICS 审中-公开
简体标题：用于测量场效应管特性之方法 METHOD FOR MEASURING FET CHARACTERISTICS
公开(公告)号：TW200716999A
公开(公告)日：2007-05-01
申请号：TW095121029
申请日：2006-06-13
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：大川康司 OKAWA, YASUSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/2621 , G01R27/28
摘要：一指示在電壓測量單元的一測量電壓與一由於汲極電流的汲極偏壓電壓中的電壓降間之關係的係數係根據一偏壓T的一S參數與該測量單元的一輸入阻抗來決定,在該汲極的一電壓降係決定自該係數。根據該決定的電壓降,一實際施加至一場效電晶體之汲極的汲極偏壓電壓被決定。同樣地,一用於將該測量單元的測量電壓轉換成一汲極電流的係數係根據該偏壓T的兩個端子對網路的一S參數及該電壓測量單元的輸入阻抗來決定。根據該決定的係數,實際上流入該場效電晶體的一汲極電流被決定。
简体摘要：一指示在电压测量单元的一测量电压与一由于汲极电流的汲极偏压电压中的电压降间之关系的系数系根据一偏压T的一S参数与该测量单元的一输入阻抗来决定,在该汲极的一电压降系决定自该系数。根据该决定的电压降,一实际施加至一场效应管之汲极的汲极偏压电压被决定。同样地,一用于将该测量单元的测量电压转换成一汲极电流的系数系根据该偏压T的两个端子对网络的一S参数及该电压测量单元的输入阻抗来决定。根据该决定的系数,实际上流入该场效应管的一汲极电流被决定。

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