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1. 发明专利

TW201413230A 可選擇地濃縮分離待測粒子的方法與晶片审中-公开
简体标题：可选择地浓缩分离待测粒子的方法与芯片
公开(公告)号：TW201413230A
公开(公告)日：2014-04-01
申请号：TW101134715
申请日：2012-09-21
申请人：財團法人國家實驗研究院
发明人：鄭宜肪 , 楊富量 , 張憲彰 , 陳姿穎
IPC分类号： G01N1/40
CPC分类号： B03C5/005 , B03C5/026 , B03C2201/26
摘要：一種可選擇地濃縮分離待測粒子的晶片，包含一具有容置溶液的分離空間的晶片本體、一設置於晶片本體並位於該分離空間的內電極、一設置於晶片本體並位於該分離空間且具有第一外電極和第二外電極的外電極單元，及一動力源，第一外電極環圍內電極，第二外電極環圍第一外電極，動力源電連接內電極和第一、二外電極並可被控制地提供產生104~108V/m電場的交流電，而使含有不同粒徑的微粒、奈米粒於溶液中受介電泳力與電流體動力作用分離並集中於該內電極。
简体摘要：一种可选择地浓缩分离待测粒子的芯片，包含一具有容置溶液的分离空间的芯片本体、一设置于芯片本体并位于该分离空间的内电极、一设置于芯片本体并位于该分离空间且具有第一外电极和第二外电极的外电极单元，及一动力源，第一外电极环围内电极，第二外电极环围第一外电极，动力源电连接内电极和第一、二外电极并可被控制地提供产生104~108V/m电场的交流电，而使含有不同粒径的微粒、奈米粒于溶液中受介电泳力与电流体动力作用分离并集中于该内电极。

2. 发明专利

TW201329229A 利用電場施加器之組織建構用的系統及方法审中-公开
简体标题：利用电场施加器之组织建构用的系统及方法
公开(公告)号：TW201329229A
公开(公告)日：2013-07-16
申请号：TW101128013
申请日：2012-08-03
申请人：東京威力科創股份有限公司 , TOKYO ELECTRON LIMITED
发明人：柏卡約瑟夫 , BRCKA, JOZEF
IPC分类号： C12M3/00
CPC分类号： C23C16/50 , A61F2/00 , B03C5/005 , B03C5/026 , C12M3/00 , C12M21/08 , C12M33/00 , C23C16/04 , C23C16/48 , H01J37/32009 , H01J37/32697 , H01L21/02612 , H01L21/67011
摘要：一種藉由施加時間和空間受控電場，自細胞或其他物件建構組織的方法和裝置。電場施加器將基板(32)暴露於電場，該電場受到控制而作用於處理介質(28)，以達到在基板(32)上建構組織的處理功效。選擇電偏壓，以與介質(28)的偶極特性交互作用，以控制在介質(28)中或基板(32)處之懸浮介電泳動細胞或其他粒子的運動。可影響懸浮粒子的運動，造成不同特性的懸浮粒子在處理介質(28)之中循不同的路徑，這可用以區分該等懸浮粒子。可選擇處理介質(28)和電偏壓，以影響基板(32)之上一或多層的結構或定向。
简体摘要：一种借由施加时间和空间受控电场，自细胞或其他对象建构组织的方法和设备。电场施加器将基板(32)暴露于电场，该电场受到控制而作用于处理介质(28)，以达到在基板(32)上建构组织的处理功效。选择电偏压，以与介质(28)的偶极特性交互作用，以控制在介质(28)中或基板(32)处之悬浮介电泳动细胞或其他粒子的运动。可影响悬浮粒子的运动，造成不同特性的悬浮粒子在处理介质(28)之中循不同的路径，这可用以区分该等悬浮粒子。可选择处理介质(28)和电偏压，以影响基板(32)之上一或多层的结构或定向。

3. 发明专利

TW200944182A 連續式檢測裝置及連續式檢測系統 CONTINUOUS TESTING DEVICE AND CONTINUOUS TESTING SYSTEM 审中-公开
简体标题：连续式检测设备及连续式检测系统 CONTINUOUS TESTING DEVICE AND CONTINUOUS TESTING SYSTEM
公开(公告)号：TW200944182A
公开(公告)日：2009-11-01
申请号：TW097115988
申请日：2008-04-30
申请人：瑞鼎科技股份有限公司
发明人：楊裕雄 , 林明瑜 , 蔡昆熹 , 王威 , 徐琅 , 劉承賢 , 周忠誠
IPC分类号： A61B , G01N
CPC分类号： G01N21/31 , B01L3/502761 , B01L3/502792 , B01L9/527 , B01L2300/0864 , B01L2300/0867 , B01L2400/0424 , B01L2400/0427 , B01L2400/0454 , B03C5/005 , B03C5/026 , G01N21/05 , G01N33/491 , G01N2021/0325 , G01N2021/0346 , G01N2021/058 , G01N2201/062
摘要：一種連續式檢測裝置，用以檢測一流體中之一目標物之濃度。連續式檢測裝置包括一第一晶片、一訊號源以及一第二晶片。第一晶片包括一分離單元及一反應單元。分離單元用以分離目標物及流體中之一非目標物。反應單元用以使分離出非目標物之流體與一試劑進行反應。訊號源用以提供一訊號通過與試劑反應之流體。第二晶片設置於第一晶片之一側，並且包括一訊號轉換元件及一處理單元。訊號轉換元件用以接收通過流體之訊號，並依據此訊號輸出一電性訊號。處理單元用以根據電性訊號取得目標物之濃度。
简体摘要：一种连续式检测设备，用以检测一流体中之一目标物之浓度。连续式检测设备包括一第一芯片、一信号源以及一第二芯片。第一芯片包括一分离单元及一反应单元。分离单元用以分离目标物及流体中之一非目标物。反应单元用以使分离出非目标物之流体与一试剂进行反应。信号源用以提供一信号通过与试剂反应之流体。第二芯片设置于第一芯片之一侧，并且包括一信号转换组件及一处理单元。信号转换组件用以接收通过流体之信号，并依据此信号输出一电性信号。处理单元用以根据电性信号取得目标物之浓度。

4. 发明专利

TW200426107A 晶片式微流體粒子三維聚焦及偵測裝置失效
简体标题：芯片式微流体粒子三维聚焦及侦测设备
公开(公告)号：TW200426107A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：TW092113698
申请日：2003-05-21
申请人：國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY
发明人：李國賓 LEE, GWO-BIN , 林哲信 CHE-HSIN LIN
IPC分类号： B81B
CPC分类号： G01N15/1484 , B03C5/026 , G01N15/1404 , G01N2015/1075 , G01N2015/1413 , G01N2015/1486 , G01N2015/149
摘要：本發明係提供一種晶片式微流體粒子三維聚焦及偵測裝置，該裝置利用流體驅動力(fluidic driving force)以及介電泳力(dieletrophoretic force)之作用，使微粒子得以流動在微管道之中央，以增加後續偵測之準確性。本發明之晶片乃先在基板上製作出提供流體流動之微管道，包括樣品流管道以及邊鞘流管道，對樣品流中之粒子進行二維之流體聚焦，並在微管道中製作微型電極，以提供介電泳力進行第三維之粒子聚焦。本發明可應用於各種微粒子如：細胞、血球等之計數檢測、判別、測速、分類等測量。
简体摘要：本发明系提供一种芯片式微流体粒子三维聚焦及侦测设备，该设备利用流体驱动力(fluidic driving force)以及介电泳力(dieletrophoretic force)之作用，使微粒子得以流动在微管道之中央，以增加后续侦测之准确性。本发明之芯片乃先在基板上制作出提供流体流动之微管道，包括样品流管道以及边鞘流管道，对样品流中之粒子进行二维之流体聚焦，并在微管道中制作微型电极，以提供介电泳力进行第三维之粒子聚焦。本发明可应用于各种微粒子如：细胞、血球等之计数检测、判别、测速、分类等测量。

5. 发明专利

TWI507349B 利用電場以控制圖案及結構形成之方法與裝置有权
简体标题：利用电场以控制图案及结构形成之方法与设备
公开(公告)号：TWI507349B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：TW101128017
申请日：2012-08-03
申请人：東京威力科創股份有限公司 , TOKYO ELECTRON LIMITED
发明人：柏卡約瑟夫 , BRCKA, JOZEF , 法各克賈克斯 , FAGUET, JACQUES , 李艾瑞克M , LEE, ERIC M. , 岳亨利 , YUE, HENRY
IPC分类号： B82B3/00 , B82Y40/00
CPC分类号： C23C16/50 , A61F2/00 , B03C5/005 , B03C5/026 , C12M3/00 , C12M21/08 , C12M33/00 , C23C16/04 , C23C16/48 , H01J37/32009 , H01J37/32697 , H01L21/02612 , H01L21/67011

6. 发明专利

TWI486995B 利用電場施加器之組織建構用的系統及方法有权
简体标题：利用电场施加器之组织建构用的系统及方法
公开(公告)号：TWI486995B
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW101128013
申请日：2012-08-03
申请人：東京威力科創股份有限公司 , TOKYO ELECTRON LIMITED
发明人：柏卡約瑟夫 , BRCKA, JOZEF
IPC分类号： H01J37/32 , C12M3/00
CPC分类号： C23C16/50 , A61F2/00 , B03C5/005 , B03C5/026 , C12M3/00 , C12M21/08 , C12M33/00 , C23C16/04 , C23C16/48 , H01J37/32009 , H01J37/32697 , H01L21/02612 , H01L21/67011

7. 发明专利

TWI444324B 液體介電泳裝置有权
简体标题：液体介电泳设备
公开(公告)号：TWI444324B
公开(公告)日：2014-07-11
申请号：TW099139192
申请日：2010-11-15
申请人：國立交通大學 , NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY
发明人：范士岡 , FAN, SHIH KANG , 盧怡蓓 , LU, I PEI
IPC分类号： B81B7/02 , B81B1/00
CPC分类号： B03C5/026 , B01L3/50273 , B01L2300/0816 , B01L2300/0867 , B01L2400/0424 , B03C5/005

8. 发明专利

TWI393881B 光誘發介電泳晶片有权
简体标题：光诱发介电泳芯片
公开(公告)号：TWI393881B
公开(公告)日：2013-04-21
申请号：TW097132878
申请日：2008-08-28
申请人：國立成功大學 , NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY
发明人：李國賓 , 郭宗枋 , 王瑋 , 林彥亨
IPC分类号： G01N27/447 , B81C1/00
CPC分类号： G01N27/447 , B03C5/005 , B03C5/026

9. 发明专利

TWI375023B 細胞微陣列晶片及其製法 A CELLULAR MICROARRAY AND ITS MICROFABRICATION METHOD 有权
简体标题：细胞微数组芯片及其制法 A CELLULAR MICROARRAY AND ITS MICROFABRICATION METHOD
公开(公告)号：TWI375023B
公开(公告)日：2012-10-21
申请号：TW096137479
申请日：2007-10-05
申请人：國立臺灣大學
发明人：胡文聰 , 熊樂昌 , 楊淳惠 , 李心予
IPC分类号： G01N , C12N
CPC分类号： B03C5/026 , Y10T436/25375
摘要：本發明係有關於一種細胞微陣列晶片，包括：一基材；多個第一導線，多個第二導線，；以及多個羽形電極單元。該羽形電極單元，係於該基材表面形成陣列排列，且每一羽形電極單元包含有多個第一指形電極，以及多個第二指形電極。其中每一羽形電極單元內之該些第一指形電極與該些第二指形電極交錯排列於該基材之表面。且每二個鄰接之羽形電極單元之最外層指形電極之電性不同。本發明細胞微陣列晶片，能快速及均勻地附著細胞，提高產量，並降低細胞微陣列晶片之生產及使用成本。
简体摘要：本发明系有关于一种细胞微数组芯片，包括：一基材；多个第一导线，多个第二导线，；以及多个羽形电极单元。该羽形电极单元，系于该基材表面形成数组排列，且每一羽形电极单元包含有多个第一指形电极，以及多个第二指形电极。其中每一羽形电极单元内之该些第一指形电极与该些第二指形电极交错排列于该基材之表面。且每二个邻接之羽形电极单元之最外层指形电极之电性不同。本发明细胞微数组芯片，能快速及均匀地附着细胞，提高产量，并降低细胞微数组芯片之生产及使用成本。

10. 发明专利

TW200928364A 用於多標靶偵測之微流體晶片 MICROFLUIDIC PLATFORMS FOR MULTI-TARGET DETECTION 审中-公开
简体标题：用于多标靶侦测之微流体芯片 MICROFLUIDIC PLATFORMS FOR MULTI-TARGET DETECTION
公开(公告)号：TW200928364A
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：TW097138664
申请日：2008-10-08
申请人：聖母大學 UNIVERSITY OF NOTRE DAME
发明人：張學嘉 CHANG, HSUEH-CHIA , 傑森高登 GORDON, JASON , 薩亞喬堤瑟納帕堤 SENAPATI, SATYAJYOTI , 札卡瑞加農 GAGNON, ZACHARY , 薩尼克巴蘇瑞 BASURAY, SAGNIK
IPC分类号： G01N
CPC分类号： B03C5/005 , B01J2219/00459 , B01J2219/005 , B01J2219/00511 , B01J2219/00596 , B01J2219/00605 , B01J2219/00612 , B01L3/502761 , B03C5/026 , B03C2201/26 , C12Q1/6816 , G01N21/64 , C12Q2563/116 , C12Q2565/626 , C12Q2565/629
摘要：所揭示者為用於偵測一或多個標靶之例示方法及裝置。一種例示方法包括將包括第一標靶之樣本置於微流體裝置中及使複數個第一標靶之複本與複數個奈米結構雜交。例示方法包括向該複數個奈米結構施加電流及使用由該電流產生之電場移動該複數個奈米結構。另外,將該複數個奈米結構分類及評估以確定該第一標靶之存在、不存在或數量中之至少一項。
简体摘要：所揭示者为用于侦测一或多个标靶之例示方法及设备。一种例示方法包括将包括第一标靶之样本置于微流体设备中及使复数个第一标靶之复本与复数个奈米结构杂交。例示方法包括向该复数个奈米结构施加电流及使用由该电流产生之电场移动该复数个奈米结构。另外,将该复数个奈米结构分类及评估以确定该第一标靶之存在、不存在或数量中之至少一项。

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