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1. 发明专利

TWI464612B 電腦繪圖的公差偵測系統及其方法失效
简体标题：电脑绘图的公差侦测系统及其方法
公开(公告)号：TWI464612B
公开(公告)日：2014-12-11
申请号：TW101147610
申请日：2012-12-14
申请人：英業達股份有限公司 , INVENTEC CORPORATION
发明人：陳學良 , CHEN, HSUEH LIANG , 林俊鴻 , LIN, CHUN HONG , 曾協淳 , TSENG, HSIEH CHUN , 黃東豪 , HUANG, TUNG HAO , 黃舒慧 , HUANG, SHU HUI
IPC分类号： G06F17/50

2. 发明专利

TW201423459A 電腦繪圖的公差偵測系統及其方法失效
简体标题：电脑绘图的公差侦测系统及其方法
公开(公告)号：TW201423459A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101147610
申请日：2012-12-14
申请人：英業達股份有限公司 , INVENTEC CORPORATION
发明人：陳學良 , CHEN, HSUEH LIANG , 林俊鴻 , LIN, CHUN HONG , 曾協淳 , TSENG, HSIEH CHUN , 黃東豪 , HUANG, TUNG HAO , 黃舒慧 , HUANG, SHU HUI
IPC分类号： G06F17/50
摘要：一種電腦繪圖的公差偵測系統及其方法，應用於繪圖程式在擷取局部元件的尺寸鍊公差之處理。公差偵測方法包括以下步驟：選擇局部元件；從所選的局部元件中任選目標點；以目標點為基準並選擇尺寸鍊方向；沿著尺寸鍊方向在局部元件中選擇特徵點並計算目標點到特徵點之間的間距；以特徵點為基準並重複選擇新的特徵點與計算間距的步驟；將所有的這些特徵點與所屬的這些間距記錄於公差分析表中。
简体摘要：一种电脑绘图的公差侦测系统及其方法，应用于绘图进程在截取局部组件的尺寸炼公差之处理。公差侦测方法包括以下步骤：选择局部组件；从所选的局部组件中任选目标点；以目标点为基准并选择尺寸炼方向；沿着尺寸炼方向在局部组件中选择特征点并计算目标点到特征点之间的间距；以特征点为基准并重复选择新的特征点与计算间距的步骤；将所有的这些特征点与所属的这些间距记录于公差分析表中。

3. 发明专利

TW201423458A 分析尺寸鏈的處理方法及其系統审中-公开
简体标题：分析尺寸链的处理方法及其系统
公开(公告)号：TW201423458A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101146658
申请日：2012-12-11
申请人：英業達股份有限公司 , INVENTEC CORPORATION
发明人：陳學良 , CHEN, HSUEH LIANG , 林俊鴻 , LIN, CHUN HONG , 曾協淳 , TSENG, HSIEH CHUN , 黃東豪 , HUANG, TUNG HAO , 黃舒慧 , HUANG, SHU HUI
IPC分类号： G06F17/50
摘要：一種分析尺寸鏈的處理方法及其系統，應用在設計模具時對外觀部件的調整是否可以符合所要求的公差，並在不符合時播放相應的提示。處理方法包括以下步驟：選擇待測樣本，待測樣本具有多個外觀部件與相應的外觀尺寸資訊；載入調整參數；將調整參數套用於待測樣本，計算待測樣本的輸出良率；判斷輸出良率是否符合期望值；若輸出良率符合期望值，則將調整參數記錄至匯出報告；若輸出良率不符合期望值，調整外觀尺寸資訊的範圍並重新計算新的輸出良率。
简体摘要：一种分析尺寸链的处理方法及其系统，应用在设计模具时对外观部件的调整是否可以符合所要求的公差，并在不符合时播放相应的提示。处理方法包括以下步骤：选择待测样本，待测样本具有多个外观部件与相应的外观尺寸信息；加载调整参数；将调整参数套用于待测样本，计算待测样本的输出良率；判断输出良率是否符合期望值；若输出良率符合期望值，则将调整参数记录至导出报告；若输出良率不符合期望值，调整外观尺寸信息的范围并重新计算新的输出良率。

4. 发明专利

TWI332375B 刮刀結構 SCRAPING CUTTER STRUCTURE 失效
简体标题：刮刀结构 SCRAPING CUTTER STRUCTURE
公开(公告)号：TWI332375B
公开(公告)日：2010-10-21
申请号：TW096128709
申请日：2007-08-03
申请人：英業達股份有限公司
发明人：吳政豫 , 陳瑾慧 , 黃東豪 , 曹惠國 , 馬定國
IPC分类号： H05K
摘要：一種刮刀結構，包含有主刮刀及設置於主刮刀兩側之副刮刀，其中刮刀結構係應用於一模板。模板具有透孔並且承載有一待塗佈物質(如錫膏)，其中主刮刀之主刀面沿一刮動路徑移動，以刮動待塗佈物質填入透孔中，並將塗佈物質塗佈至一印刷電路板。主刮刀之主刀面沿刮動路徑在模板上刮出一刮動區域。副刮刀之副刀面與主刮刀之主刀面夾一銳角，以刮動溢出刮動區域外之待塗佈物質，使待塗佈物質不會殘留在模板上。
简体摘要：一种刮刀结构，包含有主刮刀及设置于主刮刀两侧之副刮刀，其中刮刀结构系应用于一模板。模板具有透孔并且承载有一待涂布物质(如锡膏)，其中主刮刀之主刀面沿一刮动路径移动，以刮动待涂布物质填入透孔中，并将涂布物质涂布至一印刷电路板。主刮刀之主刀面沿刮动路径在模板上刮出一刮动区域。副刮刀之副刀面与主刮刀之主刀面夹一锐角，以刮动溢出刮动区域外之待涂布物质，使待涂布物质不会残留在模板上。

5. 发明专利

TWI373990B 清除設備及運用此清除設備之清除方法 CLEANING EQUIPMENT AND CLEANING METHOD USING THE SAME 失效
简体标题：清除设备及运用此清除设备之清除方法 CLEANING EQUIPMENT AND CLEANING METHOD USING THE SAME
公开(公告)号：TWI373990B
公开(公告)日：2012-10-01
申请号：TW096142830
申请日：2007-11-13
申请人：英業達股份有限公司
发明人：黃東豪 , 陳瑾慧 , 曹惠國 , 馬定國
IPC分类号： H05K
摘要：一種清除設備，適於清除一電路板上之一印刷圖案。清除設備包括一平台、一真空式清潔機構以及一滾輪式清潔機構。平台適於承載電路板。真空式清潔機構具有一吸嘴，且吸嘴適於沿著一第一方向清除部分之印刷圖案。滾輪式清潔機構具有一清潔輪，且清潔輪適於沿著一第二方向清除殘留之印刷圖案。本發明之清除方法或清除設備可使清除印刷圖案的步驟自動化。
简体摘要：一种清除设备，适于清除一电路板上之一印刷图案。清除设备包括一平台、一真空式清洁机构以及一滚轮式清洁机构。平台适于承载电路板。真空式清洁机构具有一吸嘴，且吸嘴适于沿着一第一方向清除部分之印刷图案。滚轮式清洁机构具有一清洁轮，且清洁轮适于沿着一第二方向清除残留之印刷图案。本发明之清除方法或清除设备可使清除印刷图案的步骤自动化。

6. 发明专利

TW201044208A 物料清單建立方法及物料清單建立系統 CREATING METHOD AND SYSTEM FOR MATERIAL LIST 审中-公开
简体标题：物料清单创建方法及物料清单创建系统 CREATING METHOD AND SYSTEM FOR MATERIAL LIST
公开(公告)号：TW201044208A
公开(公告)日：2010-12-16
申请号：TW098119366
申请日：2009-06-10
申请人：英業達股份有限公司
发明人：張聖堂 , 汪峻濋 , 黃東豪 , 陳瑾慧 , 林孟璇 , 洪玉美
IPC分类号： G06F
摘要：一種物料清單建立方法及物料清單建立系統。物料清單建立方法適用於繪製線路圖之繪製系統上,線路圖包括多個零件,繪製系統提供圖形化介面,以顯示客製化物料零件(Build To Order,BTO)建立圖示於繪製系統之顯示單元上。物料清單建立方法包括下列步驟。首先,判斷BTO建立圖示是否被點選。接著,若BTO建立圖示被點選,則顯示對應於各零件之一物料選單。其中各物料選單係由物料總表中對應於各零件之可相互替代之物料所建立。然後,紀錄各物料選單之選擇結果。之後,依據一組客製化產品規格與此些選擇結果自動產生一組客製化物料文字清單。
简体摘要：一种物料清单创建方法及物料清单创建系统。物料清单创建方法适用于绘制线路图之绘制系统上,线路图包括多个零件,绘制系统提供图形化界面,以显示客制化物料零件(Build To Order,BTO)创建图标于绘制系统之显示单元上。物料清单创建方法包括下列步骤。首先,判断BTO创建图标是否被点击。接着,若BTO创建图标被点击,则显示对应于各零件之一物料菜单。其中各物料菜单系由物料总表中对应于各零件之可相互替代之物料所创建。然后,纪录各物料菜单之选择结果。之后,依据一组客制化产品规格与此些选择结果自动产生一组客制化物料文本清单。

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