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1. 发明专利

TW201823702A 氣密性檢測方法及氣密性檢測裝置审中-公开
简体标题：气密性检测方法及气密性检测设备
公开(公告)号：TW201823702A
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW105144181
申请日：2016-12-30
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：鄭柏凱 , CHENG, PO-KAI , 楊蒼奇 , YANG, CHANG-CHI , 王啟書 , WANG, CHI-SHU
IPC分类号： G01M3/32 , G01R1/067
摘要：一種氣密性檢測方法包含連通儲存腔體及檢測腔體，對儲存腔體提供負壓，量測儲存腔體或檢測腔體之壓力以取得第一壓力值，根據負壓及第一壓力值判斷檢測腔體之氣密性，停止對儲存腔體提供負壓，量測儲存腔體或檢測腔體之壓力以取得第二壓力值，於停止對儲存腔體提供負壓一預設時間之後量測儲存腔體或檢測腔體之壓力以取得第三壓力值，以及根據第二壓力值及第三壓力值判斷檢測腔體之氣密性。裝置包含檢測腔體、儲存腔體、負壓產生器及壓力計。儲存腔體連通於檢測腔體。負壓產生器連通於儲存腔體。壓力計連接至儲存腔體或檢測腔體。
简体摘要：一种气密性检测方法包含连通存储腔体及检测腔体，对存储腔体提供负压，量测存储腔体或检测腔体之压力以取得第一压力值，根据负压及第一压力值判断检测腔体之气密性，停止对存储腔体提供负压，量测存储腔体或检测腔体之压力以取得第二压力值，于停止对存储腔体提供负压一默认时间之后量测存储腔体或检测腔体之压力以取得第三压力值，以及根据第二压力值及第三压力值判断检测腔体之气密性。设备包含检测腔体、存储腔体、负压产生器及压力计。存储腔体连通于检测腔体。负压产生器连通于存储腔体。压力计连接至存储腔体或检测腔体。

2. 发明专利

TWI592642B 氣密性檢測方法及氣密性檢測裝置有权
简体标题：气密性检测方法及气密性检测设备
公开(公告)号：TWI592642B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：TW105144181
申请日：2016-12-30
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：鄭柏凱 , CHENG, PO-KAI , 楊蒼奇 , YANG, CHANG-CHI , 王啟書 , WANG, CHI-SHU
IPC分类号： G01M3/32 , G01R1/067
CPC分类号： G01M3/3272 , G01M3/3263 , G01R1/0416 , G01R1/06722 , G01R31/2601

3. 实用新型

TWM593550U 測試設備及其活動式連結機構有权
简体标题：测试设备及其活动式链接机构
公开(公告)号：TWM593550U
公开(公告)日：2020-04-11
申请号：TW108217494
申请日：2019-12-31
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：王啟書 , WANG, CHI SHU , 楊聯甫 , YANG, LIEN FU
IPC分类号： G01R31/26

4. 发明专利

TWI639833B 可收納把手組件及測試機對接組件有权
简体标题：可收纳把手组件及测试机对接组件
公开(公告)号：TWI639833B
公开(公告)日：2018-11-01
申请号：TW107111372
申请日：2018-03-30
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：王啟書 , WANG, CHI SHU , 鄭柏凱 , CHENG, PO KAI
IPC分类号： G01R1/02 , G01R31/26

5. 发明专利

TW201823725A 吸附式測試裝置审中-公开
简体标题：吸附式测试设备
公开(公告)号：TW201823725A
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW105144182
申请日：2016-12-30
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：王啟書 , WANG, CHI-SHU , 鄭柏凱 , CHENG, PO-KAI
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/26
摘要：一種吸附式測試裝置，包含一承載台、至少一密封件以及一抽氣管路。承載台具有一承載面。密封件設置於承載面，且密封件包含一體成型的一第一密封部以及二第二密封部。第一密封部於承載面圍繞出一吸附區，並且二第二密封部位於吸附區。第一密封部與二第二密封部共同將吸附區區分成二第一吸附範圍和一第二吸附範圍。抽氣管路設置於承載台，且抽氣管路具有一負壓源連接口、二第一吸氣口以及一第二吸氣口。二第一吸氣口分別連接於二第一吸附範圍。第二吸氣口連接於第二吸附範圍，且負壓源連接口連接於二第一吸氣口與第二吸氣口。
简体摘要：一种吸附式测试设备，包含一承载台、至少一密封件以及一抽气管路。承载台具有一承载面。密封件设置于承载面，且密封件包含一体成型的一第一密封部以及二第二密封部。第一密封部于承载面围绕出一吸附区，并且二第二密封部位于吸附区。第一密封部与二第二密封部共同将吸附区区分成二第一吸附范围和一第二吸附范围。抽气管路设置于承载台，且抽气管路具有一负压源连接口、二第一吸气口以及一第二吸气口。二第一吸气口分别连接于二第一吸附范围。第二吸气口连接于第二吸附范围，且负压源连接口连接于二第一吸气口与第二吸气口。

6. 发明专利

TWI613449B 吸附式測試裝置有权
简体标题：吸附式测试设备
公开(公告)号：TWI613449B
公开(公告)日：2018-02-01
申请号：TW105144182
申请日：2016-12-30
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：王啟書 , WANG, CHI-SHU , 鄭柏凱 , CHENG, PO-KAI
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/26

7. 实用新型

TWM390031U 一種用於介面卡扣具之防插拔結構失效
简体标题：一种用于适配器扣具之防插拔结构
公开(公告)号：TWM390031U
公开(公告)日：2010-10-01
申请号：TW099209492
申请日：2010-05-20
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：王啟書
IPC分类号： H05K
摘要：一種用於介面卡扣具之防插拔結構，係與介面卡扣具之壓柄結構相互連接，其中該防插拔結構係包含了一上端把手結構、下端把手結構及後端連接結構三個部份，其中該上端把手結構係具有一內凹空間，係用於貼合於壓柄結構之表面上，另外該壓柄結構底部係與下端把手結構及後端連接結構貼合，而該壓柄結構係包含有兩個壓柄，係分別樞接在介面卡的兩端，該兩個壓柄間所形成之空間，係插設一後端連接結構，而該下端連接結構則組裝於壓柄結構與後端連接結構之間，並藉由三個鎖固元件，將上端把手結構、下端把手結構及後端連接結構相互固定。
简体摘要：一种用于适配器扣具之防插拔结构，系与适配器扣具之压柄结构相互连接，其中该防插拔结构系包含了一上端把手结构、下端把手结构及后端连接结构三个部份，其中该上端把手结构系具有一内凹空间，系用于贴合于压柄结构之表面上，另外该压柄结构底部系与下端把手结构及后端连接结构贴合，而该压柄结构系包含有两个压柄，系分别枢接在适配器的两端，该两个压柄间所形成之空间，系插设一后端连接结构，而该下端连接结构则组装于压柄结构与后端连接结构之间，并借由三个锁固组件，将上端把手结构、下端把手结构及后端连接结构相互固定。

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