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1. 发明专利

TW201627978A 主動元件陣列基板及其檢測方法审中-公开
简体标题：主动组件数组基板及其检测方法
公开(公告)号：TW201627978A
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW104102318
申请日：2015-01-23
申请人：友達光電股份有限公司 , AU OPTRONICS CORPORATION
发明人：潘盈豪 , PAN, YING HAO
IPC分类号： G09G3/36
CPC分类号： G09G3/3648 , G02F1/1309 , G09G3/006 , G09G2300/0426 , G09G2300/043 , G09G2330/10 , G09G2330/12
摘要：一種主動元件陣列基板及其檢測方法，其中主動元件陣列基板包括多個畫素結構、驅動電路、多條訊號線以及控制線。多個畫素結構配置於顯示區內，驅動電路配置於顯示區之外，多條訊號線電性連接驅動電路與相應的該些畫素結構，控制線與該些訊號線相互交錯。本申請所提供的檢測方法適於偵測主動元件陣列基板上的缺陷，首先，從該些訊號線中選定待測訊號線，再導通控制線與待測訊號線，接著，由控制線輸入測試訊號至待測訊號線，以判定缺陷的位置，最後再絕緣控制線與待測訊號線。
简体摘要：一种主动组件数组基板及其检测方法，其中主动组件数组基板包括多个像素结构、驱动电路、多条信号线以及控制线。多个像素结构配置于显示区内，驱动电路配置于显示区之外，多条信号线电性连接驱动电路与相应的该些像素结构，控制线与该些信号线相互交错。本申请所提供的检测方法适于侦测主动组件数组基板上的缺陷，首先，从该些信号线中选定待测信号线，再导通控制线与待测信号线，接着，由控制线输入测试信号至待测信号线，以判定缺陷的位置，最后再绝缘控制线与待测信号线。

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