专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

KR1020170031806A 전자빔을 이용한 인쇄회로기판의 검사장치 및 방법 审中-实审
标题翻译：使用电子束检查印刷电路板的设备和方法
公开(公告)号：KR1020170031806A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：KR1020150114643
申请日：2015-08-13
申请人： 한국기계연구원
发明人： 임선종
IPC分类号： G01R31/306 , G01R31/28 , G01R31/305 , G01R1/067 , G01R19/165
CPC分类号： G01R1/067 , G01R19/165 , G01R31/28 , G01R31/305 , G01R31/306
摘要： 본발명은인쇄회로기판에가공된홀을검사하기위한인쇄회로기판의검사장치에있어서, 상기인쇄회로기판의일측에설치되며상기인쇄회로기판의검사대상홀에전자빔을주사하기위한전자빔주사유닛과, 상기인쇄회로기판의타측에설치되는전류검출플레이트와, 상기전류검출플레이트에연결되며상기검사대상홀을통과한전자빔이상기전류검출플레이트에도달하여발생한전류로부터상기검사대상홀의가공상태를검출하는검출유닛을포함하는인쇄회로기판의검사장치및 이를이용한인쇄회로기판의검사방법을개시한다.
摘要翻译：本发明涉及到印刷电路板的检查，以检查在安装到印刷电路板的一侧的电子束扫描部的印刷电路板单元中的孔，用于扫描在所述印刷电路板的检查对象的孔的电子束和和电流检测板被安装在所述印刷电路板的另一侧，连接到所述电流检测板检测到用于其中产生从当前待查孔检测的加工状态达到光束移位器电流检测板已经穿过检查对象孔通过公开了一种用于包括单元的印刷电路板的检查装置以及使用该检查装置检查印刷电路板的方法。

2. 发明授权

KR101109401B1 기판의 코이닝-전기검사 장치 失效
标题翻译：用于电子检测基板的装置
公开(公告)号：KR101109401B1
公开(公告)日：2012-01-30
申请号：KR1020100097028
申请日：2010-10-05
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 허광민
IPC分类号： G01R31/306
摘要： PURPOSE: An apparatus for testing the coining-power of a substrate is provided to reduce a manufacturing cost as well as improve the productivity of a substrate. CONSTITUTION: An apparatus(100a) for testing the coining-power of a substrate comprises a first head(110), a first driving part(120), and a first test jig(130). The first head coins the bump formed in the substrate and forms a first through hole. The first driving part moves the first head to place the first penetration hole when the bump is coined. The first test jig performs the power test of the substrate while being inserted into the first penetration hole when the first penetration hole is placed on the bump.
摘要翻译：目的：提供一种用于测试基板的压印功率的装置，以降低制造成本并提高基板的生产率。构成：用于测试衬底的压印功率的装置（100a）包括第一头部（110），第一驱动部件（120）和第一测试夹具（130）。第一头硬币形成在基底中形成的凸块并形成第一通孔。第一驱动部件当凸起被制造时移动第一头部以放置第一穿透孔。第一测试夹具在将第一穿透孔放置在凸块上时进行插入第一穿透孔中的基板的功率测试。

3. 发明授权

KR101157878B1 검사용 치구의 유지보수방법 및 기판검사장치 有权
标题翻译：检验仪器的维护方法，其设备
公开(公告)号：KR101157878B1
公开(公告)日：2012-06-22
申请号：KR1020100097257
申请日：2010-10-06
申请人： 니혼덴산리드가부시키가이샤
发明人： 가리야도모카
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/306
摘要： PURPOSE: A method for maintenance of inspection fixture and an apparatus for inspection of a base board are provided to accurately detect maintaining/repairing timing for the inspection fixture. CONSTITUTION: A first calculation unit(51) outputs a first resistance value between inspection points from a current value of a power unit and a voltage value of a detection unit. The determining unit(61) determines goodness or badness by comparing the first resistance value with a reference resistance value. If determination result is badness, a moving unit(62) recontacts a pair of contactor contacted with the inspection points. A second calculation unit(52) produces a second resistance value between inspection points from the current value of the power unit and the voltage value of the detection unit.

4. 发明授权

KR101148669B1 The apparatus for testing the substrate 有权
标题翻译：用于测试基板的装置
公开(公告)号：KR101148669B1
公开(公告)日：2012-05-25
申请号：KR20100101383
申请日：2010-10-18
IPC分类号： G01R31/306
摘要： 본 발명은 기판의 전기적 패턴 상태를 검사하기 위한 검사 장치에 관한 것으로서, 상세하게는 인쇄회로기판을 지지하는 클램프; 상기 인쇄회로기판에 실장된 칩의 각 지점에 부착되어 전류를 인가하는 복수개의 핀; 상기 클램프 및 복수개의 핀들과 전기적으로 연결되어 전류를 공급하는 전류 공급부; 및 상기 클램프에 부착되어, 지지된 인쇄회로기판의 하면과 접촉하는 금속 태그를 포함하는 것으로서, 특히 상기 클램프에 부착된 금속 태그를 포함함으로써 기판의 하부면에 전류를 인가하여 칩 바로 아래에 있는 기판면의 이물에 의한 쇼트 불량을 검출할 수 있는 장치에 관한 것이다.

5. 发明公开

KR1020110109783A 검사 장치 및 검사 방법 有权
标题翻译：检查装置和检查方法
公开(公告)号：KR1020110109783A
公开(公告)日：2011-10-06
申请号：KR1020100100383
申请日：2010-10-14
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 시오자키가즈히코 , 곤도도시유키
IPC分类号： G01R31/306 , G01R1/06 , G01R1/04
摘要： (과제)
프로빙의 정밀도를 향상한다.
(해결수단)
프로빙 기구와, 제어부와, 이론상의 프로빙 위치와 실제의 프로빙 위치의 사이의 이간 거리에 의거해 프로빙 처리에 있어서 지정하는 프로브(21)의 이동량을 보정하기 위한 보정치를 산출하는 연산부를 구비하고, 제어부는, 접리 방향을 따른 이동량이 서로 다른 제1의 이동량 및 제2의 이동량을 지정해 프로빙 기구에 대해 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리를 실행시키고, 연산부는, 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리에 있어서의 평면 방향을 따른 이간 거리의 차분치(Gxt)와, 양 프로빙 처리의 각각에 있어서의 표면에 대해 수직인 방향을 따른 프로브(21)의 이동량의 차분치(차분치 Tg1)에 의거해 테스트 기판(100)의 표면에 대한 접리 방향의 경사 각도(θx)를 특정함과 더불어, 경사 각도에 의거해 보정치를 보완한다.

6. 发明授权

KR101016627B1 고밀도 플렉시블 피씨비의 전기신호 검사장치 有权
标题翻译：精密PCB柔性测试装置
公开(公告)号：KR101016627B1
公开(公告)日：2011-02-23
申请号：KR1020100090273
申请日：2010-09-15
申请人： (주)에이피엘 , 박인호
发明人： 박인호
IPC分类号： G01R31/306 , G01R1/02
摘要： PURPOSE: An electric signal inspection apparatus of a high density flexible PCB is provided to reduce the cost and shorten the inspection time. CONSTITUTION: An accepting main body(106) comprises an accepting space(104). An opening is formed on the bottom of the inside of the accepting main body. A protruded tube(108) penetrates through the accommodation space of the accepting main body, and is inserted with an interface tip(22) electrically connected to the digital multi-tester.
摘要翻译：目的：提供高密度柔性PCB的电信号检测装置，以降低成本，缩短检查时间。构成：接纳主体（106）包括容纳空间（104）。开口形成在接收主体的内侧的底部。突出管108穿过接收主体的容纳空间，并插入有与数字多功能测试器电连接的接口端（22）。

7. 发明授权

KR101734358B1 복층 구조의 인쇄회로기판의 불량 감지 장치 有权
标题翻译：多层印刷电路板故障检测装置
公开(公告)号：KR101734358B1
公开(公告)日：2017-05-11
申请号：KR1020100130042
申请日：2010-12-17
申请人： 콘티넨탈 오토모티브 시스템 주식회사
发明人： 이동주
IPC分类号： G01R31/306 , G01R31/28
摘要： 복층구조의인쇄회로기판의불량감지장치가개시되어있다, 이러한본 발명은, 열팽창율에따라변경된비어홀 사이에흐르는전류의변화를모니터링하고모니터링된비어홀의전류변화가감지되는경우비어홀오픈불량발생을메모리의소정영역저장함과동시에제조자에게비어홀 오픈불량및 해당반도체소자의교체를통지함에따라, 비어홀 오픈에따른인쇄회로기판의불량을신속하게감지하여인쇄회로기판의불량에따란제품의파손을방지할수 있고제품에대한신뢰성을근본적으로향상할수 있게된다.
摘要翻译：公开了一种多层结构的印刷电路板的缺陷检测装置中，当改变监测电流之间流动通路孔的变化，并通过孔监控此本发明中，发生了通路孔开口缺陷，电流变化检测按照热膨胀系数以在同一时间的制造商，一个预定区域中存储的存储器通知通孔开口缺陷和替换的半导体元件的，迅速地检测出印刷电路板的故障的通孔开口，以防止对产品的损坏，根据印刷电路板的故障根据产品的可靠性可以从根本上提高。

8. 发明授权

KR101575714B1 인쇄회로기판 진단 장치 및 방법 有权
标题翻译：用于诊断印刷电路板的装置和方法
公开(公告)号：KR101575714B1
公开(公告)日：2015-12-11
申请号：KR1020140061073
申请日：2014-05-21
申请人： 한전케이피에스 주식회사
发明人： 류기현 , 이윤상 , 김원경
IPC分类号： G01R31/306 , G01R31/3167 , H05K13/08
摘要： 본발명은인쇄회로기판진단장치및 방법에관한것으로, 인쇄회로기판에실장되는소자의규격, 인쇄회로기판에상기소자가실장되는위치, 및인쇄회로기판에의한상기소자들의연결정보를입력받는진단정보입력부, 상기입력받은정보에근거하여상기인쇄회로기판을나타내는객체, 상기소자를나타내는객체및 상기인쇄회로기판에구성되는회로의진단계획중 적어도하나를생성하는객체생성부, 소자및 상기인쇄회로기판에구성되는회로중 적어도하나의동작을진단하는어플리케이션을상기객체및 진단계획중 적어도하나에근거하여생성하는어플리케이션생성부를포함하며, 임의의인쇄회로기판에대하여실장된소자및 인쇄회로기판에구성된회로의성능열화여부및 정상동작여부를진단하기위한어플리케이션을자동으로생성하고생성된어플리케이션을이용하여임의의인쇄회로기판을자동으로진단함으로써, 다양한인쇄회로기판에대한진단을단시간에간편하게처리할수 있다.

9. 发明授权

KR101138773B1 Apparatus for Inspecting Printed Circuit Board 有权
标题翻译：检查印刷电路板的装置
公开(公告)号：KR101138773B1
公开(公告)日：2012-04-24
申请号：KR20100073421
申请日：2010-07-29
IPC分类号： G01R31/306
摘要： PURPOSE: A printed circuit board test device is provided to improve the accuracy of a test even when the printed circuit board is inspected using a two-terminal mode. CONSTITUTION: A test pin(200) is contacted to a pattern which is formed in a printed circuit board(100). A frame(300) comprises a pin support(310) and a substrate support(320). The pin support supports the test pin. The substrate support supports the printed circuit board. A tester is connected to each inspection pin through a superconductive signal line. A cooling unit cools down a signal line.

10. 发明公开

KR20120011547A Apparatus for Inspecting Printed Circuit Board 有权
标题翻译：检查印刷电路板的装置
公开(公告)号：KR20120011547A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：KR20100073421
申请日：2010-07-29
申请人： IUCF HYU
发明人： OH SE JIN , CHUNG CHIN WOOK
IPC分类号： G01R31/306
摘要： PURPOSE: A printed circuit board test device is provided to improve the accuracy of a test even when the printed circuit board is inspected using a two-terminal mode. CONSTITUTION: A test pin(200) is contacted to a pattern which is formed in a printed circuit board(100). A frame(300) comprises a pin support(310) and a substrate support(320). The pin support supports the test pin. The substrate support supports the printed circuit board. A tester is connected to each inspection pin through a superconductive signal line. A cooling unit cools down a signal line.
摘要翻译：目的：提供一种印刷电路板测试装置，用于提高测试精度，即使使用双端模式检查印刷电路板。构成：测试针（200）与形成在印刷电路板（100）中的图案接触。框架（300）包括销支撑（310）和基板支撑件（320）。引脚支撑支持测试引脚。基板支撑件支撑印刷电路板。测试仪通过超导信号线连接到每个检测引脚。冷却单元冷却信号线。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式