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1. 发明授权

KR102104067B1 X선 산란계측 장치 有权
公开(公告)号：KR102104067B1
公开(公告)日：2020-06-01
申请号：KR1020150088283
申请日：2015-06-22
申请人： 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드
发明人： 마조르이삭 , 크로크말알렉스 , 디코폴트세프알렉스 , 워밍턴매튜
IPC分类号： G01N23/201 , G01T1/164

2. 发明授权

KR102089232B1 X선 반사율 측정 장치 有权
公开(公告)号：KR102089232B1
公开(公告)日：2020-03-13
申请号：KR1020197018315
申请日：2017-11-14
申请人： 가부시키가이샤 리가쿠
发明人： 무라카미사토시 , 오모테가즈히코 , 기쿠타신야 , 이케시타아키히로
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/201

3. 发明授权

KR101818350B1 고내식 아연-마그네슘-알루미늄 합금 용융도금강판 도금층 상함량 측정방법 有权
公开(公告)号：KR101818350B1
公开(公告)日：2018-01-15
申请号：KR1020160071149
申请日：2016-06-08
申请人： 포항공과대학교 산학협력단 , 주식회사 포스코
发明人： 김재남 , 진영술
IPC分类号： G01N23/201 , C23C2/06 , C23C2/14
摘要： 본발명은고내식아연-마그네슘-알루미늄합금용융도금강판도금층상함량측정방법에관한것으로, 도금에사용된아연--마그네슘-알루미늄-(기타원소)의조성에따른열역학적평형상태또는비평형상태에서의표준상분율을계산하는표준상분율계산단계(S1단계)와; X선회절기에의해도금강판도금층의회절피크를수집하는도금층의회절피크수집단계(S2단계)와; 수집된회절피크의 (002)Zn과 (00 4)Zn의강도에따라아연상, 마그네슘상, 알루미늄상의특정회절피크들의조합으로부터아연상, 마그네슘상, 알루미늄상의분율을계산하는분율계산단계(S3단계) 및; 상기측정된평형, 비평형조성별표준상분율과계산된아연상, 마그네슘상, 알루미늄상의분율을비교검증하여도금층의상함량을측정하는도금층상함량측정단계(S4단계)로이루어져고내식아연-알루미늄-마그네슘-(기타원소) 용융도금강판도금층상함량을측정하는데종래의전자선미소부탐침기(EPMA) 또는전자선후방산란회절(EBSD)에의한측정법의 2차원마이크로미터영역분석의한계를극복하여 3차원밀리미터영역분석데이터를제공할 수있으며, 더욱중요한효과로서는열역학적계산에의한표준상분율검증단계를포함하므로보다신뢰성있는정량분석결과를제공할수 있는각별한장점이있는유용한발명이다.

4. 发明授权

KR101231731B1 다기능 Ｘ-선 분석 시스템 有权
标题翻译：多功能X射线分析系统
公开(公告)号：KR101231731B1
公开(公告)日：2013-02-08
申请号：KR1020050087778
申请日：2005-09-21
申请人： 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드
发明人： 요킨보리스 , 크로크말알렉산더 , 라파엘리짜치 , 마조르이삭 , 그비르츠만아모스
IPC分类号： G01N23/201 , G01N23/20
摘要： 샘플을 분석하기 위한 장치는 샘플의 표면을 향하여 X-선의 제1 컨버징 빔을 지향시키고, 샘플의 표면을 향하여 X-선의 제2 콜리메이트 빔을 지향시키도록 적용된 방사선 소스를 포함한다. 모션 어셈블리는 X-선이 스침각으로 샘플의 표면을 향하여 지향되는 제1 소스 위치와, X-선이 샘플의 브래그 각도의 근방에서 표면을 향하여 지향된 제2 소스 위치 사이로 방사선 소스를 이동시킨다. 검출기 어셈블리는 방사선 소스가 제1 및 제2 소스 구성중 어느 하나로 되어 있고 제1 및 제2 소스 위치중 어느 하나에 있는 동안 각도의 함수로서 샘플로부터 산란된 X-선을 감지한다. 신호 프로세서는 샘플의 특성을 결정하기 위해 검출기 어셈블리로부터 출력 신호를 수신하고 처리한다.
X-선, 방사선 소스, 모션 어셈블리, 검출기 어셈블리, 신호 프로세서, 컨버징 빔, 콜리메이트 빔, 스침각, 브래그 각

5. 发明公开

KR1020090023179A 중성자 초퍼 失效
标题翻译： NEUTRON CHOPPER
公开(公告)号：KR1020090023179A
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：KR1020080083631
申请日：2008-08-27
申请人： 가부시키가이샤 고베 세이코쇼
发明人： 요시다가쯔히꼬
IPC分类号： G01N23/00 , G01N23/201 , G01N23/203
CPC分类号： G21K1/04 , G21K1/043
摘要： A neutron chopper is provided to reduce its size by compactly organizing the housing and the drive machinery as a motor is located between a fixed axis and a rotor and the drive machinery is concentrated on around the rotary center of the rotor. A neutron chopper(1) comprises housing(10) including a sealed internal space and a window in which neutron passes; a fixed axis(20) fixed to the inner structure of housing; rotors(30,42) pivotally supported by the fixed axis; a hammer(33) located in the rotor to block the neutron which passes through the housing; a motor(40) located between the fixed axis and rotor in the inner structure of housing to rotate the rotor; and a stator(41) of the motor fixed to the fixed axis.
摘要翻译：提供中子切碎器以通过紧凑地组织壳体和驱动机械来减小其尺寸，因为电动机位于固定轴线和转子之间，并且驱动机械集中在转子的旋转中心周围。中子切碎器（1）包括壳体（10），其包括密封的内部空间和中子通过的窗口; 固定在壳体的内部结构上的固定轴20; 由固定轴枢转地支撑的转子（30,42）位于所述转子中以阻挡通过所述壳体的中子的锤（33）; 电机（40），其位于壳体的内部结构中的固定轴与转子之间，以使转子旋转; 和固定在固定轴上的马达的定子（41）。

6. 发明授权

KR102442408B1 극소각 중성자 산란 장치용 액체 시료 분산 유지 기구 有权
公开(公告)号：KR102442408B1
公开(公告)日：2022-09-14
申请号：KR1020200162038
申请日：2020-11-27
IPC分类号： G01N23/201 , G01N23/20008
摘要： 본발명은액체시료를위한극소각중성자산란측정에이용되는극소각중성자산란장치용액체시료분산유지기구에관한것으로, 원통형상을구비하며, 깊이방향으로일측에액체시료를수용한시료셀이삽입고정되는수용홈이형성되고타측에상기수용홈에연결되는관통홀이형성되고, 상기수용홈과상기관통홀을지나는중성자산란빔 경로를허용하는시료셀 회전기; 모터와, 상기시료셀 회전기가놓여지는호형의홈으로이루어진호형홈부가형성된회전기장착대로서, 상기호형홈부하측으로상기회전기장착대의내부에, 상기모터의동력을전달받아회전하며상기시료셀 회전기의외주면에접촉하여상기시료셀 회전기를구동하는롤러를구비한롤러유닛을구비한회전기장착대를포함하는회전구동기구를포함한다.

7. 发明授权

KR102232507B1 복합 검사 시스템 有权
公开(公告)号：KR102232507B1
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：KR1020197003288
申请日：2017-07-14
申请人： 가부시키가이샤 리가쿠
发明人： 오가타기요시 , 오모테가즈히코 , 이토요시야스
IPC分类号： G01N23/201 , G01N23/203
摘要： 본발명의복합검사시스템은, 시료(11)에 X선을조사해서얻어진 X선측정데이터에기초하여시료(11)를검사하는제1 검사장치(1)와, X선을이용하지않는측정수법에의해시료(11)를검사하는제2 검사장치(2)를포함하는검사시스템이다. 제1 검사장치(1)에서얻어진 X선측정데이터또는당해 X선측정데이터의해석결과를제2 검사장치(2)에출력한다. 그리고, 제2 검사장치(2)에서는, 제1 검사장치(1)로부터입력한 X선측정데이터또는당해 X선측정데이터의해석결과를이용해서, 시료(11)의구조를해석한다.

8. 发明公开

KR1020170139669A 계산 효율적인 X 선 기반의 오버레이 측정 审中-实审
标题翻译：高效计算效率的基于X射线的叠加测量
公开(公告)号：KR1020170139669A
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：KR1020177034222
申请日：2016-04-28
申请人： 케이엘에이-텐코 코포레이션
发明人： 헨치존 , 쉬체그로브안드레이 , 베이크만마이클
IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/20 , G01N23/201
CPC分类号： G01N23/207 , G01N2223/611 , G01N23/20008 , G01N23/201
摘要： x 선회절측정데이터에기초하여디바이스구조체의오버레이및 에지배치오차를수행하기위한방법및 시스템이제시된다. 계측타겟의상이한층 사이의오버레이오차는다수의상이한입사각및 방위각에서측정되는각각의 x 선회절차수내의강도변동에기초하여추정된다. 오버레이의추정은, 저주파형상변조가기저함수의세트에의해설명되고고주파오버레이변조가, 오버레이를나타내는파라미터를포함하는아핀원형함수에의해설명되도록, 공통차수의상기강도변조의파라미터화를수반한다. 오버레이에추가하여, 계측타겟의형상파라미터가, 측정된회절차수의강도에대한측정모델의피팅분석에기초하여추정된다. 몇몇예에서, 오버레이의추정및 하나이상의형상파라미터값의추정은동시에수행된다.
摘要翻译：提出了用于基于x射线衍射测量数据执行装置结构的重叠和边缘放置误差的方法和系统。计量目标的层之间的重叠误差基于在多个不同的入射角和方位角处测量的每个x-转弯过程编号内的强度变化来估计。估计覆盖，并通过低频状调制顶端低水设定为高频率叠加调制所描述的，它涉及到强度调制屏幕的参数，对由仿射轮函数包括指示所述覆盖层的参数来描述的公共订单。除了覆盖图之外，度量目标的形状参数是基于测量模型对测量衍射级的强度的拟合分析来估计的。在一些情况下，估计值的估计和覆盖层的一个或多个形状参数在相同的时间内进行。

9. 发明公开

KR1020140084346A 고무 재료의 시뮬레이션 방법 审中-实审
标题翻译：用于模拟橡胶材料的方法
公开(公告)号：KR1020140084346A
公开(公告)日：2014-07-04
申请号：KR1020147015956
申请日：2012-10-29
申请人： 스미토모 고무 고교 가부시키가이샤
发明人： 기시모토히로유키 , 나이토마사토
IPC分类号： G01N23/201 , G01N23/202 , C08K3/00 , C08L21/00 , G01N3/00 , G01N33/44
CPC分类号： G06F17/5009 , C08L21/00 , G01N23/201 , G01N33/445 , G06F17/5018
摘要： 본 발명은 실제의 고무 재료로부터 정밀하게 시뮬레이션용의 고무 재료 모델을 설정하여 정밀한 계산 결과를 얻는 데 도움이 되는 방법을 제공한다. 충전제를 함유하는 고무 재료의 시뮬레이션 방법으로서, 상기 고무 재료의 X선 및/또는 중성자의 산란 데이터를 측정하는 측정 공정(S1)과, 상기 산란 데이터로부터 리버스 몬테카를로법에 따라 고무 중의 충전재의 3차원 구조를 특정하는 가시화 공정(S2)과, 상기 충전재의 3차원 구조에 기초하여 고무 재료 모델을 설정하는 모델 설정 공정(S3 내지 S6)과, 상기 고무 재료 모델에 기초하여 변형 시뮬레이션을 수행하는 공정을 포함하고, 상기 측정 공정에 있어서, 산란 벡터(q)가 10
-4 ㎚
-1 보다 크고 10 ㎚
-1 보다 작은 범위의 산란 데이터를 얻는 것을 특징으로 한다.

10. 发明公开

KR1020140083984A 고분자 재료의 반발 탄성율, 경도 및 에너지 손실을 평가하는 방법 审中-实审
标题翻译：评估聚合物材料弹性，硬度和能量损失模量的方法
公开(公告)号：KR1020140083984A
公开(公告)日：2014-07-04
申请号：KR1020147006641
申请日：2012-09-11
申请人： 스미토모 고무 고교 가부시키가이샤
发明人： 마시타료 , 기시모토히로유키
IPC分类号： G01N23/201 , G01N23/202 , G01N3/40
CPC分类号： G01N23/201 , G01N23/202 , G01N2223/1016 , G01N2223/106 , G01N2223/623 , G01N2223/627
摘要： 측정 정밀도가 우수하고, 또한 각 시료의 성능차도 충분히 평가 가능한 고분자 재료의 반발 탄성율, 경도 또는 에너지 손실을 평가하는 방법을 제공한다.
본 발명은, X선 또는 중성자선을 고분자 재료에 조사하여, X선 산란 측정 또는 중성자선 산란 측정을 실시함으로써, 고분자 재료의 반발 탄성율, 경도 또는 에너지 손실을 평가하는 방법에 관한 것이다.

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