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    • 3. 发明授权
    • 메모리
    • 记忆
    • KR101202098B1
    • 2012-11-16
    • KR1020050113439
    • 2005-11-25
    • 소니 주식회사
    • 베쇼가즈히로
    • G11C11/15G11C11/02G11C11/16
    • G11C11/16H01L27/228
    • 기입 전류의 비대칭성의 영향을 억제함으로써, 선택 트랜지스터를 포함하는 각 메모리 셀의 사이즈를 필요 최소한으로 억제하고, 고밀도로 메모리 셀을 집적하는 것이 가능한 메모리를 제공한다. 정보를 자성체의 자화 상태에 의해 유지하는 기억층(2)에 대하여, 중간층(3)을 개재하여 자화 고정층(4)이 형성되고, 적층 방향으로 전류를 흘림으로써, 기억층(2)의 자화의 방향이 변화하여, 기억층(2)에 대하여 정보의 기록이 행해지는 기억 소자(10)와, 선택 트랜지스터를 구비하여 각 메모리 셀이 구성되며, 기억 소자(10)에 정보를 기록하기 위해, 보다 많은 전류를 필요로 하는 전류 극성과, 선택 트랜지스터에, 보다 많은 포화 전류를 흘릴 수 있는 전류 극성이 동일 극성인 메모리를 구성한다.
      기초층, 기억 소자, 게이트 전극, 트랜지스터
    • 10. 发明授权
    • 자기 기억 장치
    • 磁记忆
    • KR100349988B1
    • 2002-08-22
    • KR1019990051492
    • 1999-11-19
    • 인피니언 테크놀로지스 아게
    • 베르크,후고,반덴
    • G11C11/02
    • G11C11/15G11C11/16
    • 본발명은, 다수의메모리셀(1)로이루어진메모리셀 필드(11), 워드라인(3)에결합된어드레싱회로및 센스라인(4)에결합된평가회로를포함하며, 상기메모리셀(1)은워드라인(3)과센스라인(4)의교차점에서매트릭스형태로배치되고, 상기셀의논리적인데이터내용은자기적상태에의해서규정되며, 상기어드레싱회로에의해서는, 데이터내용이판독출력되어야하는하나이상의선택된메모리셀(1)의워드라인(3)에판독전압(V)이공급되며, 상기평가회로에의해서는, 선택된메모리셀(들)의데이터내용에상응하는신호가검출및 평가되며, 이경우상기평가회로는비교회로(16)를포함하고, 상기비교회로에의해서는기준소자로부터제공되는기준신호(Vr)가판독출력될메모리셀(들)의센스신호(Vs)와비교되도록구성된, 선택적(optional) 액세스타입자기기억장치(MRAM)에관한것이다.