专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

KR1020220027581A 비접촉식 형광 온도 측정장치 有权
公开(公告)号：KR1020220027581A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：KR1020200108645
申请日：2020-08-27
IPC分类号： G01K11/20 , G01K11/32
摘要： 본발명은, 길이방향으로이어지는원형의중공을구비하는관체; 상기관체일단에배치되어상기관체타단을향해광을조사하는광원; 상기관체타단에배치되어상기광원으로부터의상기광 전달에따라형광체를통해형광을발생하는온도센서; 상기관체일단과타단사이에배치되어상기광원으로부터의상기광을투과하고상기온도센서로부터발생한형광을일 방향으로반사하는반사부재; 및상기반사부재로부터반사되는상기형광을검출하여상기형광강도에따른형광신호를출력하는광검출기;를포함하고, 상기온도센서는상기형광체로서업컨버전(upconversion) 또는다운시프팅(downshifting) 발광특성을갖는α-사이알론세라믹스를포함하는것을특징으로하는비접촉식형광온도측정장치에관한것이다.

2. 发明授权

KR101224585B1 철도차량 대차 용접부 결함검사 장치 有权
标题翻译：铁路转向架焊接缺陷检测装置
公开(公告)号：KR101224585B1
公开(公告)日：2013-01-22
申请号：KR1020100135775
申请日：2010-12-27
申请人： 한국철도기술연구원
发明人： 김정국
IPC分类号： G01N21/88 , G01K11/20 , G01J5/00
摘要： 본 발명은 철도차량 대차 용접부 결함검사 장치에 관한 것으로; 철도차량 대차 용접부에 공급하기 위한 열원과, 상기 열원으로부터 상기 철도차량 대차 용접부에 공급된 열 흐름에 따른 결함을 열 화상 이미지로 촬영하는 적외선 카메라로 구성되는 것을 특징으로 하는 철도차량 대차 용접부 결함검사 장치를 제공한다.
본 발명에 따르면, 철도차량 대차 용접부에 존재하는 결함 검사를 위상잠금 적외선 열 화상 기술을 이용하여 검출할 수 있고, 그 결과를 2차원 적외선 열 화상으로 표시하여 결함 유무를 용이하고도 정확하게 파악할 수 있으며, 별도의 전처리작업의 수행 없이도 비접촉식으로 신속하게 철도차량 대차 용접부의 결함을 검사할 수 있을 뿐만 아니라 현장에서 도시된 대차의 열 화상을 통하여 실시간으로 결함을 분석할 수 있는 장점도 있다.

3. 发明授权

KR101144778B1 진공 흑체 챔버 失效
标题翻译：真空黑体腔
公开(公告)号：KR101144778B1
公开(公告)日：2012-05-11
申请号：KR1020090109829
申请日：2009-11-13
申请人： 한국기초과학지원연구원
发明人： 이상용 , 김건희 , 양순철 , 장기수 , 김효식 , 김명상
IPC分类号： G01J5/12 , G01K11/20
摘要： 본 발명은 진공 흑체 챔버에 관한 것이다. 본 발명은 에너지 스펙트럼이 발산되는 투과구가 형성된 케이스; 상기 케이스에 수용되는 흑체; 상기 흑체에 인접하게 위치하고, 상기 흑체를 가열 또는 냉각하는 열전소자; 상기 케이스에 수용되어 상기 열전소자와 상기 흑체를 둘러싸는 제1공간을 구비하고, 상기 제1공간이 온도를 유지하도록 보온하는 히트 쉴트; 상기 히트 쉴드를 수용하는 제2공간을 구비하고, 상기 제2공간의 온도를 유지하도록 보온 또는 보냉하는 콜드 쉴드; 상기 투과구에 장착되고, 상기 흑체에서 적외선 파장만을 통과시키는 렌즈; 및 상기 제1공간과 연통되어 상기 제1공간을 진공상태로 유지하고, 상기 케이스에 장착되는 진공포트;를 포함하는 진공 흑체 챔버를 제공한다.
따라서, 본 발명에 의하면 외부에 의한 온도의 영향을 줄일 수 있어 흑체의 온도를 정밀하게 관리할 수 있다.
흑체, 열전소자, 열영상

4. 发明授权

KR101025950B1 폴리머 광도파로 기반 광 온도 센서 有权
标题翻译：基于聚合物光波导的光学温度传感器
公开(公告)号：KR101025950B1
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：KR1020090042213
申请日：2009-05-14
申请人： 부산대학교 산학협력단
发明人： 오민철 , 김경조 , 서준규
IPC分类号： G01K11/32 , G01K11/20 , G02B6/02 , G01J5/00
摘要： 본 발명은 유리 기판; 상기 유리 기판상의 일면에 형성되고, 상기 유리 기판보다 열광학 계수 및 굴절률이 크고 광원으로부터 전달된 빛을 전달하는 폴리머 광도파로 코어; 상기 폴리머 광도파로 코어의 상부에 형성되고, 상기 폴리머 광도파로 코어보다 굴절률이 작고 상기 폴리머 광도파로를 통하여 전달되는 빛의 유실을 방지하는 폴리머 클래딩; 및 상기 유리 기판, 폴리머 광도파로 코어 및 폴리머 클래딩과 직교하는 형태로 일 측면에 부착되고, 상기 폴리머 광도파로 코어를 따라 전달된 빛을 반사하는 반사거울을 포함하는 폴리머 광도파로 기반 광 온도 센서로서, 온도가 변화됨에 따라 상기 폴리머 광도파로 코어와 유리 기판 사이의 굴절률 차이(Δn)가 증감되고 이에 따라 변화되는 빛의 손실량을 측정하는 폴리머 광도파로 기반 광 온도 센서를 제공한다.
본 발명에 의하면, 전기적인 신호로 온도를 측정하는 온도센서가 적용될 수 없는 전력 설비에 저비용으로 적용이 가능하여 정밀한 온도를 측정함으로써 조기에 경보하여 전력 설비의 안전사고를 예방할 수 있다.
광학 온도센서, 폴리머 광도파로, 열광학 효과

5. 发明公开

KR1020090053686A 온도 센서 프로브 有权
标题翻译：温度传感器探头
公开(公告)号：KR1020090053686A
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：KR1020080107082
申请日：2008-10-30
申请人： 아즈빌주식회사
发明人： 기누가사세이이치로 , 가토아츠시
IPC分类号： G01K11/20 , G01K11/00
CPC分类号： G01K11/3213
摘要： To provide a temperature sensor probe that can take stable measurements, and a manufacturing method thereof. The temperature sensor probe related to the present invention is a temperature sensor probe for measuring temperature using a fluorescent substance that changes fluorescent characteristics depending on temperature. Then, a powdered fluorescent substance, a guide wave route member that propagates excitation light, which is irradiated on the fluorescent substance, and fluorescent light, which is produced by the fluorescent substance, are provided. Further, the particle size of the powdered fluorescent substance is confined to the range of 60 to 100 μm.

6. 发明公开

KR1020090035550A 웨이퍼 온도를 결정하는 방법 有权
标题翻译：测定温度的方法
公开(公告)号：KR1020090035550A
公开(公告)日：2009-04-09
申请号：KR1020097001737
申请日：2007-06-29
申请人： 맷슨 테크놀로지, 인크.
发明人： 티맨스,폴자니스
IPC分类号： G01K19/00 , G01K11/20
CPC分类号： G01K15/00 , G01J5/0007 , G01J5/0806 , G01J5/0831 , G01J5/0846 , G01K11/125
摘要： Methods and apparatus for wafer temperature measurement and calibration of temperature measurement devices may be based on determining the absorption of a layer in a semiconductor wafer. The absorption may be determined by directing light towards the wafer and measuring light reflected from the wafer from below the surface upon which the incident light impinges. Calibration wafers and measurement systems may be arranged and configured so that light reflected at predetermined angles to the wafer surface is measured and other light is not. Measurements may also be based on evaluating the degree of contrast in an image of a pattern in or on the wafer. Other measurements may utilize a determination of an optical path length within the wafer alongside a temperature determination based on reflected or transmitted light.
摘要翻译：用于晶片温度测量和温度测量装置的校准的方法和装置可以基于确定半导体晶片中的层的吸收。可以通过将光引向晶片并且从入射光入射的表面下方测量从晶片反射的光来确定吸收。校准晶片和测量系统可以被布置和配置，以便测量以预定角度反射到晶片表面的光，而不是其他光。测量也可以基于评估晶片中或晶片上的图案的图像中的对比度。其他测量可以利用基于反射或透射光的温度确定旁边的晶片内的光程长度的确定。

7. 发明授权

KR100088973B1 광학을 이용한 온도측정장치 失效
公开(公告)号：KR100088973B1
公开(公告)日：1995-09-11
申请号：KR1019920006307
申请日：1992-04-15
申请人： 한국과학기술연구원
发明人： 김명욱 , 조재철 , 김병윤 , 최상삼
IPC分类号： G01K11/20

8. 发明公开

KR1019920021976A 피복된 광 섬유 无效
公开(公告)号：KR1019920021976A
公开(公告)日：1992-12-19
申请号：KR1019920008586
申请日：1992-05-20
申请人： 죤슨매트히인코오퍼레이티드
发明人： 피터시프렛 , 로빈데이.알.모리스 , 이몬에프.마헤르
IPC分类号： G01K11/20
摘要： 내용 없음.

9. 发明公开

KR1019920006728A 적외선에 의한 온도측정방법 및 장치 失效
公开(公告)号：KR1019920006728A
公开(公告)日：1992-04-28
申请号：KR1019910016243
申请日：1991-09-18
申请人： 스미토모덴키고교가부시키가이샤
发明人： 미끼아쯔시 , 니시구찌마사노리
IPC分类号： G01K11/20 , G01K7/00

10. 发明公开

KR1020170043808A 국소 온도 측정용 나노 프로브 및 이의 용도 有权
标题翻译：用于本地温度测量的纳米探针及其用途
公开(公告)号：KR1020170043808A
公开(公告)日：2017-04-24
申请号：KR1020150143351
申请日：2015-10-14
申请人： 성균관대학교산학협력단
发明人： 엄숭호 , 신승원
IPC分类号： G01K11/20 , G01K11/12 , C09K11/00 , B82Y15/00 , B82Y20/00
摘要： 본발명은국소온도측정용나노프로브및 이를이용한국소온도측정방법에관한것이다. 본발명에서, 온도변화에따른나노프로브의유의적인형광량변화를확인하였으며, 이를통해나노프로브주변의국소적인온도변화를정밀하게측정할수 있음을확인하였는바, 국소적인부위의온도감지및 정량화뿐만아니라, 생체내 미세한온도변화로유도될수 있는생리활성작용등에대한추적및 인위적인조절에활용될수 있을것으로기대된다.
摘要翻译：本发明涉及用于测量局部温度的纳米探针和使用该纳米探针测量局部温度的方法。在本发明中，已发现根据温度变化的纳米探针的显著荧光量的变化，棒hayeotneun这证实了能够精确地测量的周围的纳米探针的变化的局部温度，局部区域的温度检测和定量但预计它可用于跟踪和人工控制可由体内微小的温度变化引起的生理活性。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式