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1. 发明公开

KR1020160089099A PLC 아날로그 입출력 모듈의 전원부 노이즈 감지장치 审中-实审
标题翻译：用于检测PLC模拟输入和输出模块电源噪声的装置
公开(公告)号：KR1020160089099A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：KR1020150008573
申请日：2015-01-19
申请人： 엘에스산전 주식회사
发明人： 김정욱
IPC分类号： G01R31/12 , G01R19/165
CPC分类号： G01R19/16585 , G01R19/0053 , G01R19/0084 , G01R19/16552 , G01R19/22 , G01R31/12 , G01R19/165
摘要： 본발명은 PLC 아날로그입출력모듈의전원부노이즈감지장치에관한것으로, 상기감지장치는, 전원부로부터출력되는구동전압으로부터노이즈판단대상전압을추출하는캐패시터; 상기캐패시터로부터출력되는상기노이즈판단대상전압을변환하여출력하는전압변환부; 상기전압변환부에의해변환된노이즈판단대상전압을기준전압과비교하는비교부; 및상기비교부에서비교한결과를바탕으로, 상기노이즈판단대상전압이노이즈인지를판단하는판단부로구성될수 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检测PLC模拟输入/输出模块的电源单元中的噪声的装置。该装置可以包括：从由电源单元输出的操作电压中提取作为噪声判定处理的目标的噪声判定对象的电压的电容器; 电压转换单元，将噪声判定对象的电压转换为输出电压，电压由电容器输出; 比较单元，将参考电压与由电压转换单元转换的噪声判定对象电压进行比较; 以及确定单元，基于比较单元的比较结果来确定噪声确定对象电压是否是噪声。根据本发明，可以减少PLC模拟输入/输出模块的操作错误率。

2. 发明公开

KR1020050112109A 온 다이 온도 및/또는 전압 변화를 검출하는 방법 및 집적 회로 칩 失效
标题翻译：一种用于检测电压变化的方法和装置
公开(公告)号：KR1020050112109A
公开(公告)日：2005-11-29
申请号：KR1020057017658
申请日：2004-02-06
申请人： 인텔 코포레이션
发明人： 쿠드나세르 , 바카툴라자베드
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R19/16519 , G01K7/32 , G01R19/16552 , G01R19/16566 , G01R31/275 , G06F1/08 , H03L7/06
摘要： On-die voltage and/or frequency detectors. For one aspect, an adaptive frequency clock generation circuit includes a droop detector to detect a supply voltage level and to cause the frequency of an on-die clock signal to be adjusted accordingly.
摘要翻译：片上电压和/或频率检测器。一方面，自适应频率时钟生成电路包括下降检测器，用于检测电源电压电平并且使得相应地调整芯片上时钟信号的频率。

3. 发明公开

KR1020170039073A 전력 공급 모니터를 사용하여 전력 공급 교정 审中-实审
标题翻译：使用电源监视器进行电源校准
公开(公告)号：KR1020170039073A
公开(公告)日：2017-04-10
申请号：KR1020167026236
申请日：2015-06-23
申请人： 어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드 , 에이티아이 테크놀로지스 유엘씨
发明人： 그레낫아론제이. , 허쉬버거로버트에이. , 삼바머피스리람 , 나프지거사무엘디. , 트레슬러크리스토퍼이. , 강소-치엔 , 섀논조셉피. , 베르누초크리쉬나사이 , 친촐리아쉰 , 오스틴마이클제이. , 리페스티븐에프. , 체마우마이르비.
IPC分类号： G06F1/28 , G06F1/26
CPC分类号： G01R19/0084 , G01R19/16552 , G01R31/40 , G01R35/005 , G06F1/26 , G06F1/32 , G06F11/3428 , G11C29/021 , G11C29/028 , G11C29/56012
摘要： 프로세싱시스템(100)은프로세싱시스템내의하나이상의위치에대응되는하나이상의제1 전압을측정하기위한하나이상의전력공급모니터(PSM)(200)을포함한다. 측정치는, 프로세싱시스템이하나이상의코드루프를실행함과동시에수행된다. 또한, 프로세싱시스템은, 기준전압과하나이상의제1 전압의비교에기초하여프로세싱시스템으로제공되는제2 전압을수정하기위한교정로직(135, 705)을포함한다. 기준전압은프로세싱시스템에의한하나이상의코드루프의이전의실행에기초하여결정된다.
摘要翻译：处理系统100包括用于测量对应于处理系统内的一个或多个位置的一个或多个第一电压的一个或多个电源监视器（PSM）200。测量是在处理系统执行一个或多个代码循环的同时执行的。处理系统还包括校准逻辑135,705，用于基于至少一个第一电压与参考电压的比较来修改提供给处理系统的第二电压。基准电压基于处理系统先前执行的一个或多个代码循环来确定。

4. 发明公开

KR1020170030254A 전원전압 센싱 장치 审中-实审
标题翻译：电源电压检测装置
公开(公告)号：KR1020170030254A
公开(公告)日：2017-03-17
申请号：KR1020150127570
申请日：2015-09-09
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사
发明人： 김연욱
IPC分类号： G01R19/00 , G01R19/165 , G01R27/08 , G01R31/26
CPC分类号： G01R17/00 , G01R19/16552 , G01R21/00 , G01R31/2856 , G11C5/143 , G11C29/021 , G11C29/028
摘要： 본발명은전원전압센싱장치에관한것으로, 테스트모드시외부전원전압의레벨을센싱할수 있도록하는기술이다. 이러한본 발명은코드신호에대응하여기준전압을트리밍하는기준전압트리밍부, 테스트신호에대응하여전원전압또는외부전원전압을선택하며, 외부전원전압과기준전압을비교하여검출신호를출력하는전원검출부및 검출신호에대응하여코드신호를출력하는기준전압제어부를포함한다.
摘要翻译：本发明涉及的是，当电源电压感测单元，以使得测试模式可感测的外部电源电压的电平的技术。本发明是一种用于通过比较所述参考电压装饰部件，外部电源电压和参考电压输出检测信号的功率检测器，并且响应于用于响应该代码信号微调参考电压测试信号选择的电源电压或外部电源电压，以及参考电压控制单元，用于输出对应于检测信号的代码信号。

5. 发明公开

KR1020090028193A 전압강하 측정회로, 이를 포함하는 반도체 장치, 시스템 및반도체 장치의 전압강하 측정방법 无效
标题翻译：用于测量电压降的电路，具有该电压降的半导体器件和系统以及测量电压降的方法
公开(公告)号：KR1020090028193A
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：KR1020070093609
申请日：2007-09-14
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이천오 , 김남현 , 최동철
IPC分类号： G11C5/14
CPC分类号： G01R19/16552 , G06F1/28 , H03K19/0016
摘要： A circuit for measuring a voltage drop, a semiconductor device and system including the same, and a method for measuring a voltage drop are provided to detect a voltage drop of a power voltage by detecting a voltage drop after comparing a sensed voltage with a reference voltage. A circuit for measuring a voltage drop includes a sensing circuit and a voltage drop detection circuit(120). The sensing circuit senses a voltage drop due to a resistance of a power line, and generates a sensing voltage. The voltage drop detection circuit detects a voltage drop by comparing the sensing voltage with a reference voltage, generates a detection signal, and includes a reference voltage generating circuit(121) and a comparison circuit(122). The reference voltage generating circuit is coupled between a first power voltage and a ground voltage, and generates the reference voltage. The comparison circuit generates the detection signal by comparing the sensing voltage and the reference voltage.
摘要翻译：提供一种用于测量电压降的电路，包括该电路的半导体器件和系统以及一种用于测量电压降的方法，用于通过在将感测电压与参考电压进行比较之后检测电压降来检测电压的电压降。用于测量电压降的电路包括检测电路和电压降检测电路（120）。感测电路感测由于电力线的电阻引起的电压降，并且产生感测电压。电压降检测电路通过将感测电压与参考电压进行比较来检测电压降，产生检测信号，并包括基准电压产生电路（121）和比较电路（122）。参考电压发生电路耦合在第一电源电压和接地电压之间，并产生参考电压。比较电路通过比较感测电压和参考电压来产生检测信号。

6. 发明授权

KR100815388B1 저전압 검출 회로 失效
标题翻译：低电压检测电路
公开(公告)号：KR100815388B1
公开(公告)日：2008-03-20
申请号：KR1020060104349
申请日：2006-10-26
申请人： 산요덴키가부시키가이샤
发明人： 스가노다까시
IPC分类号： G06F1/28 , G06F1/24 , G06F1/30
CPC分类号： G01R19/16552 , G06F11/0757
摘要： 전원 투입시 및 통상 동작시에 신뢰성이 높은 정확한 저전압 검출 회로를 제공한다. 저전압 검출 회로는, 기준 전압 발생 회로(10)와, 분압 회로(20)와, 비교 회로로서의 컴퍼레이터(30)와, 분압 회로(20)에 직렬 접속된 제2 정전류 트랜지스터(M2)로 구성된다. 보조 전류 트랜지스터(Ma)는, 제1 정전류 트랜지스터(M1)와 마찬가지로 부하 소자(40)에 직렬로 접속된다. 이 보조 전류 트랜지스터(Ma)는, 제2 정전류 트랜지스터(M2)의 드레인 전압(A)에 의해 제어된다. 또한, 제2 정전류 트랜지스터(M2)의 게이트와 제1 정전류 트랜지스터(M1)의 게이트를 상호 접속하여, 커런트 미러를 구성한다. 또한, 제2 정전류 트랜지스터(M2)의 사이즈는, 제1 정전류 트랜지스터(M1)에 흐르는 제1 정전류(I1)의 수 배의 제2 정전류(I2)를 흘릴 수 있도록 조정한다.
기준 전압 발생 회로, 분압 회로, 컴퍼레이터, 부하 소자, 정전류 트랜지스터, 보조 전류 트랜지스터, 저전압 검출 신호, 제한 저항

7. 发明公开

KR1020070114006A 전원 장치 및 이것을 사용한 반도체 시험 시스템 有权
标题翻译：使用该功能单元和半导体测试系统
公开(公告)号：KR1020070114006A
公开(公告)日：2007-11-29
申请号：KR1020070050270
申请日：2007-05-23
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤
发明人： 고라이사무
IPC分类号： G01R19/165 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R19/16552
摘要： A power unit and a semiconductor test system using the same are provided to reduce heat radiation of the power unit by enabling a voltage level of a source voltage of an output amplifier to follow a voltage level of a preset voltage. A power unit feeds back an applied voltage to obtain an error between the applied voltage and a preset voltage. The power unit adjusts a current amount to a load according to the error and applies a predetermined voltage to the load, and the power unit includes a voltage converter, which adjusts the voltage level of a source voltage to follow the voltage level of the preset voltage. The voltage converter includes a level shift circuit(9) and a DC-DC converter(8). The level shift circuit adds a bias voltage to the voltage level of the preset voltage. The DC-DC converter outputs the source voltage to the output amplifier based on the voltage level from the level shift circuit.
摘要翻译：提供一种功率单元和使用其的半导体测试系统，以通过使得输出放大器的电源电压的电压电平能够遵循预设电压的电压电平来减少功率单元的热辐射。功率单元反馈施加的电压以获得施加的电压和预设电压之间的误差。功率单元根据误差调整负载的电流量，并向负载施加预定电压，并且功率单元包括电压转换器，该电压转换器调节源电压的电压电平以跟随预设电压的电压电平。电压转换器包括电平移位电路（9）和DC-DC转换器（8）。电平移位电路将偏置电压加到预设电压的电压电平上。 DC-DC转换器基于来自电平移位电路的电压电平将输出电压输出到输出放大器。

8. 发明公开

KR1020160134565A 전압저하 검출기 审中-实审
标题翻译： BROWN-OUT检测器
公开(公告)号：KR1020160134565A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：KR1020160058802
申请日：2016-05-13
申请人： 에이알엠 리미티드
发明人： 산두발에스. , 마이어제임스에드워드
IPC分类号： G01R19/165 , G01R19/10 , G01R15/00
CPC分类号： G06F1/28 , G01R19/16552 , G01R19/32
摘要： 여기에기술된다양한실시예는전압저하검출을위한집적회로에관한것이다. 상기집적회로는입력전압을수신하도록그리고상기입력전압과관련되어있는동안온도에거의독립적인제1 전압을제공하도록구성된제1 스테이지를포함할수 있다. 상기집적회로는상기제1 스테이지로부터상기입력전압을수신하고상기제1 전압을수신하도록그리고상기입력전압이낮아짐에따라상기제1 전압을상향변환하도록구성된제2 스테이지를포함할수 있다. 상기제2 스테이지는상기입력전압과상기제1 전압의차동전압에상응하는제2 전압을제공하도록구성될수 있다. 상기집적회로는상기제2 전압을수신하도록그리고에러신호에상응하는고이득출력전압을제공하도록구성된제3 스테이지를포함할수 있다.
摘要翻译：本文描述的各种实现涉及用于欠压检测的集成电路。集成电路可以包括第一级，其被配置为接收输入电压并提供独立于温度的第一电压，同时保持与输入电压相关。集成电路可以包括第二级，其被配置为接收输入电压，从第一级接收第一电压，并且在输入电压降低时升压转换第一电压。第二级可以被配置为提供对应于输入电压和第一电压的差分电压的第二电压。集成电路可以包括被配置为接收第二电压并且提供对应于误差信号的高增益输出电压的第三级。

9. 发明公开

KR1020160074253A 저전압 검출 회로, 이를 포함하는 비휘발성 메모리 장치 및 동작 방법 审中-实审
标题翻译：低电压检测电路，具有该低电压检测电路的非易失性存储器装置及其操作方法
公开(公告)号：KR1020160074253A
公开(公告)日：2016-06-28
申请号：KR1020140183348
申请日：2014-12-18
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사
发明人： 이현철
IPC分类号： G11C16/30 , G11C16/34 , G11C5/14 , G11C16/06 , G11C16/12 , G11C16/20
CPC分类号： G11C16/30 , G01R19/16552 , G11C5/144 , G11C5/147 , H03K3/353 , G11C5/148 , G11C16/06 , G11C16/12 , G11C16/20 , G11C16/34
摘要： 본기술의일 실시예에의한저전압검출회로는기준전압에기초하여외부전압의레벨을검출하여예비검출신호를출력하는제 1 검출부및 예비검출신호의레벨이제 1 레벨로검출되면, 예비검출신호의레벨의변동에무관하게제 1 레벨의저전압검출신호를생성하는제 2 검출부를포함하도록구성될수 있다.
摘要翻译：根据本发明的实施例，低电压检测电路包括：第一检测单元，被配置为基于参考电压检测外部电压的电平，以输出初步检测信号; 以及第二检测单元，被配置为如果检测到初步检测信号的电平作为第一电平，则不依赖于初步检测信号的电平的变化来产生第一电平的低电压检测信号。因此，即使当电源电压的变化较大时，低电压检测电路也可以可靠地检测电压电平。

10. 发明授权

KR100589467B1 전압 검출 회로 有权
标题翻译：电压检测电路
公开(公告)号：KR100589467B1
公开(公告)日：2006-06-14
申请号：KR1020000014505
申请日：2000-03-22
申请人： 후지쯔 가부시끼가이샤
发明人： 가와쿠보도모히로 , 도미타히로요시
IPC分类号： G05F1/565
CPC分类号： G01R19/16552
摘要： 본 발명은 트랜지스터의 임계치 변동을 감소시킴으로써 기판 전압을 정확히 검출하는 것이 가능한 전압 검출 회로를 제공하는 것을 제1 목적으로 한다. 또한, 저소비 전력화가 가능한 전압 검출 회로를 제공하는 것을 제2 목적으로 한다.
본 발명은, 정전압이 발생하는 정전압 발생 수단(10)과, 트랜지스터로 구성되어 상기 정전압에 부하를 부여하는 부하 수단(30)과, 그 부하 수단(30)과 접속되고 상기부하 수단(30)의 트랜지스터와 극성이 동일한 적어도 하나의 트랜지스터로 구성되며 소정의 전압을 검출하여 검출 신호를 생성하는 검출 수단(40)과, 상기 검출 신호를 수신하여 그 검출 신호의 신호 레벨을 변환하는 변환 수단(50-1, 50-2)을 구비함으로써 상기 목적을 달성한다.

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