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1. 发明授权

KR101010843B1 표면 검사 장치 및 표면 검사 헤드 장치 有权
标题翻译：表面检查装置和表面检查头设备
公开(公告)号：KR101010843B1
公开(公告)日：2011-01-25
申请号：KR1020087027551
申请日：2007-05-11
申请人： 기린 테크노시스템 가부시끼가이샤 , 가부시끼가이샤 케이티에스 옵틱스
发明人： 후까미유끼꼬 , 모리히데오
IPC分类号： G01N21/954
CPC分类号： G01N21/954 , G01N2021/9546 , G01N2021/9548
摘要： 표면 검사 장치는 레이저 다이오드로부터 투광 화이버를 통하여 피검사물의 내주면에 검사광을 조사하여, 그 검사광의 반사광의 강도를 투광 화이버의 주위에 배치된 제1 수광 화이버군과, 그것보다도 외측에 배치된 제2 수광 화이버군과, 이들 화이버군 각각에 접속된 포토디텍터에 의해 검출하는 검출 유닛을 갖는다.
또한, 표면 검사 장치는 포토디텍터가 출력한 신호로부터 축선과 원통체의 중심선의 어긋남에 기인한 반사광의 강도의 요동에 대응하는 주파수 성분을 추출하고, 그 주파수 성분과 소정의 기준값의 차분에 따라 검사광의 강도가 변화되도록 레이저 다이오드를 제어한다.
또한, 표면 검사 장치의 헤드 장치는 보호창 부재의 표면 및 이면 중 적어도 한 쪽의 법선 방향이 보호창 부재로의 검사광의 입사 방향에 대하여 기울어져 있다.
동작 제어부, 신호 처리부, 연산 처리부, 입력부, 출력부

2. 发明公开

KR1020170111423A 터보 기계 시스템의 탐지장치 审中-实审
标题翻译：涡轮机械系统探测器
公开(公告)号：KR1020170111423A
公开(公告)日：2017-10-12
申请号：KR1020160036857
申请日：2016-03-28
申请人： 엘지전자 주식회사
发明人： 이기욱 , 이남수 , 정진희 , 박찬명
IPC分类号： G01N21/88 , F02B77/08 , F04D27/00 , G02B21/00
CPC分类号： G01N21/954 , F25B31/026 , F25B39/00 , F25B39/02 , F25B39/04 , F25B45/00 , F25B49/02 , F25B2339/0242 , F25B2339/046 , F25B2345/001 , F25B2345/006 , F25B2500/06 , F25B2500/222 , G01M15/14 , G01N2021/9546
摘要： 본발명에일 측면에따르느탐지장치는, 상기개구부를폐쇄하는플랜지; 및내시경본체, 상기내시경본체로부터연장되며, 상기플랜지를관통하여상기터보기계의내부공간으로삽입되는탐지부및 상기내시경본체와탐지부를연결하는연장부를구비하는내시경어셈블리를포함한다. 본발명에의하면, 내시경어셈블리가직접터보기계의내부공간으로삽입되므로, 직접적으로터보기계의내부를확인할수 있다. 또한, 지지어셈블리를구비하여, 내부압력에의해서내시경어셈블리가외측으로밀리지않고, 내부공간에삽입될수 있다.
摘要翻译：根据本发明的一个方面，提供了一种检测装置，包括：关闭所述开口的凸缘; 本发明提供一种内窥镜组装体，该内窥镜组装体包括内窥镜主体，从内窥镜主体延伸的检测部，该检测部通过凸缘插入涡轮机的内部空间，以及连接内窥镜主体和检测部的延伸部。根据本发明，由于内窥镜组件直接插入涡轮机的内部空间，所以涡轮机的内部可以直接被识别。此外，内窥镜组件可被插入内部空间而不会被支撑组件的内部压力向外推动。

3. 发明公开

KR20180008271A 튜브형 복합 부품을 내부적으로 검사하기 위한 시스템 및 방법 审中-公开
标题翻译：用于内部检查管状复合部件的系统和方法
公开(公告)号：KR20180008271A
公开(公告)日：2018-01-24
申请号：KR20170063674
申请日：2017-05-23
申请人： BOEING CO
发明人： SHELLEY PAUL H JR , FAY CHRISTOPHER WAYNE
IPC分类号： G01N21/359 , G01N21/85 , G01N21/88
CPC分类号： G01N21/94 , G01J3/2823 , G01N21/35 , G01N21/359 , G01N21/954 , G01N2021/8472 , G01N2021/9546 , G01N2201/061 , G01N2201/0833 , G02B23/2469 , G02B23/26
摘要： 근적외선(NIR) 분광계(54)의엔드포인트어댑터(30) 어셈블리와함께, 튜브형복합부품(10) 내부의접착제흐름을식별하고측정하기위해튜브형복합부품(10)을내부적으로검사하기위한시스템(50) 및방법이제공된다. 시스템(50)은튜브형복합부품(10) 내에맞고튜브형복합부품(10) 내에서일관된단면위치를유지하는엔드포인트어댑터를포함한다. 시스템(50)은또한엔드포인트어댑터로부터반경방향외측으로연장되는복수의광섬유들(40)을포함한다. 엔드포인트어댑터는튜브형복합부품(10)을통해길이방향으로이동되어튜브형복합부품(10)과광의상호작용에따라복수의광섬유들(40)로광을수신한다. 시스템(50)은 NIR 스펙트럼(λ)에걸쳐복수의광섬유들(40)에의해수집되는광을분산시키도록구성된 NIR 영상분광계(54), 및분산된광에기초하여튜브형복합부품(10)의이미지들을생성하도록구성된 NIR 카메라(58)를더 포함한다.
摘要翻译：提供了用于内部检查管状复合部件（10）以识别和测量其中的粘合剂流动的系统（50）和方法以及近红外（NIR）光谱仪（54）的端点适配器（30）组件。系统（50）包括端点适配器，该端点适配器配合在管状复合部件（10）内并保持在一致的横截面位置内。系统（50）还包括从端点适配器径向向外延伸的多根光纤（40）。端点适配器纵向移动通过管状复合部件（10）并且在光与管状复合部件（10）相互作用之后用多个光纤（40）接收光。所述系统（50）还包括NIR成像光谱仪（54），所述NIR成像光谱仪（54）被配置为将由所述多根光纤（40）收集的光分散在NIR光谱上»和配置成生成所述管状复合材料部分（10）基于散射光。

4. 发明授权

KR1019940003710B1 광 관 검사장치 无效
标题翻译：光管检查装置
公开(公告)号：KR1019940003710B1
公开(公告)日：1994-04-27
申请号：KR1019860001709
申请日：1986-03-11
申请人： 씨비에스 코퍼레이션
发明人： 파오로로돌프자프레드
IPC分类号： G21C17/06
CPC分类号： F22B37/003 , G01N21/35 , G01N21/3563 , G01N21/954 , G01N2021/9546 , G21C17/017
摘要： 내용 없음.

5. 发明公开

KR1020150100882A 파이프라인용 결속된 감지 시스템 无效
标题翻译：管道传感系统
公开(公告)号：KR1020150100882A
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：KR1020157020159
申请日：2013-12-30
申请人： 퓨어 테크놀러지즈 리미티드
发明人： 폴슨,피터,오.
IPC分类号： G02B23/26 , G02B23/24 , G01D5/353 , G01N21/954 , H04Q9/00
CPC分类号： G01N21/954 , G01D5/35354 , G01N2021/9546 , G02B6/502 , G02B23/2492 , G02B23/26 , H04Q9/00 , H04Q2209/40 , H04Q2209/50
摘要： 본 발명은, 어떠한 전기적 배선을 가지지 않은 결속선을 통하여 지표면 위치에 접속되는 결속된 감지유닛을 가지는 신규한 감시 시스템에 관한 것으로서, 제어 및 데이터 수집을 위한 적어도 한 개의 광섬유를 포함함. 감지유닛은 용이하게 회수되며, 특정한 파이프라인 벽의 영역을 검사할 필요가 있을 때 전후 방향으로 파이프라인 내에서 이동할 수 있음.

6. 发明公开

KR1020140080111A 비아 홀 광학 검사장비 无效
标题翻译：通孔的光学检测装置
公开(公告)号：KR1020140080111A
公开(公告)日：2014-06-30
申请号：KR1020120149562
申请日：2012-12-20
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 김지훈
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/954
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/9505 , G01N21/954 , G01N2021/9546
摘要： The present invention relates to a via-hole optical examination apparatus and, more specifically, to a via-hole optical examination apparatus capable of accurately measuring an existence of an un-plated status inside a via-hole or an existence of impurities. The present invention includes a light source; a polarizing filter capable of passing only certain wavelengths of a light emitted from the light source; a beam splitter for passing or reflecting only the light which passed through the polarizing filter; a condensing lens for condensing the light reflected from the beam splitter; and a light detector for detecting the returning condensed light after being reflected from inside the via-hole.
摘要翻译：通孔光学检查装置技术领域本发明涉及一种通孔光学检查装置，更具体地说，涉及能够精确地测定通孔内的未镀层状态的存在或杂质的存在的通孔光学检查装置。本发明包括光源; 能够仅通过从光源发射的光的一定波长的偏振滤光器; 用于仅通过或反射通过偏振滤光器的光的分束器; 聚光透镜，用于聚光从分束器反射的光; 以及光检测器，用于在从通孔内部反射之后检测返回的冷凝光。

7. 发明公开

KR1020090009238A 표면 검사 장치 및 표면 검사 헤드 장치 有权
标题翻译：表面检查装置和表面检查头设备
公开(公告)号：KR1020090009238A
公开(公告)日：2009-01-22
申请号：KR1020087027551
申请日：2007-05-11
申请人： 기린 테크노시스템 가부시끼가이샤 , 가부시끼가이샤 케이티에스 옵틱스
发明人： 후까미유끼꼬 , 모리히데오
IPC分类号： G01N21/954
CPC分类号： G01N21/954 , G01N2021/9546 , G01N2021/9548
摘要： A surface inspection apparatus is provided with a detecting unit wherein inspection light is irradiated from a laser diode through a light projection fiber to an inner circumferential surface of an inspection subject and its reflecting light intensity is detected by a first light receiving fiber group set around the light projection fiber, a second light receiving fiber group set outside of the first light receiving fiber group, and a photodetector connected with the first and second light receiving fiber groups, respectively. Further, the surface inspection apparatus extracts a frequency component corresponding to fluctuations of the reflective light intensity resulting from discrepancy between the axis line and the central line of a cylindrical member from an output signal of the photodetector, and controls the laser diode to vary the intensity of the inspection light in accordance with difference between the frequency component and a prescribed reference value. In addition, at least one normal line direction with respect to either a front surface or a rear surface of a protective window member in a head device of the surface inspection apparatus is inclined to an incident light direction of the inspection light toward the protective window member.
摘要翻译：表面检查装置设置有检测单元，其中检查光从激光二极管通过光投射光纤照射到检查对象的内周面，并且其反射光强度由围绕其的第一光接收光纤组检测光投射光纤，设置在第一光接收光纤组外的第二光接收光纤组，以及分别与第一和第二光接收光纤组连接的光电检测器。此外，表面检查装置从光电检测器的输出信号中提取与轴线和圆筒形构件的中心线之间的差异导致的反射光强度的波动相对应的频率分量，并且控制激光二极管以改变强度根据频率分量和规定的参考值之间的差异来检查检查光。此外，相对于表面检查装置的头部装置中的保护窗构件的前表面或后表面的至少一条法线方向相对于检查光的入射光方向朝保护窗构件倾斜。

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