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1. 发明公开

KR1020170018442A 광 빔의 특성화를 위한 디바이스 및 방법 审中-实审
标题翻译：用于表征光束的装置和方法
公开(公告)号：KR1020170018442A
公开(公告)日：2017-02-17
申请号：KR1020177001210
申请日：2015-06-15
申请人： 꼼미사리아 아 레네르지 아토미끄 에뜨 옥스 에너지스 앨터네이티브즈
发明人： 큐에레,파비엔 , 갈릿,발렌틴 , 파리엔테,구스타브
IPC分类号： G01J11/00 , G01J9/02
CPC分类号： G01J11/00 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01J2003/4538
摘要： 본발명의일 양태는다음단계들을포함한광 빔의특성화를위한방법에관한것이다: - 상기광 빔을, 분리기광학계로제 1 서브-빔및 제 2 서브-빔으로분리시키는단계; - 제 1 광학계를통해상기제 1 서브-빔을전파하고, 제 2 광학계를통해상기제 2 서브-빔을전파하는단계 - 상기제 1 및제 2 광학계들각각은상기제 1 광학계에서빠져나가고 "기준빔"이라지칭되는제 1 서브-빔, 및상기제 2 광학계에서빠져나가고 "특성화빔"이라지칭되는제 2 서브-빔이시간지연 (τ)만큼분리되도록배치됨 -; - 상기기준빔 및상기특성화빔이공간적으로간섭되고 2-차원간섭패턴을형성하는방식으로, 재결합기광학계로상기기준빔 및상기특성화빔을재결합시키는단계 - 상기 2-차원간섭패턴은제 1 평면을따라연장됨 -; - 상기 2-차원간섭패턴의적어도일부의주파수스펙트럼을측정시스템으로측정하는단계; - 상기주파수스펙트럼의적어도하나의공간지점의시간도메인에서푸리에변환을계산하는단계 - 상기시간도메인에서의푸리에변환은시간중심피크및 제 1 및제 2 시간측면피크들을가짐 -; - 상기제 1 및제 2시간측면피크들중 하나에대해, 주파수도메인에서의푸리에변환을계산기로계산하는단계; - 스펙트럼진폭 (A(ω)), 및공간-스펙트럼위상 (φ(x,y,ω))을상기주파수도메인에서의푸리에변환에대해, 계산하는단계.
摘要翻译：本发明的一个方面涉及一种用于表征光束的方法，包括以下步骤： - 通过分离器光学器件将光束分离成第一子光束和第二子光束; - 第一子光束在第一光学器件上的传播，并且在第二光学元件上传播第二子光束，所述第一和第二光学元件分别布置成使得离开第一光学元件的第一子光束被称为“ 参考光束“和离开第二光学元件的第二子光束（称为”特征光束“）被分离了时间延迟τ; - 借助于重组光学器件，参考光束和表征的光束的复合，使得光束在空间上干涉并形成二维干涉图案，所述二维干涉图案沿第一平面延伸; - 通过测量系统测量所述二维干涉图案的至少一部分的频谱频率， - 在所述频谱的至少一个空间点的时域中计算傅立叶变换，所述傅立叶变换时域具有时间中心峰值和第一和第二时间峰值; - 对所述第一和第二时间峰之一的频域中的傅立叶变换的计算; - 在频域中计算所述傅立叶变换的频谱幅度AR（ω）和空间频谱相位φR（χ，γ，ω）。

2. 发明授权

KR101627444B1 분광 특성 측정 장치 및 분광 특성 측정 방법 有权
标题翻译：光谱特性测量装置和测量光谱特性的方法
公开(公告)号：KR101627444B1
公开(公告)日：2016-06-03
申请号：KR1020147023627
申请日：2013-02-27
申请人： 고쿠리츠다이가쿠호우징 카가와다이가쿠
发明人： 이시마루이치로
IPC分类号： G01N21/359 , A61B5/145 , A61B5/1455 , A61B5/00 , G01B9/02 , G01N21/25 , G01N21/45 , G01N21/49
CPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/14532 , A61B5/6887 , A61B5/7257 , A61B2562/0233 , G01B9/02041 , G01B9/02049 , G01B9/0207 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0272 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/4532 , G01J3/4535 , G01J2003/102 , G01J2003/4538 , G01N21/255 , G01N21/359 , G01N21/45 , G01N21/49 , G01N21/9501 , G01N2201/0612
摘要： 본발명은측정대상으로부터발사된측정광을고정미러부와가동미러부에입사시켜, 상기고정미러부에의해서반사된측정광과상기가동미러부에의해서반사된측정광의간섭광을형성한다. 이때, 상기가동미러부를이동시킴으로써측정광의간섭광강도변화를얻고, 이변화에기초하여측정광의인터페로그램을구한다. 또, 동시에, 측정광의파장대역의일부인협대역파장의참조광을, 상기고정미러부와상기가동미러부에입사시켜, 그고정미러부에의해서반사된참조광과그 가동미러부에의해서반사된참조광의간섭광을형성한다. 이때, 상기가동미러부를이동시킴으로써참조광의간섭광강도변화의진폭, 및상기측정광중 상기참조광과같은파장의측정광과상기참조광의위상차에기초하여상기측정광의인터페로그램을보정하고, 보정후의인터페로그램에기초하여상기측정광의스펙트럼을구한다.

3. 发明公开

KR1020170018441A 광 빔의 특성화를 위한 디바이스 및 방법 审中-实审
标题翻译：用于表征光束的装置和方法
公开(公告)号：KR1020170018441A
公开(公告)日：2017-02-17
申请号：KR1020177001209
申请日：2015-06-15
申请人： 꼼미사리아 아 레네르지 아토미끄 에뜨 옥스 에너지스 앨터네이티브즈
发明人： 큐에레,파비엔 , 갈릿,발렌틴 , 파리엔테,구스타브
IPC分类号： G01J11/00 , G01J9/02
CPC分类号： G01J11/00 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01J2003/4538
摘要： 본발명의일 양태는다음단계들을포함한광 빔의특성화를위한방법에관한것이다: - 상기광 빔을, 분리기광학계로제 1 서브-빔및 제 2 서브-빔으로분리시키는단계; - 제 1 광학계를통해상기제 1 서브-빔을전파하고, 제 2 광학계를통해상기제 2 서브-빔을전파하는단계 - 상기제 1 및제 2 광학계들각각은상기제 1 광학계에서빠져나가고 "기준빔"이라지칭되는제 1 서브-빔, 및상기제 2 광학계에서빠져나가고 "특성화빔"이라지칭되는제 2 서브-빔이시간지연 (τ)만큼분리되도록배치됨 -; - 상기기준빔 및상기특성화빔이공간적으로간섭되고 2-차원간섭패턴을 형성하는방식으로, 재결합기광학계로상기기준빔 및상기특성화빔을재결합시키는단계; - 시간인터페로그램을얻기위해, 측정시스템으로상기 2-차원간섭패턴을 측정하는단계; - 상기시간인터페로그램의적어도하나의공간지점의주파수도메인에서푸리에변환을계산하는단계 - 상기주파수도메인에서의푸리에변환은주파수중심피크및 제 1 및제 2 주파수측면피크들을가짐 -; - 상기제 1 및제 2 시간측면피크들중 하나에대해주파수도메인에서푸리에변환을계산하는단계; - 주파수도메인에서의상기푸리에변화의제 1 및제 2 주파수측면피크들중 하나에대해스펙트럼진폭 (A(ω)) 및공간-스펙트럼위상 (φ(x,y,ω))을계산하는단계.
摘要翻译：本发明的一个方面涉及一种用于表征光束的方法，包括以下步骤：将光束分离成分离器光学系统，第一子光束和第二子光束; - 将第一子光束传播通过第一光学系统并将第二子光束传播通过第二光学系统，其中第一和第二光学系统中的每一个离开第一光学系统，布置成通过光束的时间延迟（τ）来分离 - - 梁第二子“这被称为一个第一子光束，并且其中，从所述第二光学系统的出口”简称为光束特性“; - 将参考光束和表征光束与再化合物光学系统重新组合，使得参考光束和表征光束在空间上受到干扰并且形成二维干涉图案; 用测量系统测量二维干涉图案以获得时间干涉图; 计算时间接口的至少一个空间点的频域中的傅立叶变换，频域中的傅里叶变换具有频率中心峰值以及第一和第二频率侧峰值; 针对所述第一和第二时间峰值之一计算频域中的傅立叶变换; 计算频谱幅度A（ω）和空间谱相位（ω（X，y，ψ））对于频域中的傅里叶变换的第一和第二频率侧峰值之一。

4. 发明公开

KR1020140114447A 분광 특성 측정 장치 및 분광 특성 측정 방법 有权
标题翻译：光谱特性测量装置和测量光谱特性的方法
公开(公告)号：KR1020140114447A
公开(公告)日：2014-09-26
申请号：KR1020147023627
申请日：2013-02-27
申请人： 고쿠리츠다이가쿠호우징 카가와다이가쿠
发明人： 이시마루이치로
IPC分类号： G01N21/359 , A61B5/145 , A61B5/1455 , A61B5/00 , G01B9/02 , G01N21/25 , G01N21/45 , G01N21/49
CPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/14532 , A61B5/6887 , A61B5/7257 , A61B2562/0233 , G01B9/02041 , G01B9/02049 , G01B9/0207 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0272 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/4532 , G01J3/4535 , G01J2003/102 , G01J2003/4538 , G01N21/255 , G01N21/359 , G01N21/45 , G01N21/49 , G01N21/9501 , G01N2201/0612
摘要： 본 발명은 측정 대상으로부터 발사된 측정광을 고정 미러부와 가동 미러부에 입사시켜, 상기 고정 미러부에 의해서 반사된 측정광과 상기 가동 미러부에 의해서 반사된 측정광의 간섭광을 형성한다. 이때, 상기 가동 미러부를 이동시킴으로써 측정광의 간섭광 강도 변화를 얻고, 이 변화에 기초하여 측정광의 인터페로그램을 구한다. 또, 동시에, 측정광의 파장 대역의 일부인 협대역의 파장의 참조광을, 상기 고정 미러부와 상기 가동 미러부에 입사시켜, 그 고정 미러부에 의해서 반사된 참조광과 그 가동 미러부에 의해서 반사된 참조광의 간섭광을 형성한다. 이때, 상기 가동 미러부를 이동시킴으로써 참조광의 간섭광 강도 변화의 진폭, 및 상기 측정광 중 상기 참조광과 같은 파장의 측정광과 상기 참조광의 위상차에 기초하여 상기 측정광의 인터페로그램을 보정하고, 보정 후의 인터페로그램에 기초하여 상기 측정광의 스펙트럼을 구한다.

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