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1. 发明授权

KR101959329B1 멀티미터 有权
公开(公告)号：KR101959329B1
公开(公告)日：2019-03-18
申请号：KR1020130072698
申请日：2013-06-24
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 헤이시토시오 , 미야자와요시유키
IPC分类号： G01R15/12

2. 发明公开

KR1020150118542A 측정 장치 및 측정 방법 审中-实审
标题翻译：测量装置和测量方法
公开(公告)号：KR1020150118542A
公开(公告)日：2015-10-22
申请号：KR1020150050673
申请日：2015-04-10
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 가와무로유키 , 한다노부히사 , 다카하시데츠야
IPC分类号： G01R27/00 , G01R29/12 , G01R27/08
CPC分类号： G01N27/04
摘要： [과제] 물성이서로상이한복수의구성체가적층된적층체에있어서의각 구성체의밀착상태의좋고나쁨을정확하고용이하게판정한다. [해결수단] 물성이서로상이한복수의구성체로서의금속박(101a)과활물질층(102a)이적층된적층체로서의양극(100a)의표면(S)에전기신호를공급한상태로표면(S)에있어서의측정대상부위(Pv1~Pv3)의전위를측정하는전위측정처리를실행하는측정부와, 전위측정처리에의해측정된전위의측정값을이용하여미리정해진계산처리를실행해, 양극(100a)에있어서의금속박(101a)과활물질층(102a)의계면(103a)의계면저항값을구하는처리부를구비하고있다.
摘要翻译：本发明的目的是提供一种测量装置，其能够准确且容易地确定在由彼此层叠的部件构成的层叠体中具有彼此不同的材料性质的多个部件中的每一个的粘附状态是好还是坏测量装置包括：测量单元，用于执行在层叠体的正极（100a）的表面（S）上测量目标测量部分（Pv1，Pv2，Pv3）的电位的电位测量处理，其中金属箔（101a）和活性物质层（102a）作为多个具有彼此不同的材料特性的部件彼此顶层叠，同时向表面（S）供给电信号。以及处理单元，其使用由电位测量处理测量的电位的测量值进行预定的计算处理，以获得金属箔（101a）和活性物质层之间的界面（103a）的界面电阻值（100a）的电极（102a）。

3. 发明授权

KR101218874B1 기판 검사 시스템 有权
标题翻译：基板检查系统
公开(公告)号：KR101218874B1
公开(公告)日：2013-01-07
申请号：KR1020100100382
申请日：2010-10-14
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 미츠기히데히코
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/02
摘要： 검사정밀도를저하시키는일 없이, 검사대상기판을단시간에용이하게검사한다. 검사용프로브(32a, 32b)를별개독립적으로이동시켜프로빙위치에프로빙시켜검사대상기판(10)을검사하는플라잉프로브식검사장치(3)와, 프로브유닛(52)을검사대상기판(10)을향해이동시켜각 검사용프로브를검사대상기판(10)에프로빙시켜검사대상기판(10)을검사하는지그형프로브식검사장치(5)와, 기판유지부(63)가설치된인덱스테이블(62)을회전시킴으로써검사대상기판(10)을반송하는회전식기판반송장치(6)와, 반송장치(6), 검사장치(3, 5)를제어하는제어장치를구비하고, 반송장치(6)가, 검사장치 3에의해검사대상기판(10)이검사되는제1 검사위치, 및검사장치 5에의해검사대상기판(10)이검사되는제2 검사위치에검사대상기판(10)을반송가능하게구성되어있다.

4. 发明公开

KR1020110109783A 검사 장치 및 검사 방법 有权
标题翻译：检查装置和检查方法
公开(公告)号：KR1020110109783A
公开(公告)日：2011-10-06
申请号：KR1020100100383
申请日：2010-10-14
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 시오자키가즈히코 , 곤도도시유키
IPC分类号： G01R31/306 , G01R1/06 , G01R1/04
摘要： (과제)
프로빙의 정밀도를 향상한다.
(해결수단)
프로빙 기구와, 제어부와, 이론상의 프로빙 위치와 실제의 프로빙 위치의 사이의 이간 거리에 의거해 프로빙 처리에 있어서 지정하는 프로브(21)의 이동량을 보정하기 위한 보정치를 산출하는 연산부를 구비하고, 제어부는, 접리 방향을 따른 이동량이 서로 다른 제1의 이동량 및 제2의 이동량을 지정해 프로빙 기구에 대해 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리를 실행시키고, 연산부는, 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리에 있어서의 평면 방향을 따른 이간 거리의 차분치(Gxt)와, 양 프로빙 처리의 각각에 있어서의 표면에 대해 수직인 방향을 따른 프로브(21)의 이동량의 차분치(차분치 Tg1)에 의거해 테스트 기판(100)의 표면에 대한 접리 방향의 경사 각도(θx)를 특정함과 더불어, 경사 각도에 의거해 보정치를 보완한다.

5. 发明公开

KR1020170004857A 프로브 유닛 및 검사 장치 审中-实审
标题翻译：探测器和检测装置
公开(公告)号：KR1020170004857A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：KR1020160077110
申请日：2016-06-21
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 고바야시마사시
IPC分类号： G01R1/073 , G01R1/04 , G01R31/28
摘要： (과제)기판의변형을억제하면서기판을흡착한다. (해결수단)복수의프로브와, 각프로브를지지하는지지부(22)와, 기판을흡착하는흡착부를구비하고, 지지부(22)는, 각프로브의선단부를지지하는지지판(41, 42)과, 각프로브의기단부를지지하는지지판(43, 44)과, 지지판(41, 42)과지지판(43, 44)의사이에설치된스페이서(33)와, 스페이서(33)와지지판(41, 42)의사이의간극을조정하는간극조정기구를구비하고, 기판과지지판(41)의표면(41a)이접촉하고있지않은비접촉상태및 전극판(23) 및지지판(43, 44)이지지판(41, 42)을향해가압되는가압상태의어느상태에있어서도각 프로브선단부가표면(41a)으로부터돌출되지않은상태로유지하고, 흡착부는, 지지판(41, 42)의두께방향을관통하도록형성된흡기구멍(41f, 42f)과, 스페이서(33) 내에형성되어흡기구멍(41f, 42f)에연통하는흡기구멍(33f)을구비하고있다.

6. 外观设计

KR3007317760000S 有权
公开(公告)号：KR3007317760000S
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR3020130027527
申请日：2013-05-28
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
设计人： 헤이시 토시오 , 오누마 세이지

7. 发明公开

KR1020140001759A 멀티미터 审中-实审
标题翻译：万用表
公开(公告)号：KR1020140001759A
公开(公告)日：2014-01-07
申请号：KR1020130072698
申请日：2013-06-24
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 헤이시토시오 , 미야자와요시유키
IPC分类号： G01R15/12
CPC分类号： G01R1/38 , G01R1/04 , G01R15/002 , G01R15/12
摘要： The present invention is to provide a multimeter having an erroneous insertion prevention apparatus of the simple structural and space saving type. The multimeter (1) of the present invention comprises a rotary switch (3) for selecting the measurement function, a common terminal hole (20) for plugging a connector of a test probe, selective terminal holes (21, 22, 23) for selectively plugging the connector of the test probe, and shutter plates (4, 5) for selectively opening the selective terminal holes (21, 22, 23), wherein the rotary switch (3) has convex parts (32, 33) which are moved along with the rotation; the shutter plate (4) has a hole (41) corresponding to the common terminal hole (20) to be rotatable on the center of the common terminal hole (20) which is the rotation shaft center while having a recess part (42) which can be hung and fitted in the convex part (32) to be rotatable to open either of the selective terminal holes (21, 22) by moving the convex part (32); and wherein the shutter plate (5) has a recess part (52) which can be hung and fitted in the convex part (33) to be rotatable to open and close the selective terminal hole (23) by moving the convex part (33).
摘要翻译：本发明提供一种具有简单结构和节省空间的错误插入防止装置的万用表。本发明的万用表（1）包括用于选择测量功能的旋转开关（3），用于插入测试探针的连接器的公共端子孔（20），用于选择性地连接选择性端子孔（21,22,23）插入测试探针的连接器和用于选择性地打开选择性端子孔（21,22,23）的快门板（4,5），其中旋转开关（3）具有凸起部分（32,33），其沿着随着旋转; 所述挡板（4）具有与公共端子孔（20）相对应的孔（41），以能够在作为旋转轴中心的公共端子孔（20）的中心旋转，同时具有凹部（42）可以通过移动所述凸部（32）而悬挂并安装在所述凸部（32）中以旋转以打开所述选择性端子孔（21,22）。并且其中，所述挡板（5）具有凹部（52），所述凹部（52）可以悬挂并嵌合在所述凸部（33）中以通过移动所述凸部（33）而旋转以打开和关闭所述选择端子孔（23）。

8. 发明公开

KR1020120135048A 프로브 유닛, 회로 기판 검사 장치 및 프로브 유닛 제조 방법 审中-实审
标题翻译：探测单元，电路板检查装置和制造探头单元的方法
公开(公告)号：KR1020120135048A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：KR1020120054828
申请日：2012-05-23
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 호리세이이치
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
摘要： PURPOSE: An insulating layer probe unit forming on the top-end part of a probe, a circuit board inspection apparatus and a manufacturing method thereof are provided to prevent the generation of a short or a leak, and to realize smooth probing. CONSTITUTION: A main body part(11) includes a supporting unit(31) and a second supporting unit(32). The first supporting unit forms a first insertion hole for passing through(31a). The second supporting unit forms a second insertion hole for passing through(32a). A probe pin(12) passes itself through to be inserted to respectively a first insertion hole and a second insertion hole to support a top-end part(21) and a base part(22) of a main body part. The probe pin forms the central part which is curved during a proving work, a first insulation layer(24) on the boundary surface of a central part and a second insulation layer(25) as a part of the surface of the top-end part.
摘要翻译：目的：提供一种形成在探针的顶端部分上的绝缘层探针单元，电路板检查装置及其制造方法，以防止产生短路或泄漏，并实现平滑探测。构成：主体部分（11）包括支撑单元（31）和第二支撑单元（32）。第一支撑单元形成用于通过（31a）的第一插入孔。第二支撑单元形成用于穿过（32a）的第二插入孔。探针（12）自身通过以分别插入第一插入孔和第二插入孔，以支撑主体部分的顶端部分（21）和基部（22）。探针形成在检验作业期间弯曲的中心部分，在中心部分的边界表面上的第一绝缘层（24）和作为顶端部分表面的一部分的第二绝缘层（25）。

9. 发明授权

KR101095781B1 검사 장치 및 검사 방법 有权
公开(公告)号：KR101095781B1
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：KR1020100100383
申请日：2010-10-14
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 시오자키가즈히코 , 곤도도시유키
IPC分类号： G01R31/306 , G01R1/06 , G01R1/04
摘要： (과제)
프로빙의 정밀도를 향상한다.
(해결수단)
프로빙 기구와, 제어부와, 이론상의 프로빙 위치와 실제의 프로빙 위치의 사이의 이간 거리에 의거해 프로빙 처리에 있어서 지정하는 프로브(21)의 이동량을 보정하기 위한 보정치를 산출하는 연산부를 구비하고, 제어부는, 접리 방향을 따른 이동량이 서로 다른 제1의 이동량 및 제2의 이동량을 지정해 프로빙 기구에 대해 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리를 실행시키고, 연산부는, 제1 프로빙 처리 및 제2 프로빙 처리에 있어서의 평면 방향을 따른 이간 거리의 차분치(Gxt)와, 양 프로빙 처리의 각각에 있어서의 표면에 대해 수직인 방향을 따른 프로브(21)의 이동량의 차분치(차분치 Tg1)에 의거해 테스트 기판(100)의 표면에 대한 접리 방향의 경사 각도(θx)를 특정함과 더불어, 경사 각도에 의거해 보정치를 보완한다.

10. 发明授权

KR102207791B1 프로브 유닛, 프로브 유닛 제조 방법 및 검사 방법 有权
公开(公告)号：KR102207791B1
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：KR1020150098979
申请日：2015-07-13
申请人： 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤
发明人： 고바야시마사시 , 오가와라다카히로
IPC分类号： G01R1/067
摘要： 경량화를실현하는것으로서, 프로브핀(2)과, 프로브핀(2)을지지하는지지부(3)를구비하고, 지지부(3)는, 서로이격하여대향하는상태로배치된띠형상의아암(11, 12)과, 각아암(11, 12)의각 기단부(21a, 22a)를유지하는유지부(13)와, 각아암(11, 12)의각 선단부(21b, 22b)들을연결하는연결부로서기능하는프로브핀(2)을구비하고, 프로브핀(2)의직동또는근사적인직동을허용하는 4절링크기구를구성하고, 각아암(11, 12)은, 기단부보다도약간선단부측의부위및 선단부보다도약간기단부측의부위에관통공(H1a, H1b, H2a, H2b)이형성되고, 각관통공의사이의중간부위(21c, 22c)가 4절링크기구를구성하는각 링크로서기능함과더불어, 각관통공의형성부위(P1a, P1b, P2a, P2b)가 4절링크기구를구성하는조인트로서기능하도록구성되어있다.

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