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    • 2. 发明公开
    • 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면결함 검출 방법
    • 使用散射系数检测单板微波接地片缺陷的方法
    • KR1020050059554A
    • 2005-06-21
    • KR1020030091184
    • 2003-12-15
    • 한국전자통신연구원
    • 강승택은종원이성팔
    • G01R29/08
    • G01R31/2822G01R27/28
    • 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
      본 발명은, 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 방법에 관한 것임.
      2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
      본 발명은, 마이크로스트립 소자의 접지면에 생긴 균열 등의 결함 존재 여부와 그 상태를 모듈화 조립 이전에 검출함으로써 슬랏 공진이나 그에 따른 소자의 성능저하에 따른 시간 또는 경제적인 손실을 낮추기 위한, 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 방법을 제공하는데 그 목적이 있음.
      3. 발명의 해결방법의 요지
      본 발명은, 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 시스템에 적용되는 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 방법에 있어서, 측정 대상(DUT)인 마이크로스트립 소자의 접지면에 존재하는 슬랏의 폭 또는/및 길이의 변화에 대한 산란계수의 변화에 대한 그래프를 도출하는 그래프 도출 단계; 상기 도출한 그래프에서 산란계수의 이상을 검출하는 산란계수 이상 검출 단계; 및 상기 검출한 산란계수의 이상에 상응하는 폭 또는/및 길이를 가지는 슬랏이 형성된 것으로 판정하는 판정 단계를 포함함.
      4. 발명의 중요한 용도
      본 발명은 마이크로파 및 밀리미터파 대역 시스템 등에 이용됨.
    • 4. 发明公开
    • 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치 및 그 방법
    • 测量RF器件EMI电平的装置和方法
    • KR1020050061782A
    • 2005-06-23
    • KR1020030093207
    • 2003-12-18
    • 한국전자통신연구원
    • 강승택은종원이성팔
    • G01R29/08
    • G01R31/001H05K9/0069
    • 1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술분야
      본 발명은, 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치 및 그 방법에 관한 것임.
      2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
      본 발명은, 벡터형 회로 분석기에서 계측한 기준 군지연 변화 정보와 외부 전자파 간섭에 의한 군지연 변화 정보간의 변화량의 편차를 통계적으로 계산하여 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨을 측정하는, 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있음.
      3. 발명의 해결 방법의 요지
      본 발명은, 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치에 있어서, 측정 대상인 고주파 부품과 일정 거리를 두고 그 주위를 선회하면서 전자파 신호를 방사하기 위한 전자파 방사 수단; 상기 전자파 방사 수단에서 방사하는 전자파 신호를 전달받아 그에 따른 신호를 출력하기 위한 상기 고주파 부품; 상기 고주파 부품과 연결되어, 상기 전자파 방사 수단에서 방사하는 전자파 신호에 의한 상기 고주파 부품의 군지연 변화 정보를 계측하기 위한 군지연 변화 계측 수단; 상기 전자파 방사 수단에서 방사하는 전자파 신호가 상기 군지연 변화 계측 수단으로 전달되지 않도록 차단하기 위한 전파 흡수 수단; 및 상기 각 구성 요소를 제어하며, 상기 군지연 변화 계측 수단에서 계측한 상기 고주파 부품의 군지연 변화 정보와 기 저장되어 있는 상기 고주파 부품의 기준 군지연 변화 정보를 통해 상기 전자파 방사 수단의 전자파 신호에 의한 상기 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨을 측정하기 위한 전자파 간섭 레벨 측정 수단을 포함함.
      4. 발명의 중요한 용도
      본 발명은 전자파 간섭 레벨 측정 시스템 등에 이용됨.
    • 6. 发明授权
    • 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면결함 검출 방법
    • 使用散射系数检测奇异板微带接地片中的缺陷的方法
    • KR100579138B1
    • 2006-05-12
    • KR1020030091184
    • 2003-12-15
    • 한국전자통신연구원
    • 강승택은종원이성팔
    • G01R29/08
    • G01R31/2822G01R27/28
    • 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
      본 발명은, 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 방법에 관한 것임.
      2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
      본 발명은, 마이크로스트립 소자의 접지면에 생긴 균열 등의 결함 존재 여부와 그 상태를 모듈화 조립 이전에 검출함으로써 슬랏 공진이나 그에 따른 소자의 성능저하에 따른 시간 또는 경제적인 손실을 낮추기 위한, 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 방법을 제공하는데 그 목적이 있음.
      3. 발명의 해결방법의 요지
      본 발명은, 산란계수 측정을 이용한 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 시스템에 적용되는 단일기판 마이크로스트립 접지면 결함 검출 방법에 있어서, 측정 대상(DUT)인 마이크로스트립 소자의 접지면에 존재하는 슬랏의 폭 또는/및 길이의 변화에 대한 산란계수의 변화에 대한 그래프를 도출하는 그래프 도출 단계; 상기 도출한 그래프에서 산란계수의 이상을 검출하는 산란계수 이상 검출 단계; 및 상기 검출한 산란계수의 이상에 상응하는 폭 또는/및 길이를 가지는 슬랏이 형성된 것으로 판정하는 판정 단계를 포함함.
      4. 발명의 중요한 용도
      본 발명은 마이크로파 및 밀리미터파 대역 시스템 등에 이용됨.
      마이크로스트립, 접지면, 결함 검출, 산란계수, 회로 분석기, 스미스 차트
    • 8. 发明授权
    • 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치 및 그 방법
    • 测量射频设备EMI电平的装置和方法
    • KR100586028B1
    • 2006-06-01
    • KR1020030093207
    • 2003-12-18
    • 한국전자통신연구원
    • 강승택은종원이성팔
    • G01R29/08
    • G01R31/001H05K9/0069
    • 1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술분야
      본 발명은, 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치 및 그 방법에 관한 것임.
      2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
      본 발명은, 벡터형 회로 분석기에서 계측한 기준 군지연 변화 정보와 외부 전자파 간섭에 의한 군지연 변화 정보간의 변화량의 편차를 통계적으로 계산하여 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨을 측정하는, 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있음.
      3. 발명의 해결 방법의 요지
      본 발명은, 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨 측정 장치에 있어서, 측정 대상인 고주파 부품과 일정 거리를 두고 그 주위를 선회하면서 전자파 신호를 방사하기 위한 전자파 방사 수단; 상기 전자파 방사 수단에서 방사되는 전자파 신호를 전달받아 그에 따른 신호를 출력하기 위한 상기 고주파 부품; 상기 고주파 부품과 연결되어, 상기 전자파 방사 수단에서 방사되는 전자파 신호에 의한 상기 고주파 부품의 군지연 변화 정보를 계측하기 위한 군지연 변화 계측 수단; 상기 전자파 방사 수단에서 방사되는 전자파 신호가 상기 군지연 변화 계측 수단으로 전달되지 않도록 차단하기 위한 전파 흡수 수단; 및 상기 각 구성 요소를 제어하며, 상기 군지연 변화 계측 수단에서 계측한 상기 고주파 부품의 군지연 변화 정보와 기 저장되어 있는 상기 고주파 부품의 기준 군지연 변화 정보를 통해 상기 전자파 방사 수단의 전자파 신호에 의한 상기 고주파 부품의 전자파 간섭 레벨을 측정하기 위한 전자파 간섭 레벨 측정 수단을 포함함.
      4. 발명의 중요한 용도
      본 발명은 전자파 간섭 레벨 측정 시스템 등에 이용됨.
      고주파 부품, 전자파 간섭 레벨 측정, 군지연 변화 정보, 편차값, 전력값
    • 10. 发明公开
    • 더미 공동을 이용한 공동필터의 동조 방법
    • 使用DUMIY CAVITY的空气过滤器调谐方法
    • KR1020030095087A
    • 2003-12-18
    • KR1020020032607
    • 2002-06-11
    • 한국전자통신연구원
    • 이주섭엄만석강승택염인복이성팔
    • H01P1/20
    • PURPOSE: A tuning method is provided to eliminate the necessity of performing an additional tuning by using a short-ended dummy cavity. CONSTITUTION: A tuning method comprises a first step of calculating an impedance inverter value of the cavity by using a normalized coupling matrix and a termination of a filter; a second step of determining the size of a slot(111) by measuring the intercavity coupling; a third step of separating the filter into short circuits; a fourth step of tuning a first cavity(101) with a dummy cavity(201) by coupling the dummy cavity having the structure same as the structure of a second cavity connected to the first cavity; a fifth step of removing the dummy cavity and coupling the first cavity and the second cavity; and a sixth step of repeatedly performing the third to fifth steps over a plurality of cavities.
    • 目的:提供一种调谐方法,以消除使用短端虚拟腔进行附加调谐的必要性。 构成:调谐方法包括通过使用归一化耦合矩阵和滤波器的终止来计算空腔的阻抗反相器值的第一步骤; 通过测量所述腔间耦合来确定槽(111)的尺寸的第二步骤; 将过滤器分离成短路的第三步骤; 通过将具有与连接到第一腔的第二腔的结构相同的结构的虚拟空腔耦合到具有虚拟空腔(201)的第一空腔(101)的第四步骤; 第五步骤,去除所述虚拟腔并联接所述第一腔和所述第二腔; 以及在多个空腔上反复进行第三到第五步骤的第六步骤。