专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

KR1020140059688A 에너지 분산형 형광 분석기의 프레임 누적 스캔 방법 有权
标题翻译：能量分散X射线荧光光谱仪的框架累积扫描方法
公开(公告)号：KR1020140059688A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：KR1020130003273
申请日：2013-01-11
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/225
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/225 , G01N2223/076 , G02B21/002
摘要： Disclosed is a frame accumulation scanning method for an energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer. The disclosed frame accumulation scanning method for an energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer is to analyze elements, which are contained in a specimen, by collecting fluorescence X-rays emitted from the specimen after irradiating electron beams emitted from an electron gun, and comprises: a step of setting an interest area to be analyzed; a step of dividing the interest area into multiple detail areas; a step of setting the sizes of spots, to which the electron beams are irradiated, in response to the sizes of the detail areas; a step of setting beam irradiation time to be shorter than time, in which the deformation of the specimen is generated by the electron beams, depending on the intensity of the electron beams, the sizes of the detail areas, and the kind of the specimen; a step of measuring spectra by collecting the fluorescence X-rays after respectively irradiating the electron beams to the detail areas for the beam irradiation time, and then storing the spectra to be accumulated on previously measured spectra; and a step of repetitively performing a step of determining the spectra, which are stored to be accumulated, to be analyzable, and then storing the spectra, which are stored to be accumulated, to be accumulated on the previously measured spectra for the respective detail areas until the spectra, which are stored to be accumulated, are determined to be analyzable when determined to be unanalyzable.
摘要翻译：公开了一种用于能量色散X射线荧光光谱仪的帧累积扫描方法。所公开的能量色散X射线荧光光谱仪的帧累积扫描方法是通过从照射从电子枪射出的电子束之后收集从样本发射的荧光X射线来分析样品中包含的元素，并且包括：确定要分析的兴趣区域的步骤; 将兴趣区划分为多个细节区域的步骤; 响应于细节区域的尺寸，设置电子束照射到的斑点的尺寸的步骤; 根据电子束的强度，细节区域的大小和样品的种类，将光束照射时间设定为短于通过电子束产生样本的变形的时间的步骤; 通过在分别将电子束照射到光束照射时间的细节区域之后收集荧光X射线，然后将要累积的光谱存储在先前测量的光谱上来测量光谱的步骤; 以及重复执行存储为要被分析的光谱的步骤的步骤，然后将要积聚的光谱存储在先前测量的光谱上用于各个细节区域直到确定要被累积的光谱被确定为可分析，当确定为不可分析时。

2. 发明公开

KR1020160067527A 미세패턴 측정용 Micro-XRF 장치 및 방법 审中-实审
标题翻译：精细图案测量微型XRF的装置和方法
公开(公告)号：KR1020160067527A
公开(公告)日：2016-06-14
申请号：KR1020140173046
申请日：2014-12-04
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권 , 손현화
IPC分类号： G01N23/223 , G01B15/00
CPC分类号： G01N23/223 , G01B15/00
摘要： 본발명은, 피검체(100)에조사될엑스선을발생시키는엑스선튜브(50); 엑스선이통과하는제1 중공부(12)가형성된캐필러리(10)를내부에수용하는제1 하우징(21); 상기제1 하우징(21)의일면에제공되고, 상기제1 하우징의일면에대해경사면(28)을가지는제2 하우징(25); 상기경사면(28)에제공되는거울(31); 상기피검체(100)에반사되는엑스선을측정하는스펙트럼(70); 상기거울(31)에반사되는상을획득하는카메라(40)를포함하고, 상기제2 하우징(25) 및상기거울(31)은상기제1 중공부(12)와동일한축을가지는제2 중공부(26) 및홀(36)을가지는엑스선을이용한분석장치를제공한다. 본발명은초점거리가짧은경우에도피검체를동시에보면서캐필러리의정렬을동시에할 수있는엑스선을이용한분석장치를제공한다.
摘要翻译：本发明提供一种使用X射线的分析装置，包括：X射线管（50），其产生照射到被检体（100）的X射线; 其中容纳毛细管（10）的第一壳体（21），其中所述毛细管具有第一中空单元（12），所述X射线从所述第一中空单元（12）通过所述第一中空单元设置在所述第一壳体（21）的一个表面上的相对于所述第一壳体的所述一个表面具有倾斜表面（28）的第二壳体（25）设置在倾斜表面（28）上的反射镜; 测量从被检查物体（100）反射的X射线的光谱（70）; 获得反射镜（31）上反射的图像的相机（40），其中所述第二壳体（25）和所述反射镜（31）具有所述第二中空单元（26），并且具有与所述第一中空单元中空单元（12）。本发明提供了一种使用X射线的分析装置，即使在焦距相对较短的同时，也可同时观察待检查对象物而排列毛细管。

3. 发明授权

KR101494816B1 조명 조절 시스템 및 조도 조절 방법 有权
标题翻译：照明控制系统及方法
公开(公告)号：KR101494816B1
公开(公告)日：2015-02-23
申请号：KR1020130082803
申请日：2013-07-15
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： H05B37/02
摘要： 본 발명은 조명 제어 시스템 및 방법에 관한 것으로 조명에 공급되는 교류전원의 반주기 기간 동안 영전위를 기준으로 교류전원을 90도 이내로 차단하여 입력된 사용자 제어 정보에 대응하는 미리 결정된 도통각을 갖는 제어신호를 생성하고, 상기 제어신호의 도통각 크기를 감지하여 감지된 도통각 크기에 대응하는 전류 제어 정보에 따라 전류를 출력함으로써 사용자가 원하는 대로 조명을 정밀하게 제어할 수 있고, 조명 제어 정보의 종류에 따라 복수 개의 제어신호를 생성하고 복수 개의 제어신호의 순서와 도통각 크기를 통해 조명을 다양하게 제어할 수 있는 효과가 있다.

4. 发明公开

KR1020140059594A 플라스틱류 밀도 보정 방법 审中-实审
标题翻译：校正塑料密度的方法
公开(公告)号：KR1020140059594A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：KR1020120126198
申请日：2012-11-08
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N33/442 , G01N2223/076 , G01N2223/623 , G01N2223/633
摘要： The present invention relates to a method for correcting the density of plastic to enable the accurate measurement of plastic by correcting the density of the plastic. The method for correcting the density of plastic increases a tube current for irradiated X-ray to make dead time in the process of obtaining a spectrum identical to dead time in the process of measuring a standard specimen while a standard specimen is being measured, and performs a measurement operation.
摘要翻译：本发明涉及一种用于校正塑料密度的方法，以通过校正塑料的密度来精确测量塑料。用于校正塑料密度的方法在测量标准样品的同时测量标准样品的过程中获得与死区时间相同的光谱的过程中，使照射的X射线的管电流增加，以进行死区时间，并执行测量操作。

5. 发明公开

KR1020110110962A 형광엑스선을 이용한 비접촉식 두께 측정장치 有权
标题翻译：使用荧光X-RAYS连续厚度测量
公开(公告)号：KR1020110110962A
公开(公告)日：2011-10-10
申请号：KR1020100030280
申请日：2010-04-02
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01B15/02 , G01N23/223
摘要： 본 발명은 형광엑스선을 이용한 비접촉식 두께 측정장치에 관한 것으로, 엑스선 발생장치에서 방출되는 콘빔 형태의 다색화된 엑스선을 콜리메이터나 슬릿과 같은 빔 제한장치로 제한하여 교정용 엑스선과 측정용 엑스선으로 분리하여 서로 다른 2개의 방향으로 통과시키고, 하나의 검출기를 이용하여 빔 제한장치에 평행한 교정용 타깃에 의해 단색화되고 교정용 타깃에 조사된 후 방사되는 교정용 형광엑스선의 광자량과 피측정체에 평행한 측정용 타깃에 의해 단색화되고 피측정체를 투과하여 측정용 타깃에 조사된 후 방사된 다음 피측정체를 재투과하는 측정용 형광엑스선의 광자량을 분리하여 검출하며, 검출기는 측정용 형광엑스선의 광자량을 이용하여 피측정체의 두께를 측정하면서 교정용 형광엑스선의 광자량의 변화에 기인하는 피측정체의 두께 측정 오차를 보정한다.
본 발명은 하나의 검출기를 이용하므로 종래의 제작 원가 상승 문제를 해결하여 제작비용을 최소화하고 측정장치의 구조를 단순화할 수 있으며, 특히 교정용 형광엑스선의 광자량을 기준으로 피측정체를 투과한 측정용 형광엑스선의 광자량 정보를 실시간으로 보정함으로써 피측정체의 두께를 정확하게 측정할 수 있다.

6. 发明公开

KR1020170116521A 파장분산형 엑스선 형광분석장치용 멀티 분광 크리스털 모듈 및 이를 구비하는 파장분산형 엑스선 형광분석장치 无效
标题翻译：用于波长色散X射线荧光光谱仪的多光谱晶体模块和配备有它的波长色散X射线荧光分析仪
公开(公告)号：KR1020170116521A
公开(公告)日：2017-10-19
申请号：KR1020160044396
申请日：2016-04-11
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01N23/223 , G02B27/30 , G02B26/12
摘要： 본발명에의하면, 회전축선의원주방향을따라서배치되는다수의분광크리스털(158); 상기다수의분광크리스털이고정되고상기회전축선을중심으로자전하는회전지그유닛(151); 및상기회전지그유닛을상기회전축선을중심으로회전시키는회전구동기를포함하는파장분산형엑스선형광분석장치용멀티분광크리스털모듈및 이를구비하는파장분산형엑스선형광분석장치가제공된다.
摘要翻译：根据本发明，提供了沿旋转轴的圆周方向布置的多个光谱晶体158; 旋转夹具单元（151），其具有固定并围绕旋转轴线旋转的多个光谱晶体; 以及用于使旋转夹具单元绕旋转轴线旋转的旋转驱动器以及具有用于波长色散X射线荧光分析设备的多通道晶体模块的波长色散X射线荧光分析设备。

7. 发明授权

KR101716860B1 엑스선 형광분석 장치 有权
公开(公告)号：KR101716860B1
公开(公告)日：2017-03-27
申请号：KR1020160066383
申请日：2016-05-30
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01N23/223 , G02B27/30
摘要： 본발명은엑스선형광분석장치에관한것으로서, 엑스선을발생하는엑스선발생부; 엑스선발생부에이격배치되어시료를고정하는시료고정부; 및엑스선발생부와시료고정부사이에배치되며, 시료에조사되어시료에서발생하는형광엑스선을검출하는엑스선검출기;를포함하며, 엑스선검출기는시료에서발생하는형광엑스선의검출면적이증대되도록엑스선의투과경로를따라엑스선이통과되도록엑스선검출기를관통하여배치되는안내홀을구비한다. 본발명에의하면, 일방향을따라엑스선발생부, 엑스선검출기및 시료고정부를배치하고, 엑스선검출기에엑스선이통과할수 있는안내홀을형성함으로써형광엑스선이엑스선검출기에극대화되어조사되도록하여엑스선검출기의효율및 내구성을증대시킬수 있다.

8. 发明公开

KR1020140059593A 플라스틱 두께 보정 방법 审中-实审
标题翻译：校正塑料厚度的方法
公开(公告)号：KR1020140059593A
公开(公告)日：2014-05-16
申请号：KR1020120126197
申请日：2012-11-08
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01B15/02 , G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01B15/02 , G01N33/44 , G01N2223/076 , G01N2223/623 , G01N2223/633
摘要： The present invention relates to a method for correcting the thickness of plastic, which can obtain an accurate measuring value in the event of a sample not having the same elementary composition or thickness as a standard specimen. The method for correcting the thickness of plastic comprises as follows: a step of radiating X-rays generated from tube voltage at 50 kVP to an object; a step of calculating the thickness of the object based on the intensity of the X-rays; a step of measuring the scattering amount of Compton of an inner filter, and generating a correction curve based on the measurement; and a step of correcting the thickness of the object according to the correction curve.
摘要翻译：本发明涉及一种用于校正塑料厚度的方法，其可以在样品不具有与标准样品相同的基本组成或厚度的情况下获得精确的测量值。用于校正塑料厚度的方法包括以下步骤：将从50kVP的管电压产生的X射线照射到物体上; 基于X射线的强度来计算物体的厚度的步骤; 测量内部滤波器的康普顿的散射量并基于测量产生校正曲线的步骤; 以及根据校正曲线校正物体的厚度的步骤。

9. 发明公开

KR1020080088057A 엑스선 형광분석장치 및 그 장치를 이용한 엑스선 형광분석방법 有权
标题翻译： X射线荧光光谱仪
公开(公告)号：KR1020080088057A
公开(公告)日：2008-10-02
申请号：KR1020070030406
申请日：2007-03-28
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/00 , B82Y35/00
CPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2076 , G01N23/227 , G01N2223/076 , G01N2223/313 , G01N2223/615
摘要： An X-ray fluorescence spectrometer and an X-ray fluorescence spectrometry method are provided to radiate X-ray to a part of a sample according to the elements of the sample by rotating a filter. An X-ray fluorescence spectrometer includes an X-ray generator(10), a reflective filter(20), a collimator(30), a sample holding unit(40), a detector(50), a signal processor(60), and a display device(70). The reflective filter reflects monochromatic X-rays radiated from the X-ray generator. The collimator filters the monochromatic X-rays to radiate predetermined energy band of the monochromatic X-rays. The sample holding unit holds a sample. The detector detects fluorescence X-rays only generated from the sample. The signal processor divides the fluorescence X-rays by energy to detect characteristic radiation of each element of the sample and processes the characteristic radiation into signals. The display device displays the signals produced by the signal processor.
摘要翻译：提供X射线荧光光谱仪和X射线荧光光谱法，通过旋转滤光片，根据样品元素向样品的一部分辐射X射线。 X射线荧光光谱仪包括X射线发生器（10），反射滤光片（20），准直仪（30），样品保持单元（40），检测器（50），信号处理器（60）和显示装置（70）。反射滤光镜反射从X射线发生器辐射的单色X射线。准直器对单色X射线进行过滤以辐射单色X射线的预定能带。样品保持单元保持样品。检测器检测到仅从样品产生的荧光X射线。信号处理器通过能量分离荧光X射线以检测样品的每个元件的特征辐射并将特征辐射处理成信号。显示装置显示由信号处理器产生的信号。

10. 发明公开

KR1020170116522A 파장분산형 엑스선 형광분석장치용 콜리메이터 모듈 및 이를 구비하는 파장분산형 엑스선 형광분석장치 审中-实审
标题翻译：用于波长色散X射线荧光分析装置的准直器模块和具有相同的波长色散X射线荧光分析仪
公开(公告)号：KR1020170116522A
公开(公告)日：2017-10-19
申请号：KR1020160044397
申请日：2016-04-11
申请人： 주식회사 아이에스피
发明人： 박정권
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 본발명에의하면, 형광엑스선이통과하는제1 콜리메이터(142); 형광엑스선이통과하고상기제1 콜리메이터와병렬로배치되는제2 콜리메이터(143); 및상기두 콜리메이터가배치된방향을따라서상기두 콜리메이터를직선왕복이동시키는구동기(146)를포함하며, 상기두 콜리메이터는서로다른평행도를제공하는것을특징으로하는파장분산형엑스선형광분석장치용콜리메이터모듈이제공된다.
摘要翻译：根据本发明，荧光X射线通过的第一准直器142; 第二准直器（143），使荧光X射线通过并与第一准直器平行排列; 和两个准直器和用于移动所述往复线性驱动器146的两个因此准直器被安排方向准直仪模块，所述两个准直器具有不同的并行波长分散型荧光X射线分析仪，包括：提供的步骤它现在可用。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式