会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 3. 发明授权
    • 선택적 자기 차폐를 이용한 반도체 단결정 제조장치 및 제조방법
    • 使用选择性磁屏蔽制造半导体单晶的装置和方法
    • KR101022933B1
    • 2011-03-16
    • KR1020080087698
    • 2008-09-05
    • 에스케이실트론 주식회사
    • 홍영호조현정이홍우
    • H01L21/208H01L21/02
    • 본 발명은 선택적 자기 차폐를 이용한 반도체 단결정 제조장치 및 제조방법을 개시한다. 본 발명에 따른 선택적 자기 차폐를 이용한 반도체 단결정 제조장치는, 반도체 융액을 수용하는 석영 도가니, 석영 도가니를 회전시키는 도가니 회전수단, 석영 도가니 측벽 주위에 설치된 히터 및 종자결정에 의해 석영 도가니에 수용된 반도체 융액으로부터 단결정을 인상하는 인상수단을 포함하는 쵸크랄스키(Czochralsky) 법을 이용한 반도체 단결정 제조장치에 있어서, 상기 석영 도가니의 둘레에 설치되어 자기장을 석영 도가니에 인가하는 자기장 인가수단; 및 상기 자기장 인가수단의 내측과 석영 도가니 외측 사이에 설치되어 자기장 인가수단으로부터 고액 계면 측으로 인가되는 자기장을 선택적으로 차폐하여 석영 도가니 내벽의 자기장 세기보다 고액 계면의 자기장 세기를 감소시키는 자기 차폐수단;을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
      쵸크랄스키(CZ) 법, 커스프(Cusp) 자기장, 고액 계면, 자기 차폐
    • 5. 发明公开
    • 고품질 실리콘 단결정 제조 방법 및 장치
    • 制造高品质硅单晶的方法和装置
    • KR1020100102841A
    • 2010-09-27
    • KR1020090021108
    • 2009-03-12
    • 에스케이실트론 주식회사
    • 조현정이홍우곽만석신승호
    • C30B15/20G01G19/52
    • PURPOSE: A method and an apparatus for manufacturing high quality silicon single crystal are provided to control the silicon signal crystal in a non-defect margin by correcting a melt gap variation in a shoulder process or a body process. CONSTITUTION: When silicon single crystal is grown, a melt gap deviation is corrected by calculating the amounted of the melt gap deviation based on the weight or diameter of the silicon single crystal. The diameter of the silicon single crystal is increased to a target diameter by controlling the growing speed of the silicon single crystal in order to grow a single crystal shoulder. Based on the target weight of the shoulder, the weight variation of the grown shoulder is measured(S40). Based on the calculated weight variation, the amount of a melt gap variation is calculated(S50).
    • 目的:提供一种用于制造高质量硅单晶的方法和装置,用于通过校正肩部过程或身体过程中的熔体间隙变化来控制非缺陷边缘中的硅信号晶体。 构成:当硅单晶生长时,通过基于硅单晶的重量或直径计算熔体间隙偏差的量来校正熔体间隙偏差。 通过控制硅单晶的生长速度以增长单晶肩部,将硅单晶的直径增加到目标直径。 基于肩部的目标重量,测量生长肩部的重量变化(S40)。 基于计算的重量变化,计算熔体间隙变化量(S50)。
    • 10. 发明公开
    • 실리콘 단결정 제조방법
    • 高品质硅单晶和硅晶体的生产方法
    • KR1020070072346A
    • 2007-07-04
    • KR1020060101952
    • 2006-10-19
    • 에스케이실트론 주식회사
    • 조현정
    • C30B15/20C30B29/06
    • A method for fabricating a high-quality silicon single crystal is provided to fabricate a defectless high-quality single crystal ingot at a high growth speed by effectively controlling the temperature distribution of a melt. The lower part of a solid-liquid interface of a single crystalline growth is divided into a center part and an outer circumferential part so that the temperature gradient of the center part and the temperature gradient of the outer circumferential part are separately controlled. The temperature gradient of the outer circumferential part can be controlled by adjusting the temperature gradient of a single crystal. The temperature gradient of the single crystal can be controlled by adjusting the gap of a thermal shield.
    • 提供一种制造高品质硅单晶的方法,通过有效地控制熔体的温度分布,以高生长速度制造无缺陷的高品质单晶锭。 将单晶生长的固液界面的下部分成中心部和外周部,使得外周部的中心部的温度梯度和温度梯度被分别控制。 可以通过调节单晶的温度梯度来控制外周部的温度梯度。 可以通过调节热屏蔽的间隙来控制单晶的温度梯度。