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1. 发明公开

KR1020000015679A 수직핸들러벌크로더의튜브충격버퍼장치및그구동방법 失效
标题翻译：管式冲击缓冲装置及垂直式手推车装载机的驱动方法
公开(公告)号：KR1020000015679A
公开(公告)日：2000-03-15
申请号：KR1019980035716
申请日：1998-08-31
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 노창균 , 이원희
IPC分类号： G01R31/28
摘要： PURPOSE: A tube shocking bulk buffer device of a vertical handler bulk loader is provided to suppress bent defect generated at an external lead of a semiconductor package mounted upon a tube in a vertical handler. CONSTITUTION: A first cylinder is coupled on a top of a bulk loader. A first and a second air pipes are coupled to the first cylinder and forwardly/backwardly move the first cylinder to/from the bulk loader. A third and a fourth air pipes are coupled to the second cylinder and forwardly/backwardly moves the second cylinder to/from the bulk loader. An air exhausting pipe is coupled to the first and the third air pipes, and an air suction pipe is coupled to the second and the fourth air pipes. A main valve is coupled to the air exhausting and the suction pipes, and a solenoid valve is disposed between the air exhausting valve and the air suction valve and controls stream of air by an electric signal.
摘要翻译：目的：提供垂直处理器大容量装载机的管状冲击性大容量缓冲装置，以抑制在垂直处理器中安装在管上的半导体封装的外部引线处产生的弯曲缺陷。构成：第一个气缸联接在散装装载机的顶部。第一和第二空气管联接到第一气缸，并且向前/向后将第一气缸向前/向后移动到散装装载机。第三和第四空气管联接到第二气缸，并向前/向后将第二气缸向/从散装装载机运动。排气管联接到第一和第三空气管，并且空气吸入管联接到第二和第四空气管。主阀与排气管和吸管连接，电磁阀设置在排气阀和吸气阀之间，并通过电信号控制空气流。

2. 发明公开

KR1019990050824A 반도체 칩 검사장치의 튜브 엘리베이터부 无效
标题翻译：半导体芯片检查装置的管升降器部分
公开(公告)号：KR1019990050824A
公开(公告)日：1999-07-05
申请号：KR1019970070012
申请日：1997-12-17
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 노창균 , 김도성 , 이주동
IPC分类号： H01L21/68
摘要： 본 발명은 반도체 칩 패키지 검사장치에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 튜브 엘리베이터(Tube elevator)가 하강할 때 발생되는 안전사고를 방지하는 튜브 엘리베이터부에 관한 것이며, 이를 위하여 헤드가 하강하는 하한점 부근에 형성된 한 쌍의 감지장치와 감지장치에 연결된 제어기 및 제어기와 연결되어 실린더로 공급되는 공기를 조절할 수 있는 공기 조절기를 포함한 구조를 개시하고 또한 공기 조절기를 솔레노이드 밸브를 이용하여 구성하며, 이러한 구조를 통하여 감지장치의 신호에 따라 외부로부터 유입되는 공기를 실린더로 공기를 공급하는 방향 조절기 또는 외부로 배출함으로써 검사장치의 안정적인 동작을 도모할 수 있다.

3. 发明授权

KR100498435B1 수직핸들러벌크로더의튜브충격버퍼장치및그구동방법 失效
标题翻译：立式加料机冲击式缓冲装置及其操作方法
公开(公告)号：KR100498435B1
公开(公告)日：2005-09-26
申请号：KR1019980035716
申请日：1998-08-31
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 노창균 , 이원희
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 반도체 패키지의 리드에 가해지는 충격을 완화시킬 수 있는 수직 핸들러(handler) 벌크로더(bulk loader)의 튜브 충격 버퍼 장치 및 그 구동방법에 관해 개시한다. 이를 위해 본 발명은 한개 솔레노이드 밸브(solenoide valve)가 두개 이상의 실린더를 구동시키도록 하여, 반도체 패키지가 담김 튜브가 핸들러 벌크로더로 자유 낙하에 의한 슬라이딩(sliding)을 하여 떨어질때 발생하는 반도체 패키지 충격을 완화시킬 수 있는 벌크로더의 튜브 충격 버퍼 장치 및 그 구동방법을 제공한다.

4. 发明公开

KR1020000015678A 안전성이 향상된 반도체 제조공정의 공기압 구동용 검사설비 및조립설비 失效
标题翻译：具有改进安全性的半导体制造工艺驱动气体的试验和组装设备
公开(公告)号：KR1020000015678A
公开(公告)日：2000-03-15
申请号：KR1019980035715
申请日：1998-08-31
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이성수 , 노창균
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： PURPOSE: A test and assembly equipment for driving pneumatics of a semiconductor fabricating process are provided to improve safety by controlling pneumatics in the equipment using an emergency cutoff switch. CONSTITUTION: The equipment comprises a main power mounted upon one end of a body of the equipment, a main air supply line coupled to one end of the equipment, an exhausting line coupled to the main air supply line, a utility air supply line receiving air from the main air supply line and transmitting the air to various driving parts, and a solenoid valve converting air stream to the utility air supply line into air stream to the exhausting line when powered on/off by the main power. The solenoid valve is coupled to the main power, the main air supply line, the exhausting line, and the utility air supply line.
摘要翻译：目的：提供一种用于驱动半导体制造工艺气动的测试和组装设备，以通过使用紧急切断开关控制设备中的气动来提高安全性。构成：设备包括安装在设备主体一端的主电源，耦合到设备一端的主供气管线，与主供气管线相连的排气管线，接收空气的公用空气供应管线从主供气管路将空气传送到各种驱动部件，以及电磁阀，当通过主电源通电/断开时，将空气流转换到空气供给管路进入排气管路。电磁阀联接到主电源，主空气供应管线，排气管路和公用空气供应管线。

5. 发明公开

KR1019980066394A 테스트 핸들러의 그리퍼 无效
标题翻译：测试处理程序的抓手
公开(公告)号：KR1019980066394A
公开(公告)日：1998-10-15
申请号：KR1019970001876
申请日：1997-01-23
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 노창균 , 이종철 , 이병돈
IPC分类号： H01L21/66
摘要： 본 발명은 반도체 패키지 테스트 핸들러(handler)의 그리퍼(gripper)에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 전기적 검사가 완료된 반도체 패키지가 담긴 튜브(tube)를 언로드(unload)하기 위한 그리퍼의 구조 변경에 관한 것으로 테스트가 완료된 반도체 패지를 튜브에 넣고, 그 튜브를 언로드 하기 위한 테스트 핸들러의 그리퍼로서, 튜브를 장방향으로 잡기 위해 마주보는 한쌍의 그리퍼 몸체와, 그 그리퍼 몸체의 마주보는 면에 부착되어 상기 튜브와 직접 접촉되는 접촉부를 갖고 있는 테스트 핸들러의 그리퍼에 있어서, 상기 튜브를 언로드하기 위한 그리퍼의 접촉부에 홈이 형성되어 있는 있는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 그리퍼를 제공하여 튜브의 휨 이나 미끄러짐을 방지하기 위한 것에 관한 것이다.

6. 发明授权

KR100498434B1 안전성이 향상된 반도체 제조공정의 공기압 구동용 검사설비 및조립설비 失效
标题翻译：在半导体制造过程中通过空气压力驱动的测试和组装设备
公开(公告)号：KR100498434B1
公开(公告)日：2005-09-26
申请号：KR1019980035715
申请日：1998-08-31
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이성수 , 노창균
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 공기압에 의해 구동되는 설비에서 주전원이 차단되면 설비 내부의 공기 유입을 차단함으로써 안전성을 향상시킬 수 있는 공기압으로 구동된 반도체 검사 및 조립 설비를 제공한다. 이를 위해 본 발명은, 설비의 몸체 일단에 장착된 주 전원과, 상기 설비의 일단에 연결된 메인 공기 공급 라인과, 상기 메인 공기 공급 라인과 연결되도록 구성된 배기라인과, 상기 메인 공기 공급 라인에서 공기를 공급받아 설비의 각종 구동부위로 공기를 전달하는 유틸리티 공기 공급 라인과, 상기 주전원, 상기 메인 공기 공급라인, 상기 배기라인 및 상기 유틸리티 공기 공급 라인에 연결되어 주 전원에 의해 온/오프(ON/OFF)되며 오프(OFF)되면 공기의 흐름을 상기 유틸리티 공급 라인에서 배기라인 쪽으로 전환할 수 있는 솔레노이드 밸브를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 제조공정의 공기압 구동용 검사 및 조립설비를 제공한다.

7. 发明公开

KR1020050031598A 반도체 소자용 테스트 핸들러 无效
标题翻译：半导体器件的测试处理器
公开(公告)号：KR1020050031598A
公开(公告)日：2005-04-06
申请号：KR1020030067798
申请日：2003-09-30
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이은수 , 유재형 , 이병천 , 김영규 , 이종철 , 노창균 , 박영대 , 허용강 , 김범식 , 이원희
IPC分类号： H01L21/66
摘要： A semiconductor device test handler is provided to maintain best condition in a low-temperature test process by removing moisture and frost from a liquefied nitrogen supply pipe, a liquefied nitrogen injection bar, a solenoid valve, and an inside of a chamber. A test chamber(112) is used for forming test environment of high temperature or low temperature to test a semiconductor device of a test tray. A preheating chamber(111) is installed at one side of the test chamber to preheat the semiconductor device. A discharging chamber(115) is installed at the other side of the test chamber to restore the semiconductor device to an atmospheric state. A fluid supply tube is used for transferring and injecting the cooling fluid from a cooling fluid supply source to the preheating chamber and the test chamber. A dry air supply tube(137) is used for supplying the dry air from a dry air supply source to the test chamber. A heater is installed nearly to a valve assembly to apply the heat to a valve and the cooling fluid supply tube.
摘要翻译：提供了一种半导体器件测试处理器，通过从液化氮气供应管，液化氮气注入杆，电磁阀和室内消除湿气和霜而在低温测试过程中保持最佳状态。测试室（112）用于形成高温或低温的测试环境，以测试测试托盘的半导体器件。预热室（111）安装在测试室的一侧以预热半导体器件。放电室（115）安装在测试室的另一侧，以将半导体器件恢复到大气状态。流体供应管用于将冷却流体从冷却流体供应源转移和注入到预热室和测试室。干空气供应管（137）用于将来自干燥空气供应源的干燥空气供应到测试室。加热器几乎安装在阀组件上以将热量施加到阀和冷却液供应管。

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