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    • 4. 发明公开
    • 테스트 장치 및 이를 포함하는 테스트 시스템
    • 测试装置和测试系统,包括它们
    • KR1020120064892A
    • 2012-06-20
    • KR1020100126151
    • 2010-12-10
    • 삼성전자주식회사
    • 김윤철이창호최진호김민우
    • G01R31/28G01R27/02
    • G01R31/2812G01R31/2813G01R27/02G01R31/2805G01R31/2806
    • PURPOSE: A test device and test system including the same are provided to precisely determine the defect of passive devices by using impedance change according to a level size of power applied to the passive devices. CONSTITUTION: A test apparatus(10) includes a signal sensing unit(100) and a signal processing unit(300). The signal sensing unit senses a signal generated from a target device and generates a test output signal. The target device includes a plurality of passive devices each other connected in parallel. The signal processing unit measures the impedance of the target device based on device characteristic information of the plurality of passive devices. The signal processing unit determines the poor openness of the passive devices.
    • 目的:提供包括该测试装置和测试系统的测试装置和测试系统,以根据施加到无源器件的功率的电平大小,通过使用阻抗变化来精确地确定无源器件的缺陷。 构成:测试装置(10)包括信号感测单元(100)和信号处理单元(300)。 信号感测单元感测从目标设备产生的信号,并产生测试输出信号。 目标装置包括彼此并联连接的多个无源装置。 信号处理单元基于多个无源器件的器件特性信息来测量目标器件的阻抗。 信号处理单元确定无源器件的开放性差。
    • 7. 发明授权
    • 유연성 회로 기판을 이용하는 반도체 칩 패키지 실장 구조
    • 半导体芯片封装安装结构采用柔性电路板
    • KR100715316B1
    • 2007-05-08
    • KR1020060013829
    • 2006-02-13
    • 삼성전자주식회사
    • 김민우황성욱임광만
    • H05K1/14H01L23/28H01L23/12
    • 본 발명은 전자 모듈의 소형화를 도모할 수 있는 반도체 칩 패키지 실장 구조에 관한 것이다. 반도체 칩 패키지가 모듈 기판에 직접 부착되는 종래의 반도체 칩 패키지 실장 구조는 모듈 기판 상에 패키지 크기만큼의 실장 면적을 필요로 하기 때문에 전자 모듈의 소형화 및 다기능화에 대응하는 데에 한계가 있다. 이를 개선하기 위하여 본 발명은 유연성 회로 기판의 일 측에 반도체 칩 패키지 실장되고 타 측이 모듈 기판과 범프 접합되어 유연성 회로 기판과 모듈 기판이 상호 전기적으로 연결되고, 반도체 칩 패키지가 임의의 위치에 배치된 반도체 칩 패키지 실장 구조를 제공한다. 이에 따르면, 유연성 회로 기판을 매개로 반도체 칩 패키지를 실장함으로써 모듈 기판에 반도체 칩과의 전기적 연결에 실질적으로 필요한 최소한의 실장 면적만이 요구되고, 반도체 칩 패키지를 임의의 위치에 배치할 수 있다. 따라서 모듈 기판의 크기를 축소할 수 있어 전자기기의 소형화 및 다기능화에 대한 대응이 종래에 비하여 용이하다. 또한 반도체 칩 패키지를 직접 실장하는 종래에 비하여 접합 부분에서의 열 및 외부 충격에 대한 신뢰성이 향상된다.
      반도체 칩 패키지, 전자 모듈, 모듈 기판, 보드, 플립 칩 본딩, 유연성 회로 기판
    • 本发明涉及一种能够使电子模块小型化的半导体芯片封装安装结构。 传统的半导体芯片封装的安装结构中,半导体芯片封装被直接附连到模块基板有用于响应于小型化和电子模块的多功能,因为它需要将包作为在模块基板上的尺寸的安装面积的限制。 本发明是一侧安装所述半导体管芯封装,并在该基板的柔性电路的模块基板与凸块接合柔性电路板和模块基板的另一侧连接到彼此电,设置半导体芯片封装是在任何位置,以改善这一点, 提供半导体芯片封装安装结构。 因此,有可能,通过将半导体芯片封装安装在柔性电路板中间的安装面积的最小数目是基本上必需的,因为模块基板上的半导体芯片之间的电连接是必需的,将所述半导体芯片封装在任何位置。 因此,能够降低相应于尺寸减小和电子设备的多个功能的模块基板的大小是相对于现有的容易。 另外,与其中直接安装半导体芯片封装的现有技术相比,接合部分的耐热和外部冲击的可靠性提高。