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    • 9. 发明授权
    • 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법
    • 多层陶瓷电子部件及其制造方法
    • KR101771728B1
    • 2017-08-25
    • KR1020120079526
    • 2012-07-20
    • 삼성전기주식회사
    • 윤석현이병화김창훈권상훈
    • H01G4/12H01G4/30
    • H01G4/12H01G4/1227H01G4/30
    • 본발명은적층세라믹전자부품및 이의제조방법에관한것으로, 본발명은유전체층을포함하는세라믹본체; 및상기세라믹본체내에서상기유전체층을사이에두고서로대향하도록배치되는제1 및제2 내부전극;을포함하며, 상기세라믹본체는용량형성부인액티브층과상기액티브층의상면및 하면중 적어도일면에형성되는용량비형성부인커버층을포함하며, 상기세라믹본체의두께를 t라하고상기커버층의두께를 T라할 때, T ≤ t × 0.05를만족하고, 상기액티브층유전체그레인의평균입경을 Da라하고상기커버층의유전체그레인의평균입경을 Dc라할 때, 0.7 ≤ Dc/Da ≤ 1.5를만족하는적층세라믹전자부품을제공한다. 본발명에따르면유전체층의그레인의평균입경을조절하여내습성이우수한고용량적층세라믹전자부품의구현이가능하다.
    • 本发明涉及一种多层陶瓷电子器件及其制造方法,其中,本发明的陶瓷体包括介电层; 和第一mitje第二内部电极,布置成将彼此相对的陶瓷主体内的介电层之间;形成上的至少一侧,并且包括陶瓷主体已以形成拒绝所述有源层和所述有源层的上侧和下侧的能力 其中,T为陶瓷体的厚度,T为覆盖层的厚度,Da为有源层介质颗粒的平均粒径, 并且覆盖层的电介质颗粒的平均晶粒尺寸为Dc,0.7≤Dc/Da≤1.5。 根据本发明,通过调整电介质层的平均粒径,能够实现耐湿性优异的高容量的多层陶瓷电子部件。