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1. 发明公开

KR1020170024456A 적외선 검출기 및 이를 포함한 온도 센서 审中-实审
标题翻译：红外探测器及其红外热传感器
公开(公告)号：KR1020170024456A
公开(公告)日：2017-03-07
申请号：KR1020150119753
申请日：2015-08-25
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 이성호 , 유상용 , 정재연 , 김영일
IPC分类号： G01J5/12 , G01J5/06
CPC分类号： G01J5/0853 , G01J5/12
摘要： 본발명의일 실시예에따른적외선검출기는열 에너지를전달받아기전력을발생시키는복수의열전쌍및 적외선이조사되는상기열전쌍의일면에구비되며, 적외선을흡수하는흡수체를포함하며, 복수의상기열전쌍은방사상으로구비되며, 상기흡수체는열접점인상기열전쌍의일단부에구비될수 있다. 또한, 본발명의다른실시예에따른온도센서는상기적외선검출기및 상기적외선검출기가결합되는기판을포함할수 있다.
摘要翻译：红外检测器包括被配置为在接收热能时产生电动势的热电偶和被配置为吸收红外光并设置在每个热电偶的表面上的吸收体。热电偶是径向设置的，并且吸收器设置在相应热电偶的第一端，第一端被配置为热连接。

2. 发明公开

KR1020160024199A 열전 모듈 및 그 제조 방법 审中-实审
标题翻译：热电模块及其制造方法
公开(公告)号：KR1020160024199A
公开(公告)日：2016-03-04
申请号：KR1020140110723
申请日：2014-08-25
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 이성호 , 정재연 , 유상용 , 이영수 , 김석
IPC分类号： H01L35/30 , H01L35/34
CPC分类号： H01L35/32 , H01L35/04 , H01L35/18 , H01L35/20 , H01L35/34
摘要： 본발명에의한열전모듈은, p형반도체소자와 n형반도체소자가하부절연기판의상부에수평방향으로배치된하부열전모듈; 서로전기적으로연결된 p형반도체소자와 n형반도체소자가상부절연기판의하부에수평방향으로배치된상부열전모듈; 및상기상부열전모듈의 p형반도체소자와상기하부열전모듈의 p형반도체소자를접합하고, 상기상부열전모듈의 n형반도체소자와상기하부열전모듈의 n형반도체소자를접합하기위한접합부를포함하고, 접합부에의해열전반도체소자가형성된상부열전모듈과열전반도체소자가형성된하부열전모듈을접합하여열전반도체소자부의두께를실질적으로 2배가되도록함으로써, 열전반도체소자부양단간의온도차를크게하여열전모듈의기전력을향상시킬수 있고, 열전모듈이온도센서로사용되는경우, 온도센서의감도를향상시킬수 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种热电模块，其包括：下部热电模块，其中p型半导体器件和n型半导体器件水平地设置在下部绝缘衬底的上部; 其中p型半导体器件和n型半导体器件彼此电连接的上部热电模块水平地设置在上部绝缘衬底的下部; 以及用于接合上部和下部热电模块的p型半导体器件的接合单元，并且连接上部和下部热电模块的n型半导体器件。具有由接合单元形成的热电半导体装置和其上形成有热电半导体装置的下部热电模块的上部热电模块接合，以使热电半导体装置单元的厚度基本上为两倍，从而改善了电动势通过允许热电半导体器件单元的两端之间的温差大，并且当将热电模块用作温度传感器时，提高温度传感器的灵敏度。

3. 发明授权

KR101319639B1 광조도와 광량 측정 모듈 및 이를 이용한 멀티 채널 측정기 有权
标题翻译：照度测量模块和多通道探测器
公开(公告)号：KR101319639B1
公开(公告)日：2013-10-17
申请号：KR1020110137429
申请日：2011-12-19
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 유상용 , 김석 , 김선경 , 봉은희
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/04
摘要： 본 발명은 광조도와 광량 측정 모듈 및 이를 이용한 멀티 채널 측정기에 관한 것이다.
본 발명에 따른 광조도와 광량 측정 모듈은, 중앙에 개구부를 갖는 하우징; 상기 하우징 내에 설치되며, 상기 하우징의 전방에 배치된 표준 광원에서 조사되는 광의 파장을 일정하게 변화시키는 디퓨져; 상기 디퓨져의 하부에 설치되며, 상기 디퓨져를 경유한 고에너지의 광의 세기를 감소시키는 ND(Neutral Density) 필터; 상기 ND 필터의 하부에 설치되며, 특정 영역의 파장 영역대를 선택적으로 투과시키는 밴드패스필터; 및 상기 하우징의 저면에 설치되며, 상기 밴드패스필터를 통해 투과되는 광을 수광하는 센서;를 포함한다.

4. 发明公开

KR1020130059103A 라운드형의 프로브 탑 제조방법 失效
标题翻译：制造圆形探头的方法
公开(公告)号：KR1020130059103A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：KR1020110125240
申请日：2011-11-28
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 유상용 , 김선경 , 김석 , 봉은희
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
摘要： PURPOSE: A manufacturing method of a round shape probe top is provided to form a probe top in a round shape through chemical etching. CONSTITUTION: A manufacturing method of a round shape probe top includes a step of preparing a water tub(110) which is filled with etching solution; a step of dipping a part of a first probe(10a) and a second probe(10b) in the etching solution(120); a step of performing an electrical connection to the first probe and the second probe; and a step of processing a first probe top and a second probe top into a round shape by raising or lowering the first probe or the second probe according to a first condition.
摘要翻译：目的：提供圆形探针顶部的制造方法，以通过化学蚀刻形成圆形的探针顶部。构成：圆形探针顶部的制造方法包括制备填充有蚀刻溶液的水桶（110）的步骤; 将第一探针（10a）和第二探针（10b）的一部分浸渍在蚀刻溶液（120）中的步骤; 执行与第一探针和第二探针的电连接的步骤; 以及通过根据第一条件升高或降低第一探针或第二探针来将第一探针顶部和第二探针顶部加工成圆形的步骤。

5. 发明公开

KR1020120109912A 부품 수량 측정 장치 失效
标题翻译：用于测量组件数量的设备
公开(公告)号：KR1020120109912A
公开(公告)日：2012-10-09
申请号：KR1020110027755
申请日：2011-03-28
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 박인수 , 유상용 , 이창주 , 김택겸 , 정재연
IPC分类号： G06M7/00
CPC分类号： G06M7/04
摘要： PURPOSE: A component quantity measuring apparatus is provided to automatically measure the number of components by sensing a sound wave generated from falling collision as an electric signal. CONSTITUTION: A component supply unit(110) receives a plurality of components. The component supply unit drops a plurality of the components. A sound wave generating unit(120) generates sound wave if the fallen components are in a collision. A quantity detection unit(130) detects the generated sound wave. The detection unit detects the quantity of components according to the sound wave.
摘要翻译：目的：提供一种部件数量测量装置，用于通过感测由下降的碰撞产生的声波作为电信号来自动测量部件的数量。构成：组件供应单元（110）接收多个组件。组件供应单元丢弃多个组件。声波产生单元（120）如果下降的组件处于碰撞状态，则产生声波。量检测单元（130）检测所生成的声波。检测单元根据声波检测分量的量。

6. 发明授权

KR101224804B1 부품 수량 측정 장치 失效
标题翻译：用于测量部件数量的装置
公开(公告)号：KR101224804B1
公开(公告)日：2013-01-21
申请号：KR1020110027755
申请日：2011-03-28
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 박인수 , 유상용 , 이창주 , 김택겸 , 정재연
IPC分类号： G06M7/00
摘要： 본 발명은 복수의 부품을 공급받아 낙하시키는 부품공급유닛; 상기 부품공급유닛으로부터 낙하되는 복수의 부품이 충돌되며, 상기 복수의 부품 충돌시 음파를 발생시키는 음파발생유닛; 그리고 상기 음파발생유닛으로부터 발생된 음파를 감지하여 상기 복수의 부품의 수량을 검출하는 수량검출유닛을 포함하는 부품 수량 측정 장치를 개시한다.
본 발명에 따르면, 공정간 부품의 수량을 자동으로 신속하고 정확하게 측정하여 기존 부품 수량 측정 공정의 비효율성을 개선함으로써 제조공정 단순화 및 공정시간 단축으로 인하여 제조비용을 절감하고 생산성을 향상할 수 있다.

7. 发明公开

KR1020160005588A 온도센서 审中-实审
标题翻译：温度感应器
公开(公告)号：KR1020160005588A
公开(公告)日：2016-01-15
申请号：KR1020140084760
申请日：2014-07-07
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 이성호 , 김석 , 유상용 , 이영수 , 정재연
IPC分类号： G01K7/01 , G01K7/02 , H01L35/02
摘要： 본발명에의한열전모듈은, 상부절연기판; 하부절연기판; 상기상부절연기판과상기하부절연기판사이에배치된열전소자; 및상기열전소자와상기하부절연기판사이에형성되고상기열전소자에전류를인가하거나상기열전소자로부터발생하는기전력을인출하기위한전극을포함하고, 상기열전소자는상부에제1 연결부가형성된 p형반도체소자와상부에제2 연결부가형성된 n형반도체소자를포함하며, 상기 p형반도체소자의제1 연결부와상기 n형반도체소자의제2 연결부는서로전기적으로직접연결되어, 경계면이줄어들고, 접촉저항이감소하여주울열에의한손실이줄어들어, 효율이높고성능이향상되며, 온도센서로서사용되는경우, 온도센서의분해능을향상시킬수 있고재료비를절감할수 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种热电模块。根据本发明，热电模块包括：上绝缘基板; 下绝缘基板; 布置在上绝缘基板和下绝缘基板之间的热电元件; 以及形成在所述热电元件和所述下绝缘基板之间的电极，其中所述电极将电流施加到所述热电元件或拉出由所述热电元件产生的电动势。热电元件包括：P型半导体器件，其中第一连接单元形成在其上部; 以及在其上部形成有第二连接单元的N型半导体器件。 P型半导体器件的第一连接单元和N型半导体器件的第二连接单元彼此直接和电连接; 从而减少边界面。此外，接触电阻降低，使得由于焦耳的热量的损失降低，从而提高热电模块的效率和性能。当热电模块用作温度传感器时，温度传感器提高其分辨率，并且降低材料成本。

8. 发明授权

KR101321183B1 라운드형의 프로브 탑 제조방법 失效
标题翻译：圆形探头顶部制造方法
公开(公告)号：KR101321183B1
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：KR1020110125240
申请日：2011-11-28
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 유상용 , 김선경 , 김석 , 봉은희
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
摘要： 본 발명의 실시예는 라운드형 프로브 탑의 제조방법에 관한 것으로서, 에칭 용액이 담긴 수조를 준비하는 단계; 에칭 용액에 제1 프로브와 제2 프로브의 일부를 침지시키는 단계; 제1 프로브와 제2 프로브에 전기적 연결을 수행하는 단계; 및 제1 프로브 또는 제2 프로브를 제1 조건에 따라 상승 또는 하강시켜 제1 프로브의 탑 및 제2 프로브의 탑을 라운드형으로 가공하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

9. 发明公开

KR1020130070214A 광조도와 광량 측정 모듈 및 이를 이용한 멀티 채널 측정기 有权
标题翻译：照明测量模块和使用其的多通道探测器
公开(公告)号：KR1020130070214A
公开(公告)日：2013-06-27
申请号：KR1020110137429
申请日：2011-12-19
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 유상용 , 김석 , 김선경 , 봉은희
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/04
摘要： PURPOSE: An illumination and intensity measuring module and a multi-channel measuring device using the same are provided to accurately measure the illumination and the intensity of radiation as filters and a sensor are formed into one module by being embedded in the device. CONSTITUTION: An illumination and intensity measuring module(200) comprises a housing unit(210), a diffuser(220), an ND filter(230), a band-pass filter(240), and a sensor(250). The housing unit includes an opening(211) in the center. The diffuser is installed inside the housing unit and regularly changes the wavelengths of lights irradiated by a reference light source arranged in the front side of the housing unit. The ND filter is installed under the diffuser and reduces the intensity of the lights having high energy transmitted through the diffuser. The band-pass filter is installed under the ND filter and transmits selectively a wavelength band of a specific domain. The sensor is installed in the bottom surface of the housing unit and receives the light transmitted through the band-pass filter.
摘要翻译：目的：提供照明和强度测量模块和使用该照明和强度测量模块的多通道测量装置，以便通过嵌入设备中将滤光片和传感器形成为一个模块来精确测量辐射的照度和强度。构成：照明和强度测量模块（200）包括壳体单元（210），漫射器（220），ND滤光器（230），带通滤光器（240）和传感器（250）。壳体单元包括在中心的开口（211）。扩散器安装在壳体单元的内部并且规则地改变布置在壳体单元的前侧中的参考光源照射的光的波长。 ND过滤器安装在扩散器下方，并降低通过扩散器传播的高能量的光的强度。带通滤波器安装在ND滤波器之下，并选择性地发送特定域的波段。传感器安装在壳体单元的底面，并接收透过带通滤光片的光。

10. 发明授权

KR101376935B1 비접촉식 전기검사장치 및 전기검사방법 有权
标题翻译：无接触电气检测装置及方法
公开(公告)号：KR101376935B1
公开(公告)日：2014-03-20
申请号：KR1020120122514
申请日：2012-10-31
申请人： 삼성전기주식회사
发明人： 유상용 , 김광명 , 김석 , 김선경 , 봉은희
IPC分类号： G01R31/02 , G01R19/12
摘要： The present invention relates to a contactless electrical test device. The device includes: an electron supply unit which generates charged electrons on one surface of an examination target object in a vacuum space; an electron movement guide unit which is separated from the other surface of the examination target object and guides contactless movement of the charged electrons on the formerly-mentioned surface of the examination target object; a high voltage application unit which applies high voltage to the vacuum space and the electron movement guide unit for forming an electric field in order to move the electrons generated by the electron supply unit, make the electrons to be charged onto the formerly-mentioned surface of the examination target object, and move the electrons charged onto the formerly-mentioned surface of the examination target object through the latterly-mentioned surface of the examination target object to the electron movement guide unit; a current/voltage measurement unit which measures currents and voltages due to the flow of the electrons which are induced to move by the electron movement guide unit; and a control unit which determines whether to disconnect or short-circuit a plurality of patterns formed on the examination target object according to the electrical variation of the current and the voltage measured by the current/voltage measurement unit. By testing whether the examination target object is disconnected or short-circuited without contact, the present invention is able to prevent damage due to direct contact onto the examination target object and reduce the manufacturing costs of a probe and a jig, which are usually expensive. [Reference numerals] (113) Power unit; (130) Current/voltage measurement unit; (140) High voltage application unit; (150) Position adjustment unit; (160) Control unit
摘要翻译：本发明涉及一种非接触式电气测试装置。该装置包括：在真空空间中在检查对象物的一个表面上产生带电电子的电子供给单元; 电子移动引导单元，其与检查对象物体的另一个表面分离，并且引导被检测对象物体的前述表面上的带电电子的非接触运动; 向真空空间施加高电压的高电压施加单元和用于形成电场的电子移动引导单元，以便移动由电子供给单元产生的电子，使得电子被充电到前述表面将检查对象物的前述表面上的电子通过检查对象物体的后述表面移动到电子移动引导部; 电流/电压测量单元，其测量由电子移动引导单元感应的电子的流动引起的电流和电压; 以及控制单元，其根据电流的电变化和由电流/电压测量单元测量的电压确定是否断开或短路形成在检查对象物体上的多个图案。通过测试检查对象是否断开或短路而没有接触，本发明能够防止由于直接接触到检查对象物体而导致的损坏，并且降低了通常昂贵的探针和夹具的制造成本。（附图标记）（113）动力单元; （130）电流/电压测量单元; （140）高压应用单元; （150）位置调整单元; （160）控制单元

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