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1. 发明授权

KR101119722B1 반도체 시험용 프로그램 디버그 장치 有权
标题翻译：半导体测试程序调试器件
公开(公告)号：KR101119722B1
公开(公告)日：2012-03-23
申请号：KR1020077026562
申请日：2006-05-10
申请人： 가부시키가이샤 아드반테스트
发明人： 콘도,시게루 , 키타자와,히데카주 , 쿠마가이,토시히사
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G01R31/31705 , G01R31/318314
摘要： 본 발명은 사양이 다른 반도체 시험 장치 또는 반도체 시험 프로그램을 이용한 경우에 설비의 낭비를 저감시킬 수 있는 반도체 시험용 프로그램 디버그 장치를 제공하기 위한 것이다. 반도체 시험용 프로그램 디버그 장치(300)은, 피시험 디바이스의 동작을 시뮬레이트하는 가상 디바이스(80)과, 가상 디바이스(80)과의 사이에서 입출력되는 의사 시험 신호와 응답 신호를 생성하는 전용，범용 테스트 벤치 처리부(60，70)과, 사양이 다른 복수의 반도체 시험용 프로그램 각각을 저장하는 변환원 프로그램 저장부(10 내지 14)와, 복수의 사양 각각에 대응하는 변환 규칙을 저장하는 전용 변환 규칙 저장부(30，32)，범용 변환 규칙 저장부(40，42)와, 변환원 프로그램 저장부(10 내지 14)에 저장된 반도체 시험용 프로그램을 변환 규칙을 이용하여 변환하는 것에 의하여 전용，범용 테스트 벤치 처리부(60，70)을 생성하는 변환 처리부(20 내지 26)을 구비하고 있다.
테스트 프로그램, 반도체

2. 发明公开

KR1020080008359A 반도체 시험용 프로그램 디버그 장치 有权
标题翻译：半导体测试程序调试器件
公开(公告)号：KR1020080008359A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：KR1020077026562
申请日：2006-05-10
申请人： 가부시키가이샤 아드반테스트
发明人： 콘도,시게루 , 키타자와,히데카주 , 쿠마가이,토시히사
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G01R31/31705 , G01R31/318314
摘要： It is possible to provide a semiconductor test program debut device capable of reducing the unnecessary facilities when using a semiconductor test device or a semiconductor test program of different specification. The semiconductor test program debug device (300) includes a virtual device (80) for simulating operation oft he device under test, a dedicated test bench processing unit and a general-purpose test bench processing unit (60, 70) for generating a pseudo test signal and a response signal inputted/outputted between to/from the virtual device (80), conversion source program storage units (10 to 14) for storing a plurality of semiconductor test programs of different specifications, dedicated conversion rule storage units (30, 32) and general-purpose conversion rule storage unit (40, 42) for storing conversion rules corresponding to the respective specifications, and conversion processing units (20 to 26) for generating the dedicated and the general-purpose bench processing units (60, 70) by using the semiconductor test programs stored in the conversion source program storage units (10 to 14).
摘要翻译：可以提供一种能够在使用不同规格的半导体测试装置或半导体测试程序时减少不必要的设备的半导体测试程序登场装置。半导体测试程序调试设备（300）包括用于模拟被测设备的操作的虚拟设备（80），专用测试台处理单元和通用测试台处理单元（60,70），用于产生伪测试信号和在虚拟装置（80）之间输入/输出的响应信号，用于存储不同规格的多个半导体测试程序的转换源程序存储单元（10至14），专用转换规则存储单元（30,32））和用于存储对应于各个规格的转换规则的通用转换规则存储单元（40,42）以及用于产生专用和通用台式处理单元（60,70）的转换处理单元（20至26）通过使用存储在转换源程序存储单元（10至14）中的半导体测试程序。

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