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1. 发明公开

KR1020050012849A 통전 시험용 프로브 有权
标题翻译：通电测试探针
公开(公告)号：KR1020050012849A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：KR1020047021434
申请日：2003-08-29
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 미야기,유지 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/06727
摘要： 프로브는, 상하방향으로 간격을 두고 좌우방향으로 연장하는 제1 및 제2 암부와, 상기 제1 및 제2 암부를 그들 선단부 및 기단부에서 각각 연결하는 제1 및 제2 연결부와, 제1 연결부의 상하방향에 있어서의 한쪽에 이어지는 침선부를 포함한다. 제1 및 제2 암부의 최소한 한쪽은, 해당 암부의 전체, 해당 암부의 상하방향에 있어서의 한쪽 가장자리부, 및 해당 암부의 상하방향에 있어서의 다른 쪽 가장자리부의 최소한 하나를 활 형상으로 하고 있다.

2. 发明授权

KR101110237B1 프로브 카드 및 검사장치 有权
标题翻译：探测卡和检测仪器
公开(公告)号：KR101110237B1
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：KR1020100031183
申请日：2010-04-06
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 이시가키,타츠오 , 호시,카츠지 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07385 , G01R1/36
摘要： 본 발명의 목적은, 자동 전환기구의 제어를 프로브 카드 내에서 하여 테스터로부터 독립시키고, 테스터로부터의 제어신호 수에 제한되지 않고, 검사대상을 늘리는데 있다. 본 발명은, 검사대상물의 전극에 접촉시키는 복수의 프로브와, 상기 프로브와 테스터를 전기적으로 접속하는 전원채널을 갖춘 프로브 카드 및 검사장치이다. 각 전원채널을 각각 복수의 전원 배선부로 분기시켜 상기 각 프로브에 각각 접속시킴과 동시에, 과전류 등의 전기적 변동에 근거해 상기 전원 배선부를 차단하는 자동 전환기구와, 상기 검사대상물 중에 불량품이 존재함으로써 상기 전기적 변동이 발생한 경우, 그 전기적 변동을 검출하는 전기적 변동 검출기구와, 상기 전기적 변동 검출기구로 전기적 변동을 검출했을 때, 그 전기적 변동이 발생한 전원 배선부를 상기 자동 전환기구로 차단시키는 제어기구를 갖추었다.

3. 发明公开

KR1020090092214A 전기적 접속 장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020090092214A
公开(公告)日：2009-08-31
申请号：KR1020080127583
申请日：2008-12-16
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 키요후지,히데히로 , 미우라,키요토시 , 아카히라,아키히사 , 키쿠치,요시노리
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07307
摘要： An electrical connection device is provided to prevent a worker from contacting an electronic device by protecting the electronic device arranged on an upper side of a probe assembly by a cover. An electrical connection device(10) includes a probe assembly and a cover(32). The probe assembly includes a circular flat probe substrate(12), a wiring board, a support member(24), and a suppressing member. The probe substrate has a plurality of contactors in the bottom plane. The wiring board is arranged in an upper surface of the probe substrate and the plurality of electric devices. The support member is arranged on the wiring board. The suppressing member is arranged on the upper surface of the support member to suppress the thermal deformation. A cover is arranged on the upper surface of the thermal deformation suppressing member and closes the space where the electronic device is arranged.
摘要翻译：提供一种电连接装置，以通过保护布置在探针组件的上侧的电子装置通过盖而防止工人接触电子装置。电连接装置（10）包括探针组件和盖（32）。探针组件包括圆形平面探针基板（12），布线板，支撑构件（24）和抑制构件。探针基板在底面具有多个接触器。布线板布置在探针基板的上表面和多个电气装置中。支撑构件布置在布线板上。抑制构件布置在支撑构件的上表面上以抑制热变形。在热变形抑制构件的上表面上设置有盖，并且封闭电子装置配置的空间。

4. 发明公开

KR1020080048920A 전기적 접속 장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020080048920A
公开(公告)日：2008-06-03
申请号：KR1020070106400
申请日：2007-10-23
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미야기,유지 , 키요후지,히데히로 , 아카히라,아키히사 , 기쿠치,요시노리
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/2891
摘要： An electrical connecting apparatus is provided to enhance reliability in an electrical test process by connecting electrically a probe tip with a corresponding electrode irrespective of non-uniformity of a thickness dimension of a PCB(Printed Circuit Board). A reinforcing plate is attached to one side of a PCB(18). Plural first electrical connecting units(28) are formed on the other side of the printed circuit board. A probe substrate(22) includes second electrical connecting units(34) corresponding to the first electrical connecting units and a plurality of probes(36) connected electrically to the second electrical connecting units. An elastic connector(24) is arranged between the PCB and the probe substrate and includes pairs of both contacts for contacting the first and second electrical connecting units. The elastic connector receives biasing force toward separating directions of both contacts of each pair. A screw member(50) is used for coupling integrally the reinforcing plate, the PCB, the elastic connector, and the probe board with each other. A spacer member(54) is used for maintaining probe tips on a virtual plane by tightening the screw member. A spacer plate(48) is inserted between the reinforcing plate and the PCB.
摘要翻译：提供电连接装置，以通过将探针尖端与对应的电极电连接，而不管PCB（印刷电路板）的厚度尺寸的不均匀性来增强电测试过程中的可靠性。加强板附接到PCB（18）的一侧。多个第一电连接单元（28）形成在印刷电路板的另一侧上。探针基板（22）包括对应于第一电连接单元的第二电连接单元（34）和与第二电连接单元电连接的多个探头（36）。弹性连接器（24）布置在PCB和探针基板之间，并且包括用于接触第一和第二电连接单元的两个触头对。弹性连接器接收朝向每对的两个触点的分离方向的偏压力。螺钉构件（50）用于将加强板，PCB，弹性连接器和探针板彼此一体地联接。间隔构件（54）用于通过拧紧螺钉构件将探针尖端保持在虚拟平面上。间隔板（48）插入加强板和PCB之间。

5. 发明公开

KR1020110001864A 프로브 카드 및 검사장치 有权
标题翻译：探针卡和检查装置
公开(公告)号：KR1020110001864A
公开(公告)日：2011-01-06
申请号：KR1020100031183
申请日：2010-04-06
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 이시가키,타츠오 , 호시,카츠지 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07385 , G01R1/36
摘要： PURPOSE: A probe card and an inspecting apparatus are provided to increase the number of targets regardless of the control signaling number of a tester by controlling an automatic conversion unit in the probe card. CONSTITUTION: A plurality of probes is respectively contact with each electrode of a plurality of inspection targets. A power channel(11) supplies test power from a tester(18) to the electrode of one inspection target. An automatic conversion unit divides power channels into a plurality of power wiring units(13-1 to 13-4) and contacts the power wiring units to each probe. Electrical change detection units(15-1 to 15-4) detect the electrical change of the inspection targets. A controller(16) blocks the power wiring units with the electrical change using the automatic conversion unit.
摘要翻译：目的：通过控制探头卡中的自动转换单元，提供探针卡和检查装置，以增加测试人员的控制信号号，从而增加目标数量。构成：多个探针分别与多个检查对象物的各个电极接触。电力通道（11）将来自测试器（18）的测试功率提供给一个检查对象的电极。自动转换单元将电力通道分成多个电力线单元（13-1至13-4），并将电力线路单元与每个探头接触。电气变化检测单元（15-1〜15-4）检测检查对象的电气变化。控制器（16）使用自动转换单元来阻断具有电变化的电力线路单元。

6. 发明授权

KR100934914B1 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR100934914B1
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：KR1020070116162
申请日：2007-11-14
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미야기,유지 , 미우라,키요토시 , 키요후지,히데히로 , 아카히라,아키히사 , 이노우에,타쯔오
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/067
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07378
摘要： 본 발명은, 프로브 기판의 대형화에 의해 그 프로브 에어리어(area)가 보강판의 바깥쪽 영역으로 뻗어나가는 경우라도, 배선기판의 한쪽 면 위에 테스터에의 접속 에어리어를 충분히 확보할 수 있는 전기적 접속장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명의 배선기판의 배선로는 상기 배선기판의 바깥둘레에서 그 판 두께방향으로 관통하고, 한쪽 면에서 커넥터에 접속되는 제1 세로 경로부분과, 배선기판의 판 두께방향으로 관통하고, 다른쪽 면에서 전기 접속기에 접속되는 제2 세로 경로부분과, 양 세로 경로부분을 연결하는 가로 경로부분을 갖추고, 제2 세로 경로부분은 보강판의 배치영역(S1) 내에 형성된다. 배선기판의 배선로의 한쪽 접속단부(전기 접속기쪽)는, 보강판의 배치영역(S1) 내에 배치된다. 다른 한편, 배선기판의 배선로의 다른쪽 접속단부(프로브쪽)는, 보강판의 배치영역(S1)보다도 넓은 배치영역(S2)에 분산하여 배치된다.
접속장치, 프로브 기판, 배선기판, 보강판, 배선로, 커넥터

7. 发明授权

KR100942166B1 전기적 접속 장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR100942166B1
公开(公告)日：2010-02-12
申请号：KR1020070106400
申请日：2007-10-23
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미야기,유지 , 키요후지,히데히로 , 아카히라,아키히사 , 기쿠치,요시노리
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/2891
摘要： 본 발명은, 배선 기판의 프로브 카드 홀더에 대한 배치면으로부터 프로브 침선 전체의 높이 위치를 소정의 높이 위치로 유지할 수 있는 전기적 접속 장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명은, 보강판이 부착되고, 복수의 제1 전기접속부가 형성되는 배선 기판과, 제1 전기접속부에 대응하는 제2 전기접속부가 형성되고, 대응하는 제2 전기접속부에 전기적으로 각각 접속된 다수의 프로부가 형성된 프로브 기판과, 양 기판 사이에서 상기 양 기판의 서로 대응하는 제1 및 제2 전기접속부에 접촉 가능한 복수 쌍의 양 접점을 가지며, 상기 양 접점이 서로 멀어지는 방향을 향한 편향력을 받는 탄성접속기와, 이들을 일체로 결합하는 나사 부재와, 상기 나사 부재의 죄임에 의해 프로브의 침선을 대략 동일한 평면상에 유지하는 스페이서 부재를 포함하는 전기적 접속 장치이다. 보강판과 프로브 기판 사이에는, 상기 프로브 기판의 다른쪽 면으로부터 프로브의 침선까지의 거리를 조정하기 위한 스페이서판이 삽입되어 있다.
전기적 접속 장치, 보강판, 배선 기판, 프로브 기판, 탄성접속기, 나사 부 재, 스페이서 부재
摘要翻译：本发明从用于在电路板的探针卡持有人就座表面旨在提供一种能够维持整个针点探针的高度位置在预定高度位置的电连接装置。本发明中，所述加强板附接和多个第一电路板的电形成连接部分，并且对应于所述第一电连接部形成在额外的第二电连接，分别电连接到对应于多个第二电接触并且多对正接触件能够与第一和第二基板之间的彼此对应的第一和第二电接触件接触，和弹性连接器，所述电连接装置，包括：螺纹部件将它们在一个主体中，所述间隔部件相结合用于以基本相同的平面内保持该探针的针尖通过螺纹部件的夹紧。在加强板和探针基板之间插入隔板以调节从探针基板的另一表面到探针的针的距离。

8. 发明公开

KR1020090089888A 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020090089888A
公开(公告)日：2009-08-24
申请号：KR1020097013343
申请日：2007-03-20
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 사토,히토시 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： G01R1/073 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2889
摘要： An electrical connection device used for electrical measurement of an object to be inspected has a support member and a planar probe substrate. On one side of the probe substrate, there are provided a large number of probes that are in contact with electrical connection terminals of the object to be electrically inspected. On the other side of the probe substrate, there are provided a fixation portion having in its top a screw hole opening, a tubular spacer penetrating through the support member, and a threaded member penetrating through the spacer and whose forward end is screwed into the screw hole in the fixed portion. Movement of the spacer in the axial direction of the support member is restricted by restriction means. The spacer has a head portion mounted at its lower surface on the other side of the support member, and also has a trunk. The trunk has one end continuous to the head portion, is inserted into a through hole formed in the support member, and has the other end made to be in contact with the top surface of the fixation portion. ® KIPO & WIPO 2009
摘要翻译：用于被检查物体的电测量的电连接装置具有支撑构件和平面探针基板。在探针基板的一侧，设置有大量与被检查物体的电连接端子接触的探针。在探针基板的另一侧，设置有固定部分，其顶部具有螺孔开口，穿过支撑构件的管状隔离物和穿过间隔件的螺纹构件，其前端旋入螺钉固定部分的孔。间隔件在支撑构件的轴向方向上的移动受到限制装置的限制。间隔件具有安装在支撑构件的另一侧的下表面的头部，并且还具有躯干。躯干具有与头部连续的一端，插入形成在支撑构件中的通孔中，并且另一端与固定部的顶表面接触。 ®KIPO＆WIPO 2009

9. 发明授权

KR100664393B1 통전 시험용 프로브 有权
标题翻译：电导测试探头
公开(公告)号：KR100664393B1
公开(公告)日：2007-01-04
申请号：KR1020047021434
申请日：2003-08-29
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 미야기,유지 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/06727
摘要： 프로브는, 상하방향으로 간격을 두고 좌우방향으로 연장하는 제1 및 제2 암부와, 상기 제1 및 제2 암부를 그들 선단부 및 기단부에서 각각 연결하는 제1 및 제2 연결부와, 제1 연결부의 상하방향에 있어서의 한쪽에 이어지는 침선부를 포함한다. 제1 및 제2 암부의 최소한 한쪽은, 해당 암부의 전체, 해당 암부의 상하방향에 있어서의 한쪽 가장자리부, 및 해당 암부의 상하방향에 있어서의 다른 쪽 가장자리부의 최소한 하나를 활 형상으로 하고 있다.

10. 发明授权

KR101033263B1 전기적 접속 장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR101033263B1
公开(公告)日：2011-05-09
申请号：KR1020080127583
申请日：2008-12-16
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 키요후지,히데히로 , 미우라,키요토시 , 아카히라,아키히사 , 키쿠치,요시노리
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07307
摘要： 본 발명의 목적은, 작업자가 전기적 접속 장치를 운반할 때, 전기적 접속 장치의 프로브 조립체의 윗면에 배치된 전자소자에 닿는 것을 방지함과 동시에, 프로브 조립체의 윗면 및 밑면의 온도차에 의한 프로브 조립체의 만곡(彎曲)을 억제하는데 있다. 본 발명의 전기적 접속 장치(10)는, 밑면에 복수의 접촉자(14)를 갖추고, 윗면에 배치된 복수의 전자소자(18)를 갖춘 프로브 조립체와, 상기 전자소자가 배치된 공간(30)을 폐색(閉塞, close)한 커버로서 상기 프로브 조립체의 상기 윗면에 배치된 커버(32)와, 그 커버에 설치된 두 개의 손잡이(gripper)(42)를 포함한다. 각 손잡이(42)는 한쪽 단부(端部)(42a) 및 다른쪽 단부(42a)를 가지며, 상기 한쪽 단부에서 상기 다른쪽 단부로 이어지는 형상은 대략 'U'자 형상을 갖고, 양 끝에서 상기 커버의 본체부(33)에 설치되어 있다.
프로브 조립체, 프로브 카드, 접촉자, 테스터, 반도체 웨이퍼, 전자소자, 배선기판, 지지부재(support member), 손잡이(gripper), 커버(cover)
摘要翻译：当本发明的目的，操作员运送电连接装置，从而防止与放置在电连接装置的探针组件的上表面上，并在同一时间的电子元件中，所述探针组件的顶部和底部之间的温度差的探针组件接触抑制曲率。本发明中，多个触点（14）的电连接装置10具有多个带18探针组件的电子设备，以及一个空间30，其设置在所述顶侧到下方的电子元件贴装设置在探针组件的上表面上的盖子32作为要关闭的盖子，以及设置在盖子上的两个夹子42。每个手柄42具有一个端部42a和另一个端部42a，并且从该一个端部延伸到另一端部的形状具有大致U形，并设置在盖子的主体部分33中。

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