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1. 发明授权

KR100934914B1 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR100934914B1
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：KR1020070116162
申请日：2007-11-14
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미야기,유지 , 미우라,키요토시 , 키요후지,히데히로 , 아카히라,아키히사 , 이노우에,타쯔오
IPC分类号： H01L21/66 , G01R1/067
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07378
摘要： 본 발명은, 프로브 기판의 대형화에 의해 그 프로브 에어리어(area)가 보강판의 바깥쪽 영역으로 뻗어나가는 경우라도, 배선기판의 한쪽 면 위에 테스터에의 접속 에어리어를 충분히 확보할 수 있는 전기적 접속장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명의 배선기판의 배선로는 상기 배선기판의 바깥둘레에서 그 판 두께방향으로 관통하고, 한쪽 면에서 커넥터에 접속되는 제1 세로 경로부분과, 배선기판의 판 두께방향으로 관통하고, 다른쪽 면에서 전기 접속기에 접속되는 제2 세로 경로부분과, 양 세로 경로부분을 연결하는 가로 경로부분을 갖추고, 제2 세로 경로부분은 보강판의 배치영역(S1) 내에 형성된다. 배선기판의 배선로의 한쪽 접속단부(전기 접속기쪽)는, 보강판의 배치영역(S1) 내에 배치된다. 다른 한편, 배선기판의 배선로의 다른쪽 접속단부(프로브쪽)는, 보강판의 배치영역(S1)보다도 넓은 배치영역(S2)에 분산하여 배치된다.
접속장치, 프로브 기판, 배선기판, 보강판, 배선로, 커넥터

2. 发明公开

KR1020080112416A 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020080112416A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：KR1020087028870
申请日：2006-06-02
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 사토,히토시
IPC分类号： H01R33/76
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/2874
摘要： An electric connection device has a heat deformation suppression member, a reinforcement plate, and an auxiliary member that are made from materials having heat expansion coefficients that become smaller in the order of the description of the elements above. A wiring board for supporting a probe assembly is joined to the reinforcement plate. The auxiliary member has a space on the inside of the region where the wiring board is joined to the reinforcement plate, and when the center portion of the wiring board is deformed toward the reinforcement plate, the space receives the deformed portion. The heat deformation suppression member, the reinforcement plate, and the auxiliary member function as a bimetal of a three-layer sandwich structure, and as a result, heat deformation of the wiring board is effectively suppressed. ® KIPO & WIPO 2009
摘要翻译：电连接装置具有热变形抑制构件，加强板和辅助构件，其由具有以下的元件的描述顺序变小的热膨胀系数的材料制成。用于支撑探针组件的接线板与加强板接合。辅助部件在布线板与加强板接合的区域的内侧具有空间，并且当布线板的中心部朝向加强板变形时，空间接收变形部。热变形抑制部件，加强板和辅助部件作为三层夹层结构的双金属发挥作用，从而有效地抑制了布线板的热变形。 ®KIPO＆WIPO 2009

3. 发明公开

KR1020050012849A 통전 시험용 프로브 有权
标题翻译：通电测试探针
公开(公告)号：KR1020050012849A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：KR1020047021434
申请日：2003-08-29
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 미야기,유지 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/06727
摘要： 프로브는, 상하방향으로 간격을 두고 좌우방향으로 연장하는 제1 및 제2 암부와, 상기 제1 및 제2 암부를 그들 선단부 및 기단부에서 각각 연결하는 제1 및 제2 연결부와, 제1 연결부의 상하방향에 있어서의 한쪽에 이어지는 침선부를 포함한다. 제1 및 제2 암부의 최소한 한쪽은, 해당 암부의 전체, 해당 암부의 상하방향에 있어서의 한쪽 가장자리부, 및 해당 암부의 상하방향에 있어서의 다른 쪽 가장자리부의 최소한 하나를 활 형상으로 하고 있다.

4. 发明授权

KR100984645B1 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR100984645B1
公开(公告)日：2010-10-04
申请号：KR1020087028870
申请日：2006-06-02
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 사토,히토시
IPC分类号： H01R33/76
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/2874
摘要： 전기적 접속장치는, 열변형 억제부재, 보강판 및 보조부재를 그 순서로 작은 열팽창계수를 갖는 재료제로 하고, 프로브 조립체를 지지하는 배선기판을 보강판에 결합시키고 있다. 보조부재는, 배선기판의 중앙부에 보강판을 향한 변형이 생겼을 때 그 변형부분을 받아들이는 빈 부분을 보강판에의 결합영역보다도 안쪽에 갖는다. 이에 의해, 열변형 억제부재, 보강판 및 보조부재가 샌드위치 구조의 3층의 바이메탈로서 기능하여, 배선기판의 열 변형이 효과적으로 억제된다.
선택도: 도 1

5. 发明授权

KR100920790B1 프로브 조립체, 그 제조방법 및 전기적 접속장치 有权
标题翻译：探头组件，产生探头组件的方法和电气连接装置
公开(公告)号：KR100920790B1
公开(公告)日：2009-10-08
申请号：KR1020077024179
申请日：2005-05-23
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 키요후지,히데히로 , 미야기,유지 , 쿠니요시,신지 , 사토,히토시
IPC分类号： H01L21/66
摘要： 피검사체의 전기적 측정에 이용되는 프로브 조립체. 프로브 조립체는, 부하를 받지 않는 자유상태에서 휨 변형이 생긴 평판상의 프로브 기판과, 상기 프로브 기판의 한쪽 면에 그 면으로부터 돌출하여 형성된 복수의 프로브를 갖춘다. 모든 상기 프로브의 선단은, 상기 프로브 기판의 상기 변형을 유지한 상태로, 가상 기준면에 평행한 동일 평면 위에 위치한다.

6. 发明公开

KR1020090092214A 전기적 접속 장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020090092214A
公开(公告)日：2009-08-31
申请号：KR1020080127583
申请日：2008-12-16
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 키요후지,히데히로 , 미우라,키요토시 , 아카히라,아키히사 , 키쿠치,요시노리
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07307
摘要： An electrical connection device is provided to prevent a worker from contacting an electronic device by protecting the electronic device arranged on an upper side of a probe assembly by a cover. An electrical connection device(10) includes a probe assembly and a cover(32). The probe assembly includes a circular flat probe substrate(12), a wiring board, a support member(24), and a suppressing member. The probe substrate has a plurality of contactors in the bottom plane. The wiring board is arranged in an upper surface of the probe substrate and the plurality of electric devices. The support member is arranged on the wiring board. The suppressing member is arranged on the upper surface of the support member to suppress the thermal deformation. A cover is arranged on the upper surface of the thermal deformation suppressing member and closes the space where the electronic device is arranged.
摘要翻译：提供一种电连接装置，以通过保护布置在探针组件的上侧的电子装置通过盖而防止工人接触电子装置。电连接装置（10）包括探针组件和盖（32）。探针组件包括圆形平面探针基板（12），布线板，支撑构件（24）和抑制构件。探针基板在底面具有多个接触器。布线板布置在探针基板的上表面和多个电气装置中。支撑构件布置在布线板上。抑制构件布置在支撑构件的上表面上以抑制热变形。在热变形抑制构件的上表面上设置有盖，并且封闭电子装置配置的空间。

7. 发明公开

KR1020080077326A 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020080077326A
公开(公告)日：2008-08-22
申请号：KR1020080013827
申请日：2008-02-15
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미야기,유지 , 사토,히토시 , 미우라,키요토시
IPC分类号： G01R1/06
CPC分类号： G01R1/44 , G01R1/07342
摘要： An electrical connecting apparatus is provided to implement stable electric connection and improve position precision of a tip by having a dimension from the tip of a contact to a probe land of 1.1~1.3mm. An electrical connecting apparatus(10) includes a support member(20), a wiring substrate(22), an electric connector(24), a probe substrate(26), a base ring(28), and a fixed ring(30). The support member is a flat plate when viewed from a front surface. The wiring substrate is formed at a lower surface of the support member in a circular flat plate. The electric connector is formed at a lower surface of the wiring substrate in a flat plate. The probe substrate is formed at a lower surface of the electric connector in a flat plate. The base ring includes a rectangular or circular central opening(28a) capable of receiving the electric connector. The fixed ring inserts an edge of the central opening into an edge around the probe substrate.
摘要翻译：提供电连接装置以通过具有从接触尖端到探测台的尺寸为1.1〜1.3mm来实现稳定的电连接并提高尖端的位置精度。电连接装置（10）包括支撑构件（20），布线基板（22），电连接器（24），探针基板（26），基环（28）和固定环（30）。当从前表面观察时，支撑构件是平板。布线基板以圆形平板形成在支撑部件的下表面。电连接器形成在布线基板的平板的下表面。探针基板形成在平板中的电连接器的下表面。基座环包括能够接收电连接器的矩形或圆形中心开口（28a）。固定环将中心开口的边缘插入探针基板周围的边缘。

8. 发明授权

KR100985718B1 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR100985718B1
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：KR1020080013827
申请日：2008-02-15
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미야기,유지 , 사토,히토시 , 미우라,키요토시
IPC分类号： G01R1/06
CPC分类号： G01R1/44 , G01R1/07342
摘要： 본 발명은, 온도 변화에서 기인하는 침선의 위치 벗어남을 억제하기 위한 것이다. 전기적 접속장치는, 테스터와, 상기 테스터에 의해 전기적 검사를 받는 피검사체의 전기적 접속단자와의 접속에 이용된다. 전기적 접속장치는, 복수의 프로브 랜드를 아랫면에 갖는 프로브 기판과, 각각 프로브 랜드에 고정된 기단부 및 피검사체의 상기 접속단자에 접촉되는 침선부를 갖춘 복수의 접촉자를 포함한다. 각 접촉자의 침선에서 상기 프로브 랜드까지의 치수는 1.1㎜ 내지 1.3㎜로 되어 있고, 상기 프로브 기판의 열팽창률은 상기 피검사체의 열팽창률보다 1ppm 내지 2ppm 크다.
전기적 접속장치, 침선, 테스터, 접속단자, 프로브 랜드, 피검사체
摘要翻译：本发明旨在抑制由温度变化引起的针棒的位置偏差。电连接装置用于连接测试仪和由测试仪进行电检测的物体的电连接端子。的电连接装置，包括多个与所述针尖部的接触的与所述基端部与所述设备的待测连接端子接触，并固定在探针基板，其具有上下侧的多个探测土地的每个探针的土地。从每个接触到探针的尺寸的针点是在土地可1.1㎜至1.3㎜，探针基板的热膨胀系数比2ppm的1PPM到物体的热膨胀系数要被检查更大。

9. 发明公开

KR1020090089888A 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020090089888A
公开(公告)日：2009-08-24
申请号：KR1020097013343
申请日：2007-03-20
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 사토,히토시 , 아카히라,아키히사
IPC分类号： G01R1/073 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2889
摘要： An electrical connection device used for electrical measurement of an object to be inspected has a support member and a planar probe substrate. On one side of the probe substrate, there are provided a large number of probes that are in contact with electrical connection terminals of the object to be electrically inspected. On the other side of the probe substrate, there are provided a fixation portion having in its top a screw hole opening, a tubular spacer penetrating through the support member, and a threaded member penetrating through the spacer and whose forward end is screwed into the screw hole in the fixed portion. Movement of the spacer in the axial direction of the support member is restricted by restriction means. The spacer has a head portion mounted at its lower surface on the other side of the support member, and also has a trunk. The trunk has one end continuous to the head portion, is inserted into a through hole formed in the support member, and has the other end made to be in contact with the top surface of the fixation portion. ® KIPO & WIPO 2009
摘要翻译：用于被检查物体的电测量的电连接装置具有支撑构件和平面探针基板。在探针基板的一侧，设置有大量与被检查物体的电连接端子接触的探针。在探针基板的另一侧，设置有固定部分，其顶部具有螺孔开口，穿过支撑构件的管状隔离物和穿过间隔件的螺纹构件，其前端旋入螺钉固定部分的孔。间隔件在支撑构件的轴向方向上的移动受到限制装置的限制。间隔件具有安装在支撑构件的另一侧的下表面的头部，并且还具有躯干。躯干具有与头部连续的一端，插入形成在支撑构件中的通孔中，并且另一端与固定部的顶表面接触。 ®KIPO＆WIPO 2009

10. 发明公开

KR1020080005217A 프로브 조립체, 그 제조방법 및 전기적 접속장치 有权
标题翻译：探头组件，生产探头组件的方法和电连接装置
公开(公告)号：KR1020080005217A
公开(公告)日：2008-01-10
申请号：KR1020077024179
申请日：2005-05-23
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 미우라,키요토시 , 키요후지,히데히로 , 미야기,유지 , 쿠니요시,신지 , 사토,히토시
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07314 , G01R3/00 , G01R31/2889
摘要： A probe assembly used for electrical measurement of an object to be inspected. The probe assembly has a probe board and probes, the probe board having bent deformation in a free state where the board receives no load, the probes being formed on one surface of the board in a manner projecting from the one surface. Forward ends of all the probes are positioned, with the deformation of the probe board maintained, on the same plane parallel to an imaginary standard plane.
摘要翻译：用于对待检查物体进行电气测量的探针组件。探针组件具有探针板和探针，探针板在板接收无负载的自由状态下具有弯曲变形，探针以从一个表面突出的方式形成在板的一个表面上。定位所有探针的前端，使探针板的变形保持在平行于假想标准平面的同一平面上。

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