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1. 发明授权

KR102152202B1 다관절 로봇을 구비한 전자부품 내열성능테스트 시스템 有权
公开(公告)号：KR102152202B1
公开(公告)日：2020-09-07
申请号：KR1020190022215
申请日：2019-02-26
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/01

2. 发明公开

KR1020170047808A UFS 디바이스를 지원하는 AP 기반의 갱 라이터 有权
标题翻译：基于AP的帮派作家支持UFS设备
公开(公告)号：KR1020170047808A
公开(公告)日：2017-05-08
申请号：KR1020150148324
申请日：2015-10-23
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G06F13/16 , G06F13/12 , G06F11/26
摘要： 본발명의실시예에따른 UFS 디바이스를지원하는 AP 기반의갱 라이터는라이팅작업용이미지데이터를저장하는 eMMC(embedded multi media card)와, 상기이미지데이터가라이팅되는적어도하나이상의타겟디바이스가장착되는적어도하나의소켓및 상기 eMMC에저장된이미지데이터를리드하여상기소켓에장착된타켓디바이스에상기이미지데이터를라이트하도록제어하는 AP(Application Processor)를포함한다.
摘要翻译：支持根据本发明实施例的UFS设备的基于AP的加勒比器包括用于存储用于照明工作的图像数据的嵌入式多媒体卡（eMMC），至少一个以及用于读取存储在eMMC中的图像数据并将图像数据写入安装在插座上的目标设备的AP（应用处理器）。

3. 发明授权

KR102152200B1 전자부품 내열성능테스트 시스템 有权
公开(公告)号：KR102152200B1
公开(公告)日：2020-09-07
申请号：KR1020190022214
申请日：2019-02-26
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/01 , G01N21/88

4. 发明授权

KR102058376B1 일체형 카메라 모듈 검사 장치 有权
公开(公告)号：KR102058376B1
公开(公告)日：2019-12-24
申请号：KR1020180078972
申请日：2018-07-06
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： H04N17/00 , G03B43/00 , G01R31/28 , G01R1/04

5. 发明授权

KR101747710B1 리얼 스피드 반도체 디바이스 고온 에이징 테스트 시스템 有权
标题翻译：实时半导体器件高温老化测试系统
公开(公告)号：KR101747710B1
公开(公告)日：2017-07-12
申请号：KR1020150149579
申请日：2015-10-27
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 본발명의실시예에따른반도체디바이스테스트시스템은타겟디바이스가안착되어장착되는소켓과, 상기소켓의일측에밀착구비되어상기타겟디바이스에열을인가하는히터와, 상기히터와일체형으로구비되어상기타겟디바이스를냉각시키기위한쿨러와, 상기히터가상기타겟디바이스에대면하는영역에구비되어상기타겟디바이스표면의현재온도를검출하는온도센서와, 상기온도센서에서검출된상기타겟디바이스의현재온도와설정온도를비교하여그 결과에따라상기타겟디바이스의온도가상기설정온도에서유지되도록신호를전송하는테스트운영컴퓨터및 상기테스트운영컴퓨터의신호에의해상기히터및 쿨러의구동을제어하는온도제어모듈을포함한다.
摘要翻译：根据本发明实施例的半导体器件测试系统包括：安装有目标器件的插座;紧密地附接到插座的一侧并将热量施加到目标器件的加热器; 温度传感器，用于检测目标设备的表面的当前温度，温度传感器设置在面对目标设备的区域中，温度传感器检测由温度传感器检测的目标设备的当前温度，并根据比较结果发送信号以使目标设备的温度保持在设定温度;以及温度控制模块，用于通过测试操作计算机的信号控制加热器和冷却器的驱动。

6. 发明公开

KR1020170049697A 리얼 스피드 반도체 디바이스 고온 에이징 테스트 시스템 有权
公开(公告)号：KR1020170049697A
公开(公告)日：2017-05-11
申请号：KR1020150149579
申请日：2015-10-27
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 본발명의실시예에따른반도체디바이스테스트시스템은타겟디바이스가안착되어장착되는소켓과, 상기소켓의일측에밀착구비되어상기타겟디바이스에열을인가하는히터와, 상기히터와일체형으로구비되어상기타겟디바이스를냉각시키기위한쿨러와, 상기히터가상기타겟디바이스에대면하는영역에구비되어상기타겟디바이스표면의현재온도를검출하는온도센서와, 상기온도센서에서검출된상기타겟디바이스의현재온도와설정온도를비교하여그 결과에따라상기타겟디바이스의온도가상기설정온도에서유지되도록신호를전송하는테스트운영컴퓨터및 상기테스트운영컴퓨터의신호에의해상기히터및 쿨러의구동을제어하는온도제어모듈을포함한다.

7. 发明授权

KR102114678B1 로더를 구비한 전자부품 내열성능테스트 시스템 有权
公开(公告)号：KR102114678B1
公开(公告)日：2020-06-08
申请号：KR1020190022216
申请日：2019-02-26
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/01 , G01N21/88

8. 发明授权

KR102216598B1 케이블의 손상을 방지할 수 있는 히팅 소켓을 이용한 디바이스 고온 에이징 테스트 자동화 시스템. 有权
公开(公告)号：KR102216598B1
公开(公告)日：2021-02-18
申请号：KR1020190114274
申请日：2019-09-17
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 본발명은베이스보드(100)에반도체디바이스를로드(LOAD)시키는자동분류장치(200);와디바이스(10)의고온에이징테스트를진행하는테스트장비(400);와디바이스(10)가로드된 베이스보드(100)을이송하는이송장치(300);를포함하되, 상기베이스보드(100)는디바이스(10)가로드되는공간부가형성된몸체(110);와결합수단(150);에의해상기몸체(110)와결합되고상기공간부를밀폐시키는덮개부(120);와상기덮개부(120)의내측에밀착구비되며상기로드된디바이스(10)에열을인가하는히터(121);와상기덮개부(120)의내측에밀착구비되며로드된디바이스(10) 표면의현재온도를검출하는온도센서(122);와상기몸체(110)의하부에구비되는소켓보드(130);와상기몸체(110) 내측에구비되며덮개부(120)에구비된상기히터(121)의전원공급선과상기온도센서의정보전달선은상기소켓보드(130)에연결하여상기소켓보드를교체할때에상기메인보드에연결된 케이블(160)을제거해야하는번거로움을개선할수 있어자동화에적합한케이블의손상을방지할수 있는히팅소켓을이용한디바이스고온에이징테스트자동화시스템에관한것이다.

9. 发明授权

KR101798209B1 UFS 디바이스를 지원하는 AP 기반의 갱 라이터 有权
公开(公告)号：KR101798209B1
公开(公告)日：2017-11-16
申请号：KR1020150148324
申请日：2015-10-23
申请人： (주)메리테크
发明人： 강승남 , 박이동 , 서문일
IPC分类号： G06F13/16 , G06F13/12 , G06F11/26
摘要： 본발명의실시예에따른 UFS 디바이스를지원하는 AP 기반의갱 라이터는라이팅작업용이미지데이터를저장하는 eMMC(embedded multi media card)와, 상기이미지데이터가라이팅되는적어도하나이상의타겟디바이스가장착되는적어도하나의소켓및 상기 eMMC에저장된이미지데이터를리드하여상기소켓에장착된타켓디바이스에상기이미지데이터를라이트하도록제어하는 AP(Application Processor)를포함한다.

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