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1. 发明公开

KR1020130117878A 기계적 테스트 기기의 기기 프로브 및 트랜스듀서 응답을 자동으로 검사하는 방법 有权
标题翻译：南方测试系统
公开(公告)号：KR1020130117878A
公开(公告)日：2013-10-28
申请号：KR1020137024188
申请日：2012-02-10
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 보드닉데이비드제이. , 드위베디아르핏 , 케러넌루카스폴 , 오클런드마이클데이비드 , 슈미츠로저 , 워런오덴리 , 영크리스토퍼데이비드
IPC分类号： G01B5/004 , G01P21/00 , G01C9/00 , G01N3/40
CPC分类号： G01P21/00 , G01B11/27 , G01B21/047 , G01N3/02 , G01N3/42 , G01N19/00 , G01N2203/0082 , G01N2203/0286 , G01Q40/00 , G01Q60/366 , Y10T29/49826
摘要： An automated testing system includes systems and methods to facilitate inline production testing of samples at a micro (multiple microns) or less scale with a mechanical testing instrument. In an example, the system includes a probe changing assembly for coupling and decoupling a probe of the instrument. The probe changing assembly includes a probe change unit configured to grasp one of a plurality of probes in a probe magazine and couple one of the probes with an instrument probe receptacle. An actuator is coupled with the probe change unit, and the actuator is configured to move and align the probe change unit with the probe magazine and the instrument probe receptacle. In another example, the automated testing system includes a multiple degree of freedom stage for aligning a sample testing location with the instrument. The stage includes a sample stage and a stage actuator assembly including translational and rotational actuators.

2. 发明授权

KR101535519B1 나노기계 테스트 시스템 有权
标题翻译：南方测试系统
公开(公告)号：KR101535519B1
公开(公告)日：2015-07-09
申请号：KR1020137024135
申请日：2012-02-10
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 보드닉데이비드제이. , 드위베디아르핏 , 케러넌루카스폴 , 오클런드마이클데이비드 , 슈미츠로저 , 워런오덴리 , 영크리스토퍼데이비드
IPC分类号： G01N3/02 , G01N3/62 , B82B1/00
CPC分类号： G01P21/00 , G01B11/27 , G01B21/047 , G01N3/02 , G01N3/42 , G01N19/00 , G01N2203/0082 , G01N2203/0286 , G01Q40/00 , G01Q60/366 , Y10T29/49826
摘要： 자동화테스트시스템은기계적테스트기기로마이크로(수마이크론) 또는더 작은스케일에서샘플의인라인(inline) 생산테스트를용이하게하기위한시스템및 방법을포함한다. 일예에서, 상기시스템은기기의프로브를연결및 연결해제하기위한프로브변경어셈블리를포함한다. 프로브변경어셈블리는프로브매거진내의복수의프로브중 하나를파지하고프로브중 하나를기기프로브리셉터클과연결하도록구성된프로브변경유닛을포함한다. 액추에이터는프로브변경유닛과연결되고, 액추에이터는프로브변경유닛을이동시켜프로브매거진및 기기프로브리셉터클과정렬시키도록구성된다. 다른예에서, 자동화테스트시스템은샘플테스트위치를기기와정렬시키기위한다중자유도스테이지를포함한다. 스테이지는샘플스테이지및 병진액추에이터와회전액추에이터를포함하는스테이지액추에이터어셈블리를포함한다.

3. 发明公开

KR1020130121983A 나노기계 테스트 시스템 有权
标题翻译： 나노기계테스트系统
公开(公告)号：KR1020130121983A
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：KR1020137024135
申请日：2012-02-10
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 보드닉데이비드제이. , 드위베디아르핏 , 케러넌루카스폴 , 오클런드마이클데이비드 , 슈미츠로저 , 워런오덴리 , 영크리스토퍼데이비드
IPC分类号： G01N3/02 , G01N3/62 , B82B1/00
CPC分类号： G01P21/00 , G01B11/27 , G01B21/047 , G01N3/02 , G01N3/42 , G01N19/00 , G01N2203/0082 , G01N2203/0286 , G01Q40/00 , G01Q60/366 , Y10T29/49826
摘要： An automated testing system includes systems and methods to facilitate inline production testing of samples at a micro (multiple microns) or less scale with a mechanical testing instrument. In an example, the system includes a probe changing assembly for coupling and decoupling a probe of the instrument. The probe changing assembly includes a probe change unit configured to grasp one of a plurality of probes in a probe magazine and couple one of the probes with an instrument probe receptacle. An actuator is coupled with the probe change unit, and the actuator is configured to move and align the probe change unit with the probe magazine and the instrument probe receptacle. In another example, the automated testing system includes a multiple degree of freedom stage for aligning a sample testing location with the instrument. The stage includes a sample stage and a stage actuator assembly including translational and rotational actuators.
摘要翻译：自动化测试系统包括系统和方法，以利用机械测试仪器以微米（数微米）或更小的规模对样品进行在线生产测试。在一个示例中，该系统包括用于耦合和去耦合仪器的探针的探针更换组件。探针更换组件包括探针更换单元，该探针更换单元被构造成抓住探针盒中的多个探针中的一个并将探针中的一个与仪器探针插座耦合。致动器与探针更换单元耦合，并且致动器被配置成使探针更换单元与探针盒和仪器探针插座移动并对准。在另一个例子中，自动测试系统包括用于将样本测试位置与仪器对齐的多自由度阶段。该台包括样品台和包括平移和旋转致动器的台致动器组件。

4. 发明授权

KR101712028B1 기구 교환 어셈블리 및 방법 有权
标题翻译：仪器更换装配及方法
公开(公告)号：KR101712028B1
公开(公告)日：2017-03-03
申请号：KR1020167005442
申请日：2014-08-01
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 다마라지브 , 지겔만스베틀라나
IPC分类号： G01N3/42
CPC分类号： B23P19/04 , B23P19/10 , G01D18/00 , G01N3/42 , G01N19/04 , G01N2203/0078 , G01N2203/0202 , G01N2203/0206 , G01N2203/0286 , G01Q60/366 , G01Q70/02
摘要： 기구교환어셈블리는하나이상의프로브어셈블리스테이션을갖는매거진을포함한다. 본어셈블리는수용부소켓을포함하는적어도하나의프로브교환도구를더 포함한다. 하나이상의프로브어셈블리가하나이상의프로브어셈블리스테이션내에유지된다. 하나이상의프로브어셈블리각각은, 프로브유지오목부및 공통수용부소켓과의상보적끼워맞춤을위한공통소켓피팅을포함하는프로브수용부를포함한다. 프로브교환도구는공통소켓피팅과프로브어셈블리의공통수용부소켓사이의상보적끼워맞춤에따라기계적시험기구로부터각각의프로브를빼내거나설치하도록되어있다. 대안적으로, 기구교환어셈블리는복수의기구를포함하는기구어레이하우징을포함한다. 하나이상의기구(프로브와트랜드듀서의조합) 각각은기구전개액츄에이터에의해기구어레이하우징에대해전개된다.
摘要翻译：仪器更换组件包括具有一个或多个探针组装工位的盒。组件还包括至少一个探针更换工具，其包括插座插座。一个或多个探针组件保持在一个或多个探针组装工位内。一个或多个探针组件各自包括探针插座，其包括探针保持凹部和构造成用于与公共插座插座互补配合的公共插座配件。探头更换工具被配置为根据公共插座配件和探头组件的公共插座之间的互补配合从机械测试仪器安装或提取相应的探头。或者，仪器更换组件包括包括多个仪器的仪器阵列壳体。一个或多个仪器（探头和换能器组合）中的每一个相对于具有仪器部署致动器的仪器阵列壳体被部署。

5. 发明授权

KR101386602B1 나노기계 테스트 시스템 有权
标题翻译：南方测试系统
公开(公告)号：KR101386602B1
公开(公告)日：2014-04-17
申请号：KR1020137023943
申请日：2012-02-10
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 보드닉데이비드제이. , 드위베디아르핏 , 케러넌루카스폴 , 오클런드마이클데이비드 , 슈미츠로저 , 워런오덴리 , 영크리스토퍼데이비드
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01P21/00 , G01B11/27 , G01B21/047 , G01N3/02 , G01N3/42 , G01N19/00 , G01N2203/0082 , G01N2203/0286 , G01Q40/00 , G01Q60/366 , Y10T29/49826
摘要： 자동화 테스트 시스템은 기계적 테스트 기기로 마이크로(수 마이크론) 또는 더 작은 스케일에서 샘플의 인라인(inline) 생산 테스트를 용이하게 하기 위한 시스템 및 방법을 포함한다. 일 예에서, 상기 시스템은 기기의 프로브를 연결 및 연결 해제하기 위한 프로브 변경 어셈블리를 포함한다. 프로브 변경 어셈블리는 프로브 매거진 내의 복수의 프로브 중 하나를 파지하고 프로브 중 하나를 기기 프로브 리셉터클과 연결하도록 구성된 프로브 변경 유닛을 포함한다. 액추에이터는 프로브 변경 유닛과 연결되고, 액추에이터는 프로브 변경 유닛을 이동시켜 프로브 매거진 및 기기 프로브 리셉터클과 정렬시키도록 구성된다. 다른 예에서, 자동화 테스트 시스템은 샘플 테스트 위치를 기기와 정렬시키기 위한 다중 자유도 스테이지를 포함한다. 스테이지는 샘플 스테이지 및 병진 액추에이터와 회전 액추에이터를 포함하는 스테이지 액추에이터 어셈블리를 포함한다.

6. 发明公开

KR1020160030335A 기구 교환 어셈블리 및 방법 有权
标题翻译：仪器更换装配及方法
公开(公告)号：KR1020160030335A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：KR1020167005442
申请日：2014-08-01
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 다마라지브 , 지겔만스베틀라나
IPC分类号： G01N3/42
CPC分类号： B23P19/04 , B23P19/10 , G01D18/00 , G01N3/42 , G01N19/04 , G01N2203/0078 , G01N2203/0202 , G01N2203/0206 , G01N2203/0286 , G01Q60/366 , G01Q70/02
摘要： 기구교환어셈블리는하나이상의프로브어셈블리스테이션을갖는매거진을포함한다. 본어셈블리는수용부소켓을포함하는적어도하나의프로브교환도구를더 포함한다. 하나이상의프로브어셈블리가하나이상의프로브어셈블리스테이션내에유지된다. 하나이상의프로브어셈블리각각은, 프로브유지오목부및 공통수용부소켓과의상보적끼워맞춤을위한공통소켓피팅을포함하는프로브수용부를포함한다. 프로브교환도구는공통소켓피팅과프로브어셈블리의공통수용부소켓사이의상보적끼워맞춤에따라기계적시험기구로부터각각의프로브를빼내거나설치하도록되어있다. 대안적으로, 기구교환어셈블리는복수의기구를포함하는기구어레이하우징을포함한다. 하나이상의기구(프로브와트랜드듀서의조합) 각각은기구전개액츄에이터에의해기구어레이하우징에대해전개된다.
摘要翻译：仪器更换组件包括具有一个或多个探针组装工位的盒。组件还包括至少一个探针更换工具，其包括插座插座。一个或多个探针组件保持在一个或多个探针组装工位内。一个或多个探针组件各自包括探针插座，其包括探针保持凹部和构造成用于与公共插座插座互补配合的公共插座配件。探头更换工具被配置为根据公共插座配件和探头组件的公共插座之间的互补配合从机械测试仪器安装或提取相应的探头。或者，仪器更换组件包括包括多个仪器的仪器阵列壳体。一个或多个仪器（探头和换能器组合）中的每一个相对于具有仪器部署致动器的仪器阵列壳体被部署。

7. 发明授权

KR101438472B1 기계적 테스트 기기의 기기 프로브 및 트랜스듀서 응답을 자동으로 검사하는 방법 有权
标题翻译：用于自动检查仪器探头和机械测试仪器的传感器响应的方法
公开(公告)号：KR101438472B1
公开(公告)日：2014-09-12
申请号：KR1020137024188
申请日：2012-02-10
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 보드닉데이비드제이. , 드위베디아르핏 , 케러넌루카스폴 , 오클런드마이클데이비드 , 슈미츠로저 , 워런오덴리 , 영크리스토퍼데이비드
IPC分类号： G01B5/004 , G01P21/00 , G01C9/00 , G01N3/40
CPC分类号： G01P21/00 , G01B11/27 , G01B21/047 , G01N3/02 , G01N3/42 , G01N19/00 , G01N2203/0082 , G01N2203/0286 , G01Q40/00 , G01Q60/366 , Y10T29/49826
摘要： 자동화 테스트 시스템은 기계적 테스트 기기로 마이크로(수 마이크론) 또는 더 작은 스케일에서 샘플의 인라인(inline) 생산 테스트를 용이하게 하기 위한 시스템 및 방법을 포함한다. 일 예에서, 상기 시스템은 기기의 프로브를 연결 및 연결 해제하기 위한 프로브 변경 어셈블리를 포함한다. 프로브 변경 어셈블리는 프로브 매거진 내의 복수의 프로브 중 하나를 파지하고 프로브 중 하나를 기기 프로브 리셉터클과 연결하도록 구성된 프로브 변경 유닛을 포함한다. 액추에이터는 프로브 변경 유닛과 연결되고, 액추에이터는 프로브 변경 유닛을 이동시켜 프로브 매거진 및 기기 프로브 리셉터클과 정렬시키도록 구성된다. 다른 예에서, 자동화 테스트 시스템은 샘플 테스트 위치를 기기와 정렬시키기 위한 다중 자유도 스테이지를 포함한다. 스테이지는 샘플 스테이지 및 병진 액추에이터와 회전 액추에이터를 포함하는 스테이지 액추에이터 어셈블리를 포함한다.

8. 发明公开

KR1020130116362A 나노기계 테스트 시스템 有权
公开(公告)号：KR1020130116362A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：KR1020137023943
申请日：2012-02-10
申请人： 하이지트론, 인코포레이티드
发明人： 보드닉데이비드제이. , 드위베디아르핏 , 케러넌루카스폴 , 오클런드마이클데이비드 , 슈미츠로저 , 워런오덴리 , 영크리스토퍼데이비드
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01P21/00 , G01B11/27 , G01B21/047 , G01N3/02 , G01N3/42 , G01N19/00 , G01N2203/0082 , G01N2203/0286 , G01Q40/00 , G01Q60/366 , Y10T29/49826
摘要： An automated testing system includes systems and methods to facilitate inline production testing of samples at a micro (multiple microns) or less scale with a mechanical testing instrument. In an example, the system includes a probe changing assembly for coupling and decoupling a probe of the instrument. The probe changing assembly includes a probe change unit configured to grasp one of a plurality of probes in a probe magazine and couple one of the probes with an instrument probe receptacle. An actuator is coupled with the probe change unit, and the actuator is configured to move and align the probe change unit with the probe magazine and the instrument probe receptacle. In another example, the automated testing system includes a multiple degree of freedom stage for aligning a sample testing location with the instrument. The stage includes a sample stage and a stage actuator assembly including translational and rotational actuators.

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