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    • 4. 发明授权
    • 테스트 엘리먼트 지지체
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    • 에프. 호프만-라 로슈 아게
    • 슈타인라이너메르텐스마르틴하이트베르너
    • H05K1/02G01N21/84G01N33/49
    • 테스트엘리먼트지지체 (108) 가개시된다. 테스트엘리먼트지지체 (108) 는샘플의분석검사를위해테스트엘리먼트 (124) 를가열하기위한가열엘리먼트 (132) 를포함한다. 가열엘리먼트 (132) 는기판 (146) 을포함한다. 기판 (146) 은적어도하나의기판재료 (148) 로제조된다. 기판 (146) 은가열되도록구성된적어도하나의활성영역 (138) 및활성영역 (138) 외부의적어도하나의비-활성영역 (140) 을포함한다. 활성영역 (138) 및비-활성영역 (140) 은적어도하나의단열엘리먼트 (156) 에의해분리된다. 단열엘리먼트 (156) 는기판재료 (148) 보다낮은열 전도율을갖는다. 단열엘리먼트 (156) 는기판 (146) 에전체적으로또는부분적으로매립된다. 테스트엘리먼트지지체 (108) 는적어도하나의히터 (142) 을더 포함한다. 히터 (142) 는적어도하나의히터기판 (143) 을포함하며, 히터기판 (143) 은기판 (146) 에부착되며, 히터기판 (143) 는기판 (146) 의배면 (136) 에부착된다. 배면 (136) 은테스트엘리먼트 (124) 와접촉하는기판 (146) 의전면 (134) 과대향한다.