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1. 发明公开

KR1020130139769A 테스트된 반도체 소자 제거 장치 및 방법 审中-实审
标题翻译：用于去除测试的半导体器件的装置和方法
公开(公告)号：KR1020130139769A
公开(公告)日：2013-12-23
申请号：KR1020130063051
申请日：2013-05-31
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 호프만,토마스 , 악커만,클라스 , 쿠르쯔,슈테판 , 나기,안드레아스 , 푀징어,요한 , 로렌쯔,베른하르트
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： H01L21/67271 , G01R31/2893
摘要： The present invention relates to an apparatus for removing tested semiconductor elements from a clamping carrier including clamp elements as spring elements and moving with a fixed stopper element. The apparatus comprises an operating apparatus arranged in the clamping carrier and for transferring the clamping carrier to a balance area by emptying the clamping carrier of the clamp element; an intermediate carrier for accommodating a semiconductor element separated from the clamping carrier by being arranged under the clamping carrier when the clamping carrier is emptied; a data storage unit for storing the data of each semiconductor element; and a removal apparatus for classifying the data stored in the data storage unit into two or more different categories and for removing the semiconductor element from the intermediate carrier.
摘要翻译：本发明涉及一种用于从夹持载体中去除被测试的半导体元件的设备，该夹持载体包括作为弹簧元件的夹紧元件并且与固定止动元件一起移动。该装置包括布置在夹紧载体中的操作装置，并且用于通过排空夹紧元件的夹持载体将夹紧载体传送到平衡区域; 中间载体，用于在夹紧载体排空时，通过布置在夹持载体下方容纳从夹持载体分离的半导体元件; 数据存储单元，用于存储每个半导体元件的数据; 以及用于将存储在数据存储单元中的数据分类为两个或更多个不同类别并用于从中间载体去除半导体元件的去除装置。

2. 发明授权

KR101115161B1 온도 조절이 가능한 순환 유닛을 구비한 전자 부품용 조종 장치 有权
标题翻译：电子元件处理器，包含循环单元，可控制的温度
公开(公告)号：KR101115161B1
公开(公告)日：2012-02-22
申请号：KR1020097015728
申请日：2008-09-25
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 티일,슈테판 , 피흘,프란츠 , 예제러,귄터 , 비스뵈크,안드레아스
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , G05D23/00 , H01L21/67
CPC分类号： G01R31/2862 , G01R31/2867 , G01R31/2893
摘要： 본 발명은 전자 부품용 조종 장치, 특히 집적회로용 조종 장치에 관한 것으로서, 상기 조종 장치는 부품을 온도 조절하기 위하여 그리고 부품을 테스트 장치로 공급하고 테스트 장치로부터 제거하기 위하여 순환 트랙 상에서 이동할 수 있는 다수의 순환 유닛을 포함하고, 상기 순환 유닛들은 부품(43)을 고정시키기 위한 고정 유닛(12)을 적어도 각각 하나씩 구비한다. 상기 순환 유닛들은 또한 고정 유닛(12)에 고정된 부품(43)이 장치된 온도 조절 체임버들을 구비하며, 이 경우 부품(43)은 로딩 스테이션으로부터 테스트 스테이션으로 운반되는 도중에 온도 조절될 수 있다.

3. 发明公开

KR1020090133139A 터미널 캐리어의 수용 포켓 안에 다수의 단일화된 반도체 구성요소를 정렬하고 유지하기 위한 장치 및 방법 有权
标题翻译：装置和方法，用于在接收端子载体的端口中对齐和保持多个半导体半导体部件
公开(公告)号：KR1020090133139A
公开(公告)日：2009-12-31
申请号：KR1020097024513
申请日：2009-02-12
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 호프만,토마스 , 샤울레,막스
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L21/67
CPC分类号： H01L21/673 , G01R1/0425 , G01R31/2893 , H01L21/67333 , H01L2221/683 , Y10T29/41
摘要： In a device and a method for aligning and holding a plurality of singulated semi-conductor components in receiving pockets of a terminal carrier (5) that are separated from each other, the terminal carrier (5) has spring elements (12a, 12b), which are part of a spring plate (2). The spring plate (2) has a plurality of recesses (11) disposed next to each other for forming a corresponding plurality of receiving pockets (6) for the semi-conductor components, wherein the spring elements (12a, 12b) are formed from the spring plate (2) in one piece.
摘要翻译：在将彼此分离的端子载体（5）的接收凹穴中的多个单个半导体部件对准和保持的装置和方法中，端子载体（5）具有弹簧元件（12a，12b），它们是弹簧板（2）的一部分。弹簧板（2）具有彼此相邻设置的多个凹部（11），用于形成用于半导体部件的对应的多个接收凹部（6），其中弹簧元件（12a，12b）由弹簧板（2）一体。

4. 发明授权

KR101507780B1 순환 궤도를 따라 가이드되는 복수의 순환 캐리지를 구비한, 전자 부품용 조정 장치 有权
标题翻译：电子组件的处理器，包含在循环轨道上引导的多个循环传送装置
公开(公告)号：KR101507780B1
公开(公告)日：2015-04-06
申请号：KR1020107003466
申请日：2008-09-25
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 티일,슈테판 , 비스뵈크,안드레아스 , 바우어,알렉산더
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L21/67
CPC分类号： G01R31/2893
摘要： 본발명은적어도 1개의가이드레일로이루어지는정지된환상가이드장치(9)에의하여순환궤도를따라가이드되는복수의순환캐리지(10)를구비한, 전자전자부품, 특히 IC용조정장치에관한것이다. 상기순환캐리지(10)에는테스트할전자부품을홀딩하기위한홀딩장치(12)가구비되어있다.

5. 发明公开

KR1020140104907A 전자소자 테스트를 위한 장치 및 방법 有权
标题翻译：用于测试电子设备的装置和方法
公开(公告)号：KR1020140104907A
公开(公告)日：2014-08-29
申请号：KR1020140017969
申请日：2014-02-17
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 피흘,프란쯔 , 예저러,귄터 , 헤르트코른,미햐엘
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2891 , G01R31/2874
摘要： The invention relates to an apparatus for testing an electronic device (10), which includes a test head (2) coupled to at least one immovably mounted test socket (8), a positioning device (4) for positioning the electronic device (10) in testing position, and a lead-backer (5) attached to the positioning device (4) for supporting the electronic device (10) and pressing it against the test socket (8). According to the invention, a supply port (11, 13, 14, 15) for supplying a temperature control medium to a temperature control system (16, 17) of the lead-backer (5) is immovably mounted beside the test socket (8), and the temperature control system(16, 17) of the lead-backer (5) and the supply port (11, 13, 14, 15) communicate with each other when the electronic device (10) is in a testing position. Therefore, the temperature control medium flows from the temperature control system (16, 17) to the supply port (11, 13, 14, 15) of the lead-backer (5).
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试电子设备（10）的设备，其包括耦合到至少一个不可移动安装的测试插座（8）的测试头（2），用于定位电子设备（10）的定位设备（4）以及附接到所述定位装置（4）的用于支撑所述电子装置（10）并将其按压在所述测试插座（8）上的引导装置（5）。根据本发明，用于向温度控制系统（16,17）供应温度控制介质的供应端口（11,13,14,15）不可移动地安装在测试插座（8）的旁边），并且当电子设备（10）处于测试位置时，引导器（5）和供给端口（11,13,14,15）的温度控制系统（16,17）彼此连通。因此，温度控制介质从温度控制系统（16,17）流向引导器（5）的供给口（11,13,14,15）。

6. 发明公开

KR1020130136916A 가변 압력 조건 하에서 전자 부품을 테스트하는 테스트 장치, 테스트 시스템, 방법 및 지지체 审中-实审
标题翻译：用于测试可变压力条件下的电子元件的测试装置，测试系统，方法和载体
公开(公告)号：KR1020130136916A
公开(公告)日：2013-12-13
申请号：KR1020130059103
申请日：2013-05-24
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 빈더,슈테판
IPC分类号： H04R29/00 , H04R19/04
CPC分类号： G01R31/003 , G01R31/2862 , G01R31/2881
摘要： A test device, test system, a method, and a carrier for testing electronic components under variable pressure conditions includes a first chamber part, a second chamber part, a first gasket part, a support segment supporting the electronic components, and a circular supporter division surrounding the support segment. The circular supporter division includes a first side and a second side. The first gasket is arranged between the first chamber part and the first side of the circular supporter division and sealed. The second gasket is arranged between the second chamber part and the second side of the circular supporter division and sealed.
摘要翻译：用于在不同压力条件下测试电子部件的测试装置，测试系统，方法和载体包括第一室部分，第二室部分，第一垫片部分，支撑电子部件的支撑部分和圆形支撑部分围绕支撑段。圆形支撑器部分包括第一侧和第二侧。第一垫片布置在第一腔室部分和圆形支撑部分的第一侧之间并被密封。第二垫圈布置在第二腔室部分和圆形支撑件分隔件的第二侧之间并被密封。

7. 发明授权

KR101191988B1 복수의 전자 부품을 수용하고 정렬하기 위한 지지체 및 이 지지체를 작동하는 방법 失效
标题翻译：适用于接收和对齐多个电子元件的载体和操作载体的方法
公开(公告)号：KR101191988B1
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：KR1020100080031
申请日：2010-08-18
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 호프만,토마스 , 푀찡어,요한
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L21/68
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R1/0425 , H01L21/67333 , Y10T29/53174 , Y10T29/53178 , Y10T29/53183
摘要： 복수의 전자 부품을 수용하고 정렬하기 위해 적응된 지지체로서, 복수의 전자 부품의 할당된 하나를 수용하기 위한 각각의 수용부, 복수의 제 1 인접 부재를 포함하는 제 1 판, 복수의 제 2 인접 부재를 포함하는 제 2 판을 포함하며, 상기 제 1 인접 부재는 각각 할당된 상기 수용부의 경계 중의 하나를 형성하며, 상기 제 2 인접 부재는 각각 할당된 상기 수용부의 경계 중의 다른 하나를 형성하며, 상기 제 1 판과 상기 제 2 판은 서로에 대해 슬라이딩가능하게 배열되는 것을 특징으로 하는 복수의 전자 부품을 수용하고 정렬하기 위한 지지체에 관한 것이다.

8. 发明授权

KR101043140B1 전자 소자 테스트용 가속 장치 핸들러 有权
标题翻译：包含用于测试电子元件的加速装置的处理器
公开(公告)号：KR101043140B1
公开(公告)日：2011-06-20
申请号：KR1020087009599
申请日：2007-05-24
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 키르마이어,아른프리트 , 클리어,미하엘 , 뮐바우어,요제프
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2893 , G01M7/04 , G01R31/2881
摘要： 본 발명은 전자 소자 테스트용 가속 장치 핸들러에 관한 것으로서, 상기 핸들러는 태핏(3)을 구비한 가속 장치를 포함하며, 상기 태핏은 적어도 하나의 평판 스프링(6)에 의해서 선형으로 가이드 되고, 상기 평판 스프링은 두 그룹의 스프링 암(9, 11)으로 형성하며, 이 경우 한 그룹의 스프링 암은 태핏(3)에 고정되어 있고, 다른 한 그룹의 스프링 암은 운동 발생 장치(2)의 하우징(21)에 대하여 상대적으로 고정된 프레임(7)에 고정되어 있다.

9. 发明公开

KR1020110018855A 전자 부품을 플로팅 가능하게 맞무는 정렬 고정물의 두 개의 인접 부재 失效
标题翻译：电子元件浮动接合的两个对角线的两个对接部分
公开(公告)号：KR1020110018855A
公开(公告)日：2011-02-24
申请号：KR1020100080030
申请日：2010-08-18
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 호프만,토마스 , 샤이벤쭈버,헬무트
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , H01L21/68
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R1/0425 , G01R1/0466 , Y10T29/4913 , Y10T29/49133 , Y10T29/49895 , Y10T29/53261 , Y10T29/53265
摘要： PURPOSE: Two abutting members of an alignment fixture floatingly engaging an electronic component are provided to efficiently align an electronic component. CONSTITUTION: A receiving unit(20) receives an electronic component and includes a first abutting member(337) and a second abutting member(357). The first abutting member is flexibly mounted through a first elastic unit(341). The second abutting member is flexibly mounted through a second elastic unit(342). The first and second abutting members are engaged to float the electron component.
摘要翻译：目的：提供浮动地接合电子部件的对准夹具的两个邻接构件，以有效地对准电子部件。构成：接收单元（20）接收电子部件，并且包括第一抵接部件（337）和第二抵接部件（357）。第一抵接构件通过第一弹性单元（341）灵活地安装。第二抵接构件通过第二弹性单元（342）灵活地安装。第一和第二邻接构件被接合以浮动电子部件。

10. 发明公开

KR1020100082024A 고속 잠금 시스템을 구비한 플런저 有权
标题翻译：具有快速锁定系统的冲击器
公开(公告)号：KR1020100082024A
公开(公告)日：2010-07-15
申请号：KR1020107012054
申请日：2009-04-09
申请人： 물티테스트 엘렉트로니쉐 지스테메 게엠베하
发明人： 무르나우어,시몬
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/02
CPC分类号： G01R31/2893 , G01R31/2808 , G01R31/2867 , Y10T29/4913 , Y10T29/53174 , Y10T29/53178
摘要： The invention relates to a plunger that is used to feed and withdraw an electronic component, in particular integrated circuits, to and/or from a contact device that is connected to a test device. The plunger head (23) can be secured to a base body (7) by means of a quick locking system. Said quick locking system comprises locking means (33) that are designed such that they can be placed in a rear-engagement position when the plunger head is rotated (23) in relation to the base body (7), a position in which the plunger head (23) is axially coupled to the base body (7).
摘要翻译：本发明涉及一种用于将电子元件特别是集成电路馈送和连接到连接到测试装置的接触装置的柱塞。柱塞头（23）可以通过快速锁定系统固定到基体（7）上。所述快速锁定系统包括锁定装置（33），其被设计成使得当柱塞头相对于基体（7）旋转（23）时，锁定装置可以被放置在后接合位置，其中柱塞头部（23）轴向联接到基体（7）。

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