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31. 发明公开

KR1020130095794A 스트립 피스의 표면 검사 방법 및 그 장치 有权
标题翻译：用于表面检查条纹的方法和装置
公开(公告)号：KR1020130095794A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：KR1020137014971
申请日：2011-11-24
申请人： 에스엠에스 그룹 게엠베하
发明人： 리히터한스-페터 , 아헨바흐디르크
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： G06T7/0004 , B21B38/00 , G01N21/8922
摘要： The invention relates to a method for the surface inspection of strip pieces (120). The invention further relates to a device for carrying out the method. The method according to the invention comprises the following steps: cutting off the strip pieces (120) from a metal strip (210), wherein the strip pieces (120) comprise a length less than twice the circumference of a work roll (230) by means of which the metal strip (210) has previously been rolled; automatically checking the upper and/or lower side of the cut-off strip pieces (120) with the aid of a camera system (150) and an analysis unit (300) in regard to any periodic types of faults that may be present and caused by the work roll; ending the surface inspection process if periodically occurring types of faults are detected, or; feeding the cut-off strip pieces (120) to a strip inspection unit (140) for checking by means of inspection personnel for non-periodic types of faults if no periodic types of faults had previously been detected.

32. 发明授权

KR101211352B1 필름검사장치 및 필름검사방법 失效
标题翻译： Fllm监测装置和方法
公开(公告)号：KR101211352B1
公开(公告)日：2012-12-11
申请号：KR1020087000756
申请日：2006-06-20
申请人： 군제 가부시키가이샤
发明人： 우에하라오사무 , 호리가쓰히로 , 후나자키고지
IPC分类号： G01N21/892 , G01N21/958 , G01B11/02
CPC分类号： G01N21/892
摘要： 필름검사장치(10)는, 광원및 복수의수광부가나열된센서를갖고, 필름을스캔하는카메라(12)와, 스캔하여얻은전하신호를전압신호로변환하여, 전압신호로부터필름의불량부분을분석하는분석수단(14)과, 필름의불량부분의크기를분별하기위한복수의크기역치를기억하는기억수단(16)과, 분석된전압신호와복수의크기역치를비교하여, 전압신호가어느크기역치에일치하는지를구하는콤퍼레이터(18)를포함한다.

33. 发明授权

KR100965409B1 기판 검사 장치 失效
标题翻译：检查玻璃基板的装置
公开(公告)号：KR100965409B1
公开(公告)日：2010-06-24
申请号：KR1020060037736
申请日：2006-04-26
申请人： 인베니아 주식회사
发明人： 김남희 , 박장완 , 홍지중
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/892
摘要： 본 발명은 LCD 기판의 결함을 검사하기 위한 기판 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 광원부와 반사부 사이에 빛의 조사 면적과 조도를 조절할 수 있는 렌즈부를 더 구비하여 다양한 결함 검사에 대응할 수 있는 기판 검사 장치에 관한 것이다.
본 발명은, 기판의 표면 검사에 사용되는 빛을 최초로 조사하는 광원부; 상기 광원부로부터 조사되는 빛의 경로를 검사 대상 기판이 위치된 방향으로 변경시키는 반사부; 상기 반사부로부터 반사되는 빛을 집광시키는 집광부; 상기 집광부와 인접한 위치에 평행하게 설치되며, 상기 집광부를 통과한 빛을 산란시키는 산란부; 상기 광원부와 반사부 사이에 배치되며, 상기 광원부에서 조사되는 빛의 조사면적과 조도를 조절하는 렌즈부;를 포함하여 구성되는 기판 검사 장치를 제공한다.
엘시디, 기판, 검사, 렌즈

34. 发明授权

KR100899265B1 광파이버 조명 장치 및 검사 장치 有权
标题翻译：光纤照明装置和检查装置
公开(公告)号：KR100899265B1
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：KR1020070022835
申请日：2007-03-08
申请人： 가부시끼가이샤 도시바
发明人： 미우라준지 , 나까노다까히사
IPC分类号： G03H1/02 , G01N21/892 , G01B11/30 , G02B6/00
CPC分类号： G07D7/121 , G03H1/0011 , G03H1/2286 , G03H2001/2231 , G03H2001/2247 , G03H2222/34 , G07D7/0032
摘要： 지엽류 처리 장치는 지엽류(12)의 홀로그램(10)에 이 홀로그램으로부터 회절광을 얻는 소정의 방향으로부터 조명광을 조사하는 광원 장치(16)와, 홀로그램으로부터의 회절광을 수광하는 제1 수광부(18)와, 홀로그램에 조사되어 지엽류를 투과한 투과광을 수광하는 제2 수광부(20)와, 제1 수광부에 의해 수광된 회절광으로부터 홀로그램의 진위를 판별하는 동시에, 제2 수광부에 의해 수광된 투과광으로부터 홀로그램의 결손을 판별하는 판별 처리 장치를 갖고 있다.
지엽류, 홀로그램, 광원 장치, 결상 렌즈, 수광 센서,

35. 发明授权

KR100862339B1 구리박 검사장치, 구리박 검사방법 有权
标题翻译：铜箔检查装置，铜箔检查方法
公开(公告)号：KR100862339B1
公开(公告)日：2008-10-13
申请号：KR1020047009010
申请日：2002-12-12
申请人： 고꾸사이 기쥬쯔 가이하쯔 가부시키가이샤 , 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤
发明人： 쵸우큉웨이 , 후지와라준 , 야마베고지 , 이노우에아유무
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： G01N21/00 , G01N21/55 , G01N21/8914 , G01N2021/556 , G01N2021/8918
摘要： 가이드롤러(26)에 감겨진 구리박의 표면에 빛을 조사하여 구리박 표면으로부터의 정반사광을 CCD 카메라(14a)로, 구리박 표면으로부터의 산란광을 CCD 카메라 (14b)로 각각 수광하고, 수광된 정반사광의 광량이 제 1 한계값 이상의 영역 내에 제 2 한계값 이상의 휘도부분이 존재하고, 또한 수광된 산란광의 광량이 휘도 평균치보다 작은 경우에, 그 영역이 불량구리부분이라고 판단한다.

36. 发明公开

KR1020080028922A 필름검사장치 및 필름검사방법 失效
标题翻译： FLLM LNSPECTION设备和方法
公开(公告)号：KR1020080028922A
公开(公告)日：2008-04-02
申请号：KR1020087000756
申请日：2006-06-20
申请人： 군제 가부시키가이샤
发明人： 우에하라오사무 , 호리가쓰히로 , 후나자키고지
IPC分类号： G01N21/892 , G01N21/958 , G01B11/02
CPC分类号： G01N21/892
摘要： [PROBLEMS] To provide an apparatus and a method for inspecting flaws occurring during production of a film and utilizing data effectively after inspection. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] A film inspection apparatus (10) comprises cameras (12) each having a light source and a sensor arranged with a plurality of light receiving portions to scan a film, a means (14) for converting a charge signal obtained by scanning into a voltage signal and analyzing a defective part of the film from the voltage signal, a means (16) for storing a plurality of thresholds of magnitude for discriminating the size at the defective part of the film, and a comparator (18) for comparing an analyzed voltage signal with the plurality of thresholds of magnitude and determining with which threshold of magnitude the voltage signal matches.
摘要翻译： [问题]提供一种用于检查在制造薄膜期间发生的缺陷并在检查之后有效利用数据的装置和方法。解决问题的手段电影检查装置（10）包括：具有光源的摄像机（12）和布置有多个用于扫描胶片的光接收部分的传感器;用于转换获得的电荷信号的装置（14）通过扫描电压信号并从电压信号中分析薄膜的缺陷部分;一个用于存储多个阈值阈值的装置（16），用于识别胶片缺陷部分的尺寸;以及比较器（18），用于将所分析的电压信号与所述多个阈值阈值进行比较，并确定所述电压信号与哪个阈值大小匹配。

37. 发明授权

KR100808718B1 목적물의 결함을 검사하기 위한 장치 및 방법 失效
标题翻译：用于回顾对象缺陷的装置和方法
公开(公告)号：KR100808718B1
公开(公告)日：2008-02-29
申请号：KR1020000032956
申请日：2000-06-15
申请人： 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드
发明人： 도탄,노암
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： H01L29/6659 , G01N21/9501 , G01R31/307 , G01R31/311 , H01J37/21 , H01J2237/2817 , H01L29/6656 , H01L29/66628 , H01L29/7834 , Y10S257/90 , Y10S977/869 , Y10S977/881 , Y10S977/901 , Y10S977/954
摘要： 본 발명은 목적물을 검사하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 장치는 목적물을 수용하는 스테이지, 광학 현미경, 및 주사식 전자 현미경(SEM)을 포함한다. 광학 현미경은 목적물 표면 상의 이미 맵핑된 결함을 재검출하기 위해 사용되며, 목적물 표면의 선택된 부분을 향해 광비임을 주사하는 조사원을 포함한다. 광학 현미경은 밝은 필드 조사 및 어두운 필드 조사 중 어느 하나 또는 이들 모두를 발생시키도록 구성되어 있다. 일단 결함이 재검출되면, 결함이 SEM에 의해 검사될 수 있는 위치에 놓이도록 이송 시스템은 스테이지를 소정의 위치로 이동시킨다. 이러한 장치는 SEM에 의해 관찰된 결함을 자동적으로 포커싱시키고, 결함의 변화하는 원근감을 얻기 위해 스테이지를 회전시킨다.

38. 发明公开

KR1020060021398A 결함마킹방법 및 결함마킹장치 失效
标题翻译：用于标记缺陷和形状对象的方法和装置
公开(公告)号：KR1020060021398A
公开(公告)日：2006-03-07
申请号：KR1020060007753
申请日：2006-01-25
申请人： 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤
发明人： 오노신페이 , 고이케아마네
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： B41M5/00 , B65H26/00 , B65H43/04 , G01N21/892
摘要： PURPOSE: To solve the problem that a mark given to a fault position is lost to miss the fault when working a sheet with a coating tool and other working machine, and that the mark is easy to be lost when receiving the treatment using a liquid. CONSTITUTION: A line sensor 5 detects a fault 2 of a traveling sheet material 1, and a marking tool such as a grinding wheel 7 with a shaft is brought in contact with the sheet material at a position having the fault or near there with the operation of a solenoid 6 to give a mark.

39. 发明授权

KR100458048B1 결함 마킹방법 및 장치 有权
公开(公告)号：KR100458048B1
公开(公告)日：2004-11-18
申请号：KR1020017011777
申请日：2000-03-15
申请人： 제이에프이 스틸 가부시키가이샤
发明人： 우에스기미츠아키 , 요시카와쇼지 , 이노마타마사이치 , 카와무라츠토무 , 오시게타카히코 , 스기우라히로유키 , 카자마아키라 , 스야마츠네오 , 쿠시다야스오 , 타나카하지메 , 우에하라오사무 , 카네토슈지 , 이와부치마사히로 , 하라다코조 , 토모나가신이치 , 후쿠다시게미 , 하라다슈이치
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： B21C51/005 , G01N21/89
摘要： The defect marking method comprises the steps of: installing a surface defect tester to detect surface flaw and a marker device to apply marking at defect position, in a continuous processing line of steel sheet; detecting the surface flaw on the steel sheet using the surface defect tester; determining defect name, defect grade, defect length, and defect position in the width direction of the steel sheet, on the basis of thus detected flaw information, further identifying the defect in terms of harmful defect, injudgicable defect, and harmless defect; applying tracking of the defect position for each of the harmful defect and the injudgicable defect; and applying marking to the defect position. The defect marking device comprises a defect inspection means having plurality of light-receiving parts and a signal processing section, and a marking means.

40. 发明公开

KR1020010106749A 피복와이어의 검사장치 및 방법 无效
标题翻译：用于检查覆盖线的装置和方法
公开(公告)号：KR1020010106749A
公开(公告)日：2001-12-07
申请号：KR1020000027691
申请日：2000-05-23
申请人： 주식회사 유비트론
发明人： 홍재윤
IPC分类号： G01N21/892
摘要： 본 발명은 피복와이어의 검사장치 및 방법에 관한 것으로서, 검사 대상의 피복와이어(W)를 급송하는 와이어급송수단(F)의 구동부, 상기 급송되는 피복와이어(W)에 대한 검사용 광을 생성하는 검사광발생부(L), 상기 검사광을 반사하고 수광하는 수광소자를 가지는 반사광수광부(R), 상기 수광소자로부터의 수광된 광신호를 증폭 및 분석하는 함수해석기 등의 신호분석기(A), 상기 신호분석기의 신호분석에 따라 이를 고지하는 고지수단(AL) 및 상기 급송수단 등을 제어하는 제어부(CL)를 포함하는 피복와이어의 검사장치와,
상기 장치로서 구현되며, 상기 검사광발생부(L)에서의 상기 반사광수광부(R)의 반사경으로 조사된 광의 상기 피복와이어(W)에 대한 반사광 신호로서 와이어의 피복상태를 검사하고 상기 제어부(CL)를 제어하는 것을 특징으로 하는 피복와이어의 검사방법을 가짐으로서; 종래와 같은 샘플링 검사가 아닌 전수검사를 와이어의 권취단부 공정에 부가하여 행함으로서 전체 와이어의 품질을 보장할 수 있고, 그 검사속도 또한 대단히 고속으로 행할 수 있어 드럼으로의 와이어 권취와 동시에 행할 수 있는 장점을 가진다.

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